JPS6038008B2 - サ−マルヘツド - Google Patents
サ−マルヘツドInfo
- Publication number
- JPS6038008B2 JPS6038008B2 JP52160147A JP16014777A JPS6038008B2 JP S6038008 B2 JPS6038008 B2 JP S6038008B2 JP 52160147 A JP52160147 A JP 52160147A JP 16014777 A JP16014777 A JP 16014777A JP S6038008 B2 JPS6038008 B2 JP S6038008B2
- Authority
- JP
- Japan
- Prior art keywords
- tantalum
- thermal head
- heating resistor
- manufacturing
- oxygen
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Expired
Links
Landscapes
- Electronic Switches (AREA)
- Apparatuses And Processes For Manufacturing Resistors (AREA)
- Non-Adjustable Resistors (AREA)
Description
【発明の詳細な説明】
本発明は棚化タンタルと酸素とからなる薄膜発熱抵抗体
を有するサーマルヘッドさらにはその製造方法に関する
。
を有するサーマルヘッドさらにはその製造方法に関する
。
熱印字記録に用いられるサーマルヘッドは例えばガラス
のような電気的な絶縁性と平滑面とを有する基板上に複
数個の発熱抵抗体と、この発熱抵抗体に電力を供給する
ための電気導体とを設け、記録すべき情報に従って必要
な熱パターンが得られるように、対応する発熱抵抗体に
電気導体を介して電流を流して発熱させ、記録媒体に接
触することにより記録を行なうものである。
のような電気的な絶縁性と平滑面とを有する基板上に複
数個の発熱抵抗体と、この発熱抵抗体に電力を供給する
ための電気導体とを設け、記録すべき情報に従って必要
な熱パターンが得られるように、対応する発熱抵抗体に
電気導体を介して電流を流して発熱させ、記録媒体に接
触することにより記録を行なうものである。
そこに用いられる発熱抵抗体としては、従釆窒化タンタ
ル、ニクロム酸化錫等の薄膜発熱抵抗体、銀−パラジウ
ム等を用いた厚膜発熱抵抗体、シリコン半導体を用いた
半導体発熱抵抗体がある。このうち薄膜発熱抵抗体を用
いたサーマルヘッドは厚膜発熱抵抗体、半導体発熱抵抗
体等と比較して熱応答性がよく耐熱性、耐熱衝撃性に殴
れ、寿命が長く、信頼性が高い等の特徴を有している。
この薄膜発熱抵抗体としては、従来、窒化タンタルが耐
熱性に優れ、信頼性も高く、又固有抵抗値も250〜3
00仏Q肌と比較的高い値で製造の制御性もよいため、
特に多く用いられている。しかるに窒化タンタルは約3
00oo以上の高温に於ては急激に酸化されその抵抗値
が急激に増加し、記録紙に印字する場合、印字濃度を劣
化させる欠点がある。
ル、ニクロム酸化錫等の薄膜発熱抵抗体、銀−パラジウ
ム等を用いた厚膜発熱抵抗体、シリコン半導体を用いた
半導体発熱抵抗体がある。このうち薄膜発熱抵抗体を用
いたサーマルヘッドは厚膜発熱抵抗体、半導体発熱抵抗
体等と比較して熱応答性がよく耐熱性、耐熱衝撃性に殴
れ、寿命が長く、信頼性が高い等の特徴を有している。
この薄膜発熱抵抗体としては、従来、窒化タンタルが耐
熱性に優れ、信頼性も高く、又固有抵抗値も250〜3
00仏Q肌と比較的高い値で製造の制御性もよいため、
特に多く用いられている。しかるに窒化タンタルは約3
00oo以上の高温に於ては急激に酸化されその抵抗値
が急激に増加し、記録紙に印字する場合、印字濃度を劣
化させる欠点がある。
一般にはこの欠点を補うために酸化シリコン(Si02
)の耐酸化保護層を設け更にその上に酸化タンタル(T
