JPS6041776B2 - 電子計算機用プリント板の自動試験方法 - Google Patents
電子計算機用プリント板の自動試験方法Info
- Publication number
- JPS6041776B2 JPS6041776B2 JP53130975A JP13097578A JPS6041776B2 JP S6041776 B2 JPS6041776 B2 JP S6041776B2 JP 53130975 A JP53130975 A JP 53130975A JP 13097578 A JP13097578 A JP 13097578A JP S6041776 B2 JPS6041776 B2 JP S6041776B2
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- JP
- Japan
- Prior art keywords
- printed
- printed board
- detection device
- boards
- circuit
- Prior art date
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- Expired
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- Tests Of Electronic Circuits (AREA)
- Test And Diagnosis Of Digital Computers (AREA)
Description
【発明の詳細な説明】
本発明は電子計算機用プリント板の自動試験方法に関
する。
する。
電子計算機の回路を構成する多数のプリント板を収容
するシェルフ装置を備えた電子計算機においては、プリ
ント板群をシェルフ装置に収容後実際の使用前にプリン
ト板の作動試験を行なつている。
するシェルフ装置を備えた電子計算機においては、プリ
ント板群をシェルフ装置に収容後実際の使用前にプリン
ト板の作動試験を行なつている。
このような試験を行なう場合、従来はオペレータがシェ
ルフ装置内の各プリント板の収容状態を認識し、各収容
状態に応じて試験に必要なテストプログラムを作成し試
験を行なつていた。しかしながら、このような方法では
熟練したオペレー タを必要とし、またオペレータの指
示ミス、試験ミス等が発生する可能性があつた。 本発
明は上記の点に鑑みなされたものであつて、電子計算機
用プリント板の試験をオペレータの介入なしにテストパ
ターンプログラムを自動的に選択決定して行なうように
した自動試験方法の提供を目的とする。
ルフ装置内の各プリント板の収容状態を認識し、各収容
状態に応じて試験に必要なテストプログラムを作成し試
験を行なつていた。しかしながら、このような方法では
熟練したオペレー タを必要とし、またオペレータの指
示ミス、試験ミス等が発生する可能性があつた。 本発
明は上記の点に鑑みなされたものであつて、電子計算機
用プリント板の試験をオペレータの介入なしにテストパ
ターンプログラムを自動的に選択決定して行なうように
した自動試験方法の提供を目的とする。
このため本発明においてはシェルフ装置のプリント板の
種類、枚数および収容位置により定まる収容状態に対応
して予め各収容状態において必要なテストパターンプロ
グラムを選定しておき、このシェルフ装置の各プリント
板収容位置にプリント板の有無を検知する第１検知装置
およびプリント板の種類を検知する第２検知装置を設け
、各検知装置の検知信号をシェルフ装置内のプリント板
収容状態を判別する判別回路に送り、この判別回路の判
別結果に基き上記テストパターンプログラムを選択して
所定の必要なプリント板の試験を行なつている。 図面
は本発明方法を表わす概略ブロック図であ”る。
種類、枚数および収容位置により定まる収容状態に対応
して予め各収容状態において必要なテストパターンプロ
グラムを選定しておき、このシェルフ装置の各プリント
板収容位置にプリント板の有無を検知する第１検知装置
およびプリント板の種類を検知する第２検知装置を設け
、各検知装置の検知信号をシェルフ装置内のプリント板
収容状態を判別する判別回路に送り、この判別回路の判
別結果に基き上記テストパターンプログラムを選択して
所定の必要なプリント板の試験を行なつている。 図面
は本発明方法を表わす概略ブロック図であ”る。
１はシェルフ装置であり、プリント板９を収容するため
の多数のスロット２を有する。各スロット２には第１検
知装置３および第２検知装置４が設けられる。各第１検
知装置３は第１検知回路５に連結され、各第２検知装置
４は第２検知回路・６に連結される。第１、第２検知回
路５、６は判別回路７に連結され、この判別回路７はプ
ログラム選択回路８と連結している。第１検知装置３は
例えば発光素子および受光素子からなるフオトセンサー
あるいは機械的な接触型スイッチでありスロット２内の
プリント板９の有無を検知する。第２検知装置４はプリ
ント板の所定のジャック端子位置に設けた例えば電圧検
出器であり、スロット２内に収容されたプリント板９に
対応した電圧を検知し、スロット２内のプリント板が正
しいものかどうかを判断しまた種類の異なるプリント板
を収容可能な場合には収容されたプリント板の種類を判
断する。シェルフ装置１内のプリント板の各収容状態に
ついて、即ち収容したプリント板の数、種類および収容
位置の各状態の異なるあらゆる場合について、各状態に
おけるプリント板の試験に必要なプログラムを多数のテ
ストパターンプログラムの中から選択し組合わせて予め
プログラム選択回路８内に組込んでおく。シェルフ装置
１へのプリント板９の実装作業が終ると、各第１検知装
置３からの信号が第１検知回路５に送られここでシェル
フ装置１の各スロット２内のプリント板の有無が判別さ
れ、また各第２検知装置４からの信号が第２検知回路６
に送られここでシェルフ装置１の各スロット２内のプリ
ント板の種類が判別される。
の多数のスロット２を有する。各スロット２には第１検
知装置３および第２検知装置４が設けられる。各第１検
