JPS6028392B2 - Resin composition for encapsulating electronic components - Google Patents
Resin composition for encapsulating electronic componentsInfo
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- JPS6028392B2 JPS6028392B2 JP55096978A JP9697880A JPS6028392B2 JP S6028392 B2 JPS6028392 B2 JP S6028392B2 JP 55096978 A JP55096978 A JP 55096978A JP 9697880 A JP9697880 A JP 9697880A JP S6028392 B2 JPS6028392 B2 JP S6028392B2
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- H05K5/065—Hermetically-sealed casings sealed by encapsulation, e.g. waterproof resin forming an integral casing, injection moulding
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Description
【発明の詳細な説明】
本発明は電子部品の封止に好適とされる樹脂組成物、と
くにはポリフェニレンサルフアィド樹脂を主成分とする
組成物に関するものである。DETAILED DESCRIPTION OF THE INVENTION The present invention relates to a resin composition suitable for encapsulating electronic components, and particularly to a composition containing polyphenylene sulfide resin as a main component.
従来、IC、トランジスター、ダイオード、コンデンサ
ーあるいは抵抗器などの電子部品については、それらの
保護、電気絶縁性の保持、あるいは外部雰囲気による諸
特性の劣化防止などの目的でェポキシ樹脂あるいはシリ
コーン樹脂などの熱硬化性樹脂を使用してそれら電子部
品を封止することが広く行われているが、これら熱硬化
性樹脂は、封止の際の成形サイクルが長くなったり、あ
るいはランナー、スプールなどのスクラップを再利用す
ることができないなどの不利を有する。そこで、上記し
たような熱硬化性樹脂が有する不利を除去する目的から
、熱可塑性樹脂であるポリフェニレンサルフアィド樹脂
を用いて封止することが試みられているが、このポリフ
ェニレンサルフアイド樹脂で封止してなる電子部品は熱
硬化性樹脂を用いて封止してなる電子部品に比較して大
中に耐温特性が劣るという問題をもっている。すなわち
、ボリフェニレンサルフアィド樹脂は電子部品のフレー
ムあるいはIJ−ド線との接着性(密着性)に劣るため
、高温度、高温度雰囲気においては該封止樹脂とフレー
ムあるいはリード線との界面から容易に水が浸入し、こ
れが原因で電子部品が本来有する諸特性たとえばアルミ
ニウム電極腐食などの耐緑特性の劣化をもたらす。本発
明はこのような不利あるいは欠点を除去した新規な電子
部品封止用ポリフヱニレンサルフアィド樹脂組成物を提
供しようとするものであって、これは川 ポリフェニレ
ンサルフアイド樹脂
10の重量部、
【oー 式
(R)a(H)bSi。Conventionally, electronic components such as ICs, transistors, diodes, capacitors, and resistors have been treated with heat-treated materials such as epoxy resin or silicone resin for the purpose of protecting them, maintaining electrical insulation, or preventing deterioration of various characteristics due to the external atmosphere. Curing resins are widely used to seal these electronic components, but these thermosetting resins require a longer molding cycle for sealing, or waste scraps such as runners and spools. It has disadvantages such as not being able to be reused. Therefore, attempts have been made to seal using polyphenylene sulfide resin, which is a thermoplastic resin, in order to eliminate the disadvantages of thermosetting resins as described above. Electronic components formed by sealing with a thermosetting resin have a problem in that they have inferior temperature resistance characteristics compared to electronic components sealed using a thermosetting resin. In other words, since polyphenylene sulfide resin has poor adhesion (adhesion) to the frame of electronic components or IJ-wires, the interface between the sealing resin and the frame or lead wires may deteriorate at high temperatures or in a high-temperature atmosphere. Water easily infiltrates through the substrate, causing deterioration of various properties inherent in electronic components, such as green resistance such as corrosion of aluminum electrodes. The present invention aims to provide a novel polyphenylene sulfide resin composition for encapsulating electronic components which eliminates such disadvantages or disadvantages, and which comprises: 10 parts by weight of polyphenylene sulfide resin; [o- Formula (R)a(H)bSi.
二千Fと(式中、Rは置換もしくは非置換の一価炭化水
素基を表わす。2,000F (wherein R represents a substituted or unsubstituted monovalent hydrocarbon group).
aは0<a≦3、bはOSbSI、ただしa+bは0.
