JPS6028669Y2 - 高炉の原料供給制御装置 - Google Patents
高炉の原料供給制御装置Info
- Publication number
- JPS6028669Y2 JPS6028669Y2 JP3582782U JP3582782U JPS6028669Y2 JP S6028669 Y2 JPS6028669 Y2 JP S6028669Y2 JP 3582782 U JP3582782 U JP 3582782U JP 3582782 U JP3582782 U JP 3582782U JP S6028669 Y2 JPS6028669 Y2 JP S6028669Y2
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- JP
- Japan
- Prior art keywords
- circuit
- moisture
- value
- density
- measured
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Expired
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- Control Of Conveyors (AREA)
- Filling Or Emptying Of Bunkers, Hoppers, And Tanks (AREA)
- Blast Furnaces (AREA)
Description
【考案の詳細な説明】
本考案は高炉の原料供給制御装置に関するものである。
一般に、高炉へ装入される原料のうち、コークスについ
ては、原料の持込み水分が炉熱に影響をもたらし、操業
の不安定を招くため、第１図に示すように、コークス貯
槽Ａの下方に図示を省略したベルトコンベヤーで連結さ
れる秤量ホッパーＢで水分を測定し、その測定値にもと
づいて装入量の補正を行って、コンベヤーＣにより一旦
中継貯槽りに貯蔵後、コンベヤーＥを介して高炉Ｆの炉
頂バンカーＧに投入するようにした。
ては、原料の持込み水分が炉熱に影響をもたらし、操業
の不安定を招くため、第１図に示すように、コークス貯
槽Ａの下方に図示を省略したベルトコンベヤーで連結さ
れる秤量ホッパーＢで水分を測定し、その測定値にもと
づいて装入量の補正を行って、コンベヤーＣにより一旦
中継貯槽りに貯蔵後、コンベヤーＥを介して高炉Ｆの炉
頂バンカーＧに投入するようにした。
前記測定には水分計が用いられているが、その手段とし
ては下記のような方法が採用されていた。
ては下記のような方法が採用されていた。
（１）中性子水分計によるコークス水分測定この方法は
第２図に示すように、コークス貯槽ＡからコンベヤーＨ
を介してサンプリングホッパー■にコークスの一部を運
びサンプリングホッパーＩに取付けた中性子水分計Ｊで
水分を測定する。
第２図に示すように、コークス貯槽ＡからコンベヤーＨ
を介してサンプリングホッパー■にコークスの一部を運
びサンプリングホッパーＩに取付けた中性子水分計Ｊで
水分を測定する。
その後、秤量ホッパーＢに戻される。
前記測定により得られた水分値はコークス乾量補正計算
に使われる。
に使われる。
前記中性子水分計は、中性子コークスに衝突させ、散乱
する熱中性子の数から水分値を求めるようになっている
。
する熱中性子の数から水分値を求めるようになっている
。
しかしながら、精度が±１，７ｗｔ％で、サンプリング
の際の測定値の代表性に問題があった。
の際の測定値の代表性に問題があった。
このため、安全を考え、コ４クスを多めに投入しなけれ
ばならない欠点があった。
ばならない欠点があった。
（２）透過型水分計によるコークス水分測定透過型水分
計には第３図に示すように中性子の線源１と検出器２と
を相対する型にセットし、透過して来る高速中性子とγ
線の両方を波形弁別回路３でとらえ、弁別してγ線カウ
ンタ４と中性子カウンタ５とでカウントし、夫々水分補
正回路６に送り、γ線のコークス厚さによる減衰率で補
正して水分値を測定するものである。
計には第３図に示すように中性子の線源１と検出器２と
を相対する型にセットし、透過して来る高速中性子とγ
線の両方を波形弁別回路３でとらえ、弁別してγ線カウ
ンタ４と中性子カウンタ５とでカウントし、夫々水分補
正回路６に送り、γ線のコークス厚さによる減衰率で補
正して水分値を測定するものである。
従来は第３図に示すように秤量ホッパー２のゲート部に
この透過型水分計を取付け、切り出し中の全通過コーク
スを測定し、平均水分を出しているため、代表性の問題
もなく高精度の測定値が得られる。
