JPS6051694A - 高いシンチレ−シヨン応答性を有するゲルマニウム酸ビスマス単結晶の製造方法 - Google Patents
高いシンチレ−シヨン応答性を有するゲルマニウム酸ビスマス単結晶の製造方法Info
- Publication number
- JPS6051694A JPS6051694A JP59140408A JP14040884A JPS6051694A JP S6051694 A JPS6051694 A JP S6051694A JP 59140408 A JP59140408 A JP 59140408A JP 14040884 A JP14040884 A JP 14040884A JP S6051694 A JPS6051694 A JP S6051694A
- Authority
- JP
- Japan
- Prior art keywords
- single crystal
- grown
- iridium
- crystals
- bismuth germanate
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Pending
Links
Classifications
-
- C—CHEMISTRY; METALLURGY
- C30—CRYSTAL GROWTH
- C30B—SINGLE-CRYSTAL GROWTH; UNIDIRECTIONAL SOLIDIFICATION OF EUTECTIC MATERIAL OR UNIDIRECTIONAL DEMIXING OF EUTECTOID MATERIAL; REFINING BY ZONE-MELTING OF MATERIAL; PRODUCTION OF A HOMOGENEOUS POLYCRYSTALLINE MATERIAL WITH DEFINED STRUCTURE; SINGLE CRYSTALS OR HOMOGENEOUS POLYCRYSTALLINE MATERIAL WITH DEFINED STRUCTURE; AFTER-TREATMENT OF SINGLE CRYSTALS OR A HOMOGENEOUS POLYCRYSTALLINE MATERIAL WITH DEFINED STRUCTURE; APPARATUS THEREFOR
- C30B15/00—Single-crystal growth by pulling from a melt, e.g. Czochralski method
- C30B15/10—Crucibles or containers for supporting the melt
-
- C—CHEMISTRY; METALLURGY
- C30—CRYSTAL GROWTH
- C30B—SINGLE-CRYSTAL GROWTH; UNIDIRECTIONAL SOLIDIFICATION OF EUTECTIC MATERIAL OR UNIDIRECTIONAL DEMIXING OF EUTECTOID MATERIAL; REFINING BY ZONE-MELTING OF MATERIAL; PRODUCTION OF A HOMOGENEOUS POLYCRYSTALLINE MATERIAL WITH DEFINED STRUCTURE; SINGLE CRYSTALS OR HOMOGENEOUS POLYCRYSTALLINE MATERIAL WITH DEFINED STRUCTURE; AFTER-TREATMENT OF SINGLE CRYSTALS OR A HOMOGENEOUS POLYCRYSTALLINE MATERIAL WITH DEFINED STRUCTURE; APPARATUS THEREFOR
- C30B11/00—Single-crystal growth by normal freezing or freezing under temperature gradient, e.g. Bridgman-Stockbarger method
-
- C—CHEMISTRY; METALLURGY
- C30—CRYSTAL GROWTH
- C30B—SINGLE-CRYSTAL GROWTH; UNIDIRECTIONAL SOLIDIFICATION OF EUTECTIC MATERIAL OR UNIDIRECTIONAL DEMIXING OF EUTECTOID MATERIAL; REFINING BY ZONE-MELTING OF MATERIAL; PRODUCTION OF A HOMOGENEOUS POLYCRYSTALLINE MATERIAL WITH DEFINED STRUCTURE; SINGLE CRYSTALS OR HOMOGENEOUS POLYCRYSTALLINE MATERIAL WITH DEFINED STRUCTURE; AFTER-TREATMENT OF SINGLE CRYSTALS OR A HOMOGENEOUS POLYCRYSTALLINE MATERIAL WITH DEFINED STRUCTURE; APPARATUS THEREFOR