a24)の耐摩耗層を設けてサーマルヘッドとして使用
しているが、サーマルヘッドを長時間駆動させた時の抵
抗変化はなお十分満足できるものではなかった。特に近
年、高遠サ−マルヘッドの要求が増加しつつあるためヘ
ッドの通電パルス中を短かくして感熱紙を発色させる必
要があり、従って電力は従来より増加することになり、
発熱抵抗体はさらに高温になるから寿命はより短くなる
。そのためさらに耐熱性のある発熱抵抗体が要求されて
いる。また、窒化タンタルの面積抵抗は、通常500/
口前後で、サーマルヘッドとして特に大きくした場合で
も1000/口程度であり更に抵抗値を大きくするため
にはトリミングを行なったり、膜厚を薄くする等の方法
を用いるが、その際製造工程が複雑になったり、寿命に
対して悪影響を生じたりする等の欠点が発生する。
)の耐酸化保護層を設け更にその上に酸化タンタル(T
a24)の耐摩耗層を設けてサーマルヘッドとして使用
しているが、サーマルヘッドを長時間駆動させた時の抵
抗変化はなお十分満足できるものではなかった。特に近
年、高遠サ−マルヘッドの要求が増加しつつあるためヘ
ッドの通電パルス中を短かくして感熱紙を発色させる必
要があり、従って電力は従来より増加することになり、
発熱抵抗体はさらに高温になるから寿命はより短くなる
。そのためさらに耐熱性のある発熱抵抗体が要求されて
いる。また、窒化タンタルの面積抵抗は、通常500/
口前後で、サーマルヘッドとして特に大きくした場合で
も1000/口程度であり更に抵抗値を大きくするため
にはトリミングを行なったり、膜厚を薄くする等の方法
を用いるが、その際製造工程が複雑になったり、寿命に
対して悪影響を生じたりする等の欠点が発生する。
このように窒化タンタル薄膜発熱抵抗体では面積抵抗を
大きくとれないため、抵抗体を加熱するだけの電力を供
聯合するためには必然的に電流が大きくなり、電気導体
の抵抗値が問題になる。
大きくとれないため、抵抗体を加熱するだけの電力を供
聯合するためには必然的に電流が大きくなり、電気導体
の抵抗値が問題になる。
即ち、薄膜発熱抵抗体の抵抗値に対して電気導体の抵抗
値が無視できなくなるから、抵抗体に接続された各電気
導体の距離の差異により各抵抗体の発熱量が異ってしま
い、記録パターンに濃度差が生じ記録品質が劣る。更に
記録密度を上げるため、薄膜発熱抵抗体の大きさを小さ
くすると、薄膜発熱抵抗体の面積抵抗値は不変で電気導
体の抵抗値のみ増大するから、電気導体における電力消
費が問題になるし、又これを避けるために電気導体の厚
さを極端に大きくすると多層配線の場合に表面の凹凸が
激しくなり摩耗にも弱くなるなど構造上大きな不都合が
生じることになる。又電流が大きいことは加熱用電源、
スイッチング回路等の容量を大きくしなければならない
等の不都合も生じる。本発明は上記の点を改良し、酸化
されにくく抵抗値が安定で、比抵抗を高い値まで選択で
きる薄膜発熱抵抗体を用いたサーマルヘッドを提供し、
その特徴とするところは棚化タンタルと酸素とからなる
発熱抵抗体にある。
値が無視できなくなるから、抵抗体に接続された各電気
導体の距離の差異により各抵抗体の発熱量が異ってしま
い、記録パターンに濃度差が生じ記録品質が劣る。更に
記録密度を上げるため、薄膜発熱抵抗体の大きさを小さ
くすると、薄膜発熱抵抗体の面積抵抗値は不変で電気導
体の抵抗値のみ増大するから、電気導体における電力消
費が問題になるし、又これを避けるために電気導体の厚
さを極端に大きくすると多層配線の場合に表面の凹凸が
激しくなり摩耗にも弱くなるなど構造上大きな不都合が
生じることになる。又電流が大きいことは加熱用電源、
スイッチング回路等の容量を大きくしなければならない
等の不都合も生じる。本発明は上記の点を改良し、酸化
されにくく抵抗値が安定で、比抵抗を高い値まで選択で
きる薄膜発熱抵抗体を用いたサーマルヘッドを提供し、
その特徴とするところは棚化タンタルと酸素とからなる
発熱抵抗体にある。
この発熱抵抗体においては、棚化タンタルと酸素とが原
子的なスケールで混在している。以下、図面を参照しな
