JPS60262229A - メモリバツクアツプ用電池の寿命判別方法 - Google Patents
メモリバツクアツプ用電池の寿命判別方法Info
- Publication number
- JPS60262229A JPS60262229A JP59117813A JP11781384A JPS60262229A JP S60262229 A JPS60262229 A JP S60262229A JP 59117813 A JP59117813 A JP 59117813A JP 11781384 A JP11781384 A JP 11781384A JP S60262229 A JPS60262229 A JP S60262229A
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- JP
- Japan
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- data
- battery
- turned
- memory
- ram6
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- Pending
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- Techniques For Improving Reliability Of Storages (AREA)
- Direct Current Feeding And Distribution (AREA)
Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
〔発明の属する技術分野〕
本発明は、フロート充電されてメモリのバックアップ用
として用いられる二次電池の寿命を判別する方法に関す
る。
として用いられる二次電池の寿命を判別する方法に関す
る。
一般にζメモリ（特に、半導体のｃ −ｙｔｏｓ −Ｒ
ＡＭ）のバックアップ用として７０−ト充電される二次
電池が用いられるが、このような電池の寿命は充放電の
回数等の使用条件によって異なるので、停電時に電池の
出力電圧の低下によシメモリのデータが破壊された場合
Ｋ、この電池の出力電圧の低下が長時間の停電による放
電のためなのか、それとも電池の寿命のためなのかを判
別し、電池の寿命がなくなったのであれば電池を新しい
ものと取り換える必要がある。
ＡＭ）のバックアップ用として７０−ト充電される二次
電池が用いられるが、このような電池の寿命は充放電の
回数等の使用条件によって異なるので、停電時に電池の
出力電圧の低下によシメモリのデータが破壊された場合
Ｋ、この電池の出力電圧の低下が長時間の停電による放
電のためなのか、それとも電池の寿命のためなのかを判
別し、電池の寿命がなくなったのであれば電池を新しい
ものと取り換える必要がある。
また、このようなメモリを使用した装置においては、停
電中にメモリのデータが破壊されなかったか否かを復電
時にチェックしてデータが破壊されてい六ときにはメモ
リのデータが異常であることを表示するようにしている
。
電中にメモリのデータが破壊されなかったか否かを復電
時にチェックしてデータが破壊されてい六ときにはメモ
リのデータが異常であることを表示するようにしている
。
本発明は、上述の点に鑑み、メモリのデータが異常であ
るか否かを判別する機能を用いてメモリバックアップ用
電池の寿命を判別できるようにするメモリバックアップ
用電池の寿命判別方法を提供することを目的とする。
るか否かを判別する機能を用いてメモリバックアップ用
電池の寿命を判別できるようにするメモリバックアップ
用電池の寿命判別方法を提供することを目的とする。
本発明は、電源を所定時間以上投入した後遮断して再び
投入したときに、メモリのデータが異常であるか否かに
基づいてフロート充電されるメモリバックアップ用電池
の寿命を判別するようにすることによって、メモリのデ
ータが正常であるか否かを判別するために必要な異常判
別手段を用いて電池の寿命の判別を安価かつ容易に行う
ことができるようにしようとするものである。
投入したときに、メモリのデータが異常であるか否かに
