JPS60238428A - 金属剥離方法およびその装置 - Google Patents
金属剥離方法およびその装置Info
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- JPS60238428A JPS60238428A JP59094072A JP9407284A JPS60238428A JP S60238428 A JPS60238428 A JP S60238428A JP 59094072 A JP59094072 A JP 59094072A JP 9407284 A JP9407284 A JP 9407284A JP S60238428 A JPS60238428 A JP S60238428A
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- zone
- stripping
- stripping solution
- crystallizer
- fluoride
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- Y02—TECHNOLOGIES OR APPLICATIONS FOR MITIGATION OR ADAPTATION AGAINST CLIMATE CHANGE
- Y02P—CLIMATE CHANGE MITIGATION TECHNOLOGIES IN THE PRODUCTION OR PROCESSING OF GOODS
- Y02P10/00—Technologies related to metal processing
- Y02P10/20—Recycling
Landscapes
- Extraction Or Liquid Replacement (AREA)
- Inorganic Compounds Of Heavy Metals (AREA)
- Manufacture And Refinement Of Metals (AREA)
Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
本発明は、金属イオンを抽出含有する有機溶媒と弗化物
系剥離液とを混合接触させて弗化金属錯体結晶を析出さ
せ、かつ結晶の焼成により発生する弗素系分解生成物を
回収再使用する工程における弗化物系剥離液の濃度調整
方法および装置に関するものである。
系剥離液とを混合接触させて弗化金属錯体結晶を析出さ
せ、かつ結晶の焼成により発生する弗素系分解生成物を
回収再使用する工程における弗化物系剥離液の濃度調整
方法および装置に関するものである。
近年、高純度の金属や金属酸化物を得るための方法とし
て注目されている溶媒抽出法は、精製工程−が簡単でか
つエネルギー消費も少ない方法として評価されている。
て注目されている溶媒抽出法は、精製工程−が簡単でか
つエネルギー消費も少ない方法として評価されている。
また、抽出の対象となる金属もMg、Ti、Cr、Mn
、Fe、Go、Ni、Cu、Zn、Cd、Nb、Zr、
Ta、Mo。
、Fe、Go、Ni、Cu、Zn、Cd、Nb、Zr、
Ta、Mo。
W、Inなど多くに及んでいる。
溶媒抽出法では従来抽出された金属イオンの剥離(逆抽
出)方法が問題であったが、弗化物系剥離液()IF、
N)14 HF2 、NH4Fの1種または2種以り
を含有する原溶液)を用いることにより解決された(特
開昭57−42545.特開昭57−73138、特開
昭57−73141.特開昭57−85943号公報参
照)6また、この方法を実施するための装置としては、
特開昭58−81402号公報に示される逆円錐形の「
晶析装置」、その改良型で昭和59年3月30日付で出
願された「金属剥離用晶析装置」、本願と同日付で出願
された「金属逆抽出装置」などが使用できる。さらに、
抽出されたFe3+イオンの剥離に関しては、循環使用
される弗化物系剥離液の濃度・組成等の管理範囲も提示
されている(昭和59年3月30日付出願の「晶析装置
の運転方法」参照)。
出)方法が問題であったが、弗化物系剥離液()IF、
N)14 HF2 、NH4Fの1種または2種以り
を含有する原溶液)を用いることにより解決された(特
開昭57−42545.特開昭57−73138、特開
昭57−73141.特開昭57−85943号公報参
照)6また、この方法を実施するための装置としては、
特開昭58−81402号公報に示される逆円錐形の「
晶析装置」、その改良型で昭和59年3月30日付で出
願された「金属剥離用晶析装置」、本願と同日付で出願
された「金属逆抽出装置」などが使用できる。さらに、
抽出されたFe3+イオンの剥離に関しては、循環使用
される弗化物系剥離液の濃度・組成等の管理範囲も提示
されている(昭和59年3月30日付出願の「晶析装置
の運転方法」参照)。
しかしながら、これらの発明では、循環使用される金属
剥離液の濃度・組成を一定の管理範囲内に維持するため
の調整方法が明らかにされておらず、またその方法を実
施するための装置も必ずしも一充分なものではなかった
。弗化物系剥離液の循環フローに対して供給する薬剤の
種類や供給する個所が適切でないと、配管やポンプ内で
結晶の析出や詰まりなどのトラブルが発生し好ましくな
いが、第6図に示す従来の鉄剥離液濃度調整装置におい
ては、その運転に際し、比較例に示すような生し、装置
の運転停止を余儀なくきれるという問題がしばしば生じ
た。
剥離液の濃度・組成を一定の管理範囲内に維持するため
の調整方法が明らかにされておらず、またその方法を実
施するための装置も必ずしも一充分なものではなかった
。弗化物系剥離液の循環フローに対して供給する薬剤の
種類や供給する個所が適切でないと、配管やポンプ内で
結晶の析出や詰まりなどのトラブルが発生し好ましくな
いが、第6図に示す従来の鉄剥離液濃度調整装置におい
ては、その運転に際し、比較例に示すような生し、装置
の運転停止を余儀なくきれるという問題がしばしば生じ
た。
本発明の目的は、金属逆抽出用弗化物系剥離液の濃度管
理のために有効な濃度−組成の測定方法や調整方法を提
供し、さらに従来の剥離液濃度調整装置の欠点を克服し
た好適な装置を提供することにより、金属剥離工程の運
転を円滑に行わせることにある。
理のために有効な濃度−組成の測定方法や調整方法を提
供し、さらに従来の剥離液濃度調整装置の欠点を克服し
た好適な装置を提供することにより、金属剥離工程の運
転を円滑に行わせることにある。
すなわち、本発明は、混合ゾーン、有機溶媒静置ゾーン
、弗化物系剥離液静置ゾーンを有し、これらの下方に弗
化金属錯体結晶分離ゾーン、および結晶成長ゾーンまた
は剥離液冷却ゾーンを有する晶析装置において、前記混
合ゾーンで金属イオンを抽出含有する有機溶媒を弗化物
系剥離液と接触させて弗化金属錯体結晶を析出させ、得
られた結晶を金属酸化物または金属とするに際し、前記
晶析装置の前記結晶成長ゾーンまたは剥離液冷却ゾーン
にN)I4HF2溶液を供給し、前記晶析装置の剥離液
排出口から排出された剥離液に弗化金属錯体結晶分解カ
スを吸収させたものを前記晶析装置の混合ゾーンに供給
し、結晶分離後の濾液を前記晶析g置の有機溶媒静置ゾ
ーン下部の剥離液静置ラーンに供給し、よって弗化物系
剥離液を循環使用することを特徴とする金属剥離液の濃
度調整方法を提供するものである。
、弗化物系剥離液静置ゾーンを有し、これらの下方に弗
化金属錯体結晶分離ゾーン、および結晶成長ゾーンまた
は剥離液冷却ゾーンを有する晶析装置において、前記混
合ゾーンで金属イオンを抽出含有する有機溶媒を弗化物
系剥離液と接触させて弗化金属錯体結晶を析出させ、得
られた結晶を金属酸化物または金属とするに際し、前記
晶析装置の前記結晶成長ゾーンまたは剥離液冷却ゾーン
にN)I4HF2溶液を供給し、前記晶析装置の剥離液
排出口から排出された剥離液に弗化金属錯体結晶分解カ
スを吸収させたものを前記晶析装置の混合ゾーンに供給
し、結晶分離後の濾液を前記晶析g置の有機溶媒静置ゾ
ーン下部の剥離液静置ラーンに供給し、よって弗化物系
剥離液を循環使用することを特徴とする金属剥離液の濃
度調整方法を提供するものである。
本発明はまた、混合ゾーン、有機溶媒静置ゾーン、弗化
物系剥離液静置ゾーンを有し、これらの下方に弗化金属
錯体結晶分離ゾーン、および結晶成長ゾーンまたは剥離