5Sa+b<4である)で示される有機けし、素化合物
0.1〜7の重量部、
および
し一 無機質充てん剤 50〜30の重量
部からなるものである。a is 0<a≦3, b is OSbSI, but a+b is 0.
5Sa+b<4), 0.1 to 7 parts by weight of an elementary compound, and 50 to 30 parts by weight of an inorganic filler.
この組成物は、電子部品のフレームあるいはリード線な
どに対する接着性(固着性)が大きいので耐湿性が顕著
に改善され、さらに成形サイクルの短縮化、スクラップ
の再使用可能などの効果を有する。This composition has high adhesion (adhesiveness) to frames or lead wires of electronic parts, so moisture resistance is significantly improved, and furthermore, it has effects such as shortening of molding cycles and reusability of scraps.
以下、本発明に係る封止用ポリフェニレンサルフアィド
樹脂組成物について詳細に説明する。Hereinafter, the polyphenylene sulfide resin composition for sealing according to the present invention will be explained in detail.
まず、本発明において主成分として使用されるの成分で
あるポリフェニレンサルフアィド樹脂は、たとえば米国
特許3,3鼠,12y号明細書などに記載されている公
知のもので、れはパラジクロロベンゼンと硫化ナトリウ
ムとを縮合反応させることにより得られるものである。
このようなポリフェニレンサルフアィド樹脂としては、
具体的にはライトン V−1(商品名、未架橋ポリフェ
ニレンサルフアィド樹脂、フィリップスペトロリアム社
製)、ライトン P−4、ライトン P−6あるいはラ
イトン R−6(商品名、いずれも架橋ポリフェニレン
サルファィド樹脂、フィリップスペトロリアム社製)な
どを例示することができる。First, the polyphenylene sulfide resin used as the main component in the present invention is a publicly known resin described in, for example, U.S. Pat. It is obtained by a condensation reaction with sodium sulfide.
As such polyphenylene sulfide resin,
Specifically, Ryton V-1 (trade name, uncrosslinked polyphenylene sulfide resin, manufactured by Phillips Petroleum), Ryton P-4, Ryton P-6, or Ryton R-6 (trade name, all crosslinked polyphenylene sulfide resins) Examples include plastic resins manufactured by Phillips Petroleum Co., Ltd.).
なお、本発明においては、未架橋ポリフェニレンサルフ
ァィド樹脂と架橋ポリフェニレン樹脂とを併用すること
は差支えないが、この併用の場合には、封止作業時にお
いて電子部品に損傷を与えないために、未架橋ポリフェ
ニレンサルフアィド樹脂の使用割合を多くし、その混合
物の粘度を下げて使用に供することが望ましい。Note that in the present invention, there is no problem in using an uncrosslinked polyphenylene sulfide resin and a crosslinked polyphenylene resin together, but in the case of this combination, in order to prevent damage to electronic components during sealing work, It is desirable to increase the proportion of uncrosslinked polyphenylene sulfide resin used and lower the viscosity of the mixture before use.
つぎに本発明において使用される‘o}成分は前記した
式で示される有機けし、素化合物であって、該式中のR
は置換もしくは非置換の‐−価炭化水素基を表わし、こ
の一価炭化水素基としてはメチル基、エチル基、プロピ
ル基、ブチル基、ベンチル基、ヘキシル基、ヘプチル基
、オクチル基などのアルキル基、シクロブチル基、シク
ロベンチル基、シクロヘキシル基などのシクロアルキル
基、ビニル基、アリル基、1ープロベニル基などのアル
ケニル基、フェニル基、トリル基、キシリル基、ナフチ
ル基などのアリール基、ベンジル基、フェニルェチル基
などのアラルキル基、あるいはこれらの基の水素原子が
部分的にハロゲン原子、シァ/基などで置換された基、
たとえばクロロプロピル基、トリフルオロブロピル基、
クロロフヱニル基、クロロナフチル基などが例示される
。Next, the 'o} component used in the present invention is an organic poppy compound represented by the above formula, in which R
represents a substituted or unsubstituted --valent hydrocarbon group, and examples of this monovalent hydrocarbon group include alkyl groups such as methyl group, ethyl group, propyl group, butyl group, bentyl group, hexyl group, heptyl group, and octyl group. , cycloalkyl groups such as cyclobutyl group, cyclobentyl group, cyclohexyl group, alkenyl groups such as vinyl group, allyl group, 1-probenyl group, aryl group such as phenyl group, tolyl group, xylyl group, naphthyl group, benzyl group, phenylethyl group Aralkyl groups such as, or groups in which the hydrogen atoms of these groups are partially substituted with halogen atoms, sia/groups, etc.
