JPS6039182Y2 - レ−ザ−加工装置 - Google Patents

レ−ザ−加工装置

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Publication number
JPS6039182Y2
JPS6039182Y2 JP1980056509U JP5650980U JPS6039182Y2 JP S6039182 Y2 JPS6039182 Y2 JP S6039182Y2 JP 1980056509 U JP1980056509 U JP 1980056509U JP 5650980 U JP5650980 U JP 5650980U JP S6039182 Y2 JPS6039182 Y2 JP S6039182Y2
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JP
Japan
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laser
shutter
laser beam
laser processing
resonator
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Expired
Application number
JP1980056509U
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English (en)
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JPS56156484U (ja
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尊文 大原
直也 堀内
泰之 森田
令而 佐野
正宏 小川
敏夫 夏目
吉夫 鳥巣
和徳 沢田
Original Assignee
トヨタ自動車株式会社
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Publication date
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Description

【考案の詳細な説明】 本考案は、レーザービームを共振器から発射し、光学系
を用いてビームを集束して、ビームの集束位置で被照射
物体を加工処理する装置に関するものであり、ビームの
集束位置を容易に検出できるようにすることを目的とす
る。
第1図は一般的なレーザー加工装置を示す図で、1はレ
ーザー発振を起こすための共振器であり、発振したレー
ザービーム2は、反射鏡4と出力半透過鏡3の間で共振
し、レーザービームの一部1′は出力半透過鏡3を通し
て、共振器本体5から取り出される。
共振器本体から出たレーザービーム1′はビームの引導
筒6内を通って、光学的なビーム屈曲装置7を用いて、
加工処理を行なう場所の方向へ曲げられる。
ビーム屈曲装置7は、反射鏡あるいはプリズムなどの光
学系から戒っている。
屈曲されたレーザービーム1′はビーム集束装置8で被
照射物体9の上に集束される。
ビーム集束装置8はレンズや曲率鏡などの光学系と、時
にはレーザービームの熱を吸収出来る冷却機構をもった
部分品から戊っている。
第2図は、レーザービームの集束装置8をビームが通過
した後のビームの集束位置被照射物体9との関係を示す
図で、aは相対的にアンダーフォーカスの位置、bは丁
度フォーカスが正しくなった位置、Cは相対的にオーバ
ーフォーカスの状態を示すものである。
第3図は第2図の3種類の位置の状態における被照射位
置でのレーザービーム輝点の形を示すもので、従来は、
正常なフォーカス付近でビーム集束装置を適当に動かし
、試行しながら正常なフォーカスを取っていた。
しかしながら、輝点の輝度自身が数百ft−:[、と非
常に強いために輝点の形状a、 b、 cの差異が判別
しにくく、且つ状態a。
Cの輝点が同じ形状であるため、輝点形状から照射物体
とビーム集束位置の関係を一意的に決定することができ
ないという欠点があった。
本考案はこのような欠点を解消するためになされたもの
である。
第4図はレーザービームの集束点位置を容易に検出出来
るようにした2つ以上の微小孔のあいたシャッターを備
えたレーザー加工装置の一部を示す図であり、7,8は
それぞれ第1図のビーム屈曲装置7と集束装置8と同じ
である。
シャッター10は駆動部品13に固定されており、シャ
ッターの駆動方法としては、部品13を平行移動したり
、ある水平面で回転することにより、レーザービーム1
′を遮断することが出来る。
ビームシャッター10は第5図のようにレーザービーム
1′のほぼ周辺に位置する、なるべく中心から離れた位
置に、形状や大きさの異なる2種類以上の穴11.12
があけられている。
同図では便宜上2つの穴をあけた場合について示しであ
る。
第6図は、ビームシャッター10をビーム光路1′の途
中に入れて、ビームの集束位置を検出している時の図で
ある。
図中a、 b、 cはビームの集束位置に対する被照射
物体の相対的位置を示している。
第7図は、第6図の被照射物体の位置a、 b。
Cに対応した輝点の変化を示すものである。
図中aはアンダーフォーカス、bはフォーカス、Cはオ
ーバーフォーカスの状態を示す。
このように2種類以上の形状の異なる微小孔のあいたシ
ャッターを用いることにより、輝点自身を数+ft−L
以下の低い輝度にすることにより、まぶしくないので、
目での集束の様子が容易に観察出来る。
また本考案では微小孔の形は異っているので、輝点の強
度を比較することにより、被照射物体がビーム集束位置
にない時、被照射物体とビーム集束位置との相対関係が
一意的に求まる。
なお、本考案において、第7図のようにビーム輝点の形
状あるいは輝点の強弱を人間の目で判断した場合の実施
例について述べたが、輝点の形状あるいは強弱を光電素
子で検出して被照射物体の相対的位置を検出することも
可能である。
【図面の簡単な説明】
第1図はレーザー加工装置の概略図、第2図は第1図の
要部拡大図、第3図は第2図におけるビーム集束状態説
明図、第4図は本考案の一実施例におけるレーザー加工
装置の概略構成図、第5図は本考案に使用されるシャッ
ターの平面図、第6図および第7図は本考案の動作説明
図である。 1・・・・・・共振器、3・・・・・・出力半透過鏡、
4・・・・・・反射鏡、7・・・・・・ビーム屈曲装置
、8・・・・・・ビーム集束装置、10・・・・・・シ
ャッター 11.12・・・・・・穴。

Claims (1)

    【実用新案登録請求の範囲】
  1. レーザービームを発射するレーザー共振器と、被照射物
    体を加工処理するように前記レーザー共振器から発射さ
    れるレーザービームを集束する集束手段と、前記レーザ
    ー共振器と集束手段との間、あるいは集束手段中におけ
    るレーザービーム光路に挿入可能なシャッターとを具備
    し、前記シャッターは2つ以上の形状大きさの少なくと
    もいずれかが異なる微小孔を有し、前記シャッター挿入
    時には前記レーザー共振器から発射されるレーザービー
    ムは前記微小孔を通過することを特徴とするレーザー加
    工装置。
JP1980056509U 1980-04-23 1980-04-23 レ−ザ−加工装置 Expired JPS6039182Y2 (ja)

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JP1980056509U JPS6039182Y2 (ja) 1980-04-23 1980-04-23 レ−ザ−加工装置

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Publication Number Publication Date
JPS56156484U JPS56156484U (ja) 1981-11-21
JPS6039182Y2 true JPS6039182Y2 (ja) 1985-11-22

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