基づいてフロート充電されるメモリバックアップ用電池
の寿命を判別するようにすることによって、メモリのデ
ータが正常であるか否かを判別するために必要な異常判
別手段を用いて電池の寿命の判別を安価かつ容易に行う
ことができるようにしようとするものである。
以下に図面を参照して本発明の詳細な説明する。
第１図は、本発明の方法を適用する装置の実施例の要部
構成を示す回路図で、１は商用の交流電源、２は電源ス
ィッチ、３は交流電源１よりの交流を入力として直流の
２４Ｖおよび５■の定電圧を出力する定電圧電源回路、
４はＣＰＵ、５はＲＯＭ、６はＣ−ＭＯＳで構成された
ＲＡＭ 、ツは停電時にＲＡＭ６のデータを保持するた
めのバックアップ用二次電池、Ｄ、 ％ Ｄ４はダイオ
ード、ＲＩ ＋ Ｒ２は抵抗である。
構成を示す回路図で、１は商用の交流電源、２は電源ス
ィッチ、３は交流電源１よりの交流を入力として直流の
２４Ｖおよび５■の定電圧を出力する定電圧電源回路、
４はＣＰＵ、５はＲＯＭ、６はＣ−ＭＯＳで構成された
ＲＡＭ 、ツは停電時にＲＡＭ６のデータを保持するた
めのバックアップ用二次電池、Ｄ、 ％ Ｄ４はダイオ
ード、ＲＩ ＋ Ｒ２は抵抗である。
次に、゛この様な構成の回路の動作について説明すると
、まず、停電時でなく電源スィッチ２がＯＮされている
ときには、定電圧電源回路３からは２４Ｖおよび５ｖの
定電圧が出力され、５ｖ端子からは（１！ＰＵ４および
ＲＯＭ５に給電され、さらにダイオ−８勲よび抵抗Ｒ２
を介して電池７に給電されて電池）はフロート充電され
る。また、２４Ｖ端子からは抵抗Ｒ１およびダイオード
Ｄ２を介してＲＡＭ６に給電されるが、この抵抗Ｒ１と
ダイオードＤ２との接続点と５ｖ端子との間にダイオー
ドＤ１が接続されているので、ＲＡＭ６には約５ｖの゛
電圧が印加される。また、このときダイオードＤ４は非
導通となっている。
、まず、停電時でなく電源スィッチ２がＯＮされている
ときには、定電圧電源回路３からは２４Ｖおよび５ｖの
定電圧が出力され、５ｖ端子からは（１！ＰＵ４および
ＲＯＭ５に給電され、さらにダイオ−８勲よび抵抗Ｒ２
を介して電池７に給電されて電池）はフロート充電され
る。また、２４Ｖ端子からは抵抗Ｒ１およびダイオード
Ｄ２を介してＲＡＭ６に給電されるが、この抵抗Ｒ１と
ダイオードＤ２との接続点と５ｖ端子との間にダイオー
ドＤ１が接続されているので、ＲＡＭ６には約５ｖの゛
電圧が印加される。また、このときダイオードＤ４は非
導通となっている。
そして、停電時もしくは電源スィッチ２がＯｎのときに
は、定電圧電源回路３がらは出方が発生されないので、
０ＰＵ４およびＲＯＭ５には電源は供給されないが、Ｒ
ＡＭ６にｔｉ電池’７（’＠圧約３．６ Ｖ ）よシダ
イオードＤ４を介して約３Ｖの電圧が供給され、ＲＡＭ
６の記憶データが保持される。
は、定電圧電源回路３がらは出方が発生されないので、
０ＰＵ４およびＲＯＭ５には電源は供給されないが、Ｒ
ＡＭ６にｔｉ電池’７（’＠圧約３．６ Ｖ ）よシダ
イオードＤ４を介して約３Ｖの電圧が供給され、ＲＡＭ
６の記憶データが保持される。
また、ＣＰＵ４には停電時にＲＡＭ ６のデータが確実
に保持されていたか否かをチェックする機能があるので
、次にこの機能について説明する。第２図はこの機能を
実現するための動作プログラムのフローチャートであり
、この動作プログラムは、電源が投入されたときに図示
しないリセット回路よシ所定時間のリセット信号が０Ｐ
Ｕ４に入力され、コノリセット信号が消滅すると実行さ
れるプログラムである。
に保持されていたか否かをチェックする機能があるので
、次にこの機能について説明する。第２図はこの機能を
実現するための動作プログラムのフローチャートであり
、この動作プログラムは、電源が投入されたときに図示
しないリセット回路よシ所定時間のリセット信号が０Ｐ
Ｕ４に入力され、コノリセット信号が消滅すると実行さ
れるプログラムである。
第２図において、ステップ２０１では、 ＲＯＭ５に記
憶されている所定のチェックデータとＲＡＭ６の所定の
領域に記憶されているデータとを比較し、これらのデー
タが同一データであればＲＡＭ６のデータは正常である
として正常な場合の所定の動作を開始し、同一データで
