JPS60264347A - 光フアイバ製造方法,製造装置及び非接触シール - Google Patents

光フアイバ製造方法,製造装置及び非接触シール

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JPS60264347A
JPS60264347A JP60118666A JP11866685A JPS60264347A JP S60264347 A JPS60264347 A JP S60264347A JP 60118666 A JP60118666 A JP 60118666A JP 11866685 A JP11866685 A JP 11866685A JP S60264347 A JPS60264347 A JP S60264347A
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chamber
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seal
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    • C03C25/00Surface treatment of fibres or filaments made from glass, minerals or slags
    • C03C25/10Coating
    • C03C25/12General methods of coating; Devices therefor
    • C03C25/22Deposition from the vapour phase
    • C03C25/223Deposition from the vapour phase by chemical vapour deposition or pyrolysis
    • CCHEMISTRY; METALLURGY
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    • C03CCHEMICAL COMPOSITION OF GLASSES, GLAZES OR VITREOUS ENAMELS; SURFACE TREATMENT OF GLASS; SURFACE TREATMENT OF FIBRES OR FILAMENTS MADE FROM GLASS, MINERALS OR SLAGS; JOINING GLASS TO GLASS OR OTHER MATERIALS
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    • C03C25/226Deposition from the vapour phase by sputtering

Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。

Description

【発明の詳細な説明】 産業上の利用分野 本発明は光ファイバのオンライン被覆に関する。
従来の技術及びその問題点 新たに線引きされた直後の本来の状態の、表面欠陥のな
い光ファイバは106pSiを超える強度を示す。しか
し、これは通常長い長さにわたり達しうる強度ではなく
むしろ極限強さとみなすべきである。非常に高強度のフ
ァイバを達成する際の(11’ 主な困難は、寸法を厳
密に限定することができない点、あるいはファイバ十の
表面きずの存在を完全に除去することができない点であ
った。表面きずは数多くの原因により起こる。これらは
プリフォーム製作に用いられた支持管よりの残留汚染物
及び欠陥の如く、線引ぎ前に存在しその後も残存するも
のかも知れない。プリフォームの表面には処理及び取扱
い中に損傷が生じるかも知れない。
伯の原因としてはプリフォーム表面での失透及び線引き
中及び後の、炉耐火物からの粒状破片及び凝縮物、加熱
要素及び線引き環境内の塵粒子を含むあらゆる置物どの
接触が含まれる。被覆付与装置の角度誤差及び被覆材F
i中の異物粒子もまた弱いファイバの潜在的原因である
ファイバ表面を可能な限り無欠陥に保つには保護被覆を
オンラインで施すことが必須である。しか1ノファイバ
表面に先に存在したぎずは応力集中器として作用し、湿
気の存在下ではこれらきずはj払が徐々に成長し、つい
に局部応力集中が十分高くなると破局的な成長が始まり
ファイバはその結束破壊する。かくしてファイバは初期
ファイバ強度よりはるかに低い実用応力で破壊する。こ
の応力及び湿気の組合わされた作用によるクラック拡大
の結束起きる時間に伴う強度低下の過程は応力腐食又は
静疲れとして知られている。したがってファイバに一定
の寿命を保ill Lようどすると保証試験を実際の使