がら詳細に説明する。
子的なスケールで混在している。以下、図面を参照しな
がら詳細に説明する。
第1図は本発明に適用するサーマルヘッドの形状例の要
部断面図である。同図中の1はセラミックス、ガラスあ
るいは、グレーズドセラミツクスのような電気的な絶縁
物で形成された基板である。2は棚化タンタルと酸素と
からなる本発明に係る薄膜発熱抵抗体である。
部断面図である。同図中の1はセラミックス、ガラスあ
るいは、グレーズドセラミツクスのような電気的な絶縁
物で形成された基板である。2は棚化タンタルと酸素と
からなる本発明に係る薄膜発熱抵抗体である。
3は該薄膜発熱抵抗体に電力を供給するための電気導体
で、アルミニュウム、金等の電気良導体で、形成されて
いる。
で、アルミニュウム、金等の電気良導体で、形成されて
いる。
又4は薄膜発熱抵抗体及び電気導体の保護層で、例えば
電子ビーム蒸着、スパッタ一等によって作製した酸化シ
リコン、酸化マグネシュウム、酸化アルミニウム、酸化
タンタルあるいはこれらを合せた多層構成が用いられ、
これによってサーマルヘッドの寿命を一層長くすること
ができる。本発明の棚化タンタルと酸素とからなる薄膜
発熱抵抗体の製造はスパッタリング、電子ビーム蒸着い
ずれも可能であり、スパッタリングによって製造する方
法としては、アルゴンと酸素の混合雰囲気中で棚化タン
タルのターゲットをスパッタリングする方法、棚素と金
属タンタルを同時に夕−ゲットとする方法、金属タンタ
ルのみをターゲットとしてアルゴン、酸素、ジボランを
含む雰囲気中で活性スパッタリングを行う方法などがあ
る。棚化タンタルをターゲットとする場合、例えば石英
皿等の上に棚化タンタルを粉末の状態もしくはプレスし
た状態で置くことによりターゲットとして用いることも
できるが、あらかじめ1100qo以上の真空ホットプ
レスにより糠結させたターゲットを使用する方が、スパ
ッタリングの制御は行いやすい。また棚素と金属タンタ
ルを同時にターゲットとする場合には棚素と金属タンタ
ルを混合するか、又は一方を他方に埋め込んだり表面の
一部に配置したりして、行うことができる。いずれの場
合にも1×10‐汀orr〜5×lo−ITorrのア
ルゴンと酸素との混合雰囲気で行うのが良く、好ましく
は1×10‐りom〜1×10‐ITorrがよい。
電子ビーム蒸着、スパッタ一等によって作製した酸化シ
リコン、酸化マグネシュウム、酸化アルミニウム、酸化
タンタルあるいはこれらを合せた多層構成が用いられ、
これによってサーマルヘッドの寿命を一層長くすること
ができる。本発明の棚化タンタルと酸素とからなる薄膜
発熱抵抗体の製造はスパッタリング、電子ビーム蒸着い
ずれも可能であり、スパッタリングによって製造する方
法としては、アルゴンと酸素の混合雰囲気中で棚化タン
タルのターゲットをスパッタリングする方法、棚素と金
属タンタルを同時に夕−ゲットとする方法、金属タンタ
ルのみをターゲットとしてアルゴン、酸素、ジボランを
含む雰囲気中で活性スパッタリングを行う方法などがあ
る。棚化タンタルをターゲットとする場合、例えば石英
皿等の上に棚化タンタルを粉末の状態もしくはプレスし
た状態で置くことによりターゲットとして用いることも
できるが、あらかじめ1100qo以上の真空ホットプ
レスにより糠結させたターゲットを使用する方が、スパ
ッタリングの制御は行いやすい。また棚素と金属タンタ
ルを同時にターゲットとする場合には棚素と金属タンタ
ルを混合するか、又は一方を他方に埋め込んだり表面の
一部に配置したりして、行うことができる。いずれの場
合にも1×10‐汀orr〜5×lo−ITorrのア
ルゴンと酸素との混合雰囲気で行うのが良く、好ましく
は1×10‐りom〜1×10‐ITorrがよい。
また、金属タンタルをターゲットとして、アルゴン、酸
素、ジボランの混合雰囲気中で活性スパッタリングを行
う場合には全ガス圧1×1げびorr〜5×10‐IT
om、好ましくは1×10‐2rorr〜5×10‐2
Tom、そのなかでジボランの分圧は全圧力の1〜10
%、好ましくは2〜6%である。