For example, chloropropyl group, trifluoropropyl group,
Examples include chlorophenyl group and chloronaphthyl group.
a,bおよびa十bの定義は前記のとおりである。この
ような有機けし、素化合物としては、前記した式中のR
、aおよびbがそれぞれ下記の表に示すような化合物を
あげることができる。The definitions of a, b and a and b are as described above. As such an organic poppy compound, R in the above formula
, a and b are shown in the table below.
ただし、以下の記載におけるMe,PhおよびViの略
記号はそれぞれ下記の基を示す。However, the abbreviations of Me, Ph and Vi in the following description each represent the following groups.
Me・・・・.・CH3一
Ph”…・C6日5−
Vi.・.・..CH2=CH−
この{ロ)成分は、上記{ィー成分10の重量部に対し
て0.1〜70重量部、好ましくは1〜30重量部の範
囲で使用することが必要とされるが、これは該使用量が
0.1重量部禾満であると上述したような本発明の目的
ないしは効果を達成することができず、逆に7の重量部
以上使用しても多量使用による顕著な効果が得られない
ばかりでなく、かえってこれから得られる封止成形品の
機械的強度が劣るようになるからである。Me...・CH3-Ph"...C6 day 5- Vi...CH2=CH- This {b) component is preferably 0.1 to 70 parts by weight based on the weight of the above {i component 10. is required to be used in the range of 1 to 30 parts by weight, and the purpose or effect of the present invention as described above can be achieved if the amount used is less than 0.1 part by weight. On the other hand, even if more than 7 parts by weight are used, not only will no significant effect be obtained by using a large amount, but the mechanical strength of the resulting encapsulated molded product will deteriorate.
さらに本発明において使用されるし一成分である無機質
充てん剤としては、沈でんシリカ、ヒュームシリカ、石
英粉末、けいそう土などのけし、酸塩、酸化アルミニウ
ム、酸化亜鉛などの金属酸化物、炭酸カルシウム、炭酸
マグネシウム、炭酸亜鉛などの金属炭酸塩、水酸化アル
ミニウムなどの金属水酸化物、アスベスト、ガラス繊維
、ガラスビーズ、クレイ、微粉末マィカ、タルク、ある
いはこれら無機質充てん剤の表面をシラン処理してなる
ものなどが例病不される。Furthermore, the inorganic fillers which are one of the components used in the present invention include precipitated silica, fume silica, quartz powder, poppies such as diatomaceous earth, acid salts, metal oxides such as aluminum oxide and zinc oxide, and calcium carbonate. , metal carbonates such as magnesium carbonate and zinc carbonate, metal hydroxides such as aluminum hydroxide, asbestos, glass fiber, glass beads, clay, finely powdered mica, talc, or the surface of these inorganic fillers is treated with silane. Things like this are common.
このし一成分は、上記{ィ}成分10の重量部に対して
50〜30の重量部の範囲で使用することが必要とされ
るが、これは該使用量が5の重量部未満ではこれから得
られる封止成形品の機械強度が劣るようになり、また3
0の重量部以上とすると組成物の粘度が高くなり流動性
が悪くなるからである。This component needs to be used in a range of 50 to 30 parts by weight based on the 10 parts by weight of component {i} above, but if the amount used is less than 5 parts by weight, The mechanical strength of the resulting encapsulated molded product becomes inferior, and
This is because if the amount exceeds 0 parts by weight, the viscosity of the composition will increase and the fluidity will deteriorate.
本発明の組成物は種々の方法を採用して調製することが
でき、これにはたとえば‘ィー〜し一成分を均一に混合
したのち、押出機などを使用してべレット化する方法な
どをあげることができる。The composition of the present invention can be prepared using various methods, including, for example, a method in which one component is uniformly mixed and then pelletized using an extruder or the like. can be given.