用中出会うと予期される水準よりはるかに高い水準で行
い応力腐食による強度低下を見込むようにせねばならな
い。あるいは保証試験応力が使用中実際に予期されるも
のと同等になるよう応力腐食を防止又は著るしく減じ、
ファイバ強度を時間と共に一定に保たねばならない。
応力腐食が起こるには2つの条件が支配的であらねばな
らない。
(I) 表面きずでの応ノj。
(If) このきずに湿気が加わり得ること。
これらの条件下では水による核腐食が5i−0−8i結
合の崩壊を起こす。応力腐食の発生を防ぐには上記必要
条件の一方又は両方を単純に除去せねばならない。設置
されたファイバは通常小さなしかし顕著な応力下にある
。これはケーブル設置又は回収の際に加えられるより高
い応力と組合わせると、ファイバの計画寿命(水中遠距
離通 5− 信シテスムでは25年)の全期間もしくは大部分にわた
りファイバをゼロ応力に保つのは現実的でないことを意
味する。したがって応力腐食を抑止する残された唯一の
手段は湿気のファイバ表面への到達を阻止することであ
る。有機被覆は、熱あるいは紫外線硬化であれ、優れた
対摩耗牲を与えるが周囲の湿気は速やかに被覆に侵入し
応力腐食を進行さける。
例えば熱硬化シリコーンは容易に施しまた硬化し得るが
水に対しては貧弱な障壁にしかならず、また速い線引き
速度では硬化に問題を生じる。紫外線硬化高分子もまた
容易に施せ、これらはまた急速な硬化をするが、満足す
べき水に対する障壁を与えない。
密封被覆は金属溶射、融液状アモルファス金属よりの急
冷被覆及び窒化珪素又は酸窒化珪素の如きセラミック被
覆で得られる。金属溶射被覆は非常に効果的な水障壁を
与えるがファイバを弱めることが示された。融液状アル
モファス金属よりの凍結被覆もまた非常に有効な水障壁
を与えまた約 6 − 2%までの歪に対し弾性的であるが速い線引ぎ速度では
非常に速い急冷比を必要どする。セラミック被覆は付着
性が高く非常に有効な水障壁を与えるが有毒な物質の使
用と高い何着温度を含むのでオンライン被覆では非常に
取扱いにくい。
本発明の目的は表面きずの生成をh1能な限り減少させ
た光ファイバの密封被覆を可能にすることである。
問題点を解決するための手段 本発明はファイバをオンライン処理室を通して線引きし
、室内でファイバ表面を物理的及び/又は化学的に変化
させ、また室内の雰囲気を室の少なくとも一端で、密封
化ガスが内部に導入されて処理ガスが室から逃げるのを
防ぐよう制御するシールにより、ファイバをシールの壁
に接触させることなくまたファイバを振動させることな
く密封することを特徴とする光ファイバの製造方法を提
11::・ mta・ 本発明はまたファイバが内部を通って線引きされる処理
室と、反応ガスを処理室に導入する゛導入口と、ファイ
バと導入口又は出口との間を密封するシールとを有し、
シールは密封化ガスをシールへ導入する手段ど、ファイ
バがシール壁に接することなくまたファイバを振動させ
ることなく処理ガスの室よりの逃げを防ぐにうガスを制
御する手段とよりなる光フアイバ製造装置を提供する。
本発明はさらにファイバ処理用貫通孔と、孔に沿って一
方の軸方向に向く第1のガスジェットと、孔に沿って該
方向と反対の、第1のジェットから離間する方向を指向
する第2のジェットとを有し、ジェットの間にファイバ
を振動させることなく停滞シールゾーンを作る構造より
なるオンラインファイバ処理室の出入口用非接触シール
を提供する。
実施例 以下図面を参照して本発明を説明する。
窒化珪素はそれがマスクやパシベーシコン層に用いられ
る半導体技術では十分に確立されている。
窒化珪素は極めて不活性で、拡散に対し優れた障壁を提
供する。従ってファイバ表面に直接部された窒化珪素の
被覆は応力111食を阻止又は著しく減少させる。半導
体技術では窒化珪素を何着させるのに種々の方法が用い
られている。一般的に用いられている方法を下に記す。
高周波グロー放電 高周波スパッタ 真空蒸着 イオン打込み 直接窒化反応 化学気相蒸着 窒化珪素の熱分解生成に最も広く用いられている2つの
系は5tH4/N113と5fCI4/NH3である。
四塩化珪素は取扱いは比較的安全だが室温以下でアンモ
ニアと及応し、排気ラインに急速に閉塞し連続的付着に
大きな問題を起こす不揮発性イミド及び塩化アンモニウ
ムを生じる問題点を有する。したがってより危険ではあ
るがシラン(SiH4)がより良い代替物と考えられて
いる。約1000℃で窒素を担体/希釈ガスどして用い
た場合のシランとアンモニアの反応は窒化珪素のアモル
ファス被覆を生じる。CO2,No。
−〇 − 02の如き適当(rlli素源を追加すると酸窒化珪素
が生じ、その正確な化学at論は反応物の比により決定
される。
33!l14+4HII3−2i」川Ω1℃−3i38
