JPS6035237A - 光コネクタ接続損失の測定方法およびその測定用標準光コ−ド - Google Patents
光コネクタ接続損失の測定方法およびその測定用標準光コ−ドInfo
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- JPS6035237A JPS6035237A JP14457083A JP14457083A JPS6035237A JP S6035237 A JPS6035237 A JP S6035237A JP 14457083 A JP14457083 A JP 14457083A JP 14457083 A JP14457083 A JP 14457083A JP S6035237 A JPS6035237 A JP S6035237A
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- plug
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- G01M11/00—Testing of optical apparatus; Testing structures by optical methods not otherwise provided for
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- G01M11/31—Testing of optical devices, constituted by fibre optics or optical waveguides with a light emitter and a light receiver being disposed at the same side of a fibre or waveguide end-face, e.g. reflectometers
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- G—PHYSICS
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- G01M—TESTING STATIC OR DYNAMIC BALANCE OF MACHINES OR STRUCTURES; TESTING OF STRUCTURES OR APPARATUS, NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
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- G01M11/33—Testing of optical devices, constituted by fibre optics or optical waveguides with a light emitter being disposed at one fibre or waveguide end-face, and a light receiver at the other end-face
- G01M11/332—Testing of optical devices, constituted by fibre optics or optical waveguides with a light emitter being disposed at one fibre or waveguide end-face, and a light receiver at the other end-face using discrete input signals
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- Physics & Mathematics (AREA)
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- General Physics & Mathematics (AREA)
- Testing Of Optical Devices Or Fibers (AREA)
- Mechanical Coupling Of Light Guides (AREA)
Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
〔発明の属する技術分野〕
本発明は、通信用光ファイバを接続する光コネクタの接
続損失をめる測定方法およびその測定に用いる標準光コ
ードに関するものである。
続損失をめる測定方法およびその測定に用いる標準光コ
