JPS6023738U - 半導体発光装置の検査治具 - Google Patents

半導体発光装置の検査治具

Info

Publication number
JPS6023738U
JPS6023738U JP11531683U JP11531683U JPS6023738U JP S6023738 U JPS6023738 U JP S6023738U JP 11531683 U JP11531683 U JP 11531683U JP 11531683 U JP11531683 U JP 11531683U JP S6023738 U JPS6023738 U JP S6023738U
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
light emitting
inspection jig
semiconductor light
emitting devices
fixing
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Pending
Application number
JP11531683U
Other languages
English (en)
Inventor
高明 阿部
Original Assignee
日本電気株式会社
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by 日本電気株式会社 filed Critical 日本電気株式会社
Priority to JP11531683U priority Critical patent/JPS6023738U/ja
Publication of JPS6023738U publication Critical patent/JPS6023738U/ja
Pending legal-status Critical Current

Links

Landscapes

  • Testing Of Individual Semiconductor Devices (AREA)
  • Photometry And Measurement Of Optical Pulse Characteristics (AREA)
  • Testing Of Optical Devices Or Fibers (AREA)

Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。

Description

【図面の簡単な説明】
第１区は従来の検査治具の平面図、第２図は従来のホル
ダーの断面図、第３図は本考案の一実施例を示す検査治
具の平面図、第４図は本考案の一実施例を示すホルダー
の断面図である。 １・・・ホルダー、１−ａ・・・・・・上部電極板、１
−ｂ・・・・・・下部電極板、１−ｃ・・・・・・固定
棒、１−ｄ・・・・・・絶縁板、２・・・・・・主光測
定部、３・・・・・・モニター光測定部、４・・・・・
・可動機構、５・・・・・・測定ヘッド部、６・・・・
・・測定部、７・・・・・・リード線、８・・・・・・
被測定素子（レーザダイオード）、９・・・・・・受光
素子。

Claims (1)

    【実用新案登録請求の範囲】
  1. 半導体発光装置を備えたホルダーを主光測定部に挿入し
    て固定保持する検査治具において、前記ホルダー内で前
    記半導体発光装置を固定保持する固定部に受光素子を埋
    め込んだことを特徴とする半導体発光装置の検査治具。
JP11531683U 1983-07-25 1983-07-25 半導体発光装置の検査治具 Pending JPS6023738U (ja)

Priority Applications (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP11531683U JPS6023738U (ja) 1983-07-25 1983-07-25 半導体発光装置の検査治具

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP11531683U JPS6023738U (ja) 1983-07-25 1983-07-25 半導体発光装置の検査治具

Publications (1)

Publication Number Publication Date
JPS6023738U true JPS6023738U (ja) 1985-02-18

Family

ID=30266234

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
JP11531683U Pending JPS6023738U (ja) 1983-07-25 1983-07-25 半導体発光装置の検査治具

Country Status (1)

Country Link
JP (1) JPS6023738U (ja)

Cited By (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPH0259685A (ja) * 1988-08-26 1990-02-28 Hinode Pawatoronikusu Kk ホール素子利用の信号取出回路
JPH03102277A (ja) * 1989-12-13 1991-04-26 Hinode Pawatoronikusu Kk ホール素子利用の信号取出回路の構成用プリント基板

Cited By (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPH0259685A (ja) * 1988-08-26 1990-02-28 Hinode Pawatoronikusu Kk ホール素子利用の信号取出回路
JPH03102277A (ja) * 1989-12-13 1991-04-26 Hinode Pawatoronikusu Kk ホール素子利用の信号取出回路の構成用プリント基板

Similar Documents

Publication Publication Date Title
JPS6023738U (ja) 半導体発光装置の検査治具
JPS61132775U (ja)
JPS60183879U (ja) 半導体試験装置の接触子
JPS6074025U (ja) 熱電対の保持構造
JPS6090638U (ja) 温度測定治具
JPS60183832U (ja) 振動測定装置
JPS59194080U (ja) 半導体装置の特性測定装置
JPS6115735U (ja) 半導体素子の電気特性測定装置用接触針
JPS6049472U (ja) 発光ダイオ−ドの特性測定装置
JPS58158445U (ja) 半導体素子試験用治具
JPS6048689U (ja) 半導体装置用ソケット
JPS619851U (ja) パワ−トランジスタの固定装置
JPS6126103U (ja) ジヤンパ−線計測治具
JPS59180611U (ja) ガラス板の平面度測定装置
JPS6136576U (ja) ハイブリツド集積回路装置測定用押え治具
JPS6041066U (ja) 光半導体装置
JPS6074066U (ja) 集積回路の電気試験用治具
JPS58164236U (ja) 半導体ウエ−ハ特性測定装置
JPS5920155U (ja) 追従装置
JPS59120485U (ja) 電子部品の測定装置
JPS5839041U (ja) 高耐圧半導体装置
JPS59149125U (ja) 距離測定装置
JPS59152474U (ja) 光半導体素子測定装置
JPS60125545U (ja) 温度測定装置
JPS5871174U (ja) 平行リ−ドを有する電子部品の特性測定装置