JPS60236632A - 第4世代ct装置 - Google Patents
第4世代ct装置Info
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- JPS60236632A JPS60236632A JP59094799A JP9479984A JPS60236632A JP S60236632 A JPS60236632 A JP S60236632A JP 59094799 A JP59094799 A JP 59094799A JP 9479984 A JP9479984 A JP 9479984A JP S60236632 A JPS60236632 A JP S60236632A
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- 230000005855 radiation Effects 0.000 claims description 8
- 230000035945 sensitivity Effects 0.000 description 16
- 238000001514 detection method Methods 0.000 description 6
- 238000010521 absorption reaction Methods 0.000 description 2
- 239000000853 adhesive Substances 0.000 description 2
- 230000001070 adhesive effect Effects 0.000 description 2
- 239000000758 substrate Substances 0.000 description 2
- HCHKCACWOHOZIP-UHFFFAOYSA-N Zinc Chemical compound [Zn] HCHKCACWOHOZIP-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- 238000013459 approach Methods 0.000 description 1
- 239000003795 chemical substances by application Substances 0.000 description 1
- 230000000694 effects Effects 0.000 description 1
- 238000000605 extraction Methods 0.000 description 1
- 239000011521 glass Substances 0.000 description 1
- 229910001385 heavy metal Inorganic materials 0.000 description 1
- 238000010030 laminating Methods 0.000 description 1
- 238000012986 modification Methods 0.000 description 1
- 230000004048 modification Effects 0.000 description 1
- 230000000379 polymerizing effect Effects 0.000 description 1
- 239000004065 semiconductor Substances 0.000 description 1
- 238000003325 tomography Methods 0.000 description 1
- PBYZMCDFOULPGH-UHFFFAOYSA-N tungstate Chemical compound [O-][W]([O-])(=O)=O PBYZMCDFOULPGH-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- WFKWXMTUELFFGS-UHFFFAOYSA-N tungsten Chemical compound [W] WFKWXMTUELFFGS-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- 229910052721 tungsten Inorganic materials 0.000 description 1
- 239000010937 tungsten Substances 0.000 description 1
- 229910052725 zinc Inorganic materials 0.000 description 1
- 239000011701 zinc Substances 0.000 description 1
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- G21—NUCLEAR PHYSICS; NUCLEAR ENGINEERING
- G21K—TECHNIQUES FOR HANDLING PARTICLES OR IONISING RADIATION NOT OTHERWISE PROVIDED FOR; IRRADIATION DEVICES; GAMMA RAY OR X-RAY MICROSCOPES
- G21K1/00—Arrangements for handling particles or ionising radiation, e.g. focusing or moderating
- G21K1/02—Arrangements for handling particles or ionising radiation, e.g. focusing or moderating using diaphragms, collimators
