JPS6044861B2 - 固体撮像素子の駆動パルス発生方式 - Google Patents
固体撮像素子の駆動パルス発生方式Info
- Publication number
- JPS6044861B2 JPS6044861B2 JP55049549A JP4954980A JPS6044861B2 JP S6044861 B2 JPS6044861 B2 JP S6044861B2 JP 55049549 A JP55049549 A JP 55049549A JP 4954980 A JP4954980 A JP 4954980A JP S6044861 B2 JPS6044861 B2 JP S6044861B2
- Authority
- JP
- Japan
- Prior art keywords
- pulse
- clock pulse
- ccd
- signal charges
- section
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Expired
Links
Classifications
-
- H—ELECTRICITY
- H04—ELECTRIC COMMUNICATION TECHNIQUE
- H04N—PICTORIAL COMMUNICATION, e.g. TELEVISION
- H04N3/00—Scanning details of television systems; Combination thereof with generation of supply voltages
- H04N3/10—Scanning details of television systems; Combination thereof with generation of supply voltages by means not exclusively optical-mechanical
- H04N3/14—Scanning details of television systems; Combination thereof with generation of supply voltages by means not exclusively optical-mechanical by means of electrically scanned solid-state devices
- H04N3/15—Scanning details of television systems; Combination thereof with generation of supply voltages by means not exclusively optical-mechanical by means of electrically scanned solid-state devices for picture signal generation
Landscapes
- Engineering & Computer Science (AREA)
- Multimedia (AREA)
- Signal Processing (AREA)
- Transforming Light Signals Into Electric Signals (AREA)
Description
【発明の詳細な説明】
本発明は半導体基板内に貯える信号電荷を蓄積、転送す
る機能を有する電荷転送素子(以下CCDと呼ぶ)の駆
動パルス発生方式に係り、特にインターライン転送方式
CCDの駆動パルス発生方式に関する。
る機能を有する電荷転送素子(以下CCDと呼ぶ)の駆
動パルス発生方式に係り、特にインターライン転送方式
CCDの駆動パルス発生方式に関する。
インターライン転送方式PCDは感度、解像度などの特
性が勝れている反面、製造上の困難がある。
性が勝れている反面、製造上の困難がある。
第1図aは発明者らが設計したインターライン転送方式
ρCDの構造図である。このCCDは従来のCCDに比
べて構造が簡単であり、作りやすい特長を持つている。
しかしこのCCDを能率良く駆動するには駆動パルスの
振幅を各動作モード別に制御することが必要である。ま
ず第1図a(7)CCDの構造図および第1図を〜dの
動作図を用いてインターライン転送方式CCDの動作に
ついて説明する。