知装置３は第１検知回路５に連結され、各第２検知装置
４は第２検知回路・６に連結される。第１、第２検知回
路５、６は判別回路７に連結され、この判別回路７はプ
ログラム選択回路８と連結している。第１検知装置３は
例えば発光素子および受光素子からなるフオトセンサー
あるいは機械的な接触型スイッチでありスロット２内の
プリント板９の有無を検知する。第２検知装置４はプリ
ント板の所定のジャック端子位置に設けた例えば電圧検
出器であり、スロット２内に収容されたプリント板９に
対応した電圧を検知し、スロット２内のプリント板が正
しいものかどうかを判断しまた種類の異なるプリント板
を収容可能な場合には収容されたプリント板の種類を判
断する。シェルフ装置１内のプリント板の各収容状態に
ついて、即ち収容したプリント板の数、種類および収容
位置の各状態の異なるあらゆる場合について、各状態に
おけるプリント板の試験に必要なプログラムを多数のテ
ストパターンプログラムの中から選択し組合わせて予め
プログラム選択回路８内に組込んでおく。シェルフ装置
１へのプリント板９の実装作業が終ると、各第１検知装
置３からの信号が第１検知回路５に送られここでシェル
フ装置１の各スロット２内のプリント板の有無が判別さ
れ、また各第２検知装置４からの信号が第２検知回路６
に送られここでシェルフ装置１の各スロット２内のプリ
ント板の種類が判別される。
第１、第２検知回路５，６の出力信号は判別回路７に送
られここでシェルフ装置１内のプリント板収容状態が総
合的に判別され、この判別結果に基いた出力信号がプロ
グラム選択回路８に送られプリント板収容状態に対応し
て予め定められた必要なテストパターンプログラムが選
択され、このプログラムによりテストが実行される。以
上のようなプリント板試験方法においては、プリント板
の実装状態が自動的に識別され、この識別結果に基いて
予め定めた最適テストパターンプログラムが選択されて
プリント板の試験が自動的に実行される。
られここでシェルフ装置１内のプリント板収容状態が総
合的に判別され、この判別結果に基いた出力信号がプロ
グラム選択回路８に送られプリント板収容状態に対応し
て予め定められた必要なテストパターンプログラムが選
択され、このプログラムによりテストが実行される。以
上のようなプリント板試験方法においては、プリント板
の実装状態が自動的に識別され、この識別結果に基いて
予め定めた最適テストパターンプログラムが選択されて
プリント板の試験が自動的に実行される。
従つて、オペレータは不要となり試験に関する手間が省
けまた試験ミス、試験もれ等がなくなる。
けまた試験ミス、試験もれ等がなくなる。
図面は本発明方法の概略ブロック回路図である。
１・・・・・・シェルフ装置、３・・・・・・第１検知
装置、４・・・・第２検知装置、７・・・・・・判別回
路、９・・・・・・プリント板。
装置、４・・・・第２検知装置、７・・・・・・判別回
路、９・・・・・・プリント板。
Claims (1)
- １ 電子計算機の回路を構成する複数本のプリント板を
収容するシェルフ装置を備えた電子計算機用プリント板
の自動試験方法において、上記シェルフ装置のプリント
板の種類、枚数および収容位置により定まる収容状態に
対応して予め各収容状態において必要なテストパターン
プログラムを選定しておき、上記シェルフ装置の各プリ
ント板収容位置にプリント板の有無を検知する第１検装
置およびプリント板の種類を検知する第２検知装置を設
け、各検知装置からの検知信号をシェルフ装置内プリン
ト板収容状態の判別回路に送り、この判別回路の判別結
果に基き上記テストパターンプログラムを選択して所定
のプリント板の試験を行なうことを特徴とする電子計算
機用プリント板の自動試験方法。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP53130975A JPS6041776B2 (ja) | 1978-10-26 | 1978-10-26 | 電子計算機用プリント板の自動試験方法 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP53130975A JPS6041776B2 (ja) | 1978-10-26 | 1978-10-26 | 電子計算機用プリント板の自動試験方法 |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPS5558470A JPS5558470A (en) | 1980-05-01 |
| JPS6041776B2 true JPS6041776B2 (ja) | 1985-09-18 |
Family
ID=15046970
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP53130975A Expired JPS6041776B2 (ja) | 1978-10-26 | 1978-10-26 | 電子計算機用プリント板の自動試験方法 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPS6041776B2 (ja) |
Families Citing this family (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS58117469A (ja) * | 1982-01-06 | 1983-07-13 | Automob Antipollut & Saf Res Center | プリント基板検査装置 |
-
1978
- 1978-10-26 JP JP53130975A patent/JPS6041776B2/ja not_active Expired
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| JPS5558470A (en) | 1980-05-01 |
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