ードに関するものである。
光ファイバをコネクタ接続する場合に、その接続形態を
第１図に示す。１は被接続上部側心線、２は被接続下部
側心線、３は上部側心線１に取付けた光コネクタ・プラ
グ（以下、「上部プラグ」と略称する。）４は下部側心
線２に取付けた光コネクタ・プラグ（以下、「下部プラ
グ」と略称する。）、Ａは信号送り側（以下、「局」と
略称する。）である。
第１図に示す。１は被接続上部側心線、２は被接続下部
側心線、３は上部側心線１に取付けた光コネクタ・プラ
グ（以下、「上部プラグ」と略称する。）４は下部側心
線２に取付けた光コネクタ・プラグ（以下、「下部プラ
グ」と略称する。）、Ａは信号送り側（以下、「局」と
略称する。）である。
一般に、光ファイバの接続環境は、電柱の上やマンホー
ルの中などが多く、また、下部側心線２の損失も不明で
ある。したがって接続した光コネクタの接続損失をめる
ためには若干の工夫が必要である。
ルの中などが多く、また、下部側心線２の損失も不明で
ある。したがって接続した光コネクタの接続損失をめる
ためには若干の工夫が必要である。
従来、主に使用されている接続損失測定方法は、次の２
種がある。
種がある。
その第一の方法は、カントバンク法と呼ばれるものであ
り、その測定手順に従って、第２図〜第４図を用いて説
明する。まず、第２図に示すように局Ａから上部側心線
ｌに光を入射し、接続点Ｘで出射パワーＰａをめる。次
に、接続点Ｘで上部側心線ｌと下部側心線２を仮接続し
、第３図に示すように、下部側心線２の端で出射パワー
Ｐ１をめる。この後に接続点Ｘから約１ｍ離れた下部側
心線２のカットバンク点Ｙで、カットバック・パワーＰ
２をめる。これにより、下部側心線２の損失は、（Ｐ２
Ｐｌ）で、仮接続損失は（ＰＯＰ２）でめることがで
きる。
り、その測定手順に従って、第２図〜第４図を用いて説
明する。まず、第２図に示すように局Ａから上部側心線
ｌに光を入射し、接続点Ｘで出射パワーＰａをめる。次
に、接続点Ｘで上部側心線ｌと下部側心線２を仮接続し
、第３図に示すように、下部側心線２の端で出射パワー
Ｐ１をめる。この後に接続点Ｘから約１ｍ離れた下部側
心線２のカットバンク点Ｙで、カットバック・パワーＰ
２をめる。これにより、下部側心線２の損失は、（Ｐ２
Ｐｌ）で、仮接続損失は（ＰＯＰ２）でめることがで
きる。
次に、接続点Ｘにおいて上部側心線１に上部プラグ３を
取付け、下部側心線２に下部プラグ４を取付ける。ここ
で上部プラグ３の出射パワーＰｏ’をめ、両プラグ３お
よび４を接続した後の下部側心線２の端で出射パワーＰ
１’をめる。以上の操作から光コネクタの接続損失は Ｐａ’ Ｐｘ’ （Ｐ２−Ｐｌ） でめられる。
取付け、下部側心線２に下部プラグ４を取付ける。ここ
で上部プラグ３の出射パワーＰｏ’をめ、両プラグ３お
よび４を接続した後の下部側心線２の端で出射パワーＰ
１’をめる。以上の操作から光コネクタの接続損失は Ｐａ’ Ｐｘ’ （Ｐ２−Ｐｌ） でめられる。
しかし、以上説明したようにこのカットバンク法では
■ 接続点Ｘ、および下部側心線２の端（Ｐｘ、Ｐ１’
の測定点）に光パワーメータが必要である、 ■ カットバックする下部側心線２を確保する必要があ
る、 ■ 仮接続作業が必要である、 などの欠点があった。
の測定点）に光パワーメータが必要である、 ■ カットバックする下部側心線２を確保する必要があ
る、 ■ 仮接続作業が必要である、 などの欠点があった。
第二の従来例方法は、パルス法と呼ばれるものであり、
第１図のように光コネクタで接続した心線を局Ａでパル
ス試験機につなぐことにより測定する方法である。パル
ス状の光を局Ａから入射すると、上部側心線１、下部側
心線２の中でレーリ散乱を受け、導波モードの散乱光が
逆にパルス試験機に戻る。散乱を受けた位置は散乱光の
時間的な遅れに対応する。したがって、パルス試験機に
は第５図に示すように、上部側心線、接続点、下部側心
線が時間軸で分離される。いま、両心線のレーり散乱係
数が等しければ、レーリ散乱光の接続点での段差をθと
すると、下部側心線でのレーリ散乱光は、接続点を２回
通過するので、接続損失はθ／２でめることができる。
第１図のように光コネクタで接続した心線を局Ａでパル
ス試験機につなぐことにより測定する方法である。パル
ス状の光を局Ａから入射すると、上部側心線１、下部側
心線２の中でレーリ散乱を受け、導波モードの散乱光が
逆にパルス試験機に戻る。散乱を受けた位置は散乱光の
時間的な遅れに対応する。したがって、パルス試験機に
は第５図に示すように、上部側心線、接続点、下部側心
線が時間軸で分離される。いま、両心線のレーり散乱係
数が等しければ、レーリ散乱光の接続点での段差をθと