この透過型水分計を取付け、切り出し中の全通過コーク
スを測定し、平均水分を出しているため、代表性の問題
もなく高精度の測定値が得られる。
又、ホッパー空の状態で自動校正するため、摩耗や付着
物の影響も防止できるという優れた効果を有するもので
ある。
物の影響も防止できるという優れた効果を有するもので
ある。
そこで、本考案者は、優れた透過型水分計を利用して、
高炉の原料制御を行うべく種々研究を重ねた結果、装入
原料の乾量補正は勿論、ゲートの開度等の各種制御を行
うことがどきることを見出し、本考案として提案したも
のである。
高炉の原料制御を行うべく種々研究を重ねた結果、装入
原料の乾量補正は勿論、ゲートの開度等の各種制御を行
うことがどきることを見出し、本考案として提案したも
のである。
本考案の構成を第４図に示す実施例に基き詳細に説明す
ると、高炉Ｆの上方に設置するコークス用炉頂バンカー
Ｇのゲート部に透過型水分計Ｋをセットする。
ると、高炉Ｆの上方に設置するコークス用炉頂バンカー
Ｇのゲート部に透過型水分計Ｋをセットする。
そして、検出器２から検出信号を波形弁別回路３に送り
、弁別してγ線カウンタ４と中性子カウンタ５に夫々送
る。
、弁別してγ線カウンタ４と中性子カウンタ５に夫々送
る。
そして、水分値補正演算回路６のかさ密度記憶回路７に
γ線カウンタ４から、水分値補正回路８に中性子カウン
タ５から夫々信号を送る。
γ線カウンタ４から、水分値補正回路８に中性子カウン
タ５から夫々信号を送る。
モしてかさ密度記憶回路７からゲート部を通過する原料
密度値を水分値補正回路８に送り、密度の減衰率により
水分値の補正を行ない補正した水分値を発信する。
密度値を水分値補正回路８に送り、密度の減衰率により
水分値の補正を行ない補正した水分値を発信する。
前記かき密度記憶回路７からは波形変換処理回路９の密
度演算回路１０に、水分値補正回路８からは波形処理回
路１１に夫々信号を送る。
度演算回路１０に、水分値補正回路８からは波形処理回
路１１に夫々信号を送る。
そして、密度演算回路１０においては原料の密度ρ。
を前もって測定しておき、その密度値１２を入力じてお
り、この演算回路にて測定したかさ密度値ρとの間にη
＝ρ／ρ０Ｘ１００％但しηは空隙率を演算し、空隙率
表示装置１３に出力して空隙率を表示する。
り、この演算回路にて測定したかさ密度値ρとの間にη
＝ρ／ρ０Ｘ１００％但しηは空隙率を演算し、空隙率
表示装置１３に出力して空隙率を表示する。
又、波形弁別回路１１にばかさ密度記憶回路７から測定
したかさ密度値ρが送られ、補正を行って補正水分値表
示装置１４に信号を、又、密度平均値表示装置１５に信
号を、排出時間表示装置１６に信号を送るようになって
いる。
したかさ密度値ρが送られ、補正を行って補正水分値表
示装置１４に信号を、又、密度平均値表示装置１５に信
号を、排出時間表示装置１６に信号を送るようになって
いる。
更にもう一方のバンカーＧにも第５図に示すように、ゲ
ート部に透過水分計に′をセットする。
ート部に透過水分計に′をセットする。
他は第４図と同一なので同一符号を付し、説明を省略す
る。
る。
本考案の実施例は前記のつうに構成したもので、コーク
スと鉱石とは交互に高炉に装入されるものである。
スと鉱石とは交互に高炉に装入されるものである。
今コークスを主体にして説明すると、水分値補正回路８
から発信される例えばコークスの信号は第６図イに示さ
れるような波形で波形処理回路１１に送られ、第７図イ
に示されるようなコークスの場合の波形に変換して補正
水分値表示装置１４に送られ表示される。
から発信される例えばコークスの信号は第６図イに示さ
れるような波形で波形処理回路１１に送られ、第７図イ
に示されるようなコークスの場合の波形に変換して補正
水分値表示装置１４に送られ表示される。
同様に鉱石も第６図イのような波形処理回路１１で処理
され、第７図イの鉱石の場合の波形に変換して表示され
る。
され、第７図イの鉱石の場合の波形に変換して表示され
る。
したがって、ｎチャージ目の乾量補正計算は、ｎ−１チ
ヤージ目の値を用いて行われる。
ヤージ目の値を用いて行われる。
それ故、全コークスの通過を測定しているので、精度の
よい水分値が得られる。
よい水分値が得られる。
したがって、これまで多めに投入していたコークス量を
節減するこができる。
節減するこができる。
尚、第６図においてはコークスの波形を表示したが、前
記したように高炉にはコークスと鉱石とを交互に投入し
て１チヤージが完了するものであるから、鉱石の水分値
も、もう一方の透過水分計に′で測定して同様に表示さ
れるものである。