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01T—MEASUREMENT OF NUCLEAR OR X-RADIATION
- G01T1/00—Measuring X-radiation, gamma radiation, corpuscular radiation, or cosmic radiation
- G01T1/16—Measuring radiation intensity
- G01T1/20—Measuring radiation intensity with scintillation detectors
- G01T1/2018—Scintillation-photodiode combinations
- G01T1/20183—Arrangements for preventing or correcting crosstalk, e.g. optical or electrical arrangements for correcting crosstalk
-
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Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
〔発明の技術分野〕
本発明は固体放射線検出器を具備する第4世代CT装置
に関するものである。
に関するものである。
放射線断層撮影装置たとえば第3世代あるいは第4世代
のX線CT装置は、複数の検出素子を高密度に一次元配
列してなるX線検出器を有している。X線検出器として
は、従来主流を占めていたガス電離箱の代わりに、近年
、シンチレータとフォトダイオードとを組み合わせた固
体シンチレーション検出器が汎用されてきた。というの
は、固体シンチレーション検出器に使用されるフォトダ
イオードは高密度実装が可能であるので、高分解能のC
T両画像得るためには検出素子の配列ピッチをできるだ
け小さくしなければならないという要請に応することが
できるか、らである。
のX線CT装置は、複数の検出素子を高密度に一次元配
列してなるX線検出器を有している。X線検出器として
は、従来主流を占めていたガス電離箱の代わりに、近年
、シンチレータとフォトダイオードとを組み合わせた固
体シンチレーション検出器が汎用されてきた。というの
は、固体シンチレーション検出器に使用されるフォトダ
イオードは高密度実装が可能であるので、高分解能のC
T両画像得るためには検出素子の配列ピッチをできるだ
け小さくしなければならないという要請に応することが
できるか、らである。
従来のシンチレーション検出器を構成する多チヤンネル
型のシンチレータ素子体3を第1図に示す。 ゛ このシンチレータ素子体3は複数のシンチレータ素子1
を同一厚さのコリメータ板2,2aを介して接着するこ
とにより形成したものである。
型のシンチレータ素子体3を第1図に示す。 ゛ このシンチレータ素子体3は複数のシンチレータ素子1
を同一厚さのコリメータ板2,2aを介して接着するこ
とにより形成したものである。
コリメータ板2は通常X@吸収効率の大きい重金属、例
えば鉛やタングステンの薄板でその両面にはシンチレー
タで発生した光を効率良く反射するために光反射剤が塗
布゛されている。
えば鉛やタングステンの薄板でその両面にはシンチレー
タで発生した光を効率良く反射するために光反射剤が塗
布゛されている。
第2図は多チヤンネル型のフォトダイオード9を示すも
のであり、一枚の半導体基板5上に複数のフォトダイオ
ード素子6が形成され、信号取り出し用の端子7から絶
縁基板8上の印刷配線端子上へワイヤーボンディング(
図示せず)等で電気的に接続されている。
のであり、一枚の半導体基板5上に複数のフォトダイオ
ード素子6が形成され、信号取り出し用の端子7から絶
縁基板8上の印刷配線端子上へワイヤーボンディング(
図示せず)等で電気的に接続されている。
上述したようなシンチレータ素子体3とフォトダイオー
ド9とを透明接着剤(例えばガラス接着剤)を用いて重
合接着すれば、第3図に示すような多チヤンネル型の放
射線検出器のブロック10を構成することができる。
ド9とを透明接着剤(例えばガラス接着剤)を用いて重
合接着すれば、第3図に示すような多チヤンネル型の放
射線検出器のブロック10を構成することができる。
このようにして得られたブロック10を多数円周状に配
置して1台のCT装置の検出器が出き上るが、実装上の
容易さを考慮すると通常ブロック10間にわずかのクリ
アランスhを持たせることが必要である。
置して1台のCT装置の検出器が出き上るが、実装上の
容易さを考慮すると通常ブロック10間にわずかのクリ
アランスhを持たせることが必要である。
第4図は隣接配置の2個のブロック10を示すもので、
両者間にクリアランスhを持たせている。
両者間にクリアランスhを持たせている。
このような従来の検出器列は、各ブロック10゜10の
それぞれの端部に配置されたシンチレータ素子1a、l
aにおける検出感度のX線入射角度による変化が、クリ
アランスhの存在に基因して端部以外の他のシンチレー
タ素子1.1.・・・・・・の場合と異なるという問題
があった。
それぞれの端部に配置されたシンチレータ素子1a、l
aにおける検出感度のX線入射角度による変化が、クリ
アランスhの存在に基因して端部以外の他のシンチレー
タ素子1.1.・・・・・・の場合と異なるという問題
があった。
周知のように第4世代CT装置においては、検出器に入
射するX線は検出器軸に対して様々な角度を持って入射
する。
射するX線は検出器軸に対して様々な角度を持って入射
する。
X線入射角度によって検出器感度が変化することは仕方
がないが、この変化の状態が各シンチレータ素子1間で
一様でないと、収集データの適正な補正が困l1111
となる。
