CN212807569U - 一种高集成的隔离器测试系统 - Google Patents
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Abstract
本实用新型公开了一种高集成的隔离器测试系统,包括三个光纤耦合器,第一光纤耦合器第一端口与光源熔接,第一光纤耦合器二三端口与第二、第三光纤耦合器的第二端口熔接,第二、第三光纤耦合器的第一端口相互熔接,再将第二、第三光纤耦合器的第三端口分别接入A、B通道光功率计,进行光源参数标定清零,再将第二、第三光纤耦合器的第一端口断开,接入被测光纤器件进出端口,第二光纤耦合器的第一端口与被测光纤器件的进端熔接,第三光纤耦合器的第一端口与被测光纤器件的出端熔接,A、B通道光功率计读取被测光纤器件的参数:IL\RL\IS值,整个系统调试方便,测试精度高,且测试方式简便稳定,提高了隔离器的生产效率。
Description
技术领域
本实用新型涉及隔离器技术领域,具体为一种高集成的隔离器测试系统。
背景技术
光隔离器是光通信的微光学器件之一,对光的方向进行限制,使光只能单方向传输,通过光纤回波反射的光能够被光隔离器很好的隔离,提高光波传输效率。光隔离器在实际生产时需要对其进行测试,目前的测试方法中对被测元件的IL、RL、IS值需要单独测试,其测试麻烦,影响隔离器的成产效率。
实用新型内容
本实用新型的目的在于提供一种高集成的隔离器测试系统,调试方便,测试精度高,且测试方式简便稳定,提高了隔离器的生产效率,以解决上述背景技术中提出的问题。
为实现上述目的,本实用新型提供如下技术方案:一种高集成的隔离器测试系统,包括三个光纤耦合器,分别为第一光纤耦合器、第二光纤耦合器和第三光纤耦合器,所述第一光纤耦合器的第一端口与光源熔接,第一光纤耦合器的第二端口与第二光纤耦合器的第二端口熔接,第一光纤耦合器的第三端口与第三光纤耦合器的第二端口熔接;所述第二光纤耦合器和第三光纤耦合器的第一端口之间相互熔接;所述第二光纤耦合器的第三端口接入A通道光功率计;所述第三光纤耦合器的第三端口接入B通道光功率计。
优选的,所述第一光纤耦合器、第二光纤耦合器和第三光纤耦合器的分光比为50:50。
优选的,所述A通道光功率计和B通道光功率计用于光源参数标定清零。
优选的,所述A通道光功率计和B通道光功率计可测试被测光纤器件的IL\RL\IS值。
优选的,所述被测光纤器件的两端分别熔接在第二光纤耦合器和第三光纤耦合器的第一端口上。
与现有技术相比,本实用新型的有益效果如下:
本高集成的隔离器测试系统,在光源的参数标定清零完成后,将第二光纤耦合器和第三光纤耦合器的第一端口断开,接入被测光纤器件进出端口,第二光纤耦合器的第一端口与被测光纤器件的进端熔接,第三个光纤耦合器的第一端口与被测光纤器件的出端熔接,A通道光功率计和B通道光功率计读取被测光纤器件的参数:IL\RL\IS值,整个系统调试方便,测试精度高,且测试方式简便稳定,提高了隔离器的生产效率。
附图说明
图1为本实用新型的系统框图;
图2为本实用新型的系统测试框图。
图中:1、第一光纤耦合器;2、第二光纤耦合器;3、第三光纤耦合器;4、A通道光功率计;5、B通道光功率计;6、被测光纤器件;7、光源。
具体实施方式
下面将结合本实用新型实施例中的附图,对本实用新型实施例中的技术方案进行清楚、完整地描述,显然,所描述的实施例仅仅是本实用新型一部分实施例,而不是全部的实施例。基于本实用新型中的实施例,本领域普通技术人员在没有做出创造性劳动前提下所获得的所有其他实施例,都属于本实用新型保护的范围。