記したように高炉にはコークスと鉱石とを交互に投入し
て１チヤージが完了するものであるから、鉱石の水分値
も、もう一方の透過水分計に′で測定して同様に表示さ
れるものである。
又、コークスのかさ密度値は、第６図口に示すような信
号が、かさ密度記憶回路７から出力され、波形処理回路
１１において、予めスレッシホールドＬを設定しておき
、このスレッシホール１１以上になったときに通過中の
判断を行うと同時に、排出時間Ｔａを求める。
号が、かさ密度記憶回路７から出力され、波形処理回路
１１において、予めスレッシホールドＬを設定しておき
、このスレッシホール１１以上になったときに通過中の
判断を行うと同時に、排出時間Ｔａを求める。
これは鉱石でも同様である。
この測定されたＴａが、第７図口に示す波形に変換され
た排出時間表示装置１６に表示する。
た排出時間表示装置１６に表示する。
したがって、この排出時間から、炉内への装入開始、終
了時期等を求めることができ、装入時におけるゲートの
開度制御に応用でき、精度のよい装入物の炉内への分配
制御を行うことができる。
了時期等を求めることができ、装入時におけるゲートの
開度制御に応用でき、精度のよい装入物の炉内への分配
制御を行うことができる。
又、かさ密度記憶回路７から波形処理回路１１に第６図
口のような波形が、波形処理回路１１に送られる。
口のような波形が、波形処理回路１１に送られる。
水分の場合と同様に、鉱石或いはコークスの１回の装入
における平均値を求める。
における平均値を求める。
コークスでも鉱石でも同様にして求めた平均密度値を第
７図へのように平均密度表示装置１５に表示する。
７図へのように平均密度表示装置１５に表示する。
この表示された値は、チャージごとの密度変動をあられ
すもので、破砕、ふるい分は等を行う整粒行程における
供給制御量に利用することができる。
すもので、破砕、ふるい分は等を行う整粒行程における
供給制御量に利用することができる。
又、かさ密度記憶回路７から密度演算回路１０にかさ密
度値ρの信号を送り、あらかじめ測定した原料密度ρ。
度値ρの信号を送り、あらかじめ測定した原料密度ρ。
の信号を密度演算回路１０に送ってη＝ρ／ρｏｘ１０
０％（但しηは空隙率）を得てその信号を空隙率表示装
置１３を出力する。
０％（但しηは空隙率）を得てその信号を空隙率表示装
置１３を出力する。
空隙率ηは粒度と一定の関係があるので、粒度を推定す
るこができる。
るこができる。
したがって、現在装入されている粒度の変化を推定でき
、高炉内の堆積プロフィールにおける粒度分布を把握す
ることができる。
、高炉内の堆積プロフィールにおける粒度分布を把握す
ることができる。
又、その変化と炉内のガス分布とを対応させ、ムーバブ
ルアーマ−や旋回シュートを用いて装入物の分布をも調
整することができ、高炉の安定操業をもたらすことがで
きる。
ルアーマ−や旋回シュートを用いて装入物の分布をも調
整することができ、高炉の安定操業をもたらすことがで
きる。
尚、前記の説明はコークスの測定について説明したが、
もう一方の透過水分計に′により得た鉱石も同様に処理
するものである。
もう一方の透過水分計に′により得た鉱石も同様に処理
するものである。
又、前記実施例においてはコークス用炉頂バンガーＧか
らのコークス測定と、鉱石用炉頂バンカーＧ’からの鉱
石測定を夫々別体の水分値補正演算回路６と波形変換演
算回路９とで演算するように説明したが、前記したよう
にコークスと鉱石とは高炉に、交互に投入するものであ
るから、鉱石用炉頂バンカーＧ′の測定値をコークス用
の水分値補正演算回路６に接続してもよいもので、この
場合には各信号は交互に出力される。
らのコークス測定と、鉱石用炉頂バンカーＧ’からの鉱
石測定を夫々別体の水分値補正演算回路６と波形変換演
算回路９とで演算するように説明したが、前記したよう
にコークスと鉱石とは高炉に、交互に投入するものであ
るから、鉱石用炉頂バンカーＧ′の測定値をコークス用
の水分値補正演算回路６に接続してもよいもので、この
場合には各信号は交互に出力される。
更に、コークスの測定により十分に制御を行うことがで
きるので、鉱石専用に固定しと使用している炉頂バンカ
ーＧ′に透過水分計に′をセットしなくでもよいもので
ある。
きるので、鉱石専用に固定しと使用している炉頂バンカ
ーＧ′に透過水分計に′をセットしなくでもよいもので
ある。
本考案は前記のような構成、作用を有するから水分値の
測定だけではなく、密度の空隙率及びか′さ密度から各
種の高炉制御を行うことができるものである。
測定だけではなく、密度の空隙率及びか′さ密度から各
種の高炉制御を行うことができるものである。