- C30B13/00—Single-crystal growth by zone-melting; Refining by zone-melting
-
- C—CHEMISTRY; METALLURGY
- C30—CRYSTAL GROWTH
- C30B—SINGLE-CRYSTAL GROWTH; UNIDIRECTIONAL SOLIDIFICATION OF EUTECTIC MATERIAL OR UNIDIRECTIONAL DEMIXING OF EUTECTOID MATERIAL; REFINING BY ZONE-MELTING OF MATERIAL; PRODUCTION OF A HOMOGENEOUS POLYCRYSTALLINE MATERIAL WITH DEFINED STRUCTURE; SINGLE CRYSTALS OR HOMOGENEOUS POLYCRYSTALLINE MATERIAL WITH DEFINED STRUCTURE; AFTER-TREATMENT OF SINGLE CRYSTALS OR A HOMOGENEOUS POLYCRYSTALLINE MATERIAL WITH DEFINED STRUCTURE; APPARATUS THEREFOR
- C30B15/00—Single-crystal growth by pulling from a melt, e.g. Czochralski method
-
- C—CHEMISTRY; METALLURGY
- C30—CRYSTAL GROWTH
- C30B—SINGLE-CRYSTAL GROWTH; UNIDIRECTIONAL SOLIDIFICATION OF EUTECTIC MATERIAL OR UNIDIRECTIONAL DEMIXING OF EUTECTOID MATERIAL; REFINING BY ZONE-MELTING OF MATERIAL; PRODUCTION OF A HOMOGENEOUS POLYCRYSTALLINE MATERIAL WITH DEFINED STRUCTURE; SINGLE CRYSTALS OR HOMOGENEOUS POLYCRYSTALLINE MATERIAL WITH DEFINED STRUCTURE; AFTER-TREATMENT OF SINGLE CRYSTALS OR A HOMOGENEOUS POLYCRYSTALLINE MATERIAL WITH DEFINED STRUCTURE; APPARATUS THEREFOR
- C30B29/00—Single crystals or homogeneous polycrystalline material with defined structure characterised by the material or by their shape
- C30B29/10—Inorganic compounds or compositions
- C30B29/16—Oxides
- C30B29/22—Complex oxides
- C30B29/32—Titanates; Germanates; Molybdates; Tungstates
-
- Y—GENERAL TAGGING OF NEW TECHNOLOGICAL DEVELOPMENTS; GENERAL TAGGING OF CROSS-SECTIONAL TECHNOLOGIES SPANNING OVER SEVERAL SECTIONS OF THE IPC; TECHNICAL SUBJECTS COVERED BY FORMER USPC CROSS-REFERENCE ART COLLECTIONS [XRACs] AND DIGESTS
- Y10—TECHNICAL SUBJECTS COVERED BY FORMER USPC
- Y10S—TECHNICAL SUBJECTS COVERED BY FORMER USPC CROSS-REFERENCE ART COLLECTIONS [XRACs] AND DIGESTS
- Y10S117/00—Single-crystal, oriented-crystal, and epitaxy growth processes; non-coating apparatus therefor