ρCDの構造図である。このCCDは従来のCCDに比
べて構造が簡単であり、作りやすい特長を持つている。
しかしこのCCDを能率良く駆動するには駆動パルスの
振幅を各動作モード別に制御することが必要である。ま
ず第1図a(7)CCDの構造図および第1図を〜dの
動作図を用いてインターライン転送方式CCDの動作に
ついて説明する。
例えばシリコンSiによるP型半導体基板1上にCCD
の埋込みチャネルを形成しているN1層2一1、2−2
、2−3と過乗信号電荷を除去するためのオーバフロー
ドレイン(以下OFDと呼ぶ)のN゛1層3が設けられ
ている。
の埋込みチャネルを形成しているN1層2一1、2−2
、2−3と過乗信号電荷を除去するためのオーバフロー
ドレイン(以下OFDと呼ぶ)のN゛1層3が設けられ
ている。
このN゛1層3の両側には信号電荷(電子)に対して電
位バリヤーとなるN−層4、P1層5が設けられている
。そして前記埋込チャネルのN1層2−1、2−3の上
にはゲートSiO2膜6−1、6−2を介して例えば第
1層目多結晶シリコン電極7−1、7−2が設けられ、
さらにその上にSiO2膜8−1、8−2を介して第2
層目多結晶シリコン電極9−1、9−2が形成される。
そして、その上に例えばCVDSiO、膜10が、さら
にこのCVDSi02膜10上に光シールド及び、過乗
信号電荷を除去する、ための電圧印加の2つの機能を有
したアルミニウムAl電極11−1、11−2が設けら
れる。この場合、半導体基板1への光入射は前記A1電
極11−1,11−2にあけられた窓12よりなされ、
これにより生成された信号電荷は前記半導体基板1上の
窓12の下に設けられたN+層2−2と半導体基板1の
P層によつて形成されるPN接合により蓄積される。次
にこのCCDの動作について第1図B,c,dを用いて
説明する。
位バリヤーとなるN−層4、P1層5が設けられている
。そして前記埋込チャネルのN1層2−1、2−3の上
にはゲートSiO2膜6−1、6−2を介して例えば第
1層目多結晶シリコン電極7−1、7−2が設けられ、
さらにその上にSiO2膜8−1、8−2を介して第2
層目多結晶シリコン電極9−1、9−2が形成される。
そして、その上に例えばCVDSiO、膜10が、さら
にこのCVDSi02膜10上に光シールド及び、過乗
信号電荷を除去する、ための電圧印加の2つの機能を有
したアルミニウムAl電極11−1、11−2が設けら
れる。この場合、半導体基板1への光入射は前記A1電
極11−1,11−2にあけられた窓12よりなされ、
これにより生成された信号電荷は前記半導体基板1上の
窓12の下に設けられたN+層2−2と半導体基板1の
P層によつて形成されるPN接合により蓄積される。次
にこのCCDの動作について第1図B,c,dを用いて
説明する。
第1図B,c,dは各転送電極およびゲート電極に所定
の電圧を供給した場合の第1図aの構造図に対応した、
半導体基板内に形成されるポテンシヤル井戸のモデル図
である。第1図bは信号電荷の蓄積とラインシフト動作
、第1図cは信号電荷のCCD部への移動、第1図dは
信号電荷の移動終了を示す。この動作を繰り返す事によ
つて、前記N+層2−2下に形成された信号電荷を順次
読み出す事ができる。このCCDの特長は信号電荷の移
動を行なうために特別な電極を用いずCCD転送電極で
ある前記第1層目多結晶シリコン電極7一1を用いて行
なう事にある。第2図は第1図aの構造図に示したN+
層2−1,2−2,2−3ならびに半導体基板P−SU
B(L)のポテンシヤル井戸特性図である。
の電圧を供給した場合の第1図aの構造図に対応した、
半導体基板内に形成されるポテンシヤル井戸のモデル図
である。第1図bは信号電荷の蓄積とラインシフト動作
、第1図cは信号電荷のCCD部への移動、第1図dは
信号電荷の移動終了を示す。この動作を繰り返す事によ
つて、前記N+層2−2下に形成された信号電荷を順次
読み出す事ができる。このCCDの特長は信号電荷の移
動を行なうために特別な電極を用いずCCD転送電極で
ある前記第1層目多結晶シリコン電極7一1を用いて行
なう事にある。第2図は第1図aの構造図に示したN+
層2−1,2−2,2−3ならびに半導体基板P−SU
B(L)のポテンシヤル井戸特性図である。
横軸はゲート電圧Vc,縦軸はゲート電圧Vcを加えた
ときに形成されるポテンシヤル井戸の深さSを表わす。
