JPS6028306A - 位相検波方法 - Google Patents
位相検波方法Info
- Publication number
- JPS6028306A JPS6028306A JP58137214A JP13721483A JPS6028306A JP S6028306 A JPS6028306 A JP S6028306A JP 58137214 A JP58137214 A JP 58137214A JP 13721483 A JP13721483 A JP 13721483A JP S6028306 A JPS6028306 A JP S6028306A
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- JP
- Japan
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- phase
- detectors
- signal
- reference signals
- phase detection
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-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01R—MEASURING ELECTRIC VARIABLES; MEASURING MAGNETIC VARIABLES
- G01R25/00—Arrangements for measuring phase angle between a voltage and a current or between voltages or currents
- G01R25/04—Arrangements for measuring phase angle between a voltage and a current or between voltages or currents involving adjustment of a phase shifter to produce a predetermined phase difference, e.g. zero difference
Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
本発明は位相検波方法、特に位相面がりに基づく誤差を
除去するようにした位相検波方法tこ関する。
除去するようにした位相検波方法tこ関する。
位相検波は2つの交流信号のうち一方を未知信号、他方
を基準信号とした場合、基準信号に対する未知信号00
°成分や900成分を検出するために使用される。未知
信号が供試素子(コンデンサやインダクタなど)の大き
さを表わす場合、前述の00成分や90°成分は供試素
子の抵抗器やりアクタンス分の大きさを表わす。したが
ってこれら抵抗゛ 分等を正確にめる【Cは、正確に位
相検波を行なうことが必要である。
を基準信号とした場合、基準信号に対する未知信号00
°成分や900成分を検出するために使用される。未知
信号が供試素子(コンデンサやインダクタなど)の大き
さを表わす場合、前述の00成分や90°成分は供試素
子の抵抗器やりアクタンス分の大きさを表わす。したが
ってこれら抵抗゛ 分等を正確にめる【Cは、正確に位
相検波を行なうことが必要である。
第1図は従来のml相検波方法を説明するための位”相
検波回路のブロック図、第2図は第1図に示す2個の入
力信号(未知の信号)のベクトル図、第3図は第1図に
示す2個の入力信号を発生する具体的回路図である。第
3図において、4を信号源、7を高利得演算増幅器、5
を供試素子(コンデンサ、インダクタ等)、6を帰還抵
抗器とすると、分)となる。
検波回路のブロック図、第2図は第1図に示す2個の入
力信号(未知の信号)のベクトル図、第3図は第1図に
示す2個の入力信号を発生する具体的回路図である。第
3図において、4を信号源、7を高利得演算増幅器、5
を供試素子(コンデンサ、インダクタ等)、6を帰還抵
抗器とすると、分)となる。
一方第2図において、E3を基準信号 (信号源4の信
号)とし、E3= sin (ωt−θ)とすると、E
I= A sin (ωt+ダ^)、E2= B si
n ((IJ t −1−glB )と表わすことがで
きる。+2’A は線路による位A目曲り、fkは供試
素子5による位相面がりである。
号)とし、E3= sin (ωt−θ)とすると、E
I= A sin (ωt+ダ^)、E2= B si