がないが、この変化の状態が各シンチレータ素子1間で
一様でないと、収集データの適正な補正が困l1111
となる。
一例として、コリメータ板2が厚さ0.1wmの鉛製、
シンチレータ素子1がタングステン酸亜鉛(znw04
)の場合について計算した結果を第5図に示す。
シンチレータ素子1がタングステン酸亜鉛(znw04
)の場合について計算した結果を第5図に示す。
同図は、横軸にX線入射角度θを、縦軸に相対感度をと
り、端部以外のシンチレータ素子1の相対感度を実線P
で、端部のシンチレータ素子1aの相対感度をクリアラ
ンスhをパラメータとして3種表わしたグラフである。
り、端部以外のシンチレータ素子1の相対感度を実線P
で、端部のシンチレータ素子1aの相対感度をクリアラ
ンスhをパラメータとして3種表わしたグラフである。
同図に示すグラフから、クリアランスhが大きくなるほ
どシンチレータ素子1aの相対感度がシンチレータ素子
1より大きくなることが明らかである。この理由は、隣
接チャンネルに入射したX線の吸収量が、シンチレータ
素子1と1aで異なることである。すなわち、シンチレ
ータ素子LKは、隣接シンチレータ1あるいは1aを通
ったX線が入射するのに対しシンチレータ素子18には
、クリアランスh(空気層)を通ったX線が入射するか
らシンチレータ1aでのX線吸収量が他より大きくなる
のである。
どシンチレータ素子1aの相対感度がシンチレータ素子
1より大きくなることが明らかである。この理由は、隣
接チャンネルに入射したX線の吸収量が、シンチレータ
素子1と1aで異なることである。すなわち、シンチレ
ータ素子LKは、隣接シンチレータ1あるいは1aを通
ったX線が入射するのに対しシンチレータ素子18には
、クリアランスh(空気層)を通ったX線が入射するか
らシンチレータ1aでのX線吸収量が他より大きくなる
のである。
本発明は上記事情に鑑みてなされたものであり、全ての
シンチレータ素子のX線入射角度による感度の変化が均
一な検出器を具備した第4世代CT装置を提供すること
を目的とするものである。
シンチレータ素子のX線入射角度による感度の変化が均
一な検出器を具備した第4世代CT装置を提供すること
を目的とするものである。
上記目的を達成するための本発明の棚、敬は、シンチレ
ータ素子と原子番号の大きい元素からなるコリメータ板
とを交互に積層して形成したシンチレータ素子体を多数
円形状に配置して構成した放射線検出器を具備する第4
世代CT装置において、前記シンチレータ素子体の端部
のコリメータ板の厚さを端部以外のコリメータ板の厚さ
より大きくしたことを特徴とするものである。
ータ素子と原子番号の大きい元素からなるコリメータ板
とを交互に積層して形成したシンチレータ素子体を多数
円形状に配置して構成した放射線検出器を具備する第4
世代CT装置において、前記シンチレータ素子体の端部
のコリメータ板の厚さを端部以外のコリメータ板の厚さ
より大きくしたことを特徴とするものである。
以下に本発明の実施例を第6図を参照して説明する。尚
、同図に示すCT装置の検出器において第4図に示すも
のと同等の機能を有するものには同一の符号を付し、そ
の詳細な説明は省略する。
、同図に示すCT装置の検出器において第4図に示すも
のと同等の機能を有するものには同一の符号を付し、そ
の詳細な説明は省略する。
この検出器が第4図に示すものと相違する点は、 ゛各
ブロックIOAの端部に配置したコリメータ2bの厚さ
を端部以外のコリメータ2の厚さよりも大きくしたこと
である。
ブロックIOAの端部に配置したコリメータ2bの厚さ
を端部以外のコリメータ2の厚さよりも大きくしたこと
である。
例えば、コリメータ板2.28はいずれも鉛製のものを
用いるが、コリメータ2の厚さを0.1(m)、コリメ
ータ2aの厚さを0.2調の厚さに形成する。
用いるが、コリメータ2の厚さを0.1(m)、コリメ
ータ2aの厚さを0.2調の厚さに形成する。
上記構成の検出器の作用を、第7図に示すシンチレータ
素子1.18に対するX線入射角度θと相対感度との関
係を示すグラフをも参照して説明する。
素子1.18に対するX線入射角度θと相対感度との関
係を示すグラフをも参照して説明する。
尚、第7図に示すグラフは第5図に示すグラフと同様横
軸にX線入射角塵θを、縦軸に相対感度をとって示す。
軸にX線入射角塵θを、縦軸に相対感度をとって示す。
第7図に示すグラフと第5図に示すグラフとの比較から
明らかなように、本実施例の検出器は端部のシンチレー
タ素子1aの相対感度カ他ノシンチレータ素子1の相対
感度Pより低下し、かつ、従来の検出器の場合とは逆に
クリアランスhが大きくなるほどその相対感度は他のシ
ンチレータ素子の相対感度Pに接近する。
明らかなように、本実施例の検出器は端部のシンチレー
タ素子1aの相対感度カ他ノシンチレータ素子1の相対
感度Pより低下し、かつ、従来の検出器の場合とは逆に
クリアランスhが大きくなるほどその相対感度は他のシ
ンチレータ素子の相対感度Pに接近する。
これは、端部のコリメータ2aを従来の場合よりも厚く
したことによって、クリアランスhを有するブロック1
0A、10A間の空間からコリメータ2aを介してシン
チレータ素子1aK入射するX線がこのコリメータ2a
により大幅に減衰することに基因するものであり、Xt
J入射角度θの変化による相対感度の検出素子間の不均
一性を低減することができる。
したことによって、クリアランスhを有するブロック1
0A、10A間の空間からコリメータ2aを介してシン
チレータ素子1aK入射するX線がこのコリメータ2a
により大幅に減衰することに基因するものであり、Xt
J入射角度θの変化による相対感度の検出素子間の不均
一性を低減することができる。
本発明は上述した実施例に限定されるものではなく、そ
の要旨の範囲内で種々の変形が可能である。
の要旨の範囲内で種々の変形が可能である。
例えば、上述した実施例ではコリメータ2の厚さを0.