- Y10S117/90—Apparatus characterized by composition or treatment thereof, e.g. surface finish, surface coating
-
- Y—GENERAL TAGGING OF NEW TECHNOLOGICAL DEVELOPMENTS; GENERAL TAGGING OF CROSS-SECTIONAL TECHNOLOGIES SPANNING OVER SEVERAL SECTIONS OF THE IPC; TECHNICAL SUBJECTS COVERED BY FORMER USPC CROSS-REFERENCE ART COLLECTIONS [XRACs] AND DIGESTS
- Y10—TECHNICAL SUBJECTS COVERED BY FORMER USPC
- Y10S—TECHNICAL SUBJECTS COVERED BY FORMER USPC CROSS-REFERENCE ART COLLECTIONS [XRACs] AND DIGESTS
- Y10S117/00—Single-crystal, oriented-crystal, and epitaxy growth processes; non-coating apparatus therefor
- Y10S117/906—Special atmosphere other than vacuum or inert
Landscapes
- Chemical & Material Sciences (AREA)
- Engineering & Computer Science (AREA)
- Crystallography & Structural Chemistry (AREA)
- Materials Engineering (AREA)
- Metallurgy (AREA)
- Organic Chemistry (AREA)
- Inorganic Chemistry (AREA)
- Crystals, And After-Treatments Of Crystals (AREA)
Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
本発明は、高いシンチレーション応答性を有するゲルマ
ニウム酸ビスマスの製造方法に係わる。
ニウム酸ビスマスの製造方法に係わる。
本発明は特に、医学(断層スキャナ、陽電子カメラ)、
高密度物理学、並びに油田及び鉱床の探査において高エ
ネルギ放射線デテクタとして使用されるシンチレータの
製造の分野に適する。
高密度物理学、並びに油田及び鉱床の探査において高エ
ネルギ放射線デテクタとして使用されるシンチレータの
製造の分野に適する。
このような適用の幾つかでは大きい結晶(直径〉50朋
、長さ)200龍)が必要とされ、またいずれの場合も
最適の発光効率がめられる。
、長さ)200龍)が必要とされ、またいずれの場合も
最適の発光効率がめられる。
従って、発光強度を低下させる恐れのある不純物、並び
に光が当該材料内を通る間に該光を再吸収しがちである
あらゆるもの(不純物、沈澱物、様々な含有物等)を回
避することが必要でるる。
に光が当該材料内を通る間に該光を再吸収しがちである
あらゆるもの(不純物、沈澱物、様々な含有物等)を回
避することが必要でるる。
最も広く行なわれているゲルマニウム酸ビスマス(通常
BGOと呼ばれるン単結晶製造方法は、チョクラルスキ
ー法である。この方法は即ち引上法でおって、所望の組
成に近い多結晶チャージの温度を適当なるつば内で融点
(TF−1050℃)にまで高め、次いで得られた融浴
に適当な寸法及び配向の、種子と呼ばれる小さい単結晶
バーを接触させることから成る。接触の瞬間から前記種
子けゆつくシ並進しく数ミリメートル/時)かつるつば
の温度は制御され、それによって、温度環境が最適でか
つ雰囲気が満足なものであれば所望の外形寸法を具えた
単結晶が成長し得る。
BGOと呼ばれるン単結晶製造方法は、チョクラルスキ
ー法である。この方法は即ち引上法でおって、所望の組
成に近い多結晶チャージの温度を適当なるつば内で融点
(TF−1050℃)にまで高め、次いで得られた融浴
に適当な寸法及び配向の、種子と呼ばれる小さい単結晶
バーを接触させることから成る。接触の瞬間から前記種
子けゆつくシ並進しく数ミリメートル/時)かつるつば
の温度は制御され、それによって、温度環境が最適でか
つ雰囲気が満足なものであれば所望の外形寸法を具えた
単結晶が成長し得る。
目下のところ、BGO単結晶はプラチナのるつぼ並びに
酸化雰囲気を用いて製造されている。
酸化雰囲気を用いて製造されている。
そのような先行技術のBGO単結晶製造方法は、IE!