4 + 12!12N2担体 ・・・(1) Sill 4 +N113+酸素源で弓、flCIfl
−℃−3i ONN2担体 xyz ・・・■ 酸窒化物もまた優れた拡散障壁であり、より応力の少な
い被覆をシリカ上に十分生ずるゆえ酸窒化珪素も窒化硅
素と並んで考慮に入れた。膜応力は式0式中のx、y及
びlの値を変えることで制御される。
上記反応の紫外線による活性化も可能である。
SiH4の発火性及び毒性のため、初期の実験は密封シ
ステムを用いてライン外で行った。このライン外作業は
5fsN4の生成についてのみであった。付着装置は基
本的には下の部分よりなっていた。
 10− (I)気相系 (1)炉 (III>反応器 (T)Al1 ソースガスはライン内フィルタを有する研究/電子工業
用級のものであった。ガス流h1は当初Si1」4以外
は回転流出目で制御され、SiH4は質吊流徂制御装置
て・制御された。窒素は担体/希釈ガスの両方に用いら
れ、またボンベ調整器、ガスライン及び反応器のパージ
ガスどじでも用いられた。かかるパージは発火+!1物
質を用いる場合極めて必要なことである。反応器に入る
前にガス流は乱流を牛ぜしめる最終ライン内フィルタを
通過し、もってソースガスとの完全な混合が確保される
(TI)炉 炉はカンタルA1抵抗線をアルミナ管に巻くこjl′・
 とで構成された・巻線の全長は約500 mmであっ
た・管はアルミニウムケース内にシンダニョ(srn(
1anyo)端板と共に取ト1けられカオウールで絶縁
され 11− た。
(It)反−東名 反応器は加熱されたアルミナファーネスチューブ内に正
しく嵌合(るシリカ管J:りなる。反応物は反応管の頂
部より流入し廃棄生成物は底部よりIJI出される。抽
気速度は全反応物流跡に児合うJ:う平衡される。
ガスシール 非接触シールシステムが被覆システム端に強いファイバ
を確実a−ものとするlこめ提案された。使用する反応
物の青竹及び発火性に鑑みこのシールシステムは極めて
有効なものであらねばならない。
窒素ガスシールを用いるシステムがベンブユリ効果−[
アムーバー(+−(M C−ブラウアーリミテッド)に
基づいて案出された。これらは周囲の空気の運動を誘起
することにより大t11の空気流を作り出す。
各シールにつき2つのかがるエアムーバ−が背中合わせ
に取イ1けられ反対方向に動作する。この目的は一様な
窒素流を、反応器の出/入ロボートへ逆行するように、
そしてまた同時に炉内へも向け、 12− 比較的[停fllll)だ窒素のゾーンを2つの■−ア
ムーバー間に作り出すことにある。このようにして優れ
た非接触シールがファイバ振動を誘発する乱流問題なし
に形成される。手記の如くシールの反応性ガス及び窒素
流を掌編でシミコレートするl、:めフレオン12を用
い、気相系で用いられるのと同一の感度の漏えい検知器
を用いたところフレオンの痕跡は入口あるいは出「1ボ
ートどちらにも検出されなかった。
図面を参照するにオンライン付着用システムの模式図が
示されている。気相系は]ンパク1〜な設計で全てのソ
ースガスはm、f、c、で制御され、また酸窒化珪素生
成用に一酸化窒素のラインが追加されている。
装圃は線引き塔上の線引き炉下部に取付けられ、入口ア
イリス1と出口アイリス2.頂部の非接触入口シールシ
ステム3ど底部の非接触出口シールシステム4どを有す
る。
前記の如く構成された炉5は前記の如く構成された反応
器6を囲む。電源7は炉の温度、従って 13− 反応器の調度を制御する。この温度は7!10〜110
0℃の範囲内である。
反応器6は0リング10及び11にJ:り抽出マニホー
ルド12及び入ロマニボールド13に固定。
シールされる端面フランジ8及び9を有する。導入口マ
ニホールド13は反応物導入口14を有し出口マニホー
ルド14は抽出ボー1〜15を有する。
抽出ガス中のN2抽気用の抽気開口16は空気及び抽出
速度のライン調整に用いられる平衡流1の逆拡散を防ぐ
のに用いられる。気相系からのバイパスボー1〜17も
よた設【フられている。頂部及び底部シール及び抽出シ
ステムの平衡に用いられる窒素はパイブトサイ]・ガス
を用いた回転流出目を用いて制御される。互いに等量の
ガスを供給すべく分かれたエアムーバ一対には各々単一
の供給ラインが適合される。(必要なら各■アムーバー
に別々に供給することでJζり正確な制御が達成できる
)。
初期の実験は以下の範囲の条着を用いた。
最高炉壁温度 −700−1000℃  14− S ! H4流吊 −10−50cc/分N l−13
流早 −800cc/分 No流間 −12ncc/分 N2流昂 −5000cc/分 典型的反応物比 SfH,+ :N1−13 :N2 =1 :40: 
250頂部シールシステlオの全 N2流量 −20リツ1〜ル/分 底部シールシスフムの全 N2流吊 −20リツIヘル/分 頂点部及び底部アイリ ス開口 −7rNn 線引き速度 −10−80m/分 プリフオ′−ム21の加熱域21Aから線引きされた光