素、ジボランの混合雰囲気中で活性スパッタリングを行
う場合には全ガス圧1×1げびorr〜5×10‐IT
om、好ましくは1×10‐2rorr〜5×10‐2
Tom、そのなかでジボランの分圧は全圧力の1〜10
%、好ましくは2〜6%である。
上記のいずれのスパッタリング工程中においても、雰囲
気中の酸素分圧を0.1〜10%で選択することにより
、発熱抵抗体中に酸素を原子比でタンタルの0.005
以上含有させることができる。
気中の酸素分圧を0.1〜10%で選択することにより
、発熱抵抗体中に酸素を原子比でタンタルの0.005
以上含有させることができる。
酸素含有量は少なすぎては効果がなく、逆に多すぎると
比抵抗の制御が難かしく、耐熱性も悪くなるのでタンタ
ルの0.01〜1.0(原子比)が適当であり0.05
〜0.6がより好ましく、0.1〜0.3が最も好まし
い。このように作成した発熱抵抗体の固有抵抗値は10
0仏○肌〜5000仏○肌まで選択可能である。発熱抵
抗体を電子ビーム蒸着で製造する場合には、棚化タンタ
ルの粉末を約100k9/仇以上の圧力でプレスしてタ
ブレットを作り1×10‐4Tom以上の高真空度であ
らかじめ一定温度に保った基板上に蒸着させることがで
きる。この時、ニードルバルブ等によって酸素を含む気
体を電子ビーム蒸着中に導入することによって発熱抵抗
体中の酸素含有量をタンタルの0.005〜1.0(原
子比)とすることができる。このようにして作成された
薄膜発熱抵抗体は棚化タンタルと酸素より成り(但し不
純物としてC.Nなどを含有)、固有抵抗値を高く設定
すれば、電極部の抵抗値がある程度高くても良いから製
造工程が容易になり、電極を薄くすることにより表面の
凹凸が少くなって耐摩耗性が改良される。
比抵抗の制御が難かしく、耐熱性も悪くなるのでタンタ
ルの0.01〜1.0(原子比)が適当であり0.05
〜0.6がより好ましく、0.1〜0.3が最も好まし
い。このように作成した発熱抵抗体の固有抵抗値は10
0仏○肌〜5000仏○肌まで選択可能である。発熱抵
抗体を電子ビーム蒸着で製造する場合には、棚化タンタ
ルの粉末を約100k9/仇以上の圧力でプレスしてタ
ブレットを作り1×10‐4Tom以上の高真空度であ
らかじめ一定温度に保った基板上に蒸着させることがで
きる。この時、ニードルバルブ等によって酸素を含む気
体を電子ビーム蒸着中に導入することによって発熱抵抗
体中の酸素含有量をタンタルの0.005〜1.0(原
子比)とすることができる。このようにして作成された
薄膜発熱抵抗体は棚化タンタルと酸素より成り(但し不
純物としてC.Nなどを含有)、固有抵抗値を高く設定
すれば、電極部の抵抗値がある程度高くても良いから製
造工程が容易になり、電極を薄くすることにより表面の
凹凸が少くなって耐摩耗性が改良される。
また電極部での電圧降下が無視できる程度であることか
ら、薄膜発熱抵抗体の発熱ムラによる発色濃度ムラも小
さくなり、マトリクス配線などの電極パターンの設計が
自由になる。またスパッタリング中あるいは電子ビーム
蒸着中に於いて200℃〜500qoの基板加熱を行う
ことによって、基板と薄膜発熱抵抗体との密着性が向上
し、膜の安定性に効果がある。
ら、薄膜発熱抵抗体の発熱ムラによる発色濃度ムラも小
さくなり、マトリクス配線などの電極パターンの設計が
自由になる。またスパッタリング中あるいは電子ビーム
蒸着中に於いて200℃〜500qoの基板加熱を行う
ことによって、基板と薄膜発熱抵抗体との密着性が向上
し、膜の安定性に効果がある。
次に実施例に基づいて説明する。
(実施例 1)
110000でホットプレスした5インチ径の磁化タン
タルTaB2のターゲットを用いて、充分に洗浄された
ガラス厚50〃mのグレーズドアルミナ基板を300o
oに基板加熱して、アルゴン圧力4×1げびorr、酸
素圧3×10‐3Torr、混合ガス雰囲気中で高周波
2極スパッタリングを行った。
タルTaB2のターゲットを用いて、充分に洗浄された
ガラス厚50〃mのグレーズドアルミナ基板を300o
oに基板加熱して、アルゴン圧力4×1げびorr、酸