PN接合部に蓄えられた信号電荷のCCD部への移動は
第1層目多結晶シリコン電極7一1に例えば10の電圧
を加える。このときのポテンシヤル井戸の深さはVaに
なる。ここで第1層目多結晶シリコン電極7一1下のN
+層2−1に形成するポテンシヤル井戸はVaよりさら
に深い電位VbになるようにN+層2−1の濃度を制御
しておく。そして信号電荷の移動終了時点では第1層目
多結晶シリコン電極7一1に例えば2Vの電圧を加える
ことによつてVaより浅い電位であるVcの電位を形成
し、CCD部へ移動した信号電荷がPN接合部へもどら
ないようにバリヤーを作る。そしてCCD部へ移動した
信号電荷を読み出し部へ転送するラインシフトを行なう
ため前記第1層目多結晶シリコン電極7一1に、例えば
低レベルが−8V1高レベルが2Vであるクロツクパル
スを加える。このときに形成されるCCD部での電位は
−8VのときはVdl2VのときはVeに変化する。こ
の場合パルス高レベルのときの電位Veが、バリヤの電
位Cより低いことが必要である。これらの一連の動作を
行なわせるために第3図に示すロツクパルスをCCDの
各電送電極φ,1,φ!2,φ!3,φ!4に加える。
ときに形成されるポテンシヤル井戸の深さSを表わす。
PN接合部に蓄えられた信号電荷のCCD部への移動は
第1層目多結晶シリコン電極7一1に例えば10の電圧
を加える。このときのポテンシヤル井戸の深さはVaに
なる。ここで第1層目多結晶シリコン電極7一1下のN
+層2−1に形成するポテンシヤル井戸はVaよりさら
に深い電位VbになるようにN+層2−1の濃度を制御
しておく。そして信号電荷の移動終了時点では第1層目
多結晶シリコン電極7一1に例えば2Vの電圧を加える
ことによつてVaより浅い電位であるVcの電位を形成
し、CCD部へ移動した信号電荷がPN接合部へもどら
ないようにバリヤーを作る。そしてCCD部へ移動した
信号電荷を読み出し部へ転送するラインシフトを行なう
ため前記第1層目多結晶シリコン電極7一1に、例えば
低レベルが−8V1高レベルが2Vであるクロツクパル
スを加える。このときに形成されるCCD部での電位は
−8VのときはVdl2VのときはVeに変化する。こ
の場合パルス高レベルのときの電位Veが、バリヤの電
位Cより低いことが必要である。これらの一連の動作を
行なわせるために第3図に示すロツクパルスをCCDの
各電送電極φ,1,φ!2,φ!3,φ!4に加える。
本図に示すように信号電荷のラインシフト転送時には例
えば2Vないし−8Vの振幅の異なつたクロツクパルス
が必要である。第3図の動作ではフレーム蓄積モードで
インターレース撮像を行ない、信号電荷が移動される電
極は奇数フイルド、偶数フイルド共φ,3とφ!4と同
じ電極に移動させることによつて奇数フイルド、偶数フ
イルドにおける暗電流値のばらつきをおさえ、暗時のフ
リツカを小さくしている。また、信号電荷のCCD部へ
の移動開始以前ではφ!19φ!29φ!39φ!4の
4転送電極共低レベルの同じ電圧にすることによつてラ
インシフト動作終了後に基板に発生した余分な暗電流を
防止している。しかして第3図に示したクロツクパルス
波形は従来第4図に示す回路で発生していた。
えば2Vないし−8Vの振幅の異なつたクロツクパルス
が必要である。第3図の動作ではフレーム蓄積モードで
インターレース撮像を行ない、信号電荷が移動される電
極は奇数フイルド、偶数フイルド共φ,3とφ!4と同
じ電極に移動させることによつて奇数フイルド、偶数フ
イルドにおける暗電流値のばらつきをおさえ、暗時のフ
リツカを小さくしている。また、信号電荷のCCD部へ
の移動開始以前ではφ!19φ!29φ!39φ!4の
4転送電極共低レベルの同じ電圧にすることによつてラ
インシフト動作終了後に基板に発生した余分な暗電流を
防止している。しかして第3図に示したクロツクパルス
波形は従来第4図に示す回路で発生していた。
簡単に第4図の回路動作について説明する。クロツクパ
ルス発生回路13より得たクロツクパルスはまずスィツ
チングトランジスタ14のベースへ入力される。一方ス
イツチングトランジスタ14のエミツタにはクロツクパ
ルスの低レベルを決める電圧1を与え、コレクタには高
レベルを決める波形V2を与えておく。したがつて入力
されたクロツクパルスは低レベルV1と高レベル2によ
つて振幅制御された波形に成形される。そしてコンプリ