なお、本発明の組成物には必要に応じてカーボンブラッ
ク、チタンホワイト、酸化クロムあるいは酸化鉄などの
顔料、ステアリン酸あるいはその金属塩、シリコーンオ
イル、ワックス類などの糟剤、N−(2−アミノエチル
)−3ーアミノプロピルメチルジメトキシシランあるい
は3ーグリシドキシプロピルトリメトキシシランなどの
シランカップリング剤などを添加配合することは何ら差
支えない。The composition of the present invention may optionally contain pigments such as carbon black, titanium white, chromium oxide or iron oxide, stearic acid or its metal salts, thickeners such as silicone oil and waxes, and N-(2- There is no problem in adding and blending a silane coupling agent such as (aminoethyl)-3-aminopropylmethyldimethoxysilane or 3-glycidoxypropyltrimethoxysilane.
本発明に係る組成物を使用して電子部品を姿止するにあ
たっては、前述のようにして調製した封止材料を移送成
形、射出成形あるいは圧縮成形などの成形方法を採用し
て封止すればよく、この封止手段についてはとくに制限
はない。In order to encapsulate electronic components using the composition according to the present invention, the encapsulating material prepared as described above may be encapsulated using a molding method such as transfer molding, injection molding, or compression molding. Generally, there are no particular restrictions on this sealing means.
つぎに本発明の実施例をあげるが、例中の配合量(部)
はすべて重量部にて示す。Next, examples of the present invention will be given, and the amount (parts) in the examples
All values are expressed in parts by weight.
実施例
ラィトン P−6(商品名、架橋ポリフヱニレンサルフ
アイド樹脂、フィリップスペトロリアム社製)、ラィト
ン V−1(商品名、禾架橋ポリフェニレンサルフアイ
ド樹脂、フィリップスペトロリアム社製)、平均繊維長
あるいは平均粒子径が下記の表に示すような値のガラス
繊維またはアスベスト繊維、下記の表に示すような種類
の無機質充てん剤(石英粉末、タルク、炭酸カルシウム
、ガラスビーズ、水酸化アルミニウム、またはクレイ)
および有機けし、素化合物を同表に示すような配合割合
でへンシルミキサ−を用い均一に混合したのち押出機を
用いて押出しコンパウンド化し封止用樹脂を得た。Examples Ryton P-6 (trade name, cross-linked polyphenylene sulfide resin, manufactured by Phillips Petroleum Company), Ryton V-1 (trade name, cross-linked polyphenylene sulfide resin, manufactured by Phillips Petroleum Company), average fiber length or average Glass or asbestos fibers with particle sizes as shown in the table below; mineral fillers of the type shown in the table (quartz powder, talc, calcium carbonate, glass beads, aluminum hydroxide, or clay);
The organic poppy seeds and the elementary compound were mixed uniformly using a Henshil mixer in the proportions shown in the same table, and then extruded into a compound using an extruder to obtain a sealing resin.
上記で得た封止用樹脂を使用し、14ピンICダミーフ
レームを封止し、第1図に示すような封止電子部品を得
た(ただし、図中1はICチップ、2はリード線、3は
封止樹脂である)。Using the sealing resin obtained above, a 14-pin IC dummy frame was sealed to obtain a sealed electronic component as shown in Figure 1 (in the figure, 1 is an IC chip, 2 is a lead wire). , 3 is the sealing resin).
この封止は、1オンスの射出成形機を使用してシリンダ
ー温度31び0、金型温度150℃、射出圧力200k
9/地の条件で行った。This seal was made using a 1 oz injection molding machine with a cylinder temperature of 31 and 0, a mold temperature of 150°C, and an injection pressure of 200K.
9/ I went under the conditions of the ground.
上記で得た封止電子部品について、諸物性を下記の方法
により(実験1および2)調べその結果を表中に併記し
た。The various physical properties of the sealed electronic component obtained above were examined by the following methods (Experiments 1 and 2) and the results are also listed in the table.
