JPS6035224A - 光源強度検出方法 - Google Patents
光源強度検出方法Info
- Publication number
- JPS6035224A JPS6035224A JP14459383A JP14459383A JPS6035224A JP S6035224 A JPS6035224 A JP S6035224A JP 14459383 A JP14459383 A JP 14459383A JP 14459383 A JP14459383 A JP 14459383A JP S6035224 A JPS6035224 A JP S6035224A
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Links
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- 238000012544 monitoring process Methods 0.000 abstract 2
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Classifications
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01J—MEASUREMENT OF INTENSITY, VELOCITY, SPECTRAL CONTENT, POLARISATION, PHASE OR PULSE CHARACTERISTICS OF INFRARED, VISIBLE OR ULTRAVIOLET LIGHT; COLORIMETRY; RADIATION PYROMETRY
- G01J1/00—Photometry, e.g. photographic exposure meter
- G01J1/42—Photometry, e.g. photographic exposure meter using electric radiation detectors
Landscapes
- Physics & Mathematics (AREA)
- General Physics & Mathematics (AREA)
- Spectroscopy & Molecular Physics (AREA)
- Investigating Or Analysing Materials By Optical Means (AREA)
- Photometry And Measurement Of Optical Pulse Characteristics (AREA)
Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
（産業上の利用分野）
本発明は、光を用いて気体或いは液体中等の被測物質中
の物質濃度を測定する際に使用する光源の強度を管理す
るための光源強度検出方法に関する。
の物質濃度を測定する際に使用する光源の強度を管理す
るための光源強度検出方法に関する。
（従来技術）
従来、光源の強度検出は、その出力光の一部を光軸上に
配設された分光光学系にょ多分光し、この分光した光を
光エネルギ検出器に導くようにして行なわれている。具
体的には第１図に示すように行うのである。すなわち、
同図において、１は光源となるレーザ発射管、ｔｏはレ
ーザ発射Ｗｌからの出方光となるレーザ光、２はプリズ
ム、ハーフミラ−１分岐型光ファイバあるいはビームス
グリンタ等よシなる分光光学系、１（３’はこの分光光
学系２にょ多分光されたモニター光、３は光エネルギ検
出器となるフォトダイオードであル、レーザ発射管１か
らのレーザ光の一部を分光光学系２によル分元してその
モニター光ｔｏ／をフォトダイオード３に導くようにし
たものである。
配設された分光光学系にょ多分光し、この分光した光を
光エネルギ検出器に導くようにして行なわれている。具
体的には第１図に示すように行うのである。すなわち、
同図において、１は光源となるレーザ発射管、ｔｏはレ
ーザ発射Ｗｌからの出方光となるレーザ光、２はプリズ
ム、ハーフミラ−１分岐型光ファイバあるいはビームス
グリンタ等よシなる分光光学系、１（３’はこの分光光
学系２にょ多分光されたモニター光、３は光エネルギ検
出器となるフォトダイオードであル、レーザ発射管１か
らのレーザ光の一部を分光光学系２によル分元してその
モニター光ｔｏ／をフォトダイオード３に導くようにし
たものである。
ところで、この従来の方法を実施するための装置に社上
記のように分光光学系が必要となる。
記のように分光光学系が必要となる。
そして、この装置は、輸送されることが多く、この分光
光学系は、輸送＃等の機械的振動に弱すので、その都度