メンタリ構成のトランジスタ15,16によつて電流増
幅してCCDl7に加える。V3とV1と同一又はV1
より負の電圧、V4はV2と同一又はV2より正の電圧
で、これらV3,V4は常時与えておく。コンデンサC
1と抵抗R1は入カクロツクパルスの直流分をしや断し
交流分のみを通すためにある。またコンデンサC2,C
3はV1とV2のリツプル、高周波ノイズを除去するた
めに設けている。第5図はPN接合部からCCD転送部
に信号電荷を移動する部分のクロツクパルス波形の拡大
図で、同図aは前述したようにCCD駆動上好ましい波
形である。しかし第4図の回路構成で発生させるクロツ
クパルスはbないしcに示す波形になる。このようなり
ロツクパルス波形てCCDを駆動すると信号電荷の移動
が能率良く行えず、少ない信号電荷しか扱かえずダイナ
ミツクレンジが小さく、解像度の劣化した出力画像にな
る事が実験によつて確かめられた。第5図bはクロツク
パルスの高レベルを決める電圧2の応答性が遅い場合で
ある。この場合第1図cで説明した信号電荷のCCD部
への移動が能率良く行えない。また第5図cはクロツク
パルスの高レベルの電圧V2にリンギングが発生した場
合である。この場合は貯え得た信号電荷量が大幅に減少
してしまう事がある。そして転送効率が著しく劣化する
。このようにクロツクパルスの振幅切換時点に応答性が
遅い、または、リンギングが発生するのはイツチングト
ランジスタ14に流れるコレクタ電流1Cがクロツクパ
ルス振幅値によつて異なることと、信号電荷のCCD部
への移動時の高周波パルスの電源リークを除去するため
に設けてあるトランジスタ14のコレクタ側とエミツタ
側のC2,C3の値が不適当になるためである。しかし
ICの値の変動量を小さくしたり、C2,C3の値を小
さくすることは、クロツクパルスの振幅可変量を小さく
することになり、CCDを特性上好ましい動作にするこ
とができない。一方4相駆動ルCCDではクロツクパル
ス波形の立下り時間Tfと立上り時間T,によつて転送
効率が特に影響を受けることを発明者は実験によつて求
めた。
ルス発生回路13より得たクロツクパルスはまずスィツ
チングトランジスタ14のベースへ入力される。一方ス
イツチングトランジスタ14のエミツタにはクロツクパ
ルスの低レベルを決める電圧1を与え、コレクタには高
レベルを決める波形V2を与えておく。したがつて入力
されたクロツクパルスは低レベルV1と高レベル2によ
つて振幅制御された波形に成形される。そしてコンプリ
メンタリ構成のトランジスタ15,16によつて電流増
幅してCCDl7に加える。V3とV1と同一又はV1
より負の電圧、V4はV2と同一又はV2より正の電圧
で、これらV3,V4は常時与えておく。コンデンサC
1と抵抗R1は入カクロツクパルスの直流分をしや断し
交流分のみを通すためにある。またコンデンサC2,C
3はV1とV2のリツプル、高周波ノイズを除去するた
めに設けている。第5図はPN接合部からCCD転送部
に信号電荷を移動する部分のクロツクパルス波形の拡大
図で、同図aは前述したようにCCD駆動上好ましい波
形である。しかし第4図の回路構成で発生させるクロツ
クパルスはbないしcに示す波形になる。このようなり
ロツクパルス波形てCCDを駆動すると信号電荷の移動
が能率良く行えず、少ない信号電荷しか扱かえずダイナ
ミツクレンジが小さく、解像度の劣化した出力画像にな
る事が実験によつて確かめられた。第5図bはクロツク
パルスの高レベルを決める電圧2の応答性が遅い場合で
ある。この場合第1図cで説明した信号電荷のCCD部
への移動が能率良く行えない。また第5図cはクロツク
パルスの高レベルの電圧V2にリンギングが発生した場
合である。この場合は貯え得た信号電荷量が大幅に減少
してしまう事がある。そして転送効率が著しく劣化する
。このようにクロツクパルスの振幅切換時点に応答性が
遅い、または、リンギングが発生するのはイツチングト
ランジスタ14に流れるコレクタ電流1Cがクロツクパ
ルス振幅値によつて異なることと、信号電荷のCCD部
への移動時の高周波パルスの電源リークを除去するため
に設けてあるトランジスタ14のコレクタ側とエミツタ
側のC2,C3の値が不適当になるためである。しかし
ICの値の変動量を小さくしたり、C2,C3の値を小
さくすることは、クロツクパルスの振幅可変量を小さく