n ((IJ t −1−glB )と表わすことがで
きる。+2’A は線路による位A目曲り、fkは供試
素子5による位相面がりである。
第1図において、位相検波器2の一方の入力端子には、
スイッチ1を介して2個の未知信号I弓lまたはE2が
、他方の入力端子には基準信号E3が入力される。位相
検波器2の出力信号は出カ回路3に印加される。出力回
路3は後述するようにアナログデジタル(A/D )変
換回路を含む。
スイッチ1を介して2個の未知信号I弓lまたはE2が
、他方の入力端子には基準信号E3が入力される。位相
検波器2の出力信号は出カ回路3に印加される。出力回
路3は後述するようにアナログデジタル(A/D )変
換回路を含む。
基準信号E3による2個の未知信号g1.B2の位相検
波は次のように行なわれる。まずスイッチlをV側に接
続してElを入力し、θ−0°として位相検波すると第
2図のa成分がまる。次にスイッチの位置なそのままに
し、θ=900 とするとb成分がまる。同様にスイッ
チlをW側に接続してθ=0°、90°に対して位相検
波するとc、d成分がまる。このようにa、 b、 c
、 d成分は時分割でめられる。ここでa、 b、 c
、 d成分は例えば出力回路3中のA/D変換回路にデ
ュアルスロープ回路を使用し、a、 b、 c、 d成
分をそれぞれ一定期間T1だけ積分し、直流電圧eによ
り放電することにより、放電期間T2 T3 T4 T
5によりそれぞれデジタル的にめられる。
波は次のように行なわれる。まずスイッチlをV側に接
続してElを入力し、θ−0°として位相検波すると第
2図のa成分がまる。次にスイッチの位置なそのままに
し、θ=900 とするとb成分がまる。同様にスイッ
チlをW側に接続してθ=0°、90°に対して位相検
波するとc、d成分がまる。このようにa、 b、 c
、 d成分は時分割でめられる。ここでa、 b、 c
、 d成分は例えば出力回路3中のA/D変換回路にデ
ュアルスロープ回路を使用し、a、 b、 c、 d成
分をそれぞれ一定期間T1だけ積分し、直流電圧eによ
り放電することにより、放電期間T2 T3 T4 T
5によりそれぞれデジタル的にめられる。
第4図は出力回路の動作を示したタイムチャー2
トである。そしてベクトル電圧1−31. X、 Yは
次式でめられる。
次式でめられる。
したがって供試素子5の抵抗分や、リアクタンス分をめ
ることができる。かかる関係については、特開昭53−
30375号に述べられている。
ることができる。かかる関係については、特開昭53−
30375号に述べられている。
第1図に示した位相検波方法において、θ=0°。
90°の切換えは、基準信号を作るために使用されるク
ロック信号を制御することにより行なわれ、これは例え
ば特開昭54−72657号に述べられている。かかる
制御は、正確な繰返し周期をもつクロック信号の位相を
づらす方式であるのでθ=08゜90°を正確に作り出
すことができる。しかしながら、1個の位相検出器を用
い、a、 b、 c、 d成分を時分割で各別にめる方
式であるため、長時間を要し、ベクトル電圧比をめる場
合には測定スピードが遅くなる。
ロック信号を制御することにより行なわれ、これは例え
ば特開昭54−72657号に述べられている。かかる
制御は、正確な繰返し周期をもつクロック信号の位相を
づらす方式であるのでθ=08゜90°を正確に作り出
すことができる。しかしながら、1個の位相検出器を用
い、a、 b、 c、 d成分を時分割で各別にめる方
式であるため、長時間を要し、ベクトル電圧比をめる場
合には測定スピードが遅くなる。
第5図は従来の他の位相検波方法を説明するだめの位相
検波回路のブロック図である。11.12は位相検波器
で各一方の入力端はスイッチlの共通端子へ、他方の入
力端は位相信号発生器13に一出力端子は出力回路14
.15にそれぞれ接続される。出力回路14.15は第
1図の出力回路3と同様にA/D変換器を含むものとす
る。ここで位相検波器11.12への基準信号をE4.
Es、E4とEsとの間の位相差90°からの位相誤差
をε、そして位相検波器11.12の変換効率の差をα
とする。
検波回路のブロック図である。11.12は位相検波器
で各一方の入力端はスイッチlの共通端子へ、他方の入
力端は位相信号発生器13に一出力端子は出力回路14
.15にそれぞれ接続される。出力回路14.15は第
1図の出力回路3と同様にA/D変換器を含むものとす
る。ここで位相検波器11.12への基準信号をE4.