液冷却ゾーンを有する晶析装置において、前記混合ゾー
ンで金属イオンを抽出含有する有機溶媒を弗化物系剥離
液と接触させて弗化金属錯体結晶を析出させ、得られた
結晶を金属酸化物または金属とするに際し、前記晶析装
置の前記結晶成長ゾーンまたは剥離液冷却ゾーンにNH
48F2溶液を供給し、前記晶析装置の剥離液排出口か
ら排出された剥離液に弗化金属錯体結晶分解ガスを吸収
させたものを前記晶析装置の混合ラーンに供給し、前記
晶析装置の結晶成長ゾーンすかは剥離液冷却ゾーンから
、これより排出された結晶の受槽までの間でアンモニア
を供給し、結晶分離後の濾液を前記晶析装置の有機溶媒
静置ゾーン下部の剥離液静置ゾーンに供給し、よって弗
化物系剥離液を循環使用することを特徴とする金属剥離
液の濃度調整方法を提供するものである。
物系剥離液静置ゾーンを有し、これらの下方に弗化金属
錯体結晶分離ゾーン、および結晶成長ゾーンまたは剥離
液冷却ゾーンを有する晶析装置において、前記混合ゾー
ンで金属イオンを抽出含有する有機溶媒を弗化物系剥離
液と接触させて弗化金属錯体結晶を析出させ、得られた
結晶を金属酸化物または金属とするに際し、前記晶析装
置の前記結晶成長ゾーンまたは剥離液冷却ゾーンにNH
48F2溶液を供給し、前記晶析装置の剥離液排出口か
ら排出された剥離液に弗化金属錯体結晶分解ガスを吸収
させたものを前記晶析装置の混合ラーンに供給し、前記
晶析装置の結晶成長ゾーンすかは剥離液冷却ゾーンから
、これより排出された結晶の受槽までの間でアンモニア
を供給し、結晶分離後の濾液を前記晶析装置の有機溶媒
静置ゾーン下部の剥離液静置ゾーンに供給し、よって弗
化物系剥離液を循環使用することを特徴とする金属剥離
液の濃度調整方法を提供するものである。
本発明はまた、金属イオンを抽出含有する有機溶媒と弗
化物系剥離液との混合ゾーン、有機溶媒静置ゾーンの下
方の剥離液静置ゾーンを有し、これらの下方に弗化金属
錯体結晶分離ゾーンおよび結晶成長ゾーンまたは剥離液
冷却ゾーンを有する晶析装置、この晶析装置で得られた
結晶の受槽、結晶の固液分離装置、結晶乾燥・分解装置
、結晶分解ガス吸収装置、前記晶析装置のN)14 H
F2溶液供給装置、および剥離液濃度測定装置で構成さ
れ、前記結晶分解ガス吸収装置は前記晶析装置の剥離液
排出口および混合ゾーン内の剥離液供給口と配管接続さ
れており、前記NH,HF2溶液供給装置のN)148
F2供給口は前記晶析装置の結晶成長ゾーンまたは剥離
液冷却ゾーンに設けられ、結晶分離後の濾液の供給口は
前記晶析装置の剥離液静置ゾーンに設けられていること
を特徴とする金属剥離液の濃度調整装置を提供するもの
である。
化物系剥離液との混合ゾーン、有機溶媒静置ゾーンの下
方の剥離液静置ゾーンを有し、これらの下方に弗化金属
錯体結晶分離ゾーンおよび結晶成長ゾーンまたは剥離液
冷却ゾーンを有する晶析装置、この晶析装置で得られた
結晶の受槽、結晶の固液分離装置、結晶乾燥・分解装置
、結晶分解ガス吸収装置、前記晶析装置のN)14 H
F2溶液供給装置、および剥離液濃度測定装置で構成さ
れ、前記結晶分解ガス吸収装置は前記晶析装置の剥離液
排出口および混合ゾーン内の剥離液供給口と配管接続さ
れており、前記NH,HF2溶液供給装置のN)148
F2供給口は前記晶析装置の結晶成長ゾーンまたは剥離
液冷却ゾーンに設けられ、結晶分離後の濾液の供給口は
前記晶析装置の剥離液静置ゾーンに設けられていること
を特徴とする金属剥離液の濃度調整装置を提供するもの
である。
本発明はさらに、金属イオンを抽出含有する有機溶媒と
弗化物系剥離液との混合ゾーン、有機溶媒静置ゾーンの
下方の剥離液IQ装ゾーンを有し、これらの下方に弗化
金属錯体結晶分離ゾーンおよび結晶成長ゾーンまたは剥
離液冷却ゾーンを有する晶析装置、この晶析装置で得ら
れた結晶の受槽、結晶の固液分離装置、結晶乾燥・分解
装置。
弗化物系剥離液との混合ゾーン、有機溶媒静置ゾーンの
下方の剥離液IQ装ゾーンを有し、これらの下方に弗化
金属錯体結晶分離ゾーンおよび結晶成長ゾーンまたは剥
離液冷却ゾーンを有する晶析装置、この晶析装置で得ら
れた結晶の受槽、結晶の固液分離装置、結晶乾燥・分解
装置。
結晶分解ガス吸収装置、アンモニア供給装置、前記晶析
装置のN)148F2溶液供給装置、および剥離液8度
測定装置で構成され、前記結晶分解ガス吸収装置は前記
晶析装置の剥離液排出口および混合ラーン内の剥離液供
給口と配管接続されており、+Nj記NH4HF2溶液
供給装置のNH4)IF2供給口は前記晶析装置の結晶
成長ゾーンまたは剥離液冷却ゾーンに設けられ、前記ア
ンモニア供給装置のアンモニア供給口は前記晶析装置の
結晶成長ゾーンまたは剥離液冷却ゾーンから前記結晶受
槽までのは前記晶析装置の剥離液静置ゾーンに設置すら
れていることを特徴とする金属剥離液の濃度調整装置を
提供するものである。
装置のN)148F2溶液供給装置、および剥離液8度
測定装置で構成され、前記結晶分解ガス吸収装置は前記
晶析装置の剥離液排出口および混合ラーン内の剥離液供
給口と配管接続されており、+Nj記NH4HF2溶液
供給装置のNH4)IF2供給口は前記晶析装置の結晶
成長ゾーンまたは剥離液冷却ゾーンに設けられ、前記ア
ンモニア供給装置のアンモニア供給口は前記晶析装置の
結晶成長ゾーンまたは剥離液冷却ゾーンから前記結晶受
槽までのは前記晶析装置の剥離液静置ゾーンに設置すら
れていることを特徴とする金属剥離液の濃度調整装置を
提供するものである。
本発明は、弗化物系剥離液の濃度を全HFと全NH4,
Fの2項目で管理することにより、?1)11. HF
2溶液や弗素系分解生成物および必要に応じてアンモニ
アを適切な個所に供給することを特徴とする金属剥離液
の濃度調整方法と、その方法を実施するための濃度調整
装置とを提供するものである。
Fの2項目で管理することにより、?1)11. HF
2溶液や弗素系分解生成物および必要に応じてアンモニ
アを適切な個所に供給することを特徴とする金属剥離液
の濃度調整方法と、その方法を実施するための濃度調整
装置とを提供するものである。
金属イオンを抽出する有機溶媒としては、アルキルりん
酸系、カルボン酸系抽出剤をn−パラフィンで希釈した
ものなどを使用することができ、また弗化物系剥離液と
しては、IF。
酸系、カルボン酸系抽出剤をn−パラフィンで希釈した
ものなどを使用することができ、また弗化物系剥離液と
しては、IF。
NH4HF2 、NH4Fの1種または2種以上を含有
する水溶液などを使用することができる。
する水溶液などを使用することができる。
本発明の詳細をFe&+イオンの抽出の場合を例にとっ
て図面に基づき詳細に説明するが、本発明の対象とする
金属の種類および図面を用いて示そうとする方法や装置
はこれに限定されるものではない。
て図面に基づき詳細に説明するが、本発明の対象とする
金属の種類および図面を用いて示そうとする方法や装置
はこれに限定されるものではない。
第1図は本発明の対象である弗化物系剥離液の循環する
工程を含む金属の溶媒抽出設備のフローシートである。
工程を含む金属の溶媒抽出設備のフローシートである。
金属イオン含有水溶液Aと有機溶媒Sとを金属抽出工程
lで混合接触させると、A中の金属イオンはSに抽出さ
れる。金属抽出後の水溶液か抽残液Rであるが、Aが金
属含有廃酸の場合Rは回収酸である。水溶液A中の金属
イオンかFe3+で有機溶媒Sがアルキルりん酸系のよ
うなイオン交換型抽出剤を含有する場合、Sの化学式は
)(Rと表せる、ので、抽出反応式は次のようになる。
lで混合接触させると、A中の金属イオンはSに抽出さ
れる。金属抽出後の水溶液か抽残液Rであるが、Aが金
属含有廃酸の場合Rは回収酸である。水溶液A中の金属
イオンかFe3+で有機溶媒Sがアルキルりん酸系のよ
うなイオン交換型抽出剤を含有する場合、Sの化学式は
)(Rと表せる、ので、抽出反応式は次のようになる。
Fe3” + 3HR+ FeR3+ 3H” (1)
FeF 2 ” + 3HR+ FeR3+ H” +
2HF (2)FeF 2 ” + HR−+ FeF
2 R+ )I” (3)反応式(2)、(3)はAが
鉄含有硝弗酸廃液の場合であり、A中のFe3+イオン
は主にFeF2+のイオン形態をとる。
FeF 2 ” + 3HR+ FeR3+ H” +
2HF (2)FeF 2 ” + HR−+ FeF