すると、下部側心線でのレーリ散乱光は、接続点を２回
通過するので、接続損失はθ／２でめることができる。
この従来方法は、光パワーメータや仮接続が不要である
ため有利であるが、必要なレーリ散乱光係数が不明であ
ることが多く、心線間にばらつきがあると、実際の接続
損失はθ／２に対応しない欠点がある。実験的に一つの
サンプルをカットバック法と、パルス法でめたところ両
方法の接続損失の差は±０．６ ｄＢも認められた。
ため有利であるが、必要なレーリ散乱光係数が不明であ
ることが多く、心線間にばらつきがあると、実際の接続
損失はθ／２に対応しない欠点がある。実験的に一つの
サンプルをカットバック法と、パルス法でめたところ両
方法の接続損失の差は±０．６ ｄＢも認められた。
本発明は、レーリ散乱係数が不明である光ファイバを使
用する場合にも、パルス試験機による光コネクタの接続
損失を精度よくめることができる方法およびそのための
測定用光コードを提供することを目的とする。
用する場合にも、パルス試験機による光コネクタの接続
損失を精度よくめることができる方法およびそのための
測定用光コードを提供することを目的とする。
（発明の特徴〕
本発明は、パルス法の欠点を解決するために、新しく標
準光コードを用いて容易にレーリ散乱係数をめたうえで
、精度良く光コネクク接続損失をめるようにしたもので
請求めたレーリ散乱係数を相殺して光コネクタの接続損
失をめることを特徴とする。
準光コードを用いて容易にレーリ散乱係数をめたうえで
、精度良く光コネクク接続損失をめるようにしたもので
請求めたレーリ散乱係数を相殺して光コネクタの接続損
失をめることを特徴とする。
第６図は本発明の標準光コードの一実施例構成図である
。ｌＯと１１はそれぞれ光ファイバで、両光ファイバｌ
および２のレーリ散乱係数は既知である。１２と１３は
各光ファイバの端部に取付けた光コネクタである。Ｕは
光ファイバ１０および１１の接続点である。光ファイバ
１０のレーリ散乱係数はβ１、光ファイバ１１のレーリ
散乱係数はβ２であるとする。この標準光コードを用い
た本発明測定方法の実施例を第７図〜第９図に従い説明
する。
。ｌＯと１１はそれぞれ光ファイバで、両光ファイバｌ
および２のレーリ散乱係数は既知である。１２と１３は
各光ファイバの端部に取付けた光コネクタである。Ｕは
光ファイバ１０および１１の接続点である。光ファイバ
１０のレーリ散乱係数はβ１、光ファイバ１１のレーリ
散乱係数はβ２であるとする。この標準光コードを用い
た本発明測定方法の実施例を第７図〜第９図に従い説明
する。
■ 最初に、上部側心線１に付けた上部プラグ３と、標
準光コードの光ファイバ１０の光コネクタ１２を、また
、下部側心線２に付けた下部プラグ４と、標準光コード
の光ファイバ１１の光コネクタ１３を第７図に示すよう
に接続する。上部側心線１と下部側心線２のレーリ散乱
係数は、それぞれβ０、β０で未知である。
準光コードの光ファイバ１０の光コネクタ１２を、また
、下部側心線２に付けた下部プラグ４と、標準光コード
の光ファイバ１１の光コネクタ１３を第７図に示すよう
に接続する。上部側心線１と下部側心線２のレーリ散乱
係数は、それぞれβ０、β０で未知である。
この状態で、局Ａからパルス試験を行うと、光コネクタ
１２と上部プラグ３の接続点に光量Ｐｏの光が入射して
この接続点で損失が無いとする。このとき、上部プラグ
３の近傍の上部心線１内におけるレーリ散乱光はＰｏβ
０、光コネクタ１２の近傍の光フアイバ１０内における
レーリ散乱光はＰ。
１２と上部プラグ３の接続点に光量Ｐｏの光が入射して
この接続点で損失が無いとする。このとき、上部プラグ
３の近傍の上部心線１内におけるレーリ散乱光はＰｏβ
０、光コネクタ１２の近傍の光フアイバ１０内における
レーリ散乱光はＰ。
β１になる。
パルス試験で観察されるレーリ散乱光の段差は、ｄＢを
単位として再散乱光の比でめられ、１ で与えられる。光コネクタ１２と上部プラグ３との接続
点損失がＯでなく、αである場合には、上部プラグ３と
光コネクタ１２の接続点では、上部プラグ３と光コネク
タ１２の接続点では、 が、レーリ散乱光の段差Ｃ１として測定される。
単位として再散乱光の比でめられ、１ で与えられる。光コネクタ１２と上部プラグ３との接続
点損失がＯでなく、αである場合には、上部プラグ３と
光コネクタ１２の接続点では、上部プラグ３と光コネク
タ１２の接続点では、 が、レーリ散乱光の段差Ｃ１として測定される。
同時に、下部プラグ４と光コネクタ１３との接続点では
、 がレーリ散乱光の段差Ｄ１として測定される。ただし、
Ｔは光コネクタ１３と、下部プラグ４との接続損失であ
る。
、 がレーリ散乱光の段差Ｄ１として測定される。ただし、