DETransactions on Nuclear
5cience、 V45゜22、 Februar
y 1975所収の0.H,NESTOR及びC,Y、
Huang (Jhrshaw Company)に
よる論文に記載されている。そこに記された方法は、シ
ンチレーション特性を有する大きい単結晶の取得を可能
にする。しかし得られる結晶は総てマクロな欠陥(気泡
(blisters)、含有物(inclusions
入 塵芥(filarnents)等)の層を有し、こ
の層は光を拡散し、総合シンチレーション応答を低減し
、結晶塊全体にわたる光応答の均一性を阻害する。
DETransactions on Nuclear
5cience、 V45゜22、 Februar
y 1975所収の0.H,NESTOR及びC,Y、
Huang (Jhrshaw Company)に
よる論文に記載されている。そこに記された方法は、シ
ンチレーション特性を有する大きい単結晶の取得を可能
にする。しかし得られる結晶は総てマクロな欠陥(気泡
(blisters)、含有物(inclusions
入 塵芥(filarnents)等)の層を有し、こ
の層は光を拡散し、総合シンチレーション応答を低減し
、結晶塊全体にわたる光応答の均一性を阻害する。
730℃でPt −B1合金が生成するという事実が、
金属加工業者に知られている。BGOの融点は1050
℃であシ、従って金属ビスマスの存在を防止するには酸
化雰囲気下でプラチナ製るつほを使用しなければならな
い。しかしそれにもかかわらするつぼが腐食するので、
プラチナからの金属不純物が結晶の気泡型含有物内に蓄
積される。
金属加工業者に知られている。BGOの融点は1050
℃であシ、従って金属ビスマスの存在を防止するには酸
化雰囲気下でプラチナ製るつほを使用しなければならな
い。しかしそれにもかかわらするつぼが腐食するので、
プラチナからの金属不純物が結晶の気泡型含有物内に蓄
積される。
多くの科学刊行物に、上述の先行技術によって製造され
る単結晶のあらゆる欠陥並びに該欠陥の数を減じ得る方
法が記載されている(例えば、K、 TAKAGI 、
T、FUKAZAWA、 M、 l5HII 、 S
。
る単結晶のあらゆる欠陥並びに該欠陥の数を減じ得る方
法が記載されている(例えば、K、 TAKAGI 、
T、FUKAZAWA、 M、 l5HII 、 S
。
AKIYAMA (Hitacbi)、 J、 of
Cr1stal Growth、 52゜(1981)
、 pp、 584〜58ワ)。
Cr1stal Growth、 52゜(1981)
、 pp、 584〜58ワ)。
BGO結晶の品質を改善するそれらの方法、即ち純粋な
出発物質の使用、低速での結晶成長、連続的結晶化、結
晶の大回転等は煩雑で実施に長時間を要しながら、大し
た成果をもたらさない。
出発物質の使用、低速での結晶成長、連続的結晶化、結
晶の大回転等は煩雑で実施に長時間を要しながら、大し
た成果をもたらさない。
本発明は、上記の欠点を除去すること、及び特に光拡散
中心を持たないあらゆる寸法のBGO単結晶の製造を可
能にすることを目的とする。
中心を持たないあらゆる寸法のBGO単結晶の製造を可
能にすることを目的とする。
府に本発明は、高いシンチレーション応答性を有するゲ
ルマニウム酸ビスマス単結晶をるつほもしくは容器内の
融浴からの単結晶成長に基づいて製造する方法であって
、前記容器はイリジウムから成シ、融解及び成長を中性
あるいは弱い酸化雰囲気下で実現する方法に係わる。
ルマニウム酸ビスマス単結晶をるつほもしくは容器内の
融浴からの単結晶成長に基づいて製造する方法であって
、前記容器はイリジウムから成シ、融解及び成長を中性
あるいは弱い酸化雰囲気下で実現する方法に係わる。
この方法の別の特徴によれば、上記雰囲気中の酸素の分
圧は1%以下である。
圧は1%以下である。
Dlgclosure Bulletln、 Vol、
15. No、5.0ctober1972 所収の
P、S、 YIN、 S、E、 BLUM。
15. No、5.0ctober1972 所収の
P、S、 YIN、 S、E、 BLUM。
P、 CHAUDHARI及びり、F、O’KANEに
よる論文は、ケイ酸塩のような融点の高い酸化物の結晶
の製造にイリジウムのるつばが使用されることを指摘し
ている。この論文によizば、るつほは甚だしく腐食し
、製造される物質はイリジウムによって汚染され得る。
よる論文は、ケイ酸塩のような融点の高い酸化物の結晶
の製造にイリジウムのるつばが使用されることを指摘し
ている。この論文によizば、るつほは甚だしく腐食し
、製造される物質はイリジウムによって汚染され得る。
このような欠点を除去するために、例えばアルザン雰囲
気のような中性写囲気中で作業することが提案されてい
る。
気のような中性写囲気中で作業することが提案されてい
る。
史に米国竹許第4.055.391+fの導入部にも、
イリジウム製るつほの欠点が述べられている。ご4I背
Ih?1200℃近い温度で使用されなければならず、
甚だしく腐食するのでるつほを頻繁に交換する必要があ
シ、このことは非常なコスト高を招く。
イリジウム製るつほの欠点が述べられている。ご4I背
Ih?1200℃近い温度で使用されなければならず、
甚だしく腐食するのでるつほを頻繁に交換する必要があ
シ、このことは非常なコスト高を招く。
しかしこれらの男類で述べらJしていることに反し、本
発明の発明者は、1200℃よシ低い温度< fIX!