尚、前記実施例では、炉頂バンカー下のゲート部に設け
たが、下方の垂直シュート部にコークス、鉱石などの溜
り部を設ければバンカー下方の原料流出部にも適用する
ことができる。
たが、下方の垂直シュート部にコークス、鉱石などの溜
り部を設ければバンカー下方の原料流出部にも適用する
ことができる。
第１図か従来のコークス水分測定手段を示す概略図、第
２図は第１図に用いる中性子水分計を装着した概略図、
第３図は従来の秤量ホッパーに透過型水分計をセットし
た概略図、第４図は本考案に係る高炉の原料供給制御装
置の一実施例をコークス用炉頂バンカーに取付けた概略
図、第５図は鉱石用炉頂バンカーに取付けた概略図、第
６図は原料測定データの波形図、第７図は演算処理後の
出力の波形図を夫々示す。 尚、図中には透過型水分計、ηは空隙率、３は波形弁別
回路、４はγ線カウンタ、５は中性子カウンタ、７はか
さ密度記憶回路、８は水分値補正回路、１０は密度演算
回路、１１は波形変換処理回路、１２は原料密度値を夫
々示す。
２図は第１図に用いる中性子水分計を装着した概略図、
第３図は従来の秤量ホッパーに透過型水分計をセットし
た概略図、第４図は本考案に係る高炉の原料供給制御装
置の一実施例をコークス用炉頂バンカーに取付けた概略
図、第５図は鉱石用炉頂バンカーに取付けた概略図、第
６図は原料測定データの波形図、第７図は演算処理後の
出力の波形図を夫々示す。 尚、図中には透過型水分計、ηは空隙率、３は波形弁別
回路、４はγ線カウンタ、５は中性子カウンタ、７はか
さ密度記憶回路、８は水分値補正回路、１０は密度演算
回路、１１は波形変換処理回路、１２は原料密度値を夫
々示す。
Claims (1)
- 炉頂バンカー下方の原料流出部に透過型水分計Ｋをセッ
トし、その出力信号を波形弁別回路３を介してγ線カウ
ンタ４と中性子カウンタ５に弁別して送り、γ線カウン
タ４をかさ密度記憶回路７に接続し、中性子カウンタ５
を、発信する測定水分値をかさ密度記憶回路７からの測
定密度信号により補正して補正水分値を出力する水分値
補正回路８に接続し、かさ密度記憶回路７から発信され
る測定密度値と、別途測定した密度値により空隙率ηを
出力する密度演算回路１０に接続し、さらに、水分補正
回路８およびかさ密度記憶回路７を排出時間及び密度平
均値、水分平均値を夫々出力する波形変換処理回路１１
に接続して戊る高炉の原料供給制御装置。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP3582782U JPS6028669Y2 (ja) | 1982-03-16 | 1982-03-16 | 高炉の原料供給制御装置 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP3582782U JPS6028669Y2 (ja) | 1982-03-16 | 1982-03-16 | 高炉の原料供給制御装置 |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPS58140162U JPS58140162U (ja) | 1983-09-21 |
| JPS6028669Y2 true JPS6028669Y2 (ja) | 1985-08-30 |
Family
ID=30047287
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP3582782U Expired JPS6028669Y2 (ja) | 1982-03-16 | 1982-03-16 | 高炉の原料供給制御装置 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPS6028669Y2 (ja) |
Families Citing this family (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JP6252504B2 (ja) * | 2015-01-30 | 2017-12-27 | Ｊｆｅスチール株式会社 | 高炉装入物検出方法 |
-
1982
- 1982-03-16 JP JP3582782U patent/JPS6028669Y2/ja not_active Expired
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| JPS58140162U (ja) | 1983-09-21 |
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