素圧3×10‐3Torr、混合ガス雰囲気中で高周波
2極スパッタリングを行った。
スパッタ率は200A/分、投入パワーは3.0W/め
で5分間スパッタしたところ、1000Aの膜厚の薄膜
発熱抵抗体が得られた。比抵抗は600山○肌、面積抵
抗は600/口であった。この膜の組成をイオンマイク
ロアナラィザで調べたところ酸素がタンタルの0.21
(原子比)含まれていた。この上にチタン10A、アル
ミニウムを1仏m電子ビーム蒸着で付け、選択エッチン
グで4本/側の分解能をもつサーマルヘッドパターンを
形成し、これをサーマルヘッドA,とした。さらにこの
上に保護層として酸化シリコン(Si02)を1一m、
酸化タンタル(Ta205)を10仏m連続的にスパッ
タで頃層し、サーマルへッドんとした。比較の為に、高
周波2極の反応スパッタリングによってタンタルをター
ゲットとし、アルゴンと窒素の全圧力が8×10‐2T
om、窯秦分圧が1×lo‐4Torrの条件で100
0人の厚さの窒化タンタル薄膜発熱抵抗体のサーマルヘ
ッドB,を作成した。
で5分間スパッタしたところ、1000Aの膜厚の薄膜
発熱抵抗体が得られた。比抵抗は600山○肌、面積抵
抗は600/口であった。この膜の組成をイオンマイク
ロアナラィザで調べたところ酸素がタンタルの0.21
(原子比)含まれていた。この上にチタン10A、アル
ミニウムを1仏m電子ビーム蒸着で付け、選択エッチン
グで4本/側の分解能をもつサーマルヘッドパターンを
形成し、これをサーマルヘッドA,とした。さらにこの
上に保護層として酸化シリコン(Si02)を1一m、
酸化タンタル(Ta205)を10仏m連続的にスパッ
タで頃層し、サーマルへッドんとした。比較の為に、高
周波2極の反応スパッタリングによってタンタルをター
ゲットとし、アルゴンと窒素の全圧力が8×10‐2T
om、窯秦分圧が1×lo‐4Torrの条件で100
0人の厚さの窒化タンタル薄膜発熱抵抗体のサーマルヘ
ッドB,を作成した。
この窒化タンタル薄膜発熱抵抗体は比抵抗が260仏○
肌で面積抵抗は260/口であった。サーマルヘッドB
,に対し、さらに保護膜として酸化シリコン(Si02
)を1仏m、酸化タンタル(Ta205)をloAm連
続的にスパッタで穣届し、サーマルヘッド珍とした。こ
れらのサーマルヘッドに対して、50HZで母hsの矩
形波を30分ごとにIW/柵ずつパワーアップしながら
加速テストを行った。
肌で面積抵抗は260/口であった。サーマルヘッドB
,に対し、さらに保護膜として酸化シリコン(Si02
)を1仏m、酸化タンタル(Ta205)をloAm連
続的にスパッタで穣届し、サーマルヘッド珍とした。こ
れらのサーマルヘッドに対して、50HZで母hsの矩
形波を30分ごとにIW/柵ずつパワーアップしながら
加速テストを行った。
この結果を第2図に示す。同図から明らかなように、本
発明にかかる製造方法で作成した薄膜発熱抵抗体を有す
るサーマルヘッドは高印加電力に耐えることができ、高
温での抵抗変化が少し、ことがわかつた。つまり、比較
例では保護膜なしでは実用するのが難かしいのに対して
、本発明に係るサーマルヘッド‘ま保護膜なしでも実用
でき、保護膜をつけた場合には非常に良い耐熱性が得ら
れた。(実施例 2) 1300ooでホットプレスした6インチ径の棚化タン
タル(TaB2)のターゲットを用いて、充分に洗浄さ
れたガラス厚50れmのグレーズドアルミナ基板を20
0ooに基板加熱して、アルゴン圧力4×10‐幻or
r、酸素圧4×10‐3Tonの混合ガス雰囲気中で高
周波2極スパッタリングを行った。
発明にかかる製造方法で作成した薄膜発熱抵抗体を有す
るサーマルヘッドは高印加電力に耐えることができ、高
温での抵抗変化が少し、ことがわかつた。つまり、比較
例では保護膜なしでは実用するのが難かしいのに対して
、本発明に係るサーマルヘッド‘ま保護膜なしでも実用
でき、保護膜をつけた場合には非常に良い耐熱性が得ら
れた。(実施例 2) 1300ooでホットプレスした6インチ径の棚化タン
タル(TaB2)のターゲットを用いて、充分に洗浄さ