1(閣)、コリメータ2aの厚さを0.2(tran
)とした場合について説明したが、特にこれらの厚さに
限定されるものではない。
1(閣)、コリメータ2aの厚さを0.2(tran
)とした場合について説明したが、特にこれらの厚さに
限定されるものではない。
以上詳述した本発明によれば、端部のコリメータの厚さ
を他の部分のコリメータの厚さより大きくすることによ
って、検出感度のX線入射角度による変化が均一な検出
器を具備した第4世代CT装置を提供することができる
。
を他の部分のコリメータの厚さより大きくすることによ
って、検出感度のX線入射角度による変化が均一な検出
器を具備した第4世代CT装置を提供することができる
。
第1図は多チヤンネル型のシンチレータ素子体の従来例
を示す斜視図、第2図は多チヤンネル型のフォトダイオ
ードを示す概略斜視図、第3図は放射線検出器のブロッ
クの従来例を示す斜視図、第4図は第3図に示すブロッ
クを配列した状態を示す概略断面図、第5図は第4図に
示すブロックによるX線入射角度と相対感度との関係を
示すグラフ、第6図は本発明の実施例の放射線検出器の
ブロックの配列状態を示すf5:略断面図、第7図は第
6図に示すブロックによるX線入射角度と相対感度との
関係を示すグラフである。 1.1a・・・シンチレータ素子、2.2a−・・コリ
メータ板、h・・・クリアランス。
を示す斜視図、第2図は多チヤンネル型のフォトダイオ
ードを示す概略斜視図、第3図は放射線検出器のブロッ
クの従来例を示す斜視図、第4図は第3図に示すブロッ
クを配列した状態を示す概略断面図、第5図は第4図に
示すブロックによるX線入射角度と相対感度との関係を
示すグラフ、第6図は本発明の実施例の放射線検出器の
ブロックの配列状態を示すf5:略断面図、第7図は第
6図に示すブロックによるX線入射角度と相対感度との
関係を示すグラフである。 1.1a・・・シンチレータ素子、2.2a−・・コリ
メータ板、h・・・クリアランス。
Claims (1)
- シンチレータ素子と原子番号の大きい元素からなるコリ
メータ板とを交互に積層して形成したシンチレータ素子
体を多数円形状に配置して構成した放射線検出器を具備
する第4世代CT装置において、前記シンチレータ素子
体の端部のコリメータ板の厚さff端部以外のコリメー
タ板の厚さより大きくしたことを特徴とする第4世代C
T装置。
Priority Applications (3)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP59094799A JPS60236632A (ja) | 1984-05-10 | 1984-05-10 | 第4世代ct装置 |
US06/730,041 US4725734A (en) | 1984-05-10 | 1985-05-03 | Radiation-detecting device for computed tomography |
DE19853516934 DE3516934A1 (de) | 1984-05-10 | 1985-05-10 | Strahlungsdetektorvorrichtung fuer die rechnergestuetzte tomographie |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP59094799A JPS60236632A (ja) | 1984-05-10 | 1984-05-10 | 第4世代ct装置 |
Publications (2)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JPS60236632A true JPS60236632A (ja) | 1985-11-25 |
JPH0332371B2 JPH0332371B2 (ja) | 1991-05-13 |
Family
ID=14120105
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP59094799A Granted JPS60236632A (ja) | 1984-05-10 | 1984-05-10 | 第4世代ct装置 |
Country Status (3)
Country | Link |
---|---|
US (1) | US4725734A (ja) |
JP (1) | JPS60236632A (ja) |
DE (1) | DE3516934A1 (ja) |
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-
1985
- 1985-05-03 US US06/730,041 patent/US4725734A/en not_active Expired - Fee Related
- 1985-05-10 DE DE19853516934 patent/DE3516934A1/de active Granted
Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
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