2 R+ )I” (3)反応式(2)、(3)はAが
鉄含有硝弗酸廃液の場合であり、A中のFe3+イオン
は主にFeF2+のイオン形態をとる。
工程lで金属イオンを抽出含有した有機溶媒Sは、金属
剥離工程2で加温された弗化物系剥離液りと混合され、
金属イオンは弗化金属錯体結晶Xとなる。金属イオンが
Fe3+で剥離液りがNH4HF2を主体とする水溶液
の場合、剥離反応式%式% (4) (5) (6) この場合、鉄剥離後の抽出剤の一部は(6)式のような
反応でアンモニア型(NH,R)となっている。
剥離工程2で加温された弗化物系剥離液りと混合され、
金属イオンは弗化金属錯体結晶Xとなる。金属イオンが
Fe3+で剥離液りがNH4HF2を主体とする水溶液
の場合、剥離反応式%式% (4) (5) (6) この場合、鉄剥離後の抽出剤の一部は(6)式のような
反応でアンモニア型(NH,R)となっている。
工程2から出た結晶Xを含む剥離液りは、固液分離工程
3でXを分離され、再び剥離工程2に戻って循環使用さ
れる。
3でXを分離され、再び剥離工程2に戻って循環使用さ
れる。
分離された結晶Xは、乾燥・分解工程4で焼成されて金
属Mまたは金属酸化物0となる。弗化鉄錯体結晶(N−
Ha ) 3 FeF aがら金属鉄または酸化鉄が生
成する反応は次のようになる。
属Mまたは金属酸化物0となる。弗化鉄錯体結晶(N−
Ha ) 3 FeF aがら金属鉄または酸化鉄が生
成する反応は次のようになる。
(NH4) 3 FeF B +3/2H2→3N84
F +3HF +Fe (?)(NH4) 3 Fe
F 6 +3/402−3NHa F +3/2 F
2 + 1/2 Fe203(8)「程4から発生する
NH4F 、HF、 F2などから成る弗素系分解ガス
Gは、再び剥離液りに戻して使用される。
F +3HF +Fe (?)(NH4) 3 Fe
F 6 +3/402−3NHa F +3/2 F
2 + 1/2 Fe203(8)「程4から発生する
NH4F 、HF、 F2などから成る弗素系分解ガス
Gは、再び剥離液りに戻して使用される。
さて、工程2を出た有機溶媒Sの抽出剤でアンモニア型
となっているものは、溶媒変換工程5で塩酸水溶液Cと
の接触により再び水素型(HR)となり、再び工程lに
戻って循環使用される。
となっているものは、溶媒変換工程5で塩酸水溶液Cと
の接触により再び水素型(HR)となり、再び工程lに
戻って循環使用される。
N)14R+Hcl −+ )lR+NH4cl (9
)工程5から出たN)14 CIを含む塩酸水溶液Cか
らは、アン士ニア回収工程6での中和・蒸留によりアン
モニア水Eが回収される。
)工程5から出たN)14 CIを含む塩酸水溶液Cか
らは、アン士ニア回収工程6での中和・蒸留によりアン
モニア水Eが回収される。
NHa CI+NaOH→NH4OH+NaCl (1
0)回収されたアンモニア水(安水)Eは、必要に応じ
て再び剥離液りに戻して使用される。
0)回収されたアンモニア水(安水)Eは、必要に応じ
て再び剥離液りに戻して使用される。
次に、弗化物系剥離液りの濃度・組成の変化や調整に関
連して、弗化金属錯体の溶解度(NH4) 3 FeF
6を例にとって説明する。
連して、弗化金属錯体の溶解度(NH4) 3 FeF
6を例にとって説明する。
この例については、既に昭和59年3月30日付出願の
晶析装置の運転方法において、上方より順次に混合ゾー
ンまたは混合槽、結晶分離ゾーン、および結晶成長ゾー
ンまたは冷却ゾーンを有する晶析装置においてFe3+
イオンを抽出含有する有機溶媒を弗化物系剥離液と前記
混合ゾーンで接触させることにより鉄錯体結晶を析出さ
せる装置を運転するに際し、前記装置から排出される剥
離液の濃度がNH4HF2は85〜115g/4かつH
FはlOg/u以下となるように前記装置に供給する剥
離液の濃度を調整し、かつ前記装置に供給する有機溶媒
の温度を20〜25℃、前記有機溶媒と前記剥離液の二
相混合時の液温を40℃以下に、前記結晶成長ゾーンま
たは冷却ゾーンの剥離液温度を15〜20℃に保つこと
により、装置の長期連続運転を容易にすることを開示し
ている。
晶析装置の運転方法において、上方より順次に混合ゾー
ンまたは混合槽、結晶分離ゾーン、および結晶成長ゾー
ンまたは冷却ゾーンを有する晶析装置においてFe3+
イオンを抽出含有する有機溶媒を弗化物系剥離液と前記
混合ゾーンで接触させることにより鉄錯体結晶を析出さ
せる装置を運転するに際し、前記装置から排出される剥
離液の濃度がNH4HF2は85〜115g/4かつH
FはlOg/u以下となるように前記装置に供給する剥
離液の濃度を調整し、かつ前記装置に供給する有機溶媒
の温度を20〜25℃、前記有機溶媒と前記剥離液の二
相混合時の液温を40℃以下に、前記結晶成長ゾーンま
たは冷却ゾーンの剥離液温度を15〜20℃に保つこと
により、装置の長期連続運転を容易にすることを開示し
ている。
したがって、比較例および実施例ではこの条件で行う。
第2図から第5図までは(N)l 4 ) 3 FeF
6の弗化物系剥離液に対する溶解度のグラフであって
、NH4)HF2は75〜150g/文、肝はθ〜20
g/9−の範囲で溶解度曲線を与えている。
6の弗化物系剥離液に対する溶解度のグラフであって
、NH4)HF2は75〜150g/文、肝はθ〜20
g/9−の範囲で溶解度曲線を与えている。
剥離工程2において、Fe3+イオンが(4)式の反応
で剥離される場合、剥離液り中のN)148F2が消費
されて濃度が減少する。また、金属イオン含有水溶液A
が鉄含有硝弗酸廃液の場合であって、Fea+イオンが
(5)式の反応で剥離される場合、剥離液り中のNH4
HF218度が減少するだけでなく、有機相から剥離液
に移行したF−イオンがHFとなるためHF濃度が増大
する。この場合、前記の溶解度曲線から容易にわかるよ
うに、剥離液り中のNH4HF2 濃度が減少すると、
(NH4) 3 FeF 6の溶解度が増大する。さら
に、HF濃度が増大すると、この傾向はさらに顕著とな
る。
で剥離される場合、剥離液り中のN)148F2が消費
されて濃度が減少する。また、金属イオン含有水溶液A
が鉄含有硝弗酸廃液の場合であって、Fea+イオンが
(5)式の反応で剥離される場合、剥離液り中のNH4
HF218度が減少するだけでなく、有機相から剥離液
に移行したF−イオンがHFとなるためHF濃度が増大
する。この場合、前記の溶解度曲線から容易にわかるよ
うに、剥離液り中のNH4HF2 濃度が減少すると、
(NH4) 3 FeF 6の溶解度が増大する。さら
に、HF濃度が増大すると、この傾向はさらに顕著とな
る。
このように、金属イオンの剥離反応が進行するとNH4
HF2 濃度が減少し、金属イオンが弗化物イ濃度が増
大するので、金属剥離液を循環し再使用するためには、
その*If・組成を調整することによりある管理範囲内
に維持する必要がある。
HF2 濃度が減少し、金属イオンが弗化物イ濃度が増
大するので、金属剥離液を循環し再使用するためには、
その*If・組成を調整することによりある管理範囲内
に維持する必要がある。
循環使用される弗化物系剥離液りの濃度・組成を調整す
るために供給されるべき薬剤等は次の通りである。NH
48F2濃度を増大させるためには、NH4HF2溶液
(通常30〜b を添加するか、(7)(8)式のような反応で発生する
弗素系分解ガスGをしかるべき方法で剥離液に吸収させ
るという2つの方法がある。(7)(8)式の反応で発
生するガスの組成はNH,)lF2の組成すなわちNH
4F +HFに対応しており、分解ガスGの吸収は実質
的にNH4)HF2溶液の添加と同等の効果を有する。
るために供給されるべき薬剤等は次の通りである。NH
48F2濃度を増大させるためには、NH4HF2溶液
(通常30〜b を添加するか、(7)(8)式のような反応で発生する
弗素系分解ガスGをしかるべき方法で剥離液に吸収させ
るという2つの方法がある。(7)(8)式の反応で発
生するガスの組成はNH,)lF2の組成すなわちNH
4F +HFに対応しており、分解ガスGの吸収は実質
的にNH4)HF2溶液の添加と同等の効果を有する。
また、HFの濃度を減少させるためには、アンモニア水
またはN)+3ガスEを添加して)IFを中和してやる
とよいが、アンモニアEの添加は。