れたガラス厚50れmのグレーズドアルミナ基板を20
0ooに基板加熱して、アルゴン圧力4×10‐幻or
r、酸素圧4×10‐3Tonの混合ガス雰囲気中で高
周波2極スパッタリングを行った。
スパッタ率は200△/分、投入パワーは3.0W/め
で3分間スパッタしたところ、600△の膜厚の本発明
薄膜発熱抵抗体が得られた。比抵抗は1100仏○cの
、面積抵抗は180Q/□であった。この上にバナジウ
ム10△、アルミニウムを1仏m電子ビーム蒸着で付け
、選択エッチングで4本/側の分解能をもつサーマルヘ
ッドパターンを形成し、さらにこの上に保護層として酸
化シリコン(Si02)を2仏m、酸化アルミニウム(
山203)を5仏m連続的にスパッタで横層し、サーマ
ルヘッドを作成した。このサーマルヘッド‘こ対して実
施例1と同じ加速テストを施したところ、サーマルヘッ
ドふと同機な結果が得られた。
で3分間スパッタしたところ、600△の膜厚の本発明
薄膜発熱抵抗体が得られた。比抵抗は1100仏○cの
、面積抵抗は180Q/□であった。この上にバナジウ
ム10△、アルミニウムを1仏m電子ビーム蒸着で付け
、選択エッチングで4本/側の分解能をもつサーマルヘ
ッドパターンを形成し、さらにこの上に保護層として酸
化シリコン(Si02)を2仏m、酸化アルミニウム(
山203)を5仏m連続的にスパッタで横層し、サーマ
ルヘッドを作成した。このサーマルヘッド‘こ対して実
施例1と同じ加速テストを施したところ、サーマルヘッ
ドふと同機な結果が得られた。
(実施例 3)
6インチ径の金属タンタル坂上に、糠結した1/4イン
チ径のホウ素板を多数個遣いて表面積比で金属タンタル
:棚素がおよそ1:2になるようにしたターゲットを用
いた。
チ径のホウ素板を多数個遣いて表面積比で金属タンタル
:棚素がおよそ1:2になるようにしたターゲットを用
いた。
充分に洗浄されたグレーズドセラミツクス基板を500
qoに基板加熱してアルゴン圧:3×10‐2Tonで
、酸素圧2×10‐汀orrで、R.F.2極でスパッ
タした。スパッタ率は100A/分で8分間スパツタし
たところ800△の膜厚、固有抵抗値540r○抑、面
積抵抗670/□の薄膜発熱抵抗体が得られた。この上
にチタンを10A、アルミニウムをlAm電子ビームで
蒸着した後、選択エッチング4本/職分解館をもつサー
マルヘッドパターンを形成した。次に保護膜として酸化
マグネシウム(Mg0)10仏mをスパッタで積層した
。このサーマルヘッドに対して実施例1と同じ加速テス
トを行ったところ、22.5W/嫌まで抵抗変化率は±
2%以内で、窒化タンタルを用いたサーマルヘツド‘こ
比して非常に良好な結果が得られた。
qoに基板加熱してアルゴン圧:3×10‐2Tonで
、酸素圧2×10‐汀orrで、R.F.2極でスパッ
タした。スパッタ率は100A/分で8分間スパツタし
たところ800△の膜厚、固有抵抗値540r○抑、面
積抵抗670/□の薄膜発熱抵抗体が得られた。この上
にチタンを10A、アルミニウムをlAm電子ビームで
蒸着した後、選択エッチング4本/職分解館をもつサー
マルヘッドパターンを形成した。次に保護膜として酸化
マグネシウム(Mg0)10仏mをスパッタで積層した
。このサーマルヘッドに対して実施例1と同じ加速テス
トを行ったところ、22.5W/嫌まで抵抗変化率は±
2%以内で、窒化タンタルを用いたサーマルヘツド‘こ
比して非常に良好な結果が得られた。
(実施例 4)
6インチ径の金属タンタル板をターゲットとして用いた
。
。
充分に洗浄されたグレーズドセラミックス基板を400
ooに基板加熱してアルゴン、ジボラン、酸素混合ガス
雰囲気中で活性スパッタリングをおこなった。アルゴン
+ジボラン十酸素の全圧力は3.5×10‐2Torr
、ジボラン分圧は1.5×1げ4Torr酸素分圧はl
xlo‐4Toでてで高周波2極スパッタにて1000
△の膜厚をつけた。面積抵抗は300/口の(固有抵抗
値は300ム○肌)であった。この上にバナジウムを1
00A、金をlAm電子ビームで蒸着した後、選択エッ