Es、E4とEsとの間の位相差90°からの位相誤差
をε、そして位相検波器11.12の変換効率の差をα
とする。
”4 v ”5は次式で表わされる。
g4=:5in(ωt−θ)、Es−(1+α)CO8
(ωt−θ−ε)第6図はE4(θ=0′)を基準とし
たE、、 E2のベクトル図である。スイッチ1を接点
V側に接続したとき、位相検波器11の出力Xム= A
COS ($^十θ)、位相検波器12の出力Yム=
A(1+α) 5in(ダ^十θ+ε)となる。モして
θ=0°のときX A” a ”” A CO8IA+
YA 2g == A (1+α) sin (flI
h+’ )となる。即チg成分中にα、εが誤差成分と
して含まれる。同様にスイッチlをW側に接続し、未知
入力信号E2を入力とし、θ=08としたとき、位相検
波器11の出力Xa = c = B cos y!B
、位相検波器12の出力YB=h=B(1+α) 5i
n(96B+g )となる。
(ωt−θ−ε)第6図はE4(θ=0′)を基準とし
たE、、 E2のベクトル図である。スイッチ1を接点
V側に接続したとき、位相検波器11の出力Xム= A
COS ($^十θ)、位相検波器12の出力Yム=
A(1+α) 5in(ダ^十θ+ε)となる。モして
θ=0°のときX A” a ”” A CO8IA+
YA 2g == A (1+α) sin (flI
h+’ )となる。即チg成分中にα、εが誤差成分と
して含まれる。同様にスイッチlをW側に接続し、未知
入力信号E2を入力とし、θ=08としたとき、位相検
波器11の出力Xa = c = B cos y!B
、位相検波器12の出力YB=h=B(1+α) 5i
n(96B+g )となる。
したがってベクトル電圧比l E2/B+ l、 X、
Yをめたとき、α、εが誤差として含まれる欠点があ
る。一方、位相検波器を2個使用しているので第1図で
示した位相検波方法に比較し測定スピードを1/2に短
縮できる利点がある。
Yをめたとき、α、εが誤差として含まれる欠点があ
る。一方、位相検波器を2個使用しているので第1図で
示した位相検波方法に比較し測定スピードを1/2に短
縮できる利点がある。
本発明は第1図で説明した測定精度と第2図で説明した
測定スピードとの両者の利点を有する位相検波方法を提
供せんとするものである。本発明による位相検波方法に
よれば、2個の位相検波器の一方の入力端に印加される
基準信号の位相をある角度だけ順次ずらして複数回の測
定を行ない、これら測定直を平均することにより正確な
直がめられる。
測定スピードとの両者の利点を有する位相検波方法を提
供せんとするものである。本発明による位相検波方法に
よれば、2個の位相検波器の一方の入力端に印加される
基準信号の位相をある角度だけ順次ずらして複数回の測
定を行ない、これら測定直を平均することにより正確な
直がめられる。
以下本発明の詳細な説明する。
本発明による位相検波方法は第5図に示した位相検波回
路により実現できる。B4==sin(ωドθ)。
路により実現できる。B4==sin(ωドθ)。
Bs=(1+α) cos (ωt−θ−ε)とすると
、θをある角度だけ順次正確にずらし、各E4. Es
に対する位相検波器11.12の出力信号がめられる
。
、θをある角度だけ順次正確にずらし、各E4. Es
に対する位相検波器11.12の出力信号がめられる
。
角度θと測定回数(i)との関係は次式で表わされムθ
=(2π/N)・i ここで N = 1.2.3.]・・・・・とすると、
iはOから(N−1)までである。即ちN=4とした場
合90゜づつ角度をすらし、4回の測定が行なわれる。
=(2π/N)・i ここで N = 1.2.3.]・・・・・とすると、
iはOから(N−1)までである。即ちN=4とした場
合90゜づつ角度をすらし、4回の測定が行なわれる。
前述したXA、Y^は次式で表わされる。
そして未知信号E、、 E2 のベクトル電圧比は次式
%式% N=、iとした場合、θ二O’、 90°、180°、
270°としてそれぞれの場合cX^、Yム、 X、
、 YBをめ平均しN=4の場合、上記式の計算結果に
よれば、誤差は約α150.ε150となり、精度は5
0倍向上する。またN=8とすると、約α/25000
0 。
%式% N=、iとした場合、θ二O’、 90°、180°、
270°としてそれぞれの場合cX^、Yム、 X、
、 YBをめ平均しN=4の場合、上記式の計算結果に
よれば、誤差は約α150.ε150となり、精度は5
0倍向上する。またN=8とすると、約α/25000
0 。
ε/250000となり、実質的に誤差は零になる。
第7図は第5図に示した出力回路の動作を示したタイム
チャートであり、本発明による位相検波方法の測定シー
ケンスの一例を示したタイムチャートである。第7図は
出力回路14.15中にA/D変換器を含み、N=4と
した場合のシーケンスである。第7A図は位相検波器1