Ｔは光コネクタ１３と、下部プラグ４との接続損失であ
る。
■ 次に第８図に示すように、標準光コードを逆転して
上部プラグ３と光コネクタ１３を、また下部プラグ４と
光コネクタ１２を接続する。この状態で、局Ａから再び
パルス試験を行うと、上部プラグ３と光コネクタ１３と
の接続点では、 がレーリ散乱光の段差Ｃ２として測定される。αは、上
部プラグ３と光コネクタ１３との接続損失であり、上部
プラグ３と光コネクタ１２との接続損失と等しい。同時
に、下部プラグ４と光コネクタ１２の接続点では、 がレーり散乱光の段差Ｄ２として測定される。γは下部
プラグ４と光コネクタ１２との接続損失であり、下部プ
ラグ４と光コネクタ１３との接続損失と等しい。
上部プラグ３と光コネクタ１３を、また下部プラグ４と
光コネクタ１２を接続する。この状態で、局Ａから再び
パルス試験を行うと、上部プラグ３と光コネクタ１３と
の接続点では、 がレーリ散乱光の段差Ｃ２として測定される。αは、上
部プラグ３と光コネクタ１３との接続損失であり、上部
プラグ３と光コネクタ１２との接続損失と等しい。同時
に、下部プラグ４と光コネクタ１２の接続点では、 がレーり散乱光の段差Ｄ２として測定される。γは下部
プラグ４と光コネクタ１２との接続損失であり、下部プ
ラグ４と光コネクタ１３との接続損失と等しい。
以上の測定から、次の４つの方程式が得られる。
−ｌｕ ｔｏｇｌｏ （−） ＋γ＝ Ｄｔ −−−（
３１β２ このうち式（１３、（２）よりβ０を、式（３）、（４
）よりβ０′をめることができる。
３１β２ このうち式（１３、（２）よりβ０を、式（３）、（４
）よりβ０′をめることができる。
■ 最後に、第９図に示すように、上部プラグ３と下部
プラグ４を直接接続し、局Ａからパルス試験を行う。レ
ーり散乱の段差は となる。δは測定すべき上部プラグ３と下部プラグ４と
の接続損失である。β０とβ０′は前の２回の測定で明
らかになっているため、δを決定することができる。
プラグ４を直接接続し、局Ａからパルス試験を行う。レ
ーり散乱の段差は となる。δは測定すべき上部プラグ３と下部プラグ４と
の接続損失である。β０とβ０′は前の２回の測定で明
らかになっているため、δを決定することができる。
以上説明したように、本発明では、３回のパルス試験で
光コネクタの接続損失をめることができる。
光コネクタの接続損失をめることができる。
ところで、先に述べた式（１１〜（４）の中で、上部プ
ラグ３、下部プラグ４を標準光コードの光コネクタＩ２
と１３に接続した場合に、各々の接続損失α、γを一定
と仮定したことについての妥当性を考える。実際に光コ
ネクタの接続を１０００回繰り返し行ったところ、接続
損失のばらつきは平均０．１ ｄＢ程度であることを実
験的に確認した。本発明での接続損失の測定誤差を０．
１ ｄＢ程度と考えれば、この仮定は妥当である。
ラグ３、下部プラグ４を標準光コードの光コネクタＩ２
と１３に接続した場合に、各々の接続損失α、γを一定
と仮定したことについての妥当性を考える。実際に光コ
ネクタの接続を１０００回繰り返し行ったところ、接続
損失のばらつきは平均０．１ ｄＢ程度であることを実
験的に確認した。本発明での接続損失の測定誤差を０．
１ ｄＢ程度と考えれば、この仮定は妥当である。
次に標準光コードの長さについて考える。パルス試験機
のパルス幅が小さいほど距離分解能が高く、標準光コー
ド長を短くすることができるが、意図的に光ファイバ１
０と１１のレーリ散乱係数β１、β２を変えているため
、ある程度の光ファイバ長が必要である。また、パルス
幅を小さくすると測定可能距離が短くなるために、パル
ス幅にも限界がある。この両条件から実際にパルス試験
機を用いてみると、光ファイバ１０および１１の長さは
各々１０ｍ以上あることが好ましい。
のパルス幅が小さいほど距離分解能が高く、標準光コー
ド長を短くすることができるが、意図的に光ファイバ１
０と１１のレーリ散乱係数β１、β２を変えているため
、ある程度の光ファイバ長が必要である。また、パルス
幅を小さくすると測定可能距離が短くなるために、パル
ス幅にも限界がある。この両条件から実際にパルス試験
機を用いてみると、光ファイバ１０および１１の長さは
各々１０ｍ以上あることが好ましい。
第１Ｏ図は、本発明の標準光コードの別の一実施例構成
図である。レーり散乱係数が既知の２本の光ファイバ２
１．２２に、各々光コネクタ詔、Ｕ、２５、あが取付け
である構造になっている。この標準光コードを用いて測
定するには、はじめに光ファイバ２１を上部および下部
側心線１と２との間に接続してパルス試験を行い、つぎ
に光ファイバ２２を上部および下部側心線１と２との間
に接続してパルス試験を行い、式（１１〜（４）を導出