チングで4本/肋分解能をもつサーマルヘッドパターン
を形成した。次いで保護膜として酸化アルミニウム(山
203)10rmをスパッタで穣層した。
ooに基板加熱してアルゴン、ジボラン、酸素混合ガス
雰囲気中で活性スパッタリングをおこなった。アルゴン
+ジボラン十酸素の全圧力は3.5×10‐2Torr
、ジボラン分圧は1.5×1げ4Torr酸素分圧はl
xlo‐4Toでてで高周波2極スパッタにて1000
△の膜厚をつけた。面積抵抗は300/口の(固有抵抗
値は300ム○肌)であった。この上にバナジウムを1
00A、金をlAm電子ビームで蒸着した後、選択エッ
チングで4本/肋分解能をもつサーマルヘッドパターン
を形成した。次いで保護膜として酸化アルミニウム(山
203)10rmをスパッタで穣層した。
このサ山マルヘツド‘こ対して実施例1と同じ加速テス
トをおこなったところ22W/桝まで抵抗変化率は土2
%以内であった。本例もまた前記比較例の窒化タンタル
を用いたサーマルヘッドより非常に良好な結果が得られ
た。(実施例 5) 棚化タンタルの粉末を100kg/地以上でプレスした
タブレットを作成し、あらかじめ充分に洗浄されたグレ
ーズドセラミックス基板上に基板加熱300午○、真空
度2×10‐6Torrまで真空にひいた後、乾燥空気
をニードルバルブで導入しながら真空度5×10‐6T
orrで1000Aの厚さに電子ビームで蒸着した。
トをおこなったところ22W/桝まで抵抗変化率は土2
%以内であった。本例もまた前記比較例の窒化タンタル
を用いたサーマルヘッドより非常に良好な結果が得られ
た。(実施例 5) 棚化タンタルの粉末を100kg/地以上でプレスした
タブレットを作成し、あらかじめ充分に洗浄されたグレ
ーズドセラミックス基板上に基板加熱300午○、真空
度2×10‐6Torrまで真空にひいた後、乾燥空気
をニードルバルブで導入しながら真空度5×10‐6T
orrで1000Aの厚さに電子ビームで蒸着した。
この面積抵抗は約360/口(固有抵抗値は約360仏
○弧)であった。次にこの上にチタンを10△、アルミ
ニウムを1.5仏m電子ビームにより蒸着した後、選択
エッチングにより4本/側の分解能をもったパターンを
形成した後、酸化シリコン(Si02)を1山m、酸化
タンタル(Ta205)をloAm連続的にスパッタで
積層し、サーマルヘッドを作成した。このサーマルヘツ
ド‘こ対して実施例1と同じ加速テストを施したところ
、サーマルヘッドA2と同様な良好な結果が得られた。
この膜の組成をイオンマイクロアナラィザで調べたとこ
ろ酸素がタンタルの0.09(原子比)含まれていた。
○弧)であった。次にこの上にチタンを10△、アルミ
ニウムを1.5仏m電子ビームにより蒸着した後、選択
エッチングにより4本/側の分解能をもったパターンを
形成した後、酸化シリコン(Si02)を1山m、酸化
タンタル(Ta205)をloAm連続的にスパッタで
積層し、サーマルヘッドを作成した。このサーマルヘツ
ド‘こ対して実施例1と同じ加速テストを施したところ
、サーマルヘッドA2と同様な良好な結果が得られた。
この膜の組成をイオンマイクロアナラィザで調べたとこ
ろ酸素がタンタルの0.09(原子比)含まれていた。
図面の簡単な説明第1図は本発明に係るサーマルヘッド
の形状例の要部断面図。
の形状例の要部断面図。
第2図は本発明の効果を示す特性図。1・・・・・・基
板、2・・・・・・薄膜発熱抵抗体、3・・・・・・電
気導体、4・・・・・・保護層。
板、2・・・・・・薄膜発熱抵抗体、3・・・・・・電
気導体、4・・・・・・保護層。
弟l図
第2図
Claims (1)
- 【特許請求の範囲】 1 基板と、該基板上に形成された発熱抵抗体と、該発
熱抵抗体に電力を供給する電気導体とを有するサーマル
ヘツドにおいて、発熱抵抗体が硼化タンタルと酸素とか
らなることを特徴とするサーマルヘツド。 2 発熱抵抗体において酸素の含有量がタンタルの0.
005(原子比)以上である特許請求の範囲第1項記載
のサーマルヘツド。 3 発熱抵抗体において酸素の含有量がタンタルの0.