JIloo℃かまたは更に低温)でかつ微弱なnl化雰
囲気中で作業すれば、管にデルマニウム酸ビスブスの場
合非常に良好な結果が得らfLることを示し7辷。13
GOの融点1t1050℃であるから、約 1100℃
で作業して、温度が1400℃を上回ると生起するビス
マスとイリジウムとの反応を防止することは可能である
。すLに、銃用雰囲気の酸素分圧が1%を下回れば結晶
中に僅かなイリジウムしか含有物として検出されないこ
とが・1明し、yoしかし酸素の分圧が更に幾分1ff
i くとも、結晶中のイリジウム量は増すが当面の適用
に関し許容可能な限界内になお留1シ得る。
発明の発明者は、1200℃よシ低い温度< fIX!
JIloo℃かまたは更に低温)でかつ微弱なnl化雰
囲気中で作業すれば、管にデルマニウム酸ビスブスの場
合非常に良好な結果が得らfLることを示し7辷。13
GOの融点1t1050℃であるから、約 1100℃
で作業して、温度が1400℃を上回ると生起するビス
マスとイリジウムとの反応を防止することは可能である
。すLに、銃用雰囲気の酸素分圧が1%を下回れば結晶
中に僅かなイリジウムしか含有物として検出されないこ
とが・1明し、yoしかし酸素の分圧が更に幾分1ff
i くとも、結晶中のイリジウム量は増すが当面の適用
に関し許容可能な限界内になお留1シ得る。
本発明方法の好ましい具体例によjLば、単結晶はチョ
クラルスキー法によって成長させる。
クラルスキー法によって成長させる。
本発明方法の別の具体例によれば、単結晶は溶融帯域法
によって成長させる。
によって成長させる。
゛本発明方法の別の具体例によれば、単結晶はブリッジ
マン法によって垂直方向あるいは水平方向へ成長させる
。
マン法によって垂直方向あるいは水平方向へ成長させる
。
本発明方法の別の特徴によ11ば、製造した結晶塊が呈
色している場合空気中でのアニールを数時間実施して単
結晶を無色とする。
色している場合空気中でのアニールを数時間実施して単
結晶を無色とする。
本発明の他の特徴及び利点は、以下の非限定的説明から
理解され得る。
理解され得る。
\
BGO単結晶の引上けをチョクラルスキー法によって行
ない、次の、Qラメ−りの影響を比較する。
ない、次の、Qラメ−りの影響を比較する。
−プラチナのるつば並びに酸化雰囲気、−イリジウムの
るつは並びに弱い酸化雰囲気(PO2<10 torr
) a 他の成長ノ9ラメータは同一にして比較したところ、溶
融ゲルマニウム酸ビスマスに対してはプラチナよシイリ
ジウムの方がはるかにニュートラルな化学的振舞いをす
ることが明らかになった。イリジウム製るつほの使用並
びにその際の引上げ条件は、プラチナの場合(Y異なり
、汚染の主因を生じない。
るつは並びに弱い酸化雰囲気(PO2<10 torr
) a 他の成長ノ9ラメータは同一にして比較したところ、溶
融ゲルマニウム酸ビスマスに対してはプラチナよシイリ
ジウムの方がはるかにニュートラルな化学的振舞いをす
ることが明らかになった。イリジウム製るつほの使用並
びにその際の引上げ条件は、プラチナの場合(Y異なり
、汚染の主因を生じない。
プラチナ製るつほの使用に必須である酸化雰囲気はまた
酸化ビスマスの蒸発を非常に助長し、一方中性あるいは
弱い酸化雰囲気中では融浴そのものが一体的に蒸発する
ことが4!If明した。類推すれば、一体的融浴の組成
は化学量論的組成に近く、従って結晶成長界面近傍での
避は得ない過融解が減少する。
酸化ビスマスの蒸発を非常に助長し、一方中性あるいは
弱い酸化雰囲気中では融浴そのものが一体的に蒸発する
ことが4!If明した。類推すれば、一体的融浴の組成
は化学量論的組成に近く、従って結晶成長界面近傍での
避は得ない過融解が減少する。
イリジウムのるつばを使用し、中性あるいは微弱な酸化
雰囲気中で製造した結晶は完全に明澄で透明であシ、ま
た酸化雰囲気下でプラチナ製るつほから引上げた結晶塊
中には常に存在するマクロな含有物(気泡、塵芥等)を
有せず、即ちそのシンナレーション特性が改善されてい
る。更に結晶化速度が、1目草々・条件下tコ著しく増
大され得る(上述の具体例では2倍であったが、この結
果は限定的なものではない)。
雰囲気中で製造した結晶は完全に明澄で透明であシ、ま
た酸化雰囲気下でプラチナ製るつほから引上げた結晶塊
中には常に存在するマクロな含有物(気泡、塵芥等)を
有せず、即ちそのシンナレーション特性が改善されてい
る。更に結晶化速度が、1目草々・条件下tコ著しく増
大され得る(上述の具体例では2倍であったが、この結
果は限定的なものではない)。
上記条件下に製造された結晶塊が色を呈する場合、この
結晶塊を無色にするには空気中で数時間アニールすれば
十分である。しかし、Bの条件下に゛もたらされる類い
の欠陥をアニールで除去することはできない。
結晶塊を無色にするには空気中で数時間アニールすれば
十分である。しかし、Bの条件下に゛もたらされる類い
の欠陥をアニールで除去することはできない。
最後に、イリジウムのるつぼはごく僅かしか腐食しない
ことが判明し、即ち数十回の試験を、甚だしい金属損失
を一切伴わずに実施し得た。このことは本発明の主要な