またはN)+3ガスEを添加して)IFを中和してやる
とよいが、アンモニアEの添加は。
次の反応式で示すように、NH4HF2 ’a度の増加
にも寄与する。
にも寄与する。
HF+ 1/2NH3→1/2N848F2 (11)
系分解ガスGを吸収させると剥離液りのNHa 1IF
2C度が増加し、アンモニア水またはNH3’ガスEを
楕加すると剥離液りのHF濃度が減少しかっNH4HF
2濃度が増加するが、これらの薬剤等の供給はいずれも
剥離液への弗化金属錯体の溶解度が減少する方向に作用
する。
系分解ガスGを吸収させると剥離液りのNHa 1IF
2C度が増加し、アンモニア水またはNH3’ガスEを
楕加すると剥離液りのHF濃度が減少しかっNH4HF
2濃度が増加するが、これらの薬剤等の供給はいずれも
剥離液への弗化金属錯体の溶解度が減少する方向に作用
する。
しかるに、金属剥離反応が進行して弗化金属錯体の溶解
度が増大していた剥離液りに濃度調整のための薬剤等を
供給すると、弗化金属錯体の溶解瓜は急速に減少し、弗
化金属錯体結晶Xが一時に析出する。したがって、薬剤
等を供給する個所が適切でないと、望ましくない結晶の
析出が起こり、前述のような配管の詰まりなどのトラブ
ルが発生するのである。
度が増大していた剥離液りに濃度調整のための薬剤等を
供給すると、弗化金属錯体の溶解瓜は急速に減少し、弗
化金属錯体結晶Xが一時に析出する。したがって、薬剤
等を供給する個所が適切でないと、望ましくない結晶の
析出が起こり、前述のような配管の詰まりなどのトラブ
ルが発生するのである。
そこで、比較例の第6図および本発明の金属剥離液の濃
度調整装置の基本構成を示す第7図および第8図を用い
て、濃度調整のための薬剤等を供給すべき好ましい個所
について説明する。
度調整装置の基本構成を示す第7図および第8図を用い
て、濃度調整のための薬剤等を供給すべき好ましい個所
について説明する。
NH4HF2溶液(30〜40%)Fは、晶析装置10
の本体F部に添加するのが好ましい。この供錯体結晶X
が次第に成長する領域に当たるので、ここにFを添加す
ることは、剥離液りの温度勾配による結晶成長だけでな
く、濃度勾配による結晶成長も起こることになり、結晶
成長が促進される。これ以外の個所では望ましくない結
晶の析出が起こり、添加個所として好ましくない。たと
えば、比較例の第6図ではFを分解ガス吸収装置60の
吸収液槽62に添加しているが、この個所に添加すると
吸収液槽62内で結晶Xが析出し、吸収液ポンプ63や
分解ガス吸収塔61あるいはこれらを結ぶ配管内でXの
付着や詰まりを生じる。また、Fを添加すべき個所とし
て結晶受槽30も考えられるが、結晶受槽30を出たあ
との結晶濾液は晶析装jllOの有機溶媒静置ゾーン1
3F部の剥離液静置ゾーン20に供給されるので、Fの
添加個所としての効果は晶析装置10の本体下部に劣る
。
の本体F部に添加するのが好ましい。この供錯体結晶X
が次第に成長する領域に当たるので、ここにFを添加す
ることは、剥離液りの温度勾配による結晶成長だけでな
く、濃度勾配による結晶成長も起こることになり、結晶
成長が促進される。これ以外の個所では望ましくない結
晶の析出が起こり、添加個所として好ましくない。たと
えば、比較例の第6図ではFを分解ガス吸収装置60の
吸収液槽62に添加しているが、この個所に添加すると
吸収液槽62内で結晶Xが析出し、吸収液ポンプ63や
分解ガス吸収塔61あるいはこれらを結ぶ配管内でXの
付着や詰まりを生じる。また、Fを添加すべき個所とし
て結晶受槽30も考えられるが、結晶受槽30を出たあ
との結晶濾液は晶析装jllOの有機溶媒静置ゾーン1
3F部の剥離液静置ゾーン20に供給されるので、Fの
添加個所としての効果は晶析装置10の本体下部に劣る
。
アンモニアEは、必要に応じて添加され、アンモニア水
としてもNH3ガスとしても添加することができるが、
アンモニア水として添加する場合は、第1図に示すアン
モニア回収工程6から回収される安水も利用することが
できる。Eは第7図に77<すように前述の晶析装置1
0の本体下部か、あるいは第8図に示すように結晶受槽
30に、あるいはこれらの間に添加するのが望ましい。
としてもNH3ガスとしても添加することができるが、
アンモニア水として添加する場合は、第1図に示すアン
モニア回収工程6から回収される安水も利用することが
できる。Eは第7図に77<すように前述の晶析装置1
0の本体下部か、あるいは第8図に示すように結晶受槽
30に、あるいはこれらの間に添加するのが望ましい。
Eを晶析装置lOの本体下部に添加すべき理由は、N)
+4 HF2溶液Fの場合と同様である。結晶受槽30
にFを添加すると、剥離液中のHFが中和により減少し
、それに見合う分だけNH4HF2が増加するので、結
晶Xがさらに析出する。そして、固液分離後の結晶温液
は、HFが減少しているので、晶析装置10の剥離液静
置ゾーン20に供給すべき@離液として適している。以
上の2個所あるいはその間以外の個所にEを添加すると
、やはり望ましくない結晶の析出が起こる。たとえば、
比較例の第6図ではN[(3ガスEを分解ガス吸収装置
60の分解ガス吸収塔61に導入しているが、NH,H
F2溶液Fを吸収液槽62に添加した場合としくない。
+4 HF2溶液Fの場合と同様である。結晶受槽30
にFを添加すると、剥離液中のHFが中和により減少し
、それに見合う分だけNH4HF2が増加するので、結
晶Xがさらに析出する。そして、固液分離後の結晶温液
は、HFが減少しているので、晶析装置10の剥離液静
置ゾーン20に供給すべき@離液として適している。以
上の2個所あるいはその間以外の個所にEを添加すると
、やはり望ましくない結晶の析出が起こる。たとえば、
比較例の第6図ではN[(3ガスEを分解ガス吸収装置
60の分解ガス吸収塔61に導入しているが、NH,H
F2溶液Fを吸収液槽62に添加した場合としくない。
弗素系結晶分解ガスGは、晶析装置10の剥離液排出口
2Bから出た排出剥離液に分解ガス吸収塔61で吸収さ
せて晶析装置10の混合ゾーン18に供給するのが適当
である。これ以外の供給方法では、やはり望ましくない
結晶の析出が問題となる。なお、に記の好ましいGの供
給方法においても、排出剥離液のNH4HF2濃度増大
による結晶Xの析出が懸念されるが、これは排出剥離液
の濃度・組成をある管理範囲内に維持することにより解
消される。たとえば金属イオンがFe3+の場合、排出
口28から出る排出剥離液〕Nl4a HF2 Wt&
ヲ85 g/n以に115 g/l以下、HF濃度をl
Og/l以下に維持すれば、(N)l a ) 3 F
eF 6結晶Xの望ましくない析出を抑制することがで
きる。
2Bから出た排出剥離液に分解ガス吸収塔61で吸収さ
せて晶析装置10の混合ゾーン18に供給するのが適当
である。これ以外の供給方法では、やはり望ましくない
結晶の析出が問題となる。なお、に記の好ましいGの供
給方法においても、排出剥離液のNH4HF2濃度増大
による結晶Xの析出が懸念されるが、これは排出剥離液
の濃度・組成をある管理範囲内に維持することにより解
消される。たとえば金属イオンがFe3+の場合、排出
口28から出る排出剥離液〕Nl4a HF2 Wt&
ヲ85 g/n以に115 g/l以下、HF濃度をl
Og/l以下に維持すれば、(N)l a ) 3 F
eF 6結晶Xの望ましくない析出を抑制することがで
きる。
以−ヒに述べたように、本発明で提供する金属剥離液の
濃度調整方法においてはNH,HF2溶液やアンモニア
は結晶析出が起こっても問題のない晶析M II k
Ik小−Oh\α肚旦フ411−小惑橘士づハλち効果
的な個所に供給され、弗素系結晶分解ガスは濃度舎組成
の管理された排出剥離液に吸収させて晶析装置の混合槽
に供給され、よって実施例に示すように、金属剥離工程
の運転を円滑に継続することができる。
濃度調整方法においてはNH,HF2溶液やアンモニア
は結晶析出が起こっても問題のない晶析M II k
Ik小−Oh\α肚旦フ411−小惑橘士づハλち効果
的な個所に供給され、弗素系結晶分解ガスは濃度舎組成
の管理された排出剥離液に吸収させて晶析装置の混合槽
に供給され、よって実施例に示すように、金属剥離工程
の運転を円滑に継続することができる。
次に、上記金属剥離液の濃度調整方法を実施するための
装置について説明する。
装置について説明する。