なければＲＡＭ６のデータは停電時に電池フの電圧の低
下にょシ破壊されたデータであるとしてステップ２０２
に進む。ステップ２０２では、ＲＯｎ ５に記憶されて
いた前述の所定のチェックデータをＲＡＭ６の前述の所
定の領域に転送してステップ２０３に進み、ステップ２
０３テハ、図示しない表示器にＲＡＭ６のデータは破壊
されたという異常の表示を行う。
憶されている所定のチェックデータとＲＡＭ６の所定の
領域に記憶されているデータとを比較し、これらのデー
タが同一データであればＲＡＭ６のデータは正常である
として正常な場合の所定の動作を開始し、同一データで
なければＲＡＭ６のデータは停電時に電池フの電圧の低
下にょシ破壊されたデータであるとしてステップ２０２
に進む。ステップ２０２では、ＲＯｎ ５に記憶されて
いた前述の所定のチェックデータをＲＡＭ６の前述の所
定の領域に転送してステップ２０３に進み、ステップ２
０３テハ、図示しない表示器にＲＡＭ６のデータは破壊
されたという異常の表示を行う。
次に、以上のような装置において電池マの寿命を判別す
る方法について説明する。
る方法について説明する。
電池マの寿命を判別するためには、まず、電源スィッチ
２をＯＮにして電池７に所定時間以上の充電を行う。但
し、このときの充電時間は後述する電源スィッチ２のＯ
ＦＦの間にＲＡＭ＆のデータを保持するのに十分な時間
とする。そして、この充電後に電源スィッチ２をＯＦＦ
にし、定電圧電源回路３において内部の平滑コンデンサ
の電荷が放電されて出力電圧が零になった後再び電源ス
ィッチ２をＯＮにする。このとき、ＣＰＵ４においては
第２図の動作プログラムが実行され、ＲＡＭ６の所定の
領域にＲＯＭ５より転送して記憶させたチェックデータ
がそのまま保持されていたか（ＲＯＭ５のチェックデー
タと同一であるか）否かによｐ ＲＡＭ６のデータが正
常であるか否かを判別し、異常であれば異常表示が行わ
れる。
２をＯＮにして電池７に所定時間以上の充電を行う。但
し、このときの充電時間は後述する電源スィッチ２のＯ
ＦＦの間にＲＡＭ＆のデータを保持するのに十分な時間
とする。そして、この充電後に電源スィッチ２をＯＦＦ
にし、定電圧電源回路３において内部の平滑コンデンサ
の電荷が放電されて出力電圧が零になった後再び電源ス
ィッチ２をＯＮにする。このとき、ＣＰＵ４においては
第２図の動作プログラムが実行され、ＲＡＭ６の所定の
領域にＲＯＭ５より転送して記憶させたチェックデータ
がそのまま保持されていたか（ＲＯＭ５のチェックデー
タと同一であるか）否かによｐ ＲＡＭ６のデータが正
常であるか否かを判別し、異常であれば異常表示が行わ
れる。
そして、このとき、異常表示が行われない場合には、電
源スィッチ２のＯＦＦの間に電池７によシＲＡＭ６のデ
ータが保持されたということであるので、電池７にはま
だ寿命があると判断でき、異常表示が行われた場合には
、電源スィッチ２のＯＦＦの間に電池７によりＲＡＭ６
のデータが保持できなかったということであるので電池
ツには寿命がないと判断できる。
源スィッチ２のＯＦＦの間に電池７によシＲＡＭ６のデ
ータが保持されたということであるので、電池７にはま
だ寿命があると判断でき、異常表示が行われた場合には
、電源スィッチ２のＯＦＦの間に電池７によりＲＡＭ６
のデータが保持できなかったということであるので電池
ツには寿命がないと判断できる。
尚、上述の寿命判別方法における電源スィッチ２のＯＮ
時間とＯＦＦ時間との関係であるが、電池１に寿命があ
るときには約３０秒の充電で約１時間のデータ保持が可
能であり、寿命がない場合には約１秒程度のデータ保持
も不可能であるので、上述のＯＮ 、 ＯＦＦ時間これ
らの点を考慮して決定すればよい。
時間とＯＦＦ時間との関係であるが、電池１に寿命があ
るときには約３０秒の充電で約１時間のデータ保持が可
能であり、寿命がない場合には約１秒程度のデータ保持
も不可能であるので、上述のＯＮ 、 ＯＦＦ時間これ
らの点を考慮して決定すればよい。
また、上述の電源スィッチ２のＯＮ、ＯＦＦを人手によ
らず別の装置を用いて行うようにすると杆部：’ 合で
ある。
らず別の装置を用いて行うようにすると杆部：’ 合で
ある。
さらに、第２図のフローチャートにおいて、ＲＯＭ５の