1の出力信号をA/D変換するシーケンス、第7B図は
位相検波器12の出力信号をA/D変換するシーケンス
を示しており、それぞれスイッチlをV側に接続した場
合を示している。XA、YムはT6〜’I”1gを測定
することによりデジタル信号に変換される。同様にスイ
ッチlをW側に接続し同様な測定を行なうことによりX
、、YBはデジタル信号に変換される。これらデジタル
信号を演算装置(図示せず)により前述した数式に基づ
き処理することにより、高精度な測定を行な5ことがで
きる。
チャートであり、本発明による位相検波方法の測定シー
ケンスの一例を示したタイムチャートである。第7図は
出力回路14.15中にA/D変換器を含み、N=4と
した場合のシーケンスである。第7A図は位相検波器1
1の出力信号をA/D変換するシーケンス、第7B図は
位相検波器12の出力信号をA/D変換するシーケンス
を示しており、それぞれスイッチlをV側に接続した場
合を示している。XA、YムはT6〜’I”1gを測定
することによりデジタル信号に変換される。同様にスイ
ッチlをW側に接続し同様な測定を行なうことによりX
、、YBはデジタル信号に変換される。これらデジタル
信号を演算装置(図示せず)により前述した数式に基づ
き処理することにより、高精度な測定を行な5ことがで
きる。
また本発明においては位相検波器を2個使用するので、
未知信号FJ、 、 E2の0°成分、90’成分の各
測定に対して第1図の場合に比べて2倍の時間を使用す
ることができる。換言すれば、第1図の場合と本発明の
場合とを同一測定時間とした場合、本発明では2倍のS
/N比を得ることができる。
未知信号FJ、 、 E2の0°成分、90’成分の各
測定に対して第1図の場合に比べて2倍の時間を使用す
ることができる。換言すれば、第1図の場合と本発明の
場合とを同一測定時間とした場合、本発明では2倍のS
/N比を得ることができる。
同−S/N比を得る場合には1/2の測定時間でよい。
以上説明したことより明らかなように一1本発明によれ
ば高速且つ高精度で位相検波を行なうことができる。
ば高速且つ高精度で位相検波を行なうことができる。
第1図は従来の位相検波方法を説明するための位相検波
回路のブロック図、第2図は第1図に示す2個の入力信
号のベク=トル図、第3図は第1図に示す2個の入力信
号を発生する具体的回路図、第4図は第1図に示した出
力回路の動作を示したタイムチャート、第5図は従来の
他の位相検波方法を説明するための位相検波回路のブロ
ック図、第6図は第5図に示す2個の入力信号のベクト
ル図、第7図は第5図に示した出力回路の動作を示した
タイムチャートである。 1:スイッチ 2.11,12:位相検波器 13:位相信号発生器 3.14.15 :出力回路 4:信号源 5:供試素子 出願人 横河化ニーレット・パッヵード株式会社代理人
弁理士 長 谷 川 次 男 FIG I FIG3 FIG 5 IG6
回路のブロック図、第2図は第1図に示す2個の入力信
号のベク=トル図、第3図は第1図に示す2個の入力信
号を発生する具体的回路図、第4図は第1図に示した出
力回路の動作を示したタイムチャート、第5図は従来の
他の位相検波方法を説明するための位相検波回路のブロ
ック図、第6図は第5図に示す2個の入力信号のベクト
ル図、第7図は第5図に示した出力回路の動作を示した
タイムチャートである。 1:スイッチ 2.11,12:位相検波器 13:位相信号発生器 3.14.15 :出力回路 4:信号源 5:供試素子 出願人 横河化ニーレット・パッヵード株式会社代理人
弁理士 長 谷 川 次 男 FIG I FIG3 FIG 5 IG6
Claims (1)
- 2個の位相検波器に同一人力信号を入力し、互にほぼ9
0″離れた基準信号で位相検波すると共に、前記基準信
号の位相を予定量だけ順次づらして位相検波するように
した位相検波方法。
Priority Applications (2)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP58137214A JPS6028306A (ja) | 1983-07-27 | 1983-07-27 | 位相検波方法 |
US06/634,907 US4654585A (en) | 1983-07-27 | 1984-07-26 | Phase detection method |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP58137214A JPS6028306A (ja) | 1983-07-27 | 1983-07-27 | 位相検波方法 |
Publications (2)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JPS6028306A true JPS6028306A (ja) | 1985-02-13 |