请参阅图1-2,一种高集成的隔离器测试系统,包括三个光纤耦合器,分别为第一光纤耦合器1、第二光纤耦合器2和第三光纤耦合器3,第一光纤耦合器1的第一端口与光源7熔接,第一光纤耦合器1的第二端口与第二光纤耦合器2的第二端口熔接,第一光纤耦合器1的第三端口与第三光纤耦合器3的第二端口熔接;第二光纤耦合器2和第三光纤耦合器3的第一端口之间相互熔接;第二光纤耦合器2的第三端口接入A通道光功率计4;第三光纤耦合器3的第三端口接入B通道光功率计5。
在上述实施例中,第一光纤耦合器1、第二光纤耦合器2和第三光纤耦合器3的分光比为50:50。
在上述实施例中,A通道光功率计4和B通道光功率计5用于光源7的参数标定清零。
在上述实施例中,A通道光功率计4和B通道光功率计5可测试被测光纤器件6的IL\RL\IS值。
在上述实施例中,被测光纤器件6的两端分别熔接在第二光纤耦合器2和第三光纤耦合器3的第一端口上。
工作原理:本高集成的隔离器测试系统,在光源7的参数标定清零完成后,将第二光纤耦合器2和第三光纤耦合器3的第一端口断开,接入被测光纤器件6进出端口,第二光纤耦合器2的第一端口与被测光纤器件6的进端熔接,第三个光纤耦合器3的第一端口与被测光纤器件6的出端熔接,A通道光功率计4和B通道光功率计5读取被测光纤器件6的参数:IL\RL\IS值,在测试RL时需要绕一下第三光纤耦合器3的第三端口光纤,整个系统调试方便,测试精度高,能够测试被测光纤器件6的IL\RL\IS参数,且测试方式简便稳定,提高了隔离器的生产效率。
需要说明的是,在本文中,诸如第一和第二等之类的关系术语仅仅用来将一个实体或者操作与另一个实体或操作区分开来,而不一定要求或者暗示这些实体或操作之间存在任何这种实际的关系或者顺序。而且,术语“包括”、“包含”或者其任何其他变体意在涵盖非排他性的包含,从而使得包括一系列要素的过程、方法、物品或者设备不仅包括那些要素,而且还包括没有明确列出的其他要素,或者是还包括为这种过程、方法、物品或者设备所固有的要素。
尽管已经示出和描述了本实用新型的实施例,对于本领域的普通技术人员而言,可以理解在不脱离本实用新型的原理和精神的情况下可以对这些实施例进行多种变化、修改、替换和变型,本实用新型的范围由所附权利要求及其等同物限定。
Claims (5)
1.一种高集成的隔离器测试系统,包括三个光纤耦合器,分别为第一光纤耦合器(1)、第二光纤耦合器(2)和第三光纤耦合器(3),其特征在于:所述第一光纤耦合器(1)的第一端口与光源(7)熔接,第一光纤耦合器(1)的第二端口与第二光纤耦合器(2)的第二端口熔接,第一光纤耦合器(1)的第三端口与第三光纤耦合器(3)的第二端口熔接;所述第二光纤耦合器(2)和第三光纤耦合器(3)的第一端口之间相互熔接;所述第二光纤耦合器(2)的第三端口接入A通道光功率计(4);所述第三光纤耦合器(3)的第三端口接入B通道光功率计(5)。
2.根据权利要求1所述的一种高集成的隔离器测试系统,其特征在于:所述第一光纤耦合器(1)、第二光纤耦合器(2)和第三光纤耦合器(3)的分光比为50:50。
3.根据权利要求1所述的一种高集成的隔离器测试系统,其特征在于:所述A通道光功率计(4)和B通道光功率计(5)用于光源(7)的参数标定清零。
4.根据权利要求1所述的一种高集成的隔离器测试系统,其特征在于:所述A通道光功率计(4)和B通道光功率计(5)可测试被测光纤器件(6)的IL\RL\IS值。
5.根据权利要求4所述的一种高集成的隔离器测试系统,其特征在于:所述被测光纤器件(6)的两端分别熔接在第二光纤耦合器(2)和第三光纤耦合器(3)的第一端口上。
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