JPS6027852A - 渦電流探傷装置 - Google Patents
渦電流探傷装置Info
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- JPS6027852A JPS6027852A JP13617483A JP13617483A JPS6027852A JP S6027852 A JPS6027852 A JP S6027852A JP 13617483 A JP13617483 A JP 13617483A JP 13617483 A JP13617483 A JP 13617483A JP S6027852 A JPS6027852 A JP S6027852A
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- JP
- Japan
- Prior art keywords
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- flaw
- inspected
- change
- signal
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- Pending
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-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01N—INVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
- G01N27/00—Investigating or analysing materials by the use of electric, electrochemical, or magnetic means
- G01N27/72—Investigating or analysing materials by the use of electric, electrochemical, or magnetic means by investigating magnetic variables
- G01N27/82—Investigating or analysing materials by the use of electric, electrochemical, or magnetic means by investigating magnetic variables for investigating the presence of flaws
- G01N27/90—Investigating or analysing materials by the use of electric, electrochemical, or magnetic means by investigating magnetic variables for investigating the presence of flaws using eddy currents
- G01N27/9046—Investigating or analysing materials by the use of electric, electrochemical, or magnetic means by investigating magnetic variables for investigating the presence of flaws using eddy currents by analysing electrical signals
- G01N27/9053—Compensating for probe to workpiece spacing
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- Investigating Or Analyzing Materials By The Use Of Magnetic Means (AREA)
Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
この発明は、例えば導電体材料で構成された物品の欠陥
の検出に用いられる渦電流探傷装置に関する。
の検出に用いられる渦電流探傷装置に関する。
時間的に変化する磁界中に置かれた導電体の内部には、
電磁誘導によって渦電流が生じる。
電磁誘導によって渦電流が生じる。
この渦電流は、導電体に傷があると変化することから、
これを探傷装置に利用することができる。
これを探傷装置に利用することができる。
すなわち、励磁コイルとその中に挿入設定された検出コ
イルとからなる検出器を導電体でなる被検査体の表面に
近接させ、励磁コイルに交流電流を流すと、この励磁コ
イルにより発生される磁界によって被検査体に渦電流が
生じる。
イルとからなる検出器を導電体でなる被検査体の表面に
近接させ、励磁コイルに交流電流を流すと、この励磁コ
イルにより発生される磁界によって被検査体に渦電流が
生じる。
この渦電流は、被検査体に傷等の欠陥があると変化する
もので、この渦電流の変化を検出コイルによって検出さ
せ、傷の存在を検出させるものである。
もので、この渦電流の変化を検出コイルによって検出さ
せ、傷の存在を検出させるものである。