チェックデータとＲＡＭ ６の所定の領域のデータとを
比較した後に、データが同一でなければ（異常であれば
） ＲＯＭ５のチェックデータをＲＡＭ６の所定の領域
に転送しているが、これに限定される°ものではなく、
例えばＲＡＭ６の所定の領域のデータを別の領域（又は
レジスタ）へ退避させた後、異常か否かの判定をする前
にＲＡＭ６の所定の領域にＲＯＭ５のチェックデータを
転送し、その後、退避させたデータとＲＯＭ５のチェッ
クデータとの比較により異常を判定するようにしてもよ
い。要するに、異常判定のためにＲＯＭ５のチェックデ
ータと比較するデータが電源投入後ＲＡＭ６の所定の領
域に記憶されていた書き換え前Ωもの（電源投入時のデ
ータ）であればよい。同、ここで電源投入時とは電源が
投入されて定電圧電源回路３の出力電圧が安定したとき
（前述のリセット信号の消滅するタイミングとほぼ同じ
とき）をいう。
チェックデータとＲＡＭ ６の所定の領域のデータとを
比較した後に、データが同一でなければ（異常であれば
） ＲＯＭ５のチェックデータをＲＡＭ６の所定の領域
に転送しているが、これに限定される°ものではなく、
例えばＲＡＭ６の所定の領域のデータを別の領域（又は
レジスタ）へ退避させた後、異常か否かの判定をする前
にＲＡＭ６の所定の領域にＲＯＭ５のチェックデータを
転送し、その後、退避させたデータとＲＯＭ５のチェッ
クデータとの比較により異常を判定するようにしてもよ
い。要するに、異常判定のためにＲＯＭ５のチェックデ
ータと比較するデータが電源投入後ＲＡＭ６の所定の領
域に記憶されていた書き換え前Ωもの（電源投入時のデ
ータ）であればよい。同、ここで電源投入時とは電源が
投入されて定電圧電源回路３の出力電圧が安定したとき
（前述のリセット信号の消滅するタイミングとほぼ同じ
とき）をいう。
以上のような・本発明によれば、電源を所定時間以上投
入した後迩断して再び投入したときに、メモリのデータ
が異常であるか否かに基づいてフルート充電されるメモ
リバックアップ用電池の寿命を判別するようにしたので
、電池の寿命を判別するだめの特別な回路を付加するこ
となく、メモリのデータが正常でおるか否かを判別する
だめに必要な異常判別手段を用いて電池の寿命の判別を
安価かつ容易に行うことができる。
入した後迩断して再び投入したときに、メモリのデータ
が異常であるか否かに基づいてフルート充電されるメモ
リバックアップ用電池の寿命を判別するようにしたので
、電池の寿命を判別するだめの特別な回路を付加するこ
となく、メモリのデータが正常でおるか否かを判別する
だめに必要な異常判別手段を用いて電池の寿命の判別を
安価かつ容易に行うことができる。
第１図は本発明の方法を適用する装置の実施例の要部構
成を示す回路図、第２図は第１図の装置の動作プログラ
ムのフローチャートである。 １・・・交流電源、２・・・電源スィッチ、３・・・定
電圧電源回路、４・ＣＰＵ、５・・・ＲＯＭ、６・・・
ＲＡＭ、７・・・バックアップ用二次電池。 第１ 図
成を示す回路図、第２図は第１図の装置の動作プログラ
ムのフローチャートである。 １・・・交流電源、２・・・電源スィッチ、３・・・定
電圧電源回路、４・ＣＰＵ、５・・・ＲＯＭ、６・・・
ＲＡＭ、７・・・バックアップ用二次電池。 第１ 図
Claims (1)
- 〕）所定電源を入力して定電圧を出力する定電圧電源回
路と、該定電圧電源回路の出力によりフロート充電され
る電池と、該電池によりバックアップされるメモリと、
前記所定電源の投入時の前記メモリの所定領域のデータ
と所定のチェックデータとを比較して前記メモリのデー
タの異常を判別すると共に、前記メモリの前記所定領域
に前記所定のチェックデータを記憶させる異常判別手段
とを備え、前記所定電源を所定時間以上投入した後遮断
して再び投入したときに前記異常判別手段が異常と判別
するか否かに基づいて前記電池の寿命を判別することを