光軸合せ等調整作業が必要となってお〕、作業能率上の
問題となっている。
光学系は、輸送＃等の機械的振動に弱すので、その都度
光軸合せ等調整作業が必要となってお〕、作業能率上の
問題となっている。
（つ邑す」の目的）
本発明は、上記従来技術の有する問題に鑑み、機械的振
動に対して誤牢な装置を実現可能な光源強度検出方法を
提供することを目的とする。
動に対して誤牢な装置を実現可能な光源強度検出方法を
提供することを目的とする。
（発明の構成）
かかる目的は、
光源を遮蔽し、かつ、前記光源の出力光を被測物質に投
射する発射口を有するカバーの一部に設けた走査窓から
前記光源のエネルギ強度検出用のモニター光を取シ出し
、該モニター光を前記カバーに一体に設けた光エネルギ
検出器に直接導くことを特徴とする光源強度検出方法、
によシ達成される。すなわち、この方法によシ、出力光
を分光することなく、モニター光を取シ出すことができ
るので、分光光学系は必要ではなくなシ、かつ、モニタ
ー光を取シ出すための走査窓及び光エネルギ検出器は、
カバーに一体に設けることができるので、機械的振動に
対して堅牢となる。
射する発射口を有するカバーの一部に設けた走査窓から
前記光源のエネルギ強度検出用のモニター光を取シ出し
、該モニター光を前記カバーに一体に設けた光エネルギ
検出器に直接導くことを特徴とする光源強度検出方法、
によシ達成される。すなわち、この方法によシ、出力光
を分光することなく、モニター光を取シ出すことができ
るので、分光光学系は必要ではなくなシ、かつ、モニタ
ー光を取シ出すための走査窓及び光エネルギ検出器は、
カバーに一体に設けることができるので、機械的振動に
対して堅牢となる。
（実施例）
以下、本発明に係る光源強度検出方法の一実施例を、第
２図、第３図に示す装置とともに説明する。
２図、第３図に示す装置とともに説明する。
同図において、４は光源となるレーザ発射管、ｔｌはこ
のレーザ発射管４からの出力光となるレーザ光、５はカ
バーである。カバー５は、レーザ発射管４を遮蔽するも
のであ夛、かつ、レーザ光ｔ１を図示しない被測物質に
投射するための発射口６を出力側端部に鳴してｂる。
のレーザ発射管４からの出力光となるレーザ光、５はカ
バーである。カバー５は、レーザ発射管４を遮蔽するも
のであ夛、かつ、レーザ光ｔ１を図示しない被測物質に
投射するための発射口６を出力側端部に鳴してｂる。
カバー５は、その出力側端部とは反対側端部をモニター
側端部とし、このモニター側端部には走査窓７を形成す
る。ｔ２は、この走査窓７よル漏洩するレーザ発射Ｗ４
からのモニター光であシ、走査窓７は、このモニター光
ｔ２とレーザ光ｔ１とが同軸となるように配設する。こ
れにより、モニター光ｔｚＯ光エネルギは、レーザ光ｔ
１の元エネルギに比例することになる。
側端部とし、このモニター側端部には走査窓７を形成す
る。ｔ２は、この走査窓７よル漏洩するレーザ発射Ｗ４
からのモニター光であシ、走査窓７は、このモニター光
ｔ２とレーザ光ｔ１とが同軸となるように配設する。こ
れにより、モニター光ｔｚＯ光エネルギは、レーザ光ｔ
１の元エネルギに比例することになる。
またカバー５のモニター側端部には、走査窓７を覆うよ
うにカバ一部材８を一体に設けるとともに、このカバ一
部材８には、走査窓７と対口するように光エネルギ検出
器となるフォトダイオード９を一体に配設する。これＫ
ｊ：、９、モニター光ｔｚを７オトダイオード９に導く
。尚、９Ａ、９Ｂはフォトダイオード９の出力リードで
おる。
うにカバ一部材８を一体に設けるとともに、このカバ一
部材８には、走査窓７と対口するように光エネルギ検出
器となるフォトダイオード９を一体に配設する。これＫ
ｊ：、９、モニター光ｔｚを７オトダイオード９に導く
。尚、９Ａ、９Ｂはフォトダイオード９の出力リードで
おる。
ところで、レーザ光ｔ１はレーザ発射管４の劣化及びそ
れに供給される電力の変動等によシ変動する。また、モ
ニター光ｔ２もレーザ光２１と同様である。すなわち、
モニター光ｔ２のエネルギーが一定値に維持されていれ
ば、正確なエネルギー強度のレーザ光２１が被測物質に
投射されていることとなり、正確な測定がなされている
こととなる。
れに供給される電力の変動等によシ変動する。また、モ
ニター光ｔ２もレーザ光２１と同様である。すなわち、
モニター光ｔ２のエネルギーが一定値に維持されていれ
ば、正確なエネルギー強度のレーザ光２１が被測物質に
投射されていることとなり、正確な測定がなされている
こととなる。
具体的に例えは、レーザ光Ａｘのエネルギ強度を０．５
８５ｍＷノとしたとき、モニター光ｔ２のエネルギ強度
＃′ｉ０．２６ （ｍＷ）であるとする。モニター光ｔ
２のエネルギ強度が０．２６ （ｍＷ）に維持されてい
て、レーザ光ｔ１のエネルギ強度が変動したときは、そ