実験 1
上記で作製した封止電子部品について、封止後の樹脂の
曲げ強さ、誘電率(ど)、譲電正接(tan6)および
封止樹脂とフレームとの接着性(密着性)を調べその結
果を下記表に示した。Experiment 1 Regarding the encapsulated electronic component manufactured above, the bending strength, dielectric constant (d), yield loss tangent (tan6) of the resin after encapsulation, and adhesiveness (adhesion) between the encapsulating resin and the frame were investigated. The results are shown in the table below.
(鞘封止樹脂とフレームとの接着性(密着性)の判定は
下記のようにして行った。(The adhesion (adhesion) between the sheath sealing resin and the frame was determined as follows.
市販の赤インクとアルコールを均一に混合し、これに封
止樹脂14ピン にダミーフレームを浸潰したのち5【
9/係の圧力をかけ1餅時間経過したときに、前記フレ
ームを取り出し、フレームまたはリード線と封止樹脂と
の界面における赤インクーアルコール混合物の進入状態
を調べた。After uniformly mixing commercially available red ink and alcohol and soaking the dummy frame around the 14-pin sealing resin,
9/ When one hour had elapsed since the pressure was applied, the frame was taken out and the intrusion state of the red ink alcohol mixture at the interface between the frame or lead wire and the sealing resin was examined.
この測定は第2図に示すように引出し端子の1本の判定
基準となる個所を5個所(A〜E)予じめ設けることに
より行い、その結果をB〜Eをもって示した。As shown in FIG. 2, this measurement was carried out by providing in advance five locations (A to E) that serve as criteria for determining one lead terminal, and the results are shown as B to E.
実験 2
上記で得た封止用樹脂を使用し、アルミ配線腐食テスト
用素子を取り付けたICフレームを封止した(成形条件
前述と同じ)。Experiment 2 Using the sealing resin obtained above, the IC frame to which the element for aluminum wiring corrosion test was attached was sealed (molding conditions were the same as above).
この封止ICフレームを打ち抜き、折り曲げたのち、温
度121℃の加圧スチーム雰囲気中に入れ、これに50
V(直流)の電圧を印加し、アルミ腐食による断線率が
50%になる平均寿命時間を求め(アルミ配線腐食試験
)、これを耐緑性とし、その結果を下記の表に示した。After punching and bending this sealed IC frame, it was placed in a pressurized steam atmosphere at a temperature of 121°C and heated for 50 minutes.
A voltage of V (direct current) was applied, and the average life time at which the disconnection rate due to aluminum corrosion reached 50% was determined (aluminum wiring corrosion test), which was defined as green resistance, and the results are shown in the table below.
*1.(Me)..。〇(H)肌0Sio,.00*2
.(Me),.52(Vi)〇.。78Si○,.2o
*3.(Me),.20(H)〇.60Sio,..。*1. (Me). .. . 〇(H) Skin 0Sio,. 00*2
.. (Me),. 52(Vi)〇. . 78Si○,. 2o
*3. (Me),. 20(H)〇. 60Sio,. .. .
*4.(Me),.50(Ph)o.25(町 o.7
5 Si0o.75*5.(Me)2.00(H),.
〇。si00.50*6.(Me)..6o Si○,
.2o*7.(Me),.20(H)。*4. (Me),. 50(Ph)o. 25 (Town o.7
5 Si0o. 75*5. (Me)2.00(H),.
〇. si00.50*6. (Me). .. 6o Si○,
.. 2o*7. (Me),. 20(H).
.90Si○o.95図面の簡単な説明第1図は本発明
の組成物または対照品で14ピンICダミーフレームを
封止した状態で示す概略図であり、第2図は第1図の円
部の拡大概略図である。.. 90Si○o. 95 Brief Description of the Drawings FIG. 1 is a schematic view showing a 14-pin IC dummy frame sealed with the composition of the present invention or a control product, and FIG. 2 is an enlarged schematic view of the circular part of FIG. 1. It is.
1・・・・・・ICチップ、2……リード線、3・・・
…封止樹脂。1...IC chip, 2...Lead wire, 3...
...Sealing resin.
第1図 第2図Figure 1 Figure 2
Claims (1)
量部、(ロ) 式 (R)_a(H)_bSiO(4−a−b)/2 (式
中、Rは置換もしくは非置換の一価炭化水素基を表わす
。 aは0<a≦3、bは0≦b≦1、ただしa+bは0.