ここで、被検査体の傷を検出するためには、検出器を手
動あるいは機械装置によって被検査体の表面を走査する
ものであるが、検出される渦電流は、傷の存在によって
だけではなく、検出器と被検査体との間隔によっても変
化する。
動あるいは機械装置によって被検査体の表面を走査する
ものであるが、検出される渦電流は、傷の存在によって
だけではなく、検出器と被検査体との間隔によっても変
化する。
したがって、この間隔が変化すると欠陥検出感度も変化
し、欠陥部分の正確な検出が困難となる。そして、検出
した信号から傷の大きさ、深さ等を推定する場合には、
この間隔変化の影響を考慮しなければならなかった。
し、欠陥部分の正確な検出が困難となる。そして、検出
した信号から傷の大きさ、深さ等を推定する場合には、
この間隔変化の影響を考慮しなければならなかった。
この発明は、上記のような問題点を解決するためになさ
れたもので、被探傷物の表面を近接走査する１個のセン
サコイルと、このセンサコイルに対して少なくとも高、
低２柚類の異なる周波数の励磁電流を供給する手段と、
上記センサコイルからの励磁電流に対応する被探傷物か
らの検出信号を上記２種類の励磁電流に同前的に検出す
る手段と、この手段で検出された周波数の高い方の励磁
電流に対応する検出信号によって周波数の低い方の励磁
電流に対応する検出信号を補正する手段とを具備するこ
とにより、検出した欠陥の評価精度を向上させる渦電流
探偵装置を提供することを目的とする。
れたもので、被探傷物の表面を近接走査する１個のセン
サコイルと、このセンサコイルに対して少なくとも高、
低２柚類の異なる周波数の励磁電流を供給する手段と、
上記センサコイルからの励磁電流に対応する被探傷物か
らの検出信号を上記２種類の励磁電流に同前的に検出す
る手段と、この手段で検出された周波数の高い方の励磁
電流に対応する検出信号によって周波数の低い方の励磁
電流に対応する検出信号を補正する手段とを具備するこ
とにより、検出した欠陥の評価精度を向上させる渦電流
探偵装置を提供することを目的とする。
以下図面を参照してこの発明の一実施例を説びこれよシ
充分低い周波数の電圧信号を発生する低周波発振器１２
を備える。そして、これら発振器１１．１２それぞれか
らの発振信号は、混合器１３に供給される。ここで、高
周波発振器１１の発振周波数は、低周波発振器１２の発
振周波数に対して数倍程度以上高く設定する。
充分低い周波数の電圧信号を発生する低周波発振器１２
を備える。そして、これら発振器１１．１２それぞれか
らの発振信号は、混合器１３に供給される。ここで、高
周波発振器１１の発振周波数は、低周波発振器１２の発
振周波数に対して数倍程度以上高く設定する。
混合器１３は、供給された上記２種類の信号を混合し、
その出力信号は渦電流検出器１４に供給される。
その出力信号は渦電流検出器１４に供給される。
検出器１４は第２図に示すように、電気良導体の板状、
・母イブ状、あるいは棒状の被検査体１５の表面部に近
接して設定するもので、被検査体１５の表面に沿って走
査するものである。
・母イブ状、あるいは棒状の被検査体１５の表面部に近
接して設定するもので、被検査体１５の表面に沿って走
査するものである。
ここで、検出器１４は、−次コイル（励磁コイル）１６
とその中に挿入設定された二次コイル（検出コイル）１
７とで構成されるもので、上記混合器１３の出力信号は
、上記−次コイル１６に供給される。
とその中に挿入設定された二次コイル（検出コイル）１
７とで構成されるもので、上記混合器１３の出力信号は
、上記−次コイル１６に供給される。
すなわち、検出器１４を被検査体１５の表面に沿って走
査すると、この被検査体１５内には一次コイル１６から
供給される磁界により渦電流が発生し、傷１８の存在に
よる渦電流の変化は、二次コイル１２に誘起される電圧
の変化となって検出される。
査すると、この被検査体１５内には一次コイル１６から
供給される磁界により渦電流が発生し、傷１８の存在に
よる渦電流の変化は、二次コイル１２に誘起される電圧
の変化となって検出される。
すなわち、検出器１４の二次コイル１７には、２種類の
周波数の信号による渦電流検出信号が得られるもので、
これら２つの検出信号はそれぞれ高周波増幅器１９およ
び低周波増幅器２゜で増幅され、これら増幅器１９．２
０からの出力信号は、それぞれ対応する発振器１１．１
２からの信号の供給される同期検波器２１ 、２２によ
ってそれぞれ同期検波される。この場合、高周波の信号
は、被検査体１５の表面部に集中して発生されるように
なるものであるため、検出器１４と被検査体１５との間
隔Ｇに大きく影響されるようになる。したがって、高周
波増幅器１９からの信号の供給される同期検波器２１か
らの出力信号によって、上記間隔Ｇの変化のみを検出し
た信号を得ることができる。また、低周波増幅器１２か
ら信号の供給される同期検波器２２からは、傷１８の検
出信号が分離出力５− される。ただし、この傷信号は間隔Ｇの変化の影響を含
む信号である。
周波数の信号による渦電流検出信号が得られるもので、
これら２つの検出信号はそれぞれ高周波増幅器１９およ
び低周波増幅器２゜で増幅され、これら増幅器１９．２
０からの出力信号は、それぞれ対応する発振器１１．１
２からの信号の供給される同期検波器２１ 、２２によ
ってそれぞれ同期検波される。この場合、高周波の信号
は、被検査体１５の表面部に集中して発生されるように