の変ｗ：Ｉは被測物質の性状変化によるものであること
になる。
８５ｍＷノとしたとき、モニター光ｔ２のエネルギ強度
＃′ｉ０．２６ （ｍＷ）であるとする。モニター光ｔ
２のエネルギ強度が０．２６ （ｍＷ）に維持されてい
て、レーザ光ｔ１のエネルギ強度が変動したときは、そ
の変ｗ：Ｉは被測物質の性状変化によるものであること
になる。
（発明の効果）
以上実施例につき説明したが本発明によれは以下ｏｇｊ
Ｊ朱を奏する。
Ｊ朱を奏する。
■ モニター光を取シ出すための走査窓及び光エネルギ
検出器はカバーに対して一体に位置決め固定することが
できるので、機械的振動に対して呈牢となる。
検出器はカバーに対して一体に位置決め固定することが
できるので、機械的振動に対して呈牢となる。
■ これによル、光軸について無保守化を実現すること
ができる。
ができる。
■ 出力光を分光することなくモニター光を取ル出せる
ので、分光光学系は必要ではなくなることとなシ、その
分方法実施に使用する装置の構成が簡単化される。
ので、分光光学系は必要ではなくなることとなシ、その
分方法実施に使用する装置の構成が簡単化される。
■ また、それに付随して、分光光学系の設置空間、固
定方法、光軸真東等の問題から解消される。
定方法、光軸真東等の問題から解消される。
第１図は、従来の光源強度検出方法を実施するための装
置の概略構成図、第２図は、不発明に係る光源強度検出
方法を実施するだめの装置の概略構成図、第３−はその
一部拡大図、である。 ４ ・・・ レーザ発射管（光源） ５ ・・・ カ ノぐ − ６・・・発射口 ア ・・・走査窓 ９ °゛・ フォトダイオード（光エネルギ検出器）ｔ
ｌ・−・ レーザラ“ｌ；（出力光）ｔ２・・・モニタ
ー元 特許出願人 トヨタ自動車株式会社 （はか１名） 第２図 才３ 図
置の概略構成図、第２図は、不発明に係る光源強度検出
方法を実施するだめの装置の概略構成図、第３−はその
一部拡大図、である。 ４ ・・・ レーザ発射管（光源） ５ ・・・ カ ノぐ − ６・・・発射口 ア ・・・走査窓 ９ °゛・ フォトダイオード（光エネルギ検出器）ｔ
ｌ・−・ レーザラ“ｌ；（出力光）ｔ２・・・モニタ
ー元 特許出願人 トヨタ自動車株式会社 （はか１名） 第２図 才３ 図
Claims (1)
- （１） 光源を遮蔽し、かつ、前記光源の出力光を被醐
物質に投射するだめの発射口を有するカバーの一部に設
けた走査窓から前記光源のエネルギ強度検出用のモニタ
ー光を取ル出し、該モニター光を前記カバーに一体に設
けた光エネルギ検出器に直接導くことを％徴とする光源
強度検出方法。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP14459383A JPS6035224A (ja) | 1983-08-08 | 1983-08-08 | 光源強度検出方法 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP14459383A JPS6035224A (ja) | 1983-08-08 | 1983-08-08 | 光源強度検出方法 |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPS6035224A true JPS6035224A (ja) | 1985-02-23 |
Family
ID=15365671
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP14459383A Pending JPS6035224A (ja) | 1983-08-08 | 1983-08-08 | 光源強度検出方法 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPS6035224A (ja) |
Cited By (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPH0315744A (ja) * | 1988-10-05 | 1991-01-24 | Hamamatsu Photonics Kk | 光波形測定装置 |
-
1983
- 1983-08-08 JP JP14459383A patent/JPS6035224A/ja active Pending
Cited By (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPH0315744A (ja) * | 1988-10-05 | 1991-01-24 | Hamamatsu Photonics Kk | 光波形測定装置 |
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