第7図および第8図は、本発明の金属剥離液の濃度調整
装置の実施態様を示す基本構成図である。本装置は晶析
装置10.結晶受槽30.固液分離装置40.結晶乾燥
・分解装置501分解分解カス吸収装置60 、 NH
4,−、、HF2溶液供給装置70,7ンモニア供給装
置80.剥離液濃度測定装置90で構成される。
装置の実施態様を示す基本構成図である。本装置は晶析
装置10.結晶受槽30.固液分離装置40.結晶乾燥
・分解装置501分解分解カス吸収装置60 、 NH
4,−、、HF2溶液供給装置70,7ンモニア供給装
置80.剥離液濃度測定装置90で構成される。
晶析装置10としては、特開昭58−81402号公報
に示される、および昭和59年3月30日付で出願され
た金属剥離用晶析装置、あるいは本願と同日付で出願さ
れた金属逆抽出装置に記載されている逆円錐型晶析装置
が使用できるが、好ましくは昭和59年3月30日付で
出願された金属剥離用晶析装置、あるいは本願と同日付
で出願された金属逆抽出装置に記載されている逆円錐型
晶析装置で、本体下部に第8図に示すような剥離液強制
循環ゾーン25を有し、供給された薬剤を直ちに剥離液
と混合できる型のものがよい。固液分離装置40として
は第7図および第8図の濾過器のほか遠心分離機も用い
ることができる。また、結晶乾燥・分解装置50として
は、結晶乾燥キルンと結晶分解キルンどを分離した型の
ものや、いろいろな形式の炉を採用することができる。
に示される、および昭和59年3月30日付で出願され
た金属剥離用晶析装置、あるいは本願と同日付で出願さ
れた金属逆抽出装置に記載されている逆円錐型晶析装置
が使用できるが、好ましくは昭和59年3月30日付で
出願された金属剥離用晶析装置、あるいは本願と同日付
で出願された金属逆抽出装置に記載されている逆円錐型
晶析装置で、本体下部に第8図に示すような剥離液強制
循環ゾーン25を有し、供給された薬剤を直ちに剥離液
と混合できる型のものがよい。固液分離装置40として
は第7図および第8図の濾過器のほか遠心分離機も用い
ることができる。また、結晶乾燥・分解装置50として
は、結晶乾燥キルンと結晶分解キルンどを分離した型の
ものや、いろいろな形式の炉を採用することができる。
分解カス吸収装置60は、分解ガス吸収塔61、吸収液
槽62、吸収液ポンプ63、供給剥離液ポンプ64等か
ら成り、ム析装置10の剥離液排出口28および混合槽
18内の剥離液供給口16と配管接続されており、また
結晶乾燥キルンキルン51から出た弗素系分解ガスGが
導入される。NH4HF2溶液供給装置70は、NH4
HF2溶液槽71 、NHa HF2溶液ポンプ72、
NH4HF2溶液供給ロア3等から成り、供給[173
は晶析装置10の本体下部に設けられている。また、=
アンモニア供給装置80は必要に応じて設けられ、アン
モニア水槽81、アンモニア水ポンプ82、アンモニア
供給口85またはN)13ガスホルダー83、N)13
カスバルブ84、アンモニア供給口85等から成り、供
給口85は晶析装置lOの本体下部または結晶受槽30
に設けられている。NH,)HF2溶液供給ロア3およ
びアンモニア供給口85の付近では当然新たな結晶Xの
析出が起こるので、この領域の剥離液りは流動状態にあ
ることが望ましいが、これは晶析装置10として前述の
ように本体下部に剥離液強制循環ゾーン25を有する型
のものを採用し、結晶受槽30に結晶スラリー攪拌機3
1を設けることにより実現される。
槽62、吸収液ポンプ63、供給剥離液ポンプ64等か
ら成り、ム析装置10の剥離液排出口28および混合槽
18内の剥離液供給口16と配管接続されており、また
結晶乾燥キルンキルン51から出た弗素系分解ガスGが
導入される。NH4HF2溶液供給装置70は、NH4
HF2溶液槽71 、NHa HF2溶液ポンプ72、
NH4HF2溶液供給ロア3等から成り、供給[173
は晶析装置10の本体下部に設けられている。また、=
アンモニア供給装置80は必要に応じて設けられ、アン
モニア水槽81、アンモニア水ポンプ82、アンモニア
供給口85またはN)13ガスホルダー83、N)13
カスバルブ84、アンモニア供給口85等から成り、供
給口85は晶析装置lOの本体下部または結晶受槽30
に設けられている。NH,)HF2溶液供給ロア3およ
びアンモニア供給口85の付近では当然新たな結晶Xの
析出が起こるので、この領域の剥離液りは流動状態にあ
ることが望ましいが、これは晶析装置10として前述の
ように本体下部に剥離液強制循環ゾーン25を有する型
のものを採用し、結晶受槽30に結晶スラリー攪拌機3
1を設けることにより実現される。
以上に述べたように、第7図および第8図は本発明で提
供する金属剥離液の濃度調整装置の基本構成を示すもの
であって、その実施態様がこれに限定されるものでない
ことは言うまでもない。
供する金属剥離液の濃度調整装置の基本構成を示すもの
であって、その実施態様がこれに限定されるものでない
ことは言うまでもない。
次に、前記金属剥離液の濃度調整方法を実施す説明する
。
。
以上の説明で明らかなように、金属剥離工程2において
金属イオンを抽出含有する有機溶媒Sとの混合接触によ
り弗化金属錯体結晶Xを析出させるための弗化物系剥離
液りは、一般にNH4HF2 とHFとから成る水溶液
である。
金属イオンを抽出含有する有機溶媒Sとの混合接触によ
り弗化金属錯体結晶Xを析出させるための弗化物系剥離
液りは、一般にNH4HF2 とHFとから成る水溶液
である。
前述のごと〈NH4HF2の組成はNH4F +HFと
同等であるから、剥離液りの濃度・組成を全HF(以降
T、)IFと記す)と全NH4F(以降T、NH4Fと
記す)の2項目で管理するのが有効である。剥離液りの
NH4HF2 、 HFのモル濃度(mol/文)をそ
れぞれa、bとすると、次のような関係が成り立つ。
同等であるから、剥離液りの濃度・組成を全HF(以降
T、)IFと記す)と全NH4F(以降T、NH4Fと
記す)の2項目で管理するのが有効である。剥離液りの
NH4HF2 、 HFのモル濃度(mol/文)をそ
れぞれa、bとすると、次のような関係が成り立つ。
T、)IF = b (12)
T、NH4F = a + b (13’)さて、T、
HFおよびT、NH4Fの測定は、次に述べるように、
電位差滴定装置を用いる中和滴定法か、あるいは電磁導
電率計を用いる導電率測定とイオン電極法等による全弗
素(以降T、Fと記す)分析との組み合わせ法によって
行うことがで第9図から第11図までは、電位差滴定装
置を使ってめた剥離液りのN/2 NaOH溶液による
中和滴定曲線(微分形)の例である。それぞれ剥離液り
を1 all採取して滴定を行っており、濃度・組成は
、第9図がNH4HF2濃度a = 1.75mol/
u =l OOg / l、HFI度b−Omol/J
L = Og / l、第1O図がa = 1.75s
ol/交=100g/Jlj、b = 0.50mol
/文=lOg/見、第11図がa = 1.75mol
/IL= 100 g / l、b = 1.00mo
l/u = 20 g /見に対応している。これらの
滴定曲線にはいずれも主なピークが2つずつ現れており
1滴定開始(Odl)から第1ピークまでをT、HFに
、第1ピークから第2ピークまでをT、NHn Fに割
り当て、それぞれの濃度を計算すると、(12) 、
(+3)式によりa、bc7)値からめたT、HFおよ
びT、NH4F濃度とよく一致する。したがって、これ
らの中和滴定曲線より’r、HFおよびT、N)14
F値をめ、次式によりaおよびbの値を知ることができ
る。
HFおよびT、NH4Fの測定は、次に述べるように、
電位差滴定装置を用いる中和滴定法か、あるいは電磁導
電率計を用いる導電率測定とイオン電極法等による全弗
素(以降T、Fと記す)分析との組み合わせ法によって
行うことがで第9図から第11図までは、電位差滴定装
置を使ってめた剥離液りのN/2 NaOH溶液による
中和滴定曲線(微分形)の例である。それぞれ剥離液り
を1 all採取して滴定を行っており、濃度・組成は
、第9図がNH4HF2濃度a = 1.75mol/
u =l OOg / l、HFI度b−Omol/J
L = Og / l、第1O図がa = 1.75s
ol/交=100g/Jlj、b = 0.50mol
/文=lOg/見、第11図がa = 1.75mol