することになり、CCDを特性上好ましい動作にするこ
とができない。一方4相駆動ルCCDではクロツクパル
ス波形の立下り時間Tfと立上り時間T,によつて転送
効率が特に影響を受けることを発明者は実験によつて求
めた。
しかし第4図に示す回路でクロツクパルス振幅を制御す
ると各振幅値によつてトランジスタの動作点が変化し、
第6図A,b,cに示すようにTr,tfの値がおのお
の異なるので好ましいクロツクパルス波形が得られにく
い。本発明は従来例におけるこれらの欠点を除去したイ
ンターライン転送方式QCDのクロツクパルス発生回路
を提供することを目的とする。
ると各振幅値によつてトランジスタの動作点が変化し、
第6図A,b,cに示すようにTr,tfの値がおのお
の異なるので好ましいクロツクパルス波形が得られにく
い。本発明は従来例におけるこれらの欠点を除去したイ
ンターライン転送方式QCDのクロツクパルス発生回路
を提供することを目的とする。
本発明ではアナログマルチプレクサのコントロール入力
に従来のCCD駆動パルスを与え、かつアナログマルチ
プレクサのスイツチ入力にクロツクパルス振幅値と等し
い直流電圧を与てコントロールさせることに特徴がある
。以下本発明の一実施例を図面を用いて説明する。
に従来のCCD駆動パルスを与え、かつアナログマルチ
プレクサのスイツチ入力にクロツクパルス振幅値と等し
い直流電圧を与てコントロールさせることに特徴がある
。以下本発明の一実施例を図面を用いて説明する。
第7図は本発明の基本回路構成図である。クロツクパル
ス発生回路より得た例えばTI′Lレベルのクロツクパ
ルス18と信号電荷をPN接合部からCCD部に移動さ
せる期間を指定するパルス19は、例えばTTLレベル
をパルスの高レベルが正でありパルスの低レベルが負で
ある波形に変換するロジツクレベル変換回路20に加え
られる。そしてクロツクパルスと信号電荷をPN接合部
からCCD部に移動させる期間を指定するパルスを2進
数として扱い、この2進数の論理組み合わせでCCD駆
動上好ましいクロツクパルスを得るために、例えば2進
−3進デコーダ21を通して、2進数を3進数に変換す
る。そして3チヤンネルマルチプレクサ22ではあらか
じめ設定しておいた信号電荷を読み出し部まで転送する
ラインシフトパルスのLレベル?−L,Hレベル?−H
,信号電荷をPN接合部からCCD部に移動する期間の
指定パルス−Hの各電圧に応じてSWl,SW2,SW
3によつて切換える。
ス発生回路より得た例えばTI′Lレベルのクロツクパ
ルス18と信号電荷をPN接合部からCCD部に移動さ
せる期間を指定するパルス19は、例えばTTLレベル
をパルスの高レベルが正でありパルスの低レベルが負で
ある波形に変換するロジツクレベル変換回路20に加え
られる。そしてクロツクパルスと信号電荷をPN接合部
からCCD部に移動させる期間を指定するパルスを2進
数として扱い、この2進数の論理組み合わせでCCD駆
動上好ましいクロツクパルスを得るために、例えば2進
−3進デコーダ21を通して、2進数を3進数に変換す
る。そして3チヤンネルマルチプレクサ22ではあらか
じめ設定しておいた信号電荷を読み出し部まで転送する
ラインシフトパルスのLレベル?−L,Hレベル?−H
,信号電荷をPN接合部からCCD部に移動する期間の
指定パルス−Hの各電圧に応じてSWl,SW2,SW
3によつて切換える。
そして得られた波形は線23を介してパルスの立上り、
立下り時間を設定するための波形成形回路24に導びき
、例えばリニア形クロツクドライバアンプより成る出力
回路25にて電流増幅して出力端子26、出力し、CC
Dへ加える。次に第8図によつて第7図の回路動作を説
明する。
立下り時間を設定するための波形成形回路24に導びき
、例えばリニア形クロツクドライバアンプより成る出力
回路25にて電流増幅して出力端子26、出力し、CC
Dへ加える。次に第8図によつて第7図の回路動作を説
明する。
第8図aは第7図中18で示す例えばTTLレベルのク
ロツクパルス波形であり、第8図bは第7図中19で示
す例えばTTLレベルの信号電荷をPN接合部からCC
Dに移動する期間を指定するパルス波形である。第8図
a<!l:bの各信号を2進数の論理信号とし、第1表
に示すように各入力信号の“0゛及び“R5レベルによ
つてマルチプレクサ22の各スイツチを選択するように