なるものであるため、検出器１４と被検査体１５との間
隔Ｇに大きく影響されるようになる。したがって、高周
波増幅器１９からの信号の供給される同期検波器２１か
らの出力信号によって、上記間隔Ｇの変化のみを検出し
た信号を得ることができる。また、低周波増幅器１２か
ら信号の供給される同期検波器２２からは、傷１８の検
出信号が分離出力５− される。ただし、この傷信号は間隔Ｇの変化の影響を含
む信号である。
この間隔Ｇの変化の検出信号と間隔変化の影響を含む偽
検出信号とは、乗算器２３に供給され、乗算される。こ
れによって傷検出信号は、間隔Ｇの影響を補正され、間
隔Ｇの変化による傷信号の減衰を補正された検出信号と
なる。
検出信号とは、乗算器２３に供給され、乗算される。こ
れによって傷検出信号は、間隔Ｇの影響を補正され、間
隔Ｇの変化による傷信号の減衰を補正された検出信号と
なる。
第３図は、これらの検出信号を示すもので、Ａは同期検
波器２１の出力信号、すなわち間隔Ｇの変化のみを検出
した信号である。
波器２１の出力信号、すなわち間隔Ｇの変化のみを検出
した信号である。
また、Ｂは同期検波器２２の出力信号を示すもので、間
隔Ｇの変化を含み、同一の傷１８に対し異なった大きさ
の振幅を有する信号である。
隔Ｇの変化を含み、同一の傷１８に対し異なった大きさ
の振幅を有する信号である。
すなわち、図中１１で示す大きさの振幅を得る傷１８が
被検査体１５にある場合、これが間隔Ｇの変化によＪ）
ａ２ やａ３で示すような大きさの振幅の信号となる。
被検査体１５にある場合、これが間隔Ｇの変化によＪ）
ａ２ やａ３で示すような大きさの振幅の信号となる。
また、図中Ｃで示す曲線は乗算器２３の出力信号、すな
わち間隔Ｇの影響が補正され、間隔Ｇの変化による傷信
号の減衰の補正された検出６− 信号である。すなわち、’ｌ で示す大きさの振幅を与
えるような傷１８が被検査体１５にあった場合、検出器
１４と被検査体１５との間の間隔Ｇが変化しようとも、
傷１８によって与えられる振幅はａ４ ．１５で示すよ
うに、常にａｌの大きさに相当する信号となる。
わち間隔Ｇの影響が補正され、間隔Ｇの変化による傷信
号の減衰の補正された検出６− 信号である。すなわち、’ｌ で示す大きさの振幅を与
えるような傷１８が被検査体１５にあった場合、検出器
１４と被検査体１５との間の間隔Ｇが変化しようとも、
傷１８によって与えられる振幅はａ４ ．１５で示すよ
うに、常にａｌの大きさに相当する信号となる。
前述したように被検査体１５に発生する渦電流は、−次
コイル１６から供給される磁界の周波数が高い程、表面
に集中して発生する。
コイル１６から供給される磁界の周波数が高い程、表面
に集中して発生する。
また、傷１８の検出信号は、被検査体１５と検出器Ｉ４
との間隔によって変化し、一般には間隔Ｇが大きくなる
程、傷１８の検出信号は減衰する。したがって被検査体
１５０表面に沿って傷１８を検出する場合には、検出器
１４と被検査体１５との間の間隔Ｇの影響を考慮する必
要がある。したがって、上述したように検出器１４に２
種類の周波数の信号を供給し、傷１８の検出の他に間隔
Ｇの検出をも行い、高周波数によυ間隔Ｇの変化を検出
し、低周波数により傷の検出を行うようにすることによ
って、間隔Ｇの変化に影響されることなく、正確な探傷
動作が実行されるものである。
との間隔によって変化し、一般には間隔Ｇが大きくなる
程、傷１８の検出信号は減衰する。したがって被検査体
１５０表面に沿って傷１８を検出する場合には、検出器
１４と被検査体１５との間の間隔Ｇの影響を考慮する必
要がある。したがって、上述したように検出器１４に２
種類の周波数の信号を供給し、傷１８の検出の他に間隔
Ｇの検出をも行い、高周波数によυ間隔Ｇの変化を検出
し、低周波数により傷の検出を行うようにすることによ
って、間隔Ｇの変化に影響されることなく、正確な探傷
動作が実行されるものである。
以上のようにこの発明によれば、被探傷物の表面を近接
走査する１個のセンサコイルと、このセンサコイルに対
して少なくとも高、低２種類の異なる周波数の励磁電流
を供給する手段と、上記センサコイルからの励磁電流に
対応する被探傷物からの検出信号を上記２種類の励磁電
流に同期的に検出する手段と、この手段で検出された周
波数の高い方の励磁電流に対応する検出信号によって周
波数の低い方の励磁電流に対応する検出信号を補正する
手段とを具備したことにより、検出された傷の大きさ、
深さ等を評価する場合にその大小について評価される検
出した信号振幅を正確に補正し得るので、信号評価精度
が高くなる。
走査する１個のセンサコイルと、このセンサコイルに対
して少なくとも高、低２種類の異なる周波数の励磁電流
を供給する手段と、上記センサコイルからの励磁電流に
対応する被探傷物からの検出信号を上記２種類の励磁電
流に同期的に検出する手段と、この手段で検出された周
波数の高い方の励磁電流に対応する検出信号によって周
波数の低い方の励磁電流に対応する検出信号を補正する
手段とを具備したことにより、検出された傷の大きさ、
深さ等を評価する場合にその大小について評価される検
出した信号振幅を正確に補正し得るので、信号評価精度
が高くなる。
また、１個の検出器により、検出器と被検査体との間隔
の検知、および傷の検知を行うことが可能なため、装置
が簡単化できる。
の検知、および傷の検知を行うことが可能なため、装置
が簡単化できる。