特徴とするメモリバックアップ用電池の寿命判別方法。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP59117813A JPS60262229A (ja) | 1984-06-08 | 1984-06-08 | メモリバツクアツプ用電池の寿命判別方法 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP59117813A JPS60262229A (ja) | 1984-06-08 | 1984-06-08 | メモリバツクアツプ用電池の寿命判別方法 |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPS60262229A true JPS60262229A (ja) | 1985-12-25 |
Family
ID=14720893
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP59117813A Pending JPS60262229A (ja) | 1984-06-08 | 1984-06-08 | メモリバツクアツプ用電池の寿命判別方法 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPS60262229A (ja) |
Cited By (2)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| US5021776A (en) * | 1988-07-11 | 1991-06-04 | Yale Security Inc. | Electronic combination of lock with changeable entry codes, lock-out and programming code |
| JP2013020489A (ja) * | 2011-07-12 | 2013-01-31 | Mitsubishi Electric Building Techno Service Co Ltd | バッテリ寿命チェック装置 |
Citations (2)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS57147198A (en) * | 1981-03-09 | 1982-09-10 | Toshiba Corp | Battery backup result judging system for volatile memory |
| JPS58107927A (ja) * | 1981-12-22 | 1983-06-27 | Tamura Electric Works Ltd | 公衆電話機 |
-
1984
- 1984-06-08 JP JP59117813A patent/JPS60262229A/ja active Pending
Patent Citations (2)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS57147198A (en) * | 1981-03-09 | 1982-09-10 | Toshiba Corp | Battery backup result judging system for volatile memory |
| JPS58107927A (ja) * | 1981-12-22 | 1983-06-27 | Tamura Electric Works Ltd | 公衆電話機 |
Cited By (2)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| US5021776A (en) * | 1988-07-11 | 1991-06-04 | Yale Security Inc. | Electronic combination of lock with changeable entry codes, lock-out and programming code |
| JP2013020489A (ja) * | 2011-07-12 | 2013-01-31 | Mitsubishi Electric Building Techno Service Co Ltd | バッテリ寿命チェック装置 |
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