/IL= 100 g / l、b = 1.00mo
l/u = 20 g /見に対応している。これらの
滴定曲線にはいずれも主なピークが2つずつ現れており
1滴定開始(Odl)から第1ピークまでをT、HFに
、第1ピークから第2ピークまでをT、NHn Fに割
り当て、それぞれの濃度を計算すると、(12) 、
(+3)式によりa、bc7)値からめたT、HFおよ
びT、NH4F濃度とよく一致する。したがって、これ
らの中和滴定曲線より’r、HFおよびT、N)14
F値をめ、次式によりaおよびbの値を知ることができ
る。
a =T、NH4F −T、HF (14)第12図は
、電磁導電率計i使って測定した。
、電磁導電率計i使って測定した。
いろいろなa、b値をもつ剥離液りの25℃における導
電率の値Cに基いて作成した等導電率曲線で、横軸、縦
軸はそれぞれT、HF、 T、NH4F値をとっである
0等導電率曲線はやや右下がりの曲線になる。電磁導電
率計で導電率Cを測定し、たとえばイオン電極法で全F
(T、Fと記す)を分析すると、次のようにして剥離液
りのT、HFおよびT、NH4F値をめることができる
。たとえばC−160mS/cm 、 T 、 F=
3 、 OOwal/Jljが得られた場合、第12図
においてc = 160mS/c+* =一定の曲線と
T 、 F=3 、 OO+*ol/文=一定の線分X
Yとの交点から横軸および縦軸に垂線を下ろすと、両軸
に出会った点の値がそれぞれ剥離液りのT、l(Fおよ
びT、NH4F値となるのである。
電率の値Cに基いて作成した等導電率曲線で、横軸、縦
軸はそれぞれT、HF、 T、NH4F値をとっである
0等導電率曲線はやや右下がりの曲線になる。電磁導電
率計で導電率Cを測定し、たとえばイオン電極法で全F
(T、Fと記す)を分析すると、次のようにして剥離液
りのT、HFおよびT、NH4F値をめることができる
。たとえばC−160mS/cm 、 T 、 F=
3 、 OOwal/Jljが得られた場合、第12図
においてc = 160mS/c+* =一定の曲線と
T 、 F=3 、 OO+*ol/文=一定の線分X
Yとの交点から横軸および縦軸に垂線を下ろすと、両軸
に出会った点の値がそれぞれ剥離液りのT、l(Fおよ
びT、NH4F値となるのである。
なお、剥離液りには弗化金属アンモニウム錯体が溶解し
ており、厳密には、金属イオンがFe3+の場合を例に
とると、剥離液りはNH4HF2−HF −(NHa
) 3 FeF 6系溶液である。しかし、一般に弗化
金属アンモニウム塩は剥離液りへの溶解度が比較的小ξ
く、溶解している弗化金属アンモニウム塩は分析や測定
にほとんど影響を与えないので、T、)IFおよびT、
NHd F値を決定する上では剥離液りをNH4HF2
−HF系溶液と考えて差し使えない。
ており、厳密には、金属イオンがFe3+の場合を例に
とると、剥離液りはNH4HF2−HF −(NHa
) 3 FeF 6系溶液である。しかし、一般に弗化
金属アンモニウム塩は剥離液りへの溶解度が比較的小ξ
く、溶解している弗化金属アンモニウム塩は分析や測定
にほとんど影響を与えないので、T、)IFおよびT、
NHd F値を決定する上では剥離液りをNH4HF2
−HF系溶液と考えて差し使えない。
以ILに述べたように、弗化物系剥離液の濃度・組成は
全HFと全NH4Fの値をめることにより管理すること
ができる。全HFおよび全NH4F値は2つの方法によ
ってめることができる。中和滴定法は、全HFおよび全
NH,F値を直接束めることができて便利であるが、測
定は間欠的になる。導電率測定と全弗素分析との組み合
わせ法では、全弗素分析を間欠的に行っておけば、導電
率測定は連続的に行えるから、剥離液の濃度・組成を連
続的に管理することができる。
全HFと全NH4Fの値をめることにより管理すること
ができる。全HFおよび全NH4F値は2つの方法によ
ってめることができる。中和滴定法は、全HFおよび全
NH,F値を直接束めることができて便利であるが、測
定は間欠的になる。導電率測定と全弗素分析との組み合
わせ法では、全弗素分析を間欠的に行っておけば、導電
率測定は連続的に行えるから、剥離液の濃度・組成を連
続的に管理することができる。
第7図および第8図に示す本発明金属剥離液の濃度調整
装置において、剥離液りの濃度・組成を測定すべき個所
は、供給剥離液測定部91、排出#S赫情讃−17瘤o
n 赫i−債1つ側nりへ〇線χである。これらの測定
個所でそれぞれ適当な濃度・組成の管理範囲を決定し、
全HFおよび全NH4F値を測定しつつ薬剤等を供給し
て調整すればよい。
装置において、剥離液りの濃度・組成を測定すべき個所
は、供給剥離液測定部91、排出#S赫情讃−17瘤o
n 赫i−債1つ側nりへ〇線χである。これらの測定
個所でそれぞれ適当な濃度・組成の管理範囲を決定し、
全HFおよび全NH4F値を測定しつつ薬剤等を供給し
て調整すればよい。
以上で詳細に説明したように、本発明で提供する弗化物
系剥離液の濃度を全HFと全NH4Fの2項目で管理す
ることにより薬剤等を適切な個所に供給することを特徴
とする金属剥離液の濃度調整方法および装置を用いて、
金属剥離][程の運転を実施することにより、薬剤等の
供給に伴う配管の詰まりなどのトラブルの発生を防止し
、長期にわたる安°定した運転を実現することができる
。
系剥離液の濃度を全HFと全NH4Fの2項目で管理す
ることにより薬剤等を適切な個所に供給することを特徴
とする金属剥離液の濃度調整方法および装置を用いて、
金属剥離][程の運転を実施することにより、薬剤等の
供給に伴う配管の詰まりなどのトラブルの発生を防止し
、長期にわたる安°定した運転を実現することができる
。
次に、本発明を実施例および比較例につき具体的に説明
する。
する。
[比較例1]
第6図に示す従来装置を用いて、30vハ%ジー(2−
エチルヘキシル)りんM、!=70 マ/マ%n−パラ
フィンとから成る有機溶媒に抽出されたFe3+イオン
の(NH4) 3 FeF 6結晶としテノ剥離を45
トン−鈷JL/目の和Mk−ts宇漬コト 且瀞装置1
0内の混合ラーン18内の液温を30〜40℃に、剥離
液冷却ゾーン22内の液温を15〜20°Cに調節した
。そして、排出剥離液測定部92における剥離液の濃度
・組成がNH4)HF2は85〜l l 5 g/文、
HFはθ〜lOg/lとなるように調整するため、30
%NH4HF2溶液を吸収液槽62内のNH4)HF2
溶液供給ロア3より婬加したところ、添加後24時間経
過しないうちに吸収液槽62内で析出した(NH4)
3 FeF 6結晶が吸収液ポンプ63や分解ガス吸収
塔61内に付着して詰まりを生し、装置の運転が継続で
きなくなった。また、NH4)HF2溶液Fとは別個に
、NH3ガスEを分解ガス吸収塔61のアンモニア供給
口85に添加したところ、やはり吸収液ポンプ63や分
解ガス吸収塔61内に(NI+4 ) 3 FeF B
結晶の詰まりを生じた。
エチルヘキシル)りんM、!=70 マ/マ%n−パラ
フィンとから成る有機溶媒に抽出されたFe3+イオン
の(NH4) 3 FeF 6結晶としテノ剥離を45
トン−鈷JL/目の和Mk−ts宇漬コト 且瀞装置1
0内の混合ラーン18内の液温を30〜40℃に、剥離
液冷却ゾーン22内の液温を15〜20°Cに調節した
。そして、排出剥離液測定部92における剥離液の濃度
・組成がNH4)HF2は85〜l l 5 g/文、
HFはθ〜lOg/lとなるように調整するため、30
%NH4HF2溶液を吸収液槽62内のNH4)HF2
溶液供給ロア3より婬加したところ、添加後24時間経
過しないうちに吸収液槽62内で析出した(NH4)
3 FeF 6結晶が吸収液ポンプ63や分解ガス吸収
塔61内に付着して詰まりを生し、装置の運転が継続で
きなくなった。また、NH4)HF2溶液Fとは別個に
、NH3ガスEを分解ガス吸収塔61のアンモニア供給
口85に添加したところ、やはり吸収液ポンプ63や分
解ガス吸収塔61内に(NI+4 ) 3 FeF B
結晶の詰まりを生じた。
[実施例1]
第8図に示す本発明の装置を用いて、比較例とほぼ同様
の条件で、鉄剥階丁程の運転を実施した。排出剥離液測
定部92における剥離液りの濃度・組成を比較例と同じ
管理範囲に維持するため、30%NH4HF2溶液を晶
析装置10の結晶成長ゾーンまたは剥離液強制循環ゾー