する。したがつて第8図A,bの信号によつて制御され
たアナログマルチプレクサ22の出力23は第8図cに
示すように各動作モード別に振幅の制御されたクロツク
パルス波形になる。次に第7図の回路構成の具体的回路
について述べる。
ロツクパルス波形であり、第8図bは第7図中19で示
す例えばTTLレベルの信号電荷をPN接合部からCC
Dに移動する期間を指定するパルス波形である。第8図
a<!l:bの各信号を2進数の論理信号とし、第1表
に示すように各入力信号の“0゛及び“R5レベルによ
つてマルチプレクサ22の各スイツチを選択するように
する。したがつて第8図A,bの信号によつて制御され
たアナログマルチプレクサ22の出力23は第8図cに
示すように各動作モード別に振幅の制御されたクロツク
パルス波形になる。次に第7図の回路構成の具体的回路
について述べる。
第9図は本発明を実現するため発明者が設計、製作した
インターライン方式CCDイメージセンサのクロツクド
ライバ回路図である。この回路図ではφ!1,φ!2,
φ!,,φ14の4相クロツクパルスのうちφ!11相
のみの場合について図示している。入力18,19には
おのおの第8図A,bに示した例えばTTLレベルのパ
ルスが加えられる。そしてトランジスタ27,28によ
つて例えばパルスの低レベルが敗で高レベルが+15V
の電圧に変換され、その後例えば低レベルを一10、高
レベルを+15Vにするロジツクレベル変換回路20へ
加えられる。またアナログマルチプレクサ22のスイツ
チ入力端子へは直流電源29,30,31によつて得た
クロツクパルスに必要なLS−L,LS−H,TR−H
の電圧レベルを加える。この直流電源はリツプル、ノイ
ズ、負荷変動などに対して強くするため演算増幅器を用
いたフイードバツク形アンプにしてある。このようにし
て得られたクロツクパルスはさらに転送効率上好ましい
波形にするためパルスの立上り、立下り時間を所定の値
にセツトする回路24を通し、その後電流幅する回路2
5によつてCCDを駆動するのに必要な第8図cに示し
た波形を得るようにされている。なお電源29,30,
31の電流供給能力がCCDを駆動するのに十分な場合
は出力電流増幅回路25は設ける必要はない。以上述べ
たように本発明による回路構成によつてCCDの駆動パ
ルスを得る方式では、転送効率とダイナミツクレンジを
向上した出力像が得られる。
インターライン方式CCDイメージセンサのクロツクド
ライバ回路図である。この回路図ではφ!1,φ!2,
φ!,,φ14の4相クロツクパルスのうちφ!11相
のみの場合について図示している。入力18,19には
おのおの第8図A,bに示した例えばTTLレベルのパ
ルスが加えられる。そしてトランジスタ27,28によ
つて例えばパルスの低レベルが敗で高レベルが+15V
の電圧に変換され、その後例えば低レベルを一10、高
レベルを+15Vにするロジツクレベル変換回路20へ
加えられる。またアナログマルチプレクサ22のスイツ
チ入力端子へは直流電源29,30,31によつて得た
クロツクパルスに必要なLS−L,LS−H,TR−H
の電圧レベルを加える。この直流電源はリツプル、ノイ
ズ、負荷変動などに対して強くするため演算増幅器を用
いたフイードバツク形アンプにしてある。このようにし
て得られたクロツクパルスはさらに転送効率上好ましい
波形にするためパルスの立上り、立下り時間を所定の値
にセツトする回路24を通し、その後電流幅する回路2
5によつてCCDを駆動するのに必要な第8図cに示し
た波形を得るようにされている。なお電源29,30,
31の電流供給能力がCCDを駆動するのに十分な場合
は出力電流増幅回路25は設ける必要はない。以上述べ
たように本発明による回路構成によつてCCDの駆動パ
ルスを得る方式では、転送効率とダイナミツクレンジを
向上した出力像が得られる。
これは、本発明によつてPN接合部に光蓄積一された信
号電荷をCCD転送部に移動する時点におけるパルスの
応答性が早くそしてリンギンブが発生しないためである
。そしてパルス振幅値を変化させても、転送効率に影響
の大きいパルスの立下り、立上り時間が一定であること
によるためで!ある。また本発明ではクロツクパルス振
幅の制御を直流で行なえ、またクロツクパルス振幅値を
正負又は0V付近などへ自由に選ぶことがきるという長
所を有する。
号電荷をCCD転送部に移動する時点におけるパルスの