し、同様に演算を行うことができる。
図である。レーり散乱係数が既知の２本の光ファイバ２
１．２２に、各々光コネクタ詔、Ｕ、２５、あが取付け
である構造になっている。この標準光コードを用いて測
定するには、はじめに光ファイバ２１を上部および下部
側心線１と２との間に接続してパルス試験を行い、つぎ
に光ファイバ２２を上部および下部側心線１と２との間
に接続してパルス試験を行い、式（１１〜（４）を導出
し、同様に演算を行うことができる。
２５０ｍの２本のファイバを接続した５００ｍの本発明
の標準光コードを用いて、本発明の測定法により（資）
個の光コネクタについてその接続損失を測定し、同時に
カットバック法によって測定した接続損失と比較したと
ころ、測定された接続損失の差はすべて±０．２ ｄＢ
以内であった。このことから従来のパルス法による誤差
±０．６ ｄＢを約１／３に改善できることがわかった
。
の標準光コードを用いて、本発明の測定法により（資）
個の光コネクタについてその接続損失を測定し、同時に
カットバック法によって測定した接続損失と比較したと
ころ、測定された接続損失の差はすべて±０．２ ｄＢ
以内であった。このことから従来のパルス法による誤差
±０．６ ｄＢを約１／３に改善できることがわかった
。
以上説明したように、レーリ散乱係数が不明な光ファイ
バのレーり散乱係数をめることができるので、今まで正
確に測定できなかったパルス試験機による光コネクタの
接続損失を精度良くめることができる利点がある。また
、本発明の方法では標準光コードを接続作業現場に持っ
て行けば、光コネクタの接続損失をパルス試験機でめる
ことができる。このため、作業性が良く、また予め光フ
ァイバのパラメータをめておく必要がない利点がある。
バのレーり散乱係数をめることができるので、今まで正
確に測定できなかったパルス試験機による光コネクタの
接続損失を精度良くめることができる利点がある。また
、本発明の方法では標準光コードを接続作業現場に持っ
て行けば、光コネクタの接続損失をパルス試験機でめる
ことができる。このため、作業性が良く、また予め光フ
ァイバのパラメータをめておく必要がない利点がある。
さらに、光パルス試験機を用いるために、被測定接続点
以外の各点の状況を観測できるため、１回の測定で有効
に回線全体を見ることができる。
以外の各点の状況を観測できるため、１回の測定で有効
に回線全体を見ることができる。
第１図は光コネクタ接続形態を示す図。
第２図〜第４図は従来のカットバック法の作業手順の説
明図。 第５図はパルス試験機による接続損失の測定結果を示す
図。 第６図は本発明の一実施例標準コードの構成図。 第７図〜第９図は本発明方法の作業手順の説明図。 第１θ図は本発明の別の実施例標準コードの構成図。 １・・・被接続上部側心線、２・・・被接続下部側心線
、３・・・上部プラグ、４・・・下部プラグ、１０・・
・光ファイバ、１１・・・光ファイバ、１２・・・光コ
ネクタ、１３・・・光コネクタ、２１・・・光ファイバ
、２２・・・光ファイバ、四〜加・・・光コネクタ。 第１図 第２図 第３図 第４図 第５図 第６図 第７図 第８図 第９図 第１０図
明図。 第５図はパルス試験機による接続損失の測定結果を示す
図。 第６図は本発明の一実施例標準コードの構成図。 第７図〜第９図は本発明方法の作業手順の説明図。 第１θ図は本発明の別の実施例標準コードの構成図。 １・・・被接続上部側心線、２・・・被接続下部側心線
、３・・・上部プラグ、４・・・下部プラグ、１０・・
・光ファイバ、１１・・・光ファイバ、１２・・・光コ
ネクタ、１３・・・光コネクタ、２１・・・光ファイバ
、２２・・・光ファイバ、四〜加・・・光コネクタ。 第１図 第２図 第３図 第４図 第５図 第６図 第７図 第８図 第９図 第１０図
Claims (6)
- （１） それぞれレーり散乱係数が異なり、それぞれの
レーリ散乱係数が既知である２本の光ファイバのそれぞ
れの一端が相互に接続され、それぞれの他端に第一およ
び第二の接続用のプラグが取付けられた測定用標準光コ
ードを用い、 上記第一の接続用プラグと被測定光コネクタの上部プラ
グとを接続し、上記第二の接続用プラグを被測定光コネ
クタの下部プラグと接続して上記上部プラグに接続され
た光ファイバの他端から光パルス信号を入射してパルス
試験を実行する方法と、 上記第一の接続用プラグと被測定光コネクタの下部プラ
グと接続し、上記第二の接続用プラグを被測定光コネク
タの上部プラグと接続して上記上部プラグに接続された
光ファイバの他端から光パルス信号を入射してパルス試
験を実行する方法と、上記被測定光コネクタの上部プラ
グと上記被測定光コネクタの下部プラグとを接続して上