一利点で、なぜならイリジウムは非常に高価であり、腐
食し易ければるつほを頻繁に交換しなければならないか
らである。
ことが判明し、即ち数十回の試験を、甚だしい金属損失
を一切伴わずに実施し得た。このことは本発明の主要な
一利点で、なぜならイリジウムは非常に高価であり、腐
食し易ければるつほを頻繁に交換しなければならないか
らである。
本発明によるBGO単結晶製造方法は、融浴から単結晶
を成長させるあらゆる方法、好ましくはチョクラルスキ
ー法で用いられ得る。しかし、溶融帯域法、垂直方向あ
るいは水平方向へと成長させるブリッジマン法、または
褌の同様方法に適用することも可能である。
を成長させるあらゆる方法、好ましくはチョクラルスキ
ー法で用いられ得る。しかし、溶融帯域法、垂直方向あ
るいは水平方向へと成長させるブリッジマン法、または
褌の同様方法に適用することも可能である。
本発明による方法で製造された結晶は、そのイリジウム
含量によって容易に認識される。総合的分析方法(体績
2〜3α3の試料の分析を可能にする)によれば、本発
明方法で製造されたB G (’)結晶はプラチナを’
7 p、p、m、、イリジウムを2001)、pom、
含有しておシ、一方プラテナ製るつほを用いて製造され
た結晶はプラチナを15011.P、rrL、イリ:)
つ、ムを20 p、p、m、含有していた。
含量によって容易に認識される。総合的分析方法(体績
2〜3α3の試料の分析を可能にする)によれば、本発
明方法で製造されたB G (’)結晶はプラチナを’
7 p、p、m、、イリジウムを2001)、pom、
含有しておシ、一方プラテナ製るつほを用いて製造され
た結晶はプラチナを15011.P、rrL、イリ:)
つ、ムを20 p、p、m、含有していた。
出腰人 つリス11−/7・リス・7−代作人脅畔十用
口 義 舞[ 代理人イ「1〒1. /; 村 元
口 義 舞[ 代理人イ「1〒1. /; 村 元
Claims (1)
- 【特許請求の範囲】 +11 高いシンチレーション応答性を有するゲルマニ
ウム酸ビスマス単結晶をるつほまたは容器内の融浴から
の単結晶成長に基づいて製造する方法であって、前記容
器状イリジウムから成り、融解及び成長を中性または弱
い酸化雰囲気下で行なうことを特徴とする製造方法。 (2)芽囲気中の酸素の分圧を1%以下とすることを特
徴とする特許請求の範囲第V項に記載の方法。 (3) 単結晶をチョクラルスキー法によって成長させ
ることを特徴とする特許請求の範囲第1項に記載の方法
。 (4)単結晶を溶融帯域法によって成長させることを特
徴とする特許請求の範囲第1項に記載の方法。 (5)単結晶をブリッジマン法によって垂直方向あるい
は水平方向へ成長させることを特徴とする特許請求の範
囲第1項に記載の方法。 (6)製造したインゴットに色がついている場合空気中
で数時間にわたシアニールを施すことによって単結晶を
無色にすることを特徴とする特rf請求の範囲第1項に
記載の方法。
Applications Claiming Priority (2)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
FR8311349 | 1983-07-07 | ||
FR8311349A FR2548689B1 (fr) | 1983-07-07 | 1983-07-07 | Procede de fabrication de monocristaux de germanate de bismuth a fort rendement de scintillation |
Publications (1)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JPS6051694A true JPS6051694A (ja) | 1985-03-23 |
Family
ID=9290620
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP59140408A Pending JPS6051694A (ja) | 1983-07-07 | 1984-07-05 | 高いシンチレ−シヨン応答性を有するゲルマニウム酸ビスマス単結晶の製造方法 |
Country Status (5)
Country | Link |
---|---|
US (1) | US4664744A (ja) |
EP (1) | EP0133084B1 (ja) |
JP (1) | JPS6051694A (ja) |
DE (1) | DE3464065D1 (ja) |
FR (1) | FR2548689B1 (ja) |
Cited By (1)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPS62222200A (ja) * | 1986-03-25 | 1987-09-30 | 化成オプトニクス株式会社 | 増感紙 |
Families Citing this family (4)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