ファイバ20はアイリス1に入りシール3゜11:: 
反応室6・′−)Il′4・jJj 117 (“J 
、12 @ 3山過トブーリー23を回って貯蔵用の貯
藏ドラム(図示せず)へ走る。窒化されたファイバ2O
Aを被覆−15= するプラスデック被覆ト1与装回22がまた存在づる。
以下シール3及び4の1つを訂細に説明する。
シール3及び1を形成するため用いられたベンチコリ効
果装館は第2図にその原理を示すバウアー(Bauer
)により製作されたエアムーバ−である。
第1及び第2の装置28及び29は背中合ゼに取4=t
 tjられ、その結果結合された効果が両エアムーバ−
の中心に共通な停滞ゾーン30を生じる。
圧縮窒素が小さな導入口31から環状室32へ流入Jる
。窒素はその後環状ギャップ33を通って加速される。
その際窒素の薄層が生じ、輪郭3/lに(N+ 盾しシ
ールの軸方向へ平行に流れる。しかし2つの装置6は反
対方向に働いているので1味の結果として停滞ゾーン3
0が生じ、これがファイバがシールを通過して動く際光
フアイバ周囲に効果的4丁シールを1−することを見出
した。シール内孔の直径は約20mmであるが10−7
5 mmの範囲でもよい。
シールは光ファイバがない揚台も働く。
 16一 本発明者は窒素密封化ガスをそれがガスシール3及び4
に入る前に予熱り−ることを提案し、さらにシール3及
び4自体を加熱し、もってファイバを予熱し、ファイバ
をイ」着に必要な温度又はそれに近接して反応室内での
反応のためりえることを提供する。この調度は窒化物又
は酸窒化物11名では約800℃である。ファイバ湿度
はシールに入る際プリフォーム21.21△から線引ぎ
される際の2000℃よりやや」−の温度から100℃
前後まで落ちている。従って密封化ガスを用いてファイ
バを予熱することを提案し、またこれは達成し得る伺着
速度を著しく増大せしめるのが見出された。
明らかに密封は伯のオンライン被覆処理及び反応付着に
も用途を有づるが、特に過程内でシラン等、毒性でまた
発火↑qのガスを用いる場合利点を有する。かかるガス
Cはシステムの全部品は調整器を含めガスのシステムへ
の導入前に無空気であるのが重要である。NO,N1−
13及びS!1−14ボンベにはパージラインが設けら
れる。このパージ用導入ガスは実際の付着の際111休
/希釈ガスとし−17= て用いられるのと同じN2供給源から取られる。
気相系の混合フィルタ通過後反応ガスラインは線引き塔
I(1部の分離したマニホールドに導かれ、ここで三方
タップを用いることによりガスは反応器を流れることb
抽出システムへ直接にバイパス1」ること−し可能であ
る。
本発明の利点は光ファイバをオンラインで窒化珪素又は
酸窒化珪素又は仙の材料で被覆しファイバにハーメデッ
クシールを与え、(Fi1時にファイバを乱したり振動
さけることなしに反応室に気密シールを与え、ファイバ
の表面ぎずの危険を最小化する能力にある。
【図面の簡単な説明】
第1図は本発明にJ:る光ファイバのオンライン被覆装
置の実施例を示す図、第2図は第1図の訂細を示づ図で
ある、。 1・・・入口アイリス、2・・・出口アイリス、3・・
・入口シールシステム、4・・・出口シールシステム、
5・・・炉、6・・・反応器、7・・・電源、8,9・
・・端面フランジ、10.11・・・Oリング、12・
・・抽出7ニホ 18− −ルド、13・・・導入ロマニボールド、14・・・反
応物導入口、15・・・抽出ボー1−116・・・抽気
開口、17・・・バイパスポート、20・・・光ファイ
バ、21・・・プリフォーム、21A・・・加熱域、2
2・・・プラスデック被覆付与装置、23・・・プーリ
ー、28・・・第1の装置、29・・・第2の装置、3
0・・・停滞ゾーン、31・・・導入口、32・・・環
状室、33・・・環状ギャップ、34・・・輪郭。 特許出願人 スタンダード テレフォンズアンド ケー
ブルス パブリック −19= 手続?mtlE書 昭和60年6月28[1 昭和60年 特許願 第118666号2、発明の名称 光フアイバ製造方法、製造装置及び非接触シール3、補
正をする者 事件との関係 特許出願人 住 所 イギリス国 [1ンドン ダブリューシー2ア
ール1デイーニー ストランド 190番地名 称 ス
タンダード テレフォンズ アンド ケーブルスパブリ
ック リミテッド カンパニー 代表者 シトニー ロス キャブシイ (国籍 イギリス国) 4、代理人 住 所 〒102 東京都千代田区麹町5丁目7番地電
話03 (263) 3271番(代表)5、補正命令
の日付 6、7+i正の対象 図面。 7、補正の内容 図面の浄n)(内容に変更なし)を別紙の通り補充する
。  2 −