さらに、検出器と被検査体との間隔の影響が自動的に補
正することができるため、検出器の走査方法、走査装置
の消炭等に対する必要精度を低減させ簡単化することが
できる。
正することができるため、検出器の走査方法、走査装置
の消炭等に対する必要精度を低減させ簡単化することが
できる。
すなわち、この発明によれば、信号評価精度が高く、装
置の簡単化ができ、検出器の走査方法や走査装置の精度
等に対する必要精度を低減させ簡単化することが可能な
渦電流探傷装置を提供することができる。
置の簡単化ができ、検出器の走査方法や走査装置の精度
等に対する必要精度を低減させ簡単化することが可能な
渦電流探傷装置を提供することができる。
第１図はこの発明の一実施例に係る渦電流探傷装置の構
成を示す図、第２図はこの実施例に用いられる検出器を
示す図、第３図は検出信号の状態を示す図である。 １１・・・高周波発振器、１２・・・低周波発振器、１
３・・・混合器、１イ・・・検出器、１５・・・被検査
体、１６・・・−次コイル、１７・・・二次＝ｆｆ ４
／ｌ／、１ Ｂ・・・傷、１９・・・高周波増幅器、
２０・・・低周波増幅器、２１．２２・・・同期検波器
、２３・・・乗算器。 出願人復代理人 弁理士 鈴 江 武 彦９− 第１図 第２図
成を示す図、第２図はこの実施例に用いられる検出器を
示す図、第３図は検出信号の状態を示す図である。 １１・・・高周波発振器、１２・・・低周波発振器、１
３・・・混合器、１イ・・・検出器、１５・・・被検査
体、１６・・・−次コイル、１７・・・二次＝ｆｆ ４
／ｌ／、１ Ｂ・・・傷、１９・・・高周波増幅器、
２０・・・低周波増幅器、２１．２２・・・同期検波器
、２３・・・乗算器。 出願人復代理人 弁理士 鈴 江 武 彦９− 第１図 第２図
Claims (1)
- 【特許請求の範囲】 被探傷物の表面を近接走査する１個のセンサコイルと、
このセンサコイルに対して少なくとも高、低２種類の異
なる周波数の励磁電流を供給する手段と、上記センサコ
イルがらの励磁電流に対応する被探傷物からの検出信号
を上記２種類の励磁電流に同期的に検出する手段と、こ
の手段で検出された周波数の高い方の励磁電流に対応す
る検出信号によって周波を数の低い方１−゛。 の励磁電流に対応する検出信号を補正する手ｉとを具備
してなることを特徴とする渦電流探傷装置。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP13617483A JPS6027852A (ja) | 1983-07-26 | 1983-07-26 | 渦電流探傷装置 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP13617483A JPS6027852A (ja) | 1983-07-26 | 1983-07-26 | 渦電流探傷装置 |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPS6027852A true JPS6027852A (ja) | 1985-02-12 |
Family
ID=15169051
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP13617483A Pending JPS6027852A (ja) | 1983-07-26 | 1983-07-26 | 渦電流探傷装置 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPS6027852A (ja) |
Cited By (4)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS629160U (ja) * | 1985-07-02 | 1987-01-20 | ||
| JPS629161U (ja) * | 1985-07-02 | 1987-01-20 | ||
| JPH07198681A (ja) * | 1993-12-28 | 1995-08-01 | Kawatetsu Techno Res Corp | 金属材の状態量測定装置 |
| JP2015059881A (ja) * | 2013-09-20 | 2015-03-30 | 東日本旅客鉄道株式会社 | 渦電流探傷方法と渦電流探傷装置 |
-
1983
- 1983-07-26 JP JP13617483A patent/JPS6027852A/ja active Pending
Cited By (4)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS629160U (ja) * | 1985-07-02 | 1987-01-20 | ||
| JPS629161U (ja) * | 1985-07-02 | 1987-01-20 | ||
| JPH07198681A (ja) * | 1993-12-28 | 1995-08-01 | Kawatetsu Techno Res Corp | 金属材の状態量測定装置 |
| JP2015059881A (ja) * | 2013-09-20 | 2015-03-30 | 東日本旅客鉄道株式会社 | 渦電流探傷方法と渦電流探傷装置 |
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