JPH0426065B2 JPH0426065B2 (ja) | 1992-05-06 |
Family
ID=15193453
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP58137214A Granted JPS6028306A (ja) | 1983-07-27 | 1983-07-27 | 位相検波方法 |
Country Status (2)
Country | Link |
---|---|
US (1) | US4654585A (ja) |
JP (1) | JPS6028306A (ja) |
Families Citing this family (2)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPS62204166A (ja) * | 1986-03-04 | 1987-09-08 | Yokogawa Hewlett Packard Ltd | ベクトル電圧比測定装置 |
GB2382878B (en) * | 2001-12-04 | 2005-09-07 | Adwel Internat Ltd | A method and apparatus for testing laminated cores of electrical machines |
Citations (1)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPS5263372A (en) * | 1975-10-31 | 1977-05-25 | Hewlett Packard Yokogawa | Vector voltage ratio measuring device |
Family Cites Families (6)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
US4048566A (en) * | 1976-01-05 | 1977-09-13 | Motorola Inc. | Suppressed carrier automatic gain control circuitry |
US4196475A (en) * | 1976-09-02 | 1980-04-01 | Genrad, Inc. | Method of and apparatus for automatic measurement of impedance or other parameters with microprocessor calculation techniques |
JPS55101868A (en) * | 1979-01-30 | 1980-08-04 | Yokogawa Hewlett Packard Ltd | Device for measuring vector voltage ratio |
US4253118A (en) * | 1979-07-02 | 1981-02-24 | Zenith Radio Corporation | Synchronous detection system |
JPS56126769A (en) * | 1980-03-11 | 1981-10-05 | Yokogawa Hewlett Packard Ltd | Impedance meter |
US4459543A (en) * | 1981-10-01 | 1984-07-10 | Gould Inc. | Automatic phase compensation circuit |
-
1983
- 1983-07-27 JP JP58137214A patent/JPS6028306A/ja active Granted
-
1984
- 1984-07-26 US US06/634,907 patent/US4654585A/en not_active Expired - Lifetime
Patent Citations (1)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPS5263372A (en) * | 1975-10-31 | 1977-05-25 | Hewlett Packard Yokogawa | Vector voltage ratio measuring device |
Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
JPH0426065B2 (ja) | 1992-05-06 |
US4654585A (en) | 1987-03-31 |
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