Claims (1)

  1. 【特許請求の範囲】 (1) ファイバをオンライン処理室を通して線引きし
    、室内でファイバ表面を物理的及び/又は化学的に変化
    させ、また室内の雰囲気を室の少なくとも一端で、密封
    化ガスが内部に導入されて処理ガスが室から逃げるのを
    防ぐよう制御されるシールにより、ファイバをシールの
    壁に接触させることなくまたファイバを振動さ1!るこ
    となく密封することを特徴とする光ファイバの製造方法
    。 (2)窒化珪素がファイバ表面に反応室内における化学
    気相蒸着法により形成される特許請求の範囲第1項記載
    の方法。 ■ 酸窒化珪素がファイバ表面に反応室内における化学
    気相蒸着法により形成される特許請求の範囲第1項記載
    の方法。 (4) シールは一対の背中合わせに取イ1けられ互い
    に反対方向に動くベンヂコリ効果空気運動装置よりなる
    特許請求の範囲第1項記載の方法。 (Fl)密4・1化ガスは窒素である特許請求の範囲第
    1項記載の方法。 6) ファイバは該処理に必要な湿1印より低い温度を
    有し、ファイバは処理室に入る前に該必要な濃度近くに
    加熱される特許請求の範囲第1項記載の方法。 ■ ファイバが内部を通って線引ぎされる処理室と、反
    応ガスを処理室に導入する導入口と、ファイバと室入目
    又は出口どの間を密封覆るシールどを有し、シールは密
    封化ガスをシールへ導入する手段と、ファイバがシール
    壁に接することなくまたファイバを振動ざ1することな
    く処理ガスの室よりの逃げを防ぐJ:うガスを制御する
    手段と」;りなる、光フアイバ製造装置。 (8) ファイバ処理用貫通孔と、孔に沿って一方の軸
    方向に向く第1のガスジ、[ツl〜と、孔に沿って該方
    向と反対の、第1のジエツI〜から頗問する方向を指向
    する第2のジェットとを有し、ジェノ]への間にファイ
    バを振動させることなく停滞シールゾーンを作る構造よ
    りなる直結ファイバ処理室の出入1」用非接触シール。 (9)特許請求の範囲第1項から第6項中いずれか一項
    に記載した方法又は特許請求の範囲第7項記載の装置に
    より表面処理を施された光ファイバ。
JP60118666A 1984-06-01 1985-05-31 光フアイバ製造方法,製造装置及び非接触シール Expired - Lifetime JPH0653596B2 (ja)

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Application Number Priority Date Filing Date Title
GB08414054A GB2159812B (en) 1984-06-01 1984-06-01 Manufacturing optical fibre
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JPS60264347A true JPS60264347A (ja) 1985-12-27
JPH0653596B2 JPH0653596B2 (ja) 1994-07-20

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JP (1) JPH0653596B2 (ja)
AT (1) ATE44722T1 (ja)
CA (1) CA1261632A (ja)
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