5≦a+b<4である)で示される有機けい素化合物0
.1〜70重量部、 および (ハ) 無機質充てん剤 50〜300重量部からなる
電子部品封止用樹脂組成物。[Scope of Claims] 1 (a) 100 parts by weight of polyphenylene sulfide resin, (b) Formula (R)_a(H)_bSiO(4-a-b)/2 (wherein, R is substituted or unsubstituted) Represents a substituted monovalent hydrocarbon group. a is 0<a≦3, b is 0≦b≦1, where a+b is 0.
5≦a+b<4)
.. 1 to 70 parts by weight, and (c) an inorganic filler 50 to 300 parts by weight.
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP55096978A JPS6028392B2 (en) | 1980-07-16 | 1980-07-16 | Resin composition for encapsulating electronic components |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
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JP55096978A JPS6028392B2 (en) | 1980-07-16 | 1980-07-16 | Resin composition for encapsulating electronic components |
Publications (2)
Publication Number | Publication Date |
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JPS5721844A JPS5721844A (en) | 1982-02-04 |
JPS6028392B2 true JPS6028392B2 (en) | 1985-07-04 |
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ID=14179295
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
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JP55096978A Expired JPS6028392B2 (en) | 1980-07-16 | 1980-07-16 | Resin composition for encapsulating electronic components |
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Families Citing this family (7)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPS63219145A (en) * | 1987-03-09 | 1988-09-12 | Sumitomo Bakelite Co Ltd | Pps sealed electronic component |
JP2557898B2 (en) * | 1987-07-31 | 1996-11-27 | 株式会社東芝 | Semiconductor device |
JPH02229858A (en) * | 1988-11-12 | 1990-09-12 | Kureha Chem Ind Co Ltd | Resin composition for sealing electronic parts and sealed electronic parts |
JP3237757B2 (en) * | 1989-12-28 | 2001-12-10 | 呉羽化学工業株式会社 | Resin composition for sealing electronic parts and sealed electronic parts |
JP4795510B2 (en) * | 2000-06-29 | 2011-10-19 | 出光興産株式会社 | Polyarylene sulfide resin composition |
JP2008260830A (en) * | 2007-04-11 | 2008-10-30 | Idemitsu Kosan Co Ltd | Heat-conductive resin composition |
JP6624204B2 (en) * | 2015-10-02 | 2019-12-25 | Dic株式会社 | Polyarylene sulfide resin composition, molded article and manufacturing method |
Citations (5)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPS5329720A (en) * | 1976-08-31 | 1978-03-20 | Ricoh Co Ltd | Developing device for diazo photo-sensitive paper |
JPS5364266A (en) * | 1976-11-22 | 1978-06-08 | Shin Etsu Chem Co Ltd | Epoxy-silicone resin compositions |
JPS54135845A (en) * | 1978-04-14 | 1979-10-22 | Hodogaya Chem Co Ltd | Polyphenylene sulfide resin composition |
JPS5543120A (en) * | 1978-09-22 | 1980-03-26 | Dainippon Ink & Chem Inc | Preparation of improved resin composition |
JPS5717153A (en) * | 1980-07-04 | 1982-01-28 | Asahi Glass Co Ltd | Sealing method of electronic parts |
-
1980
- 1980-07-16 JP JP55096978A patent/JPS6028392B2/en not_active Expired
Patent Citations (5)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPS5329720A (en) * | 1976-08-31 | 1978-03-20 | Ricoh Co Ltd | Developing device for diazo photo-sensitive paper |
JPS5364266A (en) * | 1976-11-22 | 1978-06-08 | Shin Etsu Chem Co Ltd | Epoxy-silicone resin compositions |
JPS54135845A (en) * | 1978-04-14 | 1979-10-22 | Hodogaya Chem Co Ltd | Polyphenylene sulfide resin composition |
JPS5543120A (en) * | 1978-09-22 | 1980-03-26 | Dainippon Ink & Chem Inc | Preparation of improved resin composition |
JPS5717153A (en) * | 1980-07-04 | 1982-01-28 | Asahi Glass Co Ltd | Sealing method of electronic parts |
Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
JPS5721844A (en) | 1982-02-04 |
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