01〜1.0(原子比)である特許請求の範囲第1項記
載のサーマルヘツド。 4 発熱抵抗体が酸化シリコン薄膜で覆われている特許
請求の範囲第1項ないし第3項記載のサーマルヘツド。 5 酸化タンタルの保護膜を有する特許請求の範囲第1
項ないし第4項記載のサーマルヘツド。6 酸化アルミ
ニウムの保護膜を有する特許請求の範囲第1項ないし第
4項記載のサーマルヘツド。 7 酸化マグネシウムの保護膜を有する特許請求の範囲
第1項ないし第4項記載のサーマルヘツド。 8 硼化タンタルと酸素とからなる発熱抵抗体をスパツ
タリングで製造することを特徴とするサーマルヘツドの
製造方法。 9 アルゴン酸素とを含有する混合気体中でスパツタリ
ングする特許請求の範囲第8項記載の製造方法。 10 スパツタリングのターゲツトが硼化タンタルをホ
ツトプレスしたものである特許請求の範囲第8項または
第9項記載の製造方法。 11 金属タンタルと硼素とを同時にターゲツトするよ
うに配置した特許請求の範囲第8項または第9項記載の
製造方法。 12 アルゴンと酸素とジボランとを含有する混合気体
中でスパツタリングする特許請求の範囲第8項記載の製
造方法。 13 金属タンタルをターゲツトとする特許請求の範囲
第12項記載の製造方法。 14 200℃〜500℃の基板加熱を行いながらスパ
ツタリングを行う特許請求の範囲第8項ないし第13項
記載の造方法。 15 硼化タンタルと酸素とからなる発熱抵抗体を電子
ビーム蒸着で製造することを特徴とするサーマルヘツド
の製造方法。 16 酸素を含む気体を導入しながら電子ビーム蒸着を
行う特許請求の範囲第15項記載の製造方法。 17 200℃〜500℃の基板加熱を行いながら電子
ビーム蒸着を行う特許請求の範囲第15項また第16項
記載の製造方法。
Priority Applications (3)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP52160147A JPS6038008B2 (ja) | 1977-12-28 | 1977-12-28 | サ−マルヘツド |
| US05/906,359 US4296309A (en) | 1977-05-19 | 1978-05-15 | Thermal head |
| US06/552,013 US4545881A (en) | 1977-05-19 | 1983-11-16 | Method for producing electro-thermal transducer |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP52160147A JPS6038008B2 (ja) | 1977-12-28 | 1977-12-28 | サ−マルヘツド |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPS5492276A JPS5492276A (en) | 1979-07-21 |
| JPS6038008B2 true JPS6038008B2 (ja) | 1985-08-29 |
Family
ID=15708876
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP52160147A Expired JPS6038008B2 (ja) | 1977-05-19 | 1977-12-28 | サ−マルヘツド |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPS6038008B2 (ja) |
Families Citing this family (2)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPH0712691B2 (ja) * | 1986-03-03 | 1995-02-15 | ティーディーケイ株式会社 | 薄膜型サ−マルヘツド |
| JPH0712690B2 (ja) * | 1986-03-03 | 1995-02-15 | ティーディーケイ株式会社 | 薄膜型サ−マルヘツド |
-
1977
- 1977-12-28 JP JP52160147A patent/JPS6038008B2/ja not_active Expired
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| JPS5492276A (en) | 1979-07-21 |
Similar Documents
| Publication | Publication Date | Title |
|---|---|---|
| US4545881A (en) | Method for producing electro-thermal transducer | |
| CN1113468A (zh) | 热打印头 | |
| JPH07132628A (ja) | サーマルヘッドおよびその製造方法 | |
| CN119872085A (zh) | 耐高能量冲击的热敏打印头用发热基板及其制造方法 | |
| JPS6038006B2 (ja) | サ−マルヘツド | |
| JPS6038008B2 (ja) | サ−マルヘツド | |
| JPS6038010B2 (ja) | サ−マルヘツド | |
| JPS6038001B2 (ja) | サ−マルヘツド | |
| JPS6038005B2 (ja) | サ−マルヘツド | |
| JPS6038003B2 (ja) | サ−マルヘツド | |
| JPS6038007B2 (ja) | サ−マルヘツド | |
| JPS6038004B2 (ja) | サ−マルヘツド | |
| JPS6038009B2 (ja) | サ−マルヘツド | |
| JPS6016084B2 (ja) | サーマルヘツド | |
| JPS6026283B2 (ja) | 薄膜発熱抵抗体の製造方法 | |
| JPS6038002B2 (ja) | サ−マルヘツド | |
| JPS6016083B2 (ja) | サーマルヘツド | |
| JPS598234B2 (ja) | サ−マルヘツド | |
| JPS6013282B2 (ja) | サーマルヘツド | |
| JPS60229B2 (ja) | サ−マルヘツド | |
| JPS6145544B2 (ja) | ||
| JPS598233B2 (ja) | サ−マルヘツド | |
| JP3369632B2 (ja) | サーマルプリントヘッドとその製造方法 | |
| JPS6145543B2 (ja) | ||
| JPS6013281B2 (ja) | サーマルヘツド |