応答性が早くそしてリンギンブが発生しないためである
。そしてパルス振幅値を変化させても、転送効率に影響
の大きいパルスの立下り、立上り時間が一定であること
によるためで!ある。また本発明ではクロツクパルス振
幅の制御を直流で行なえ、またクロツクパルス振幅値を
正負又は0V付近などへ自由に選ぶことがきるという長
所を有する。
また本発明では入力パルス振幅が変動しても、最終的に
は、マルチプレクサのスイツチ入力直流電源によつてク
ロツクパルス振幅値が決められるので安定度が良い。
は、マルチプレクサのスイツチ入力直流電源によつてク
ロツクパルス振幅値が決められるので安定度が良い。
さらに本発明の回路構成はC−MOS化しやすいのでI
C化しやすく、駆動回路の低消費電力化が達成できる。
また、実施例の説明ではクロツクパルスの振幅値が3レ
ベルの場合について述べたが、CCDの駆動条件によつ
ては4レベル又はそれ以上の所定数のレベル値に設定す
る場合がある。
C化しやすく、駆動回路の低消費電力化が達成できる。
また、実施例の説明ではクロツクパルスの振幅値が3レ
ベルの場合について述べたが、CCDの駆動条件によつ
ては4レベル又はそれ以上の所定数のレベル値に設定す
る場合がある。
このときにも、2進数の入力数を増設し、そしてマルチ
プレlクサのスイツチとスイツチ入力に設ける直流電源
を増設ることによつて容易に本発明を適用できる。
プレlクサのスイツチとスイツチ入力に設ける直流電源
を増設ることによつて容易に本発明を適用できる。
第1図はインターライン転送方式CCDの構造図と動作
図、第2図は第1図の電極下に形成されるポテンシヤル
井戸特性図、第3図は第1図のCCDを駆動させるため
のクロツクパルス波形図、第4図は従来のクロツクパル
ス発生回路を示す図、第5図は第4図で発生したクロツ
クパルス波形図、第6図は第4図で得られるパルスの拡
大図、第7図は本発明のクロツクパルスを得るための回
路構成の一実施例を示す図、第8図は第7図の入力と出
力の波形図、第9図は第7図の具体的回路図である。
図、第2図は第1図の電極下に形成されるポテンシヤル
井戸特性図、第3図は第1図のCCDを駆動させるため
のクロツクパルス波形図、第4図は従来のクロツクパル
ス発生回路を示す図、第5図は第4図で発生したクロツ
クパルス波形図、第6図は第4図で得られるパルスの拡
大図、第7図は本発明のクロツクパルスを得るための回
路構成の一実施例を示す図、第8図は第7図の入力と出
力の波形図、第9図は第7図の具体的回路図である。
Claims (1)
- 1 光入射によつて半導体基板内に生成した信号電荷を
蓄積するために設けられた互いに独立した複数の感光セ
ルと、これらの感光セルに蓄積された信号電荷を読み出
すための読み出し部とを有するインターライン転送方式
固体撮像素子において、前記感光セルから読み出し部に
信号電荷を転送する期間と読み出し部から出力部へ信号
電荷を転送する期間のクロックパルス振幅を制御するに
際し、クロックパルスタイミング発生回路より得たクロ
ックパルス及び感光セルから読み出し部に転送する期間
を指定するパルスを2進数として扱うと共にアナログマ
ルチプレクサの各スイッチ入力としてパルス振幅に応じ
た直流電圧を供給しておき、前記2進数の各パルスの論
理組み合せによつて得られた信号により前記マルチプレ
クサの各スイッチを選択切換えするようにしたことを特
徴とする固体撮像素子の駆動パルス発生方式。
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP55049549A JPS6044861B2 (ja) | 1980-04-17 | 1980-04-17 | 固体撮像素子の駆動パルス発生方式 |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP55049549A JPS6044861B2 (ja) | 1980-04-17 | 1980-04-17 | 固体撮像素子の駆動パルス発生方式 |
Publications (2)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JPS56147567A JPS56147567A (en) | 1981-11-16 |
JPS6044861B2 true JPS6044861B2 (ja) | 1985-10-05 |