記上部プラグに接続された光ファイバの他端から光パル
ス信号を入射してパルス試験を実行する方法と、上記被
測定光コネクタに接続された光ファイバのレーり散乱係
数差を相殺して上記被測定光コネクタの接続損失を演算
する方法と を含む光コネクタ接続損失の測定方法。 - （２）それぞれレーリ散乱係数が異なり、それぞれのレ
ーリ散乱係数が既知である２本の光ファイバのそれぞれ
の一端が相互に接続され、それぞれの他端に接続用のプ
ラグが取付けられた測定用標準光コード。 - （３） ２本の光ファイバはそれぞれの長さが１０ｍ以
上である特許請求の範囲第（２）項に記載の測定用標準
光コード。 - （４） それぞれレーリ散乱係数が異なり、それぞれの
各両端に接続用のプラグが取付けられた第一の測定用標
準光コードおよび第二の測定用標準光コードを用い、 被測定光コネクタの上部プラグと被測定光コネクタの下
部プラグとの間に上記第一の測定用標準光コードを接続
して上記上部プラグに接続された光ファイバの他端から
光パルス信号を入射してパルス試験を実行する方法と、 被測定光コネクタの上部プラグと被測定光コネクタの下
部プラグとの間に上記第二の測定用標準光コードを接続
して上記上部プラグに接続された光ファイバの他端から
光パルス信号を入射してパルス試験を実行する方法と、 上記被測定光コネクタの上部プラグと上記被測定光コネ
クタの下部プラグとを接続して上記上部プラグに接続さ
れた光ファイバの他端から光パルス信号を入射してパル
ス試験を実行する方法と、上記被測定光コネクタに接続
された光ファイバのレーリ散乱係数差を相殺して上記被
測定光コネクタの接続損失を演算する方法と を含む光コネクタ接続損失の測定方法。 - （５）それぞれレーり散乱係数が異なり、それぞれのレ
ーリ散乱係数が既知である２本の光ファイバの各両端に
接続用のプラグが取付けられた１対の測定用標準光コー
ド。 - （６）２本の光ファイバはそれぞれの長さが１０ｍ以上
である特許請求の範囲第（５）項に記載の測定用標準光
コード。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP14457083A JPS6035237A (ja) | 1983-08-08 | 1983-08-08 | 光コネクタ接続損失の測定方法およびその測定用標準光コ−ド |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP14457083A JPS6035237A (ja) | 1983-08-08 | 1983-08-08 | 光コネクタ接続損失の測定方法およびその測定用標準光コ−ド |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPS6035237A true JPS6035237A (ja) | 1985-02-23 |
Family
ID=15365277
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP14457083A Pending JPS6035237A (ja) | 1983-08-08 | 1983-08-08 | 光コネクタ接続損失の測定方法およびその測定用標準光コ−ド |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPS6035237A (ja) |
Cited By (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| US5037197A (en) * | 1989-02-01 | 1991-08-06 | Bukhshtab Mikhail A | Method of determining optical losses at the ends and end joints of fiber light guides |
-
1983
- 1983-08-08 JP JP14457083A patent/JPS6035237A/ja active Pending
Cited By (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| US5037197A (en) * | 1989-02-01 | 1991-08-06 | Bukhshtab Mikhail A | Method of determining optical losses at the ends and end joints of fiber light guides |
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