NL8402575A (nl) * | 1984-08-23 | 1986-03-17 | Philips Nv | Werkwijze voor de vervaardiging van bismuthgermanaatkristallen. |
JP2651481B2 (ja) * | 1987-09-21 | 1997-09-10 | 株式会社 半導体エネルギー研究所 | 超伝導材料の作製方法 |
JPH085749B2 (ja) * | 1989-03-30 | 1996-01-24 | 日本碍子株式会社 | 旋光性単結晶およびその製造方法 |
US6624420B1 (en) | 1999-02-18 | 2003-09-23 | University Of Central Florida | Lutetium yttrium orthosilicate single crystal scintillator detector |
Citations (3)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPS5340200A (en) * | 1976-09-24 | 1978-04-12 | Japan Atom Energy Res Inst | Continuous solidifying method and apparatus for radioactive waste |
JPS55136200A (en) * | 1979-04-12 | 1980-10-23 | Union Carbide Corp | Manufacture of gadolinium garnet |
JPS57123896A (en) * | 1981-01-23 | 1982-08-02 | Hitachi Chem Co Ltd | Preparation of single crystal from bi4ge3o12 |
Family Cites Families (4)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
US4056304A (en) * | 1975-03-06 | 1977-11-01 | Rca Corporation | Light modulation employing single crystal optical waveguides of niobium-doped lithium tantalate |
CH613129A5 (ja) * | 1975-06-11 | 1979-09-14 | Prolizenz Ag | |
DE2901669C2 (de) * | 1979-01-17 | 1981-06-25 | Siemens AG, 1000 Berlin und 8000 München | Bi↓2↓Ge↓3↓O↓9↓-Einkristall, insbesondere zur Verwendung als Röntgen-Spektrometerkristall und fotoakustischer Ablenker |
US4444728A (en) * | 1982-01-21 | 1984-04-24 | Engelhard Corporation | Iridium-rhenium crucible |
-
1983
- 1983-07-07 FR FR8311349A patent/FR2548689B1/fr not_active Expired
-
1984
- 1984-06-25 US US06/624,011 patent/US4664744A/en not_active Expired - Fee Related
- 1984-07-04 DE DE8484401420T patent/DE3464065D1/de not_active Expired
- 1984-07-04 EP EP84401420A patent/EP0133084B1/fr not_active Expired
- 1984-07-05 JP JP59140408A patent/JPS6051694A/ja active Pending
Patent Citations (3)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPS5340200A (en) * | 1976-09-24 | 1978-04-12 | Japan Atom Energy Res Inst | Continuous solidifying method and apparatus for radioactive waste |
JPS55136200A (en) * | 1979-04-12 | 1980-10-23 | Union Carbide Corp | Manufacture of gadolinium garnet |
JPS57123896A (en) * | 1981-01-23 | 1982-08-02 | Hitachi Chem Co Ltd | Preparation of single crystal from bi4ge3o12 |