ン25内に、適宜添加を行った。運転開始後30日間経
過しても、薬剤等の添加に伴う(NH4) 3 FeF
B結晶の析出や詰まりは認められず、問題なく運転を
継続することができた。
の条件で、鉄剥階丁程の運転を実施した。排出剥離液測
定部92における剥離液りの濃度・組成を比較例と同じ
管理範囲に維持するため、30%NH4HF2溶液を晶
析装置10の結晶成長ゾーンまたは剥離液強制循環ゾー
ン25内に、適宜添加を行った。運転開始後30日間経
過しても、薬剤等の添加に伴う(NH4) 3 FeF
B結晶の析出や詰まりは認められず、問題なく運転を
継続することができた。
塔61内に付着して詰まりを生じ、装置の運転が継続で
きなくなった。また、NH4HF2溶液Fとは別個に、
NH3ガスEを分解ガス吸収塔61のアンモニア供給口
85に添加したところ、やはり吸収液ポンプ63や分解
ガス吸収塔61内に(N13 ) 3 FeF 6結晶
の詰まりを生じた。
きなくなった。また、NH4HF2溶液Fとは別個に、
NH3ガスEを分解ガス吸収塔61のアンモニア供給口
85に添加したところ、やはり吸収液ポンプ63や分解
ガス吸収塔61内に(N13 ) 3 FeF 6結晶
の詰まりを生じた。
[実施例2]
第8図に示す本発明の装置を用いて、比較例とほぼ同様
の条件で、鉄剥#、工程の運転を実施した。排出剥離液
測定部9zにおける剥離液りの濃度・組成を比較例と同
じ管理範囲に維持するため、30%1tH41(F2溶
液を晶析装置10の結晶成長ゾーンまたは剥離液強制循
環ゾーン25内に、NH3ガスを晶析装置IOの本体下
部の結晶成長ゾーンまたは冷却ゾーンあるいは結晶受槽
30内にそれぞれ適宜添加を行った。運転開始後301
」間経過しても、薬剤等の添加に伴う(NH4) 3
FeF a結晶の析出や詰まりは認められず、問題なく
運転を継続することができた。
の条件で、鉄剥#、工程の運転を実施した。排出剥離液
測定部9zにおける剥離液りの濃度・組成を比較例と同
じ管理範囲に維持するため、30%1tH41(F2溶
液を晶析装置10の結晶成長ゾーンまたは剥離液強制循
環ゾーン25内に、NH3ガスを晶析装置IOの本体下
部の結晶成長ゾーンまたは冷却ゾーンあるいは結晶受槽
30内にそれぞれ適宜添加を行った。運転開始後301
」間経過しても、薬剤等の添加に伴う(NH4) 3
FeF a結晶の析出や詰まりは認められず、問題なく
運転を継続することができた。
第1図は、溶媒抽出法による。弗化物系剥離液の循環す
る〒程を含む金属イオンの分離工程のフローシートであ
る。 第2図〜第5図は、N)+4 )IF、2を75〜15
0g/文、HFl0〜20g/見の範囲で含有する弗化
物系剥離液に対する(NH4) 3 FeF aの溶解
1隻曲線のグラフである。 第6図は、従来の金属剥離液の濃度調整装置の基本構成
図、第7図および第8図は、本発明の装置の実施態様例
を示す基本構成図である。 第9〜第it図は、電位差滴定装置による弗化物系剥離
液の中和滴定曲線(微分形)の例で、NH4)HF2濃
度がloog/文で一定、HF濃度がそれぞれ0,10
.20g/文の剥離液の測定結果を表す。 第12図は、25℃における弗化物系剥離液の、電磁導
電率計を用いる測定により作製した等導電率曲線である
。 符号の説明 A・・・金属イオン含有水溶液、C・・・塩酸水溶液D
・・・弗化物系剥離液 E・・・アンモニア水またはIn13ガスF・・・NH
4HF2溶液(30〜40%)G−・・弗素系分解ガス
、M・・・金属0・・・金属酸化物、R・・・抽残液 S・・・有機溶媒、X・・・弗化金属錯体結晶l・・・
金属抽出工程、2・・・金属剥離工程3・・・固液分離
工程、 4・・・結晶乾燥・分解工程5・・・有機溶媒
変換工程、6・・・アンモニア回収工程10・・・晶析
装置本体、11・・・有機溶媒熱交換器12・・・有機
溶媒供給口 13・・・有機溶媒静置ゾーン 14・・・有機溶媒排出口、15・・・剥階液熱交換器
l6・・・aq n液供給1」、17・・・結晶原液供
給「118・・・JT、合ゾーンまたは況合梢 、19
・・・下降管20・・・刹PA液、Wtゾーン、21・
・・結晶成長ゾーン22・・・!A#液冷却シーン 23・・・冷却剥離液ポンプ 24・・・冷却剥離液熱交換器 25・・・24 階液強制循環ゾーン 26・・・循環剥離液ポンプ 27・・・結晶分離ゾーン、 28・・・剥離液排出口
29・・・結晶排出管、 30・・・結晶受槽31・・
・結晶スラリー攪拌器、40・・・固液分離装置41・
・・結晶スラリーポンプ、 42・・・結晶濾過器43
・・・濾液槽、 44・・・結晶温液ポンプ50・・・
結晶乾燥・分解装置 5】・・・結晶乾燥・分解キルン 60・・・分解カス吸収装置 61・・・分解ガス吸収塔、62・・・吸収液槽63・
・・吸収液ポンプ、 64・・・供給剥離液ポンプ70
・・・NH4HF2溶液供給装置 71・・・NH4)IF?溶液槽 73・・・NH4HF2溶液供給口 80・・・アンモニア供給装置 81・・・ア ン モ ニ ア 水 槽82・・・アン
モニア水ポンプ 83・・・NH3ガスホルダー 84・・・N)13ガスバルブ 85・・・アンモニア供給口 90・・・剥離液濃度測定装置 91・・・供給剥離液測定部 92・・・排出剥離液測定部、93・・・結晶濾液測定
部特許出願人 川崎製鉄株式会社 第1図 第2図 ′A s (°C) kig3図 2% 度(°C) 鷺4図 温 7度 (°C) N/2 NaOH漬下量(ml) N/2 NaOH”A下量(ml) N /’) Na(”)H”UT1(ml)第12図 7 、 @ F (mol/、1 )
る〒程を含む金属イオンの分離工程のフローシートであ
る。 第2図〜第5図は、N)+4 )IF、2を75〜15
0g/文、HFl0〜20g/見の範囲で含有する弗化
物系剥離液に対する(NH4) 3 FeF aの溶解
1隻曲線のグラフである。 第6図は、従来の金属剥離液の濃度調整装置の基本構成
図、第7図および第8図は、本発明の装置の実施態様例
を示す基本構成図である。 第9〜第it図は、電位差滴定装置による弗化物系剥離
液の中和滴定曲線(微分形)の例で、NH4)HF2濃
度がloog/文で一定、HF濃度がそれぞれ0,10
.20g/文の剥離液の測定結果を表す。 第12図は、25℃における弗化物系剥離液の、電磁導
電率計を用いる測定により作製した等導電率曲線である
。 符号の説明 A・・・金属イオン含有水溶液、C・・・塩酸水溶液D
・・・弗化物系剥離液 E・・・アンモニア水またはIn13ガスF・・・NH
4HF2溶液(30〜40%)G−・・弗素系分解ガス
、M・・・金属0・・・金属酸化物、R・・・抽残液 S・・・有機溶媒、X・・・弗化金属錯体結晶l・・・
金属抽出工程、2・・・金属剥離工程3・・・固液分離
工程、 4・・・結晶乾燥・分解工程5・・・有機溶媒
変換工程、6・・・アンモニア回収工程10・・・晶析
装置本体、11・・・有機溶媒熱交換器12・・・有機
溶媒供給口 13・・・有機溶媒静置ゾーン 14・・・有機溶媒排出口、15・・・剥階液熱交換器
l6・・・aq n液供給1」、17・・・結晶原液供
給「118・・・JT、合ゾーンまたは況合梢 、19
・・・下降管20・・・刹PA液、Wtゾーン、21・
・・結晶成長ゾーン22・・・!A#液冷却シーン 23・・・冷却剥離液ポンプ 24・・・冷却剥離液熱交換器 25・・・24 階液強制循環ゾーン 26・・・循環剥離液ポンプ 27・・・結晶分離ゾーン、 28・・・剥離液排出口
29・・・結晶排出管、 30・・・結晶受槽31・・
・結晶スラリー攪拌器、40・・・固液分離装置41・
・・結晶スラリーポンプ、 42・・・結晶濾過器43
・・・濾液槽、 44・・・結晶温液ポンプ50・・・
結晶乾燥・分解装置 5】・・・結晶乾燥・分解キルン 60・・・分解カス吸収装置 61・・・分解ガス吸収塔、62・・・吸収液槽63・
・・吸収液ポンプ、 64・・・供給剥離液ポンプ70
・・・NH4HF2溶液供給装置 71・・・NH4)IF?溶液槽 73・・・NH4HF2溶液供給口 80・・・アンモニア供給装置 81・・・ア ン モ ニ ア 水 槽82・・・アン
モニア水ポンプ 83・・・NH3ガスホルダー 84・・・N)13ガスバルブ 85・・・アンモニア供給口 90・・・剥離液濃度測定装置 91・・・供給剥離液測定部 92・・・排出剥離液測定部、93・・・結晶濾液測定