Family
ID=12834266
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP55049549A Expired JPS6044861B2 (ja) | 1980-04-17 | 1980-04-17 | 固体撮像素子の駆動パルス発生方式 |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
JP (1) | JPS6044861B2 (ja) |
-
1980
- 1980-04-17 JP JP55049549A patent/JPS6044861B2/ja not_active Expired
Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
JPS56147567A (en) | 1981-11-16 |
Similar Documents
Publication | Publication Date | Title |
---|---|---|
US4962412A (en) | Photoelectric conversion apparatus without isolation regions | |
JP3915161B2 (ja) | ブルーミング防止構造を備えた固体撮像素子のダイナミックレンジ拡大方法とその固体撮像素子 | |
US4242599A (en) | Charge transfer image sensor with antiblooming and exposure control | |
US4209806A (en) | Solid-state imaging device | |
US4450484A (en) | Solid states image sensor array having circuit for suppressing image blooming and smear | |
JPS6369267A (ja) | 固体撮像装置の駆動方法 | |
US5274459A (en) | Solid state image sensing device with a feedback gate transistor at each photo-sensing section | |
JPS5870687A (ja) | 固体撮像素子の駆動方法 | |
US5757427A (en) | Image pick-up apparatus having a charge coupled device with multiple electrodes, a buffer layer located below some of the electrodes | |
JPH05103272A (ja) | Ccd型固体撮像素子 | |
US4665325A (en) | Solid state image sensor with signal amplification | |
JPS6044861B2 (ja) | 固体撮像素子の駆動パルス発生方式 | |
US5760430A (en) | Charge transfer device and solid-state imaging apparatus using the same device | |
JPH09307817A (ja) | ドライバ回路 | |
JP2609363B2 (ja) | 電荷結合素子の駆動方法 | |
JPS6044860B2 (ja) | 電荷転送素子の駆動パルス発生方式 | |
JP3677932B2 (ja) | 電荷転送装置およびこれを用いた固体撮像装置 | |
KR920000574B1 (ko) | 고체촬상장치 | |
JPH06326928A (ja) | 固体撮像装置および固体撮像装置の駆動方法 | |
JPH06339081A (ja) | 固体撮像素子の駆動方法 | |
JPS5586273A (en) | Solid-state pickup unit | |
KR100384416B1 (ko) | 고체촬상장치및그구동방법 | |
JP2664171B2 (ja) | 固体撮像素子 | |
JPS6258592B2 (ja) | ||
JPH02126778A (ja) | 固体撮像装置 |