Cited By (2)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPS62222200A (ja) * | 1986-03-25 | 1987-09-30 | 化成オプトニクス株式会社 | 増感紙 |
JPH0718955B2 (ja) * | 1986-03-25 | 1995-03-06 | 化成オプトニクス株式会社 | 増感紙 |
Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
FR2548689A1 (fr) | 1985-01-11 |
EP0133084A1 (fr) | 1985-02-13 |
FR2548689B1 (fr) | 1985-11-08 |
US4664744A (en) | 1987-05-12 |
EP0133084B1 (fr) | 1987-06-03 |
DE3464065D1 (en) | 1987-07-09 |
Similar Documents
Publication | Publication Date | Title |
---|---|---|
RU2324021C2 (ru) | Способ обработки хлорида или бромида, или йодида редкоземельного металла в углеродсодержащем тигле | |
Goetz et al. | The crystaldiamagnetism of bismuth crystals | |
JPS6345198A (ja) | 多元系結晶の製造方法 | |
JPS6051694A (ja) | 高いシンチレ−シヨン応答性を有するゲルマニウム酸ビスマス単結晶の製造方法 | |
Guerci et al. | Growth of europous oxide (EuO) single crystals | |
EP0400266B1 (en) | Apparatus for manufacturing single silicon crystal | |
Rudness et al. | Growth of single crystals of incongruently melting yttrium iron garnet by flame fusion process | |
Mateika et al. | Czochralski growth of barium hexaaluminate single crystals | |
US4224099A (en) | Method for producing R-plane single crystal alpha alumina | |
Elwell et al. | The flux system BaO/Bi2O3/B2O3 | |
DE2528585C3 (de) | Verfahren zur Herstellung von dotierten a -Aluminiumoxid-Einkristallen | |
US4702791A (en) | Method for manufacturing bismuth-containing oxide single crystal | |
Taranyuk | State of the Art of Scintillation Crystal Growth Methods | |
US3043671A (en) | Zinc oxide crystal growth method | |
JP3021935B2 (ja) | カドミウムマンガンテルル単結晶の製造方法 | |
CN115341283B (zh) | 一种硼酸锂钡铽磁光晶体及其制备方法和应用 | |
Hill et al. | The hydrothermal growth of beryllium oxide single crystals | |
JPS6158898A (ja) | ゲルマニウム酸ビスマス結晶の製造方法 | |
Gandhi | Single crystal growth by a slow evaporation technique: Concept, mechanisms and applications | |
Elwell | Fundamentals of flux growth | |
JPS5855400A (ja) | 二酸化テルル単結晶の育成方法 | |
JPH10338593A (ja) | 引き上げ法による単結晶育成用の貴金属ルツボ | |
Allan et al. | Some observations on mechanisms of growth of metal whiskers | |
Linz et al. | Growth of fluoride laser host crystals | |
Abramov et al. | Growth defects in barium‐strontium niobate crystals |