部特許出願人 川崎製鉄株式会社 第1図 第2図 ′A s (°C) kig3図 2% 度(°C) 鷺4図 温 7度 (°C) N/2 NaOH漬下量(ml) N/2 NaOH”A下量(ml) N /’) Na(”)H”UT1(ml)第12図 7 、 @ F (mol/、1 )
Claims (6)
- (1)i合ゾーン、有機溶媒静置ゾーン、弗化物系剥離
液静置ゾーンを有し、これらの下方に弗化金属錯体結晶
分離ゾーン、および結晶成長ゾーンまたは剥離液冷却ゾ
ーンを有する晶析装置において、前記混合ゾーンで金属
イオンを抽出含有する有機溶媒を弗化物系剥離液と接触
させて弗化金属錯体結晶を析出させ、得られた結晶を金
属酸化物または金属とするに際し、前記晶析装置の前記
結晶成長ゾーンまたは剥離液冷却ゾーンにNH4)+1
i2溶液を供給し、前記晶析装置の剥離液排出口から排
出された剥離液に弗化金属錯体結晶分解ガスを吸収させ
たものを前記晶析装置の混合ゾーンに供給し、結晶分離
後の濾液を前記晶析装置の有機溶媒静置ゾーン下部の剥
離液静置ゾーンに供給し、よって弗化物系剥離液を循環
使用することを特徴とする金属剥離液の濃度調整方法。 - (2)弗化物系剥離液の濃度は全HFと全NH4Fの2
項目で管理することを特徴とする特許請求の範囲第1項
に記載の金属剥離液の濃度調整方法。 - (3)混合ゾーン、有機溶媒静置ゾーン、弗化物系剥離
液静置ゾーンを有し、これらの下方に弗化全屈錯体結晶
分離ゾーン、および結晶成長ゾーンまたは剥離液冷却ゾ
ーンを有する晶析装置において、前記混合ゾーンで金属
イオンを抽出含有する有機溶媒を弗化物系剥離液と接触
させて弗化金属錯体結晶を析出させ、得られた結晶を金
属酸化物または金属とするに際し、前記晶析装置の前記
結晶成長ゾーンまたは剥離液冷却ゾーンにN)14 )
+1i2溶液を供給し、前記晶析装置の剥離液排出口か
ら排出された剥離液に弗化金属錯体結晶分解ガスを吸収
させたものを前記晶析装置の混合ゾーンに供給し、前記
晶析装置の結晶成長ゾーンまたは剥離液冷却ゾーンから
、これより排出された結晶の受槽までの間でアンモニア
を供給し、結晶分離後の濾液を前記晶析装置の有機溶媒
静置ゾーン下部の剥離液静置ゾーンに供給し、よって弗
化物系剥離液を循環使用することを特徴とする金属剥離
液の濃度調整方法。 - (4)弗化物系剥離液の濃度を全HFと全NH4Fの2
項目で管理することを特徴とする特許請求の範囲第3項
に記載の金属剥離液の濃度調整方法。 - (5)金属イオンを抽出含有する有機溶媒と弗化物系剥
離液との混合ゾーン、有機溶媒静置ゾーンのF方の剥離
液静置ゾーンを有し、これらの下方に弗化金属錯体結晶
分離ゾーンおよび結晶成長ゾーンまたは剥離液冷却ゾー
ンを有する晶析装置、この晶析装置で得られた結晶の受
槽、結晶の固液分離装置、結晶乾燥・分解装置、結晶分
解ガス吸収装置、前記晶析装置のNH4HF2溶液供給
装置、および剥離液濃度測定装置で構成され、前記結晶
分解ガス吸収装置は前記晶析装置の剥離液排出口および
混合ゾーン内の剥離液供給口と配管続されており、前記
NH4HF2溶液供給装置のNH4)HF2供給口は前
記晶析装置の結晶成長ゾーンまたは剥離液冷却ゾーンに
設けられ、結晶分離後の濾液の供給口は前記晶析装置の
剥離液静置シーの濃度調整装置。 - (6)金属イオンを抽出含有する有機溶媒と弗化物系剥
離液との混合ゾーン、有機溶媒静置ゾーンの下方の剥離
液静置ゾーンを有し、これらの下方に弗化金属錯体結晶
分離ゾーンおよび結晶成長ゾーンまたは剥離液冷却ゾー
ンを有する晶析装置、この晶析装置で得られた結晶の受
槽、結晶の固液分離装置、結晶乾燥・分解装置、結晶分
解ガス吸収装置、アンモニア供給装置、前記晶析装置の
NH4HF2溶液供給装置、および剥離液濃度測定装置
で構成され、前記結晶分解ガス吸収装置は前記晶析装置
の剥離液排出[1および混合ゾーン内の剥離液供給口と
配管接続されており、前記NH4HF2.溶液供給装置
のPI)II、 HF2供給口は前記晶析装置の結晶成
長ゾーンまたは剥離液冷却ゾーンに設けられ、前記アン
モニア供給装置のアンモニア供給口は前記晶析装置の結
晶成長ゾーンまたは剥離液冷却ゾーンから前記結晶受槽
までの間に設けられており、結晶分離後の濾液の供給口
は前記、11T析装置の!q離液静置ゾーンに設けられ
ていることを特徴とする金属剥離液の濃度調整装置。
Priority Applications (6)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP59094072A JPS60238428A (ja) | 1984-05-11 | 1984-05-11 | 金属剥離方法およびその装置 |
US06/713,862 US4830836A (en) | 1984-03-30 | 1985-03-20 | Metal stripping system and an operation process therefor |
DE8585302029T DE3586011D1 (de) | 1984-03-30 | 1985-03-25 | Einrichtung zum metallstrippen und betriebsverfahren dafuer. |
EP85302029A EP0157561B1 (en) | 1984-03-30 | 1985-03-25 | Metal stripping system and an operation process therefor |
CA000477476A CA1246326A (en) | 1984-03-30 | 1985-03-26 | Metal stripping system and an operation process therefor |
KR1019850002118A KR890000167B1 (ko) | 1984-03-30 | 1985-03-29 | 금속 스트립핑 시스템 및 그 조작법 |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP59094072A JPS60238428A (ja) | 1984-05-11 | 1984-05-11 | 金属剥離方法およびその装置 |
Publications (2)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JPS60238428A true JPS60238428A (ja) | 1985-11-27 |
JPH0148340B2 JPH0148340B2 (ja) | 1989-10-18 |
Family
ID=14100293
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP59094072A Granted JPS60238428A (ja) | 1984-03-30 | 1984-05-11 | 金属剥離方法およびその装置 |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
JP (1) | JPS60238428A (ja) |
Cited By (1)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JP2016221441A (ja) * | 2015-05-28 | 2016-12-28 | 曽田香料株式会社 | 水溶液中の溶質成分の抽出法 |
-
1984
- 1984-05-11 JP JP59094072A patent/JPS60238428A/ja active Granted
Cited By (1)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JP2016221441A (ja) * | 2015-05-28 | 2016-12-28 | 曽田香料株式会社 | 水溶液中の溶質成分の抽出法 |
Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
JPH0148340B2 (ja) | 1989-10-18 |
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