JPS6040985A - 放射線検出器 - Google Patents
放射線検出器Info
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- JPS6040985A JPS6040985A JP59061240A JP6124084A JPS6040985A JP S6040985 A JPS6040985 A JP S6040985A JP 59061240 A JP59061240 A JP 59061240A JP 6124084 A JP6124084 A JP 6124084A JP S6040985 A JPS6040985 A JP S6040985A
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Classifications
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01T—MEASUREMENT OF NUCLEAR OR X-RADIATION
- G01T1/00—Measuring X-radiation, gamma radiation, corpuscular radiation, or cosmic radiation
- G01T1/16—Measuring radiation intensity
- G01T1/20—Measuring radiation intensity with scintillation detectors
- G01T1/2006—Measuring radiation intensity with scintillation detectors using a combination of a scintillator and photodetector which measures the means radiation intensity
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01T—MEASUREMENT OF NUCLEAR OR X-RADIATION
- G01T1/00—Measuring X-radiation, gamma radiation, corpuscular radiation, or cosmic radiation
- G01T1/16—Measuring radiation intensity
- G01T1/161—Applications in the field of nuclear medicine, e.g. in vivo counting
- G01T1/164—Scintigraphy
- G01T1/1641—Static instruments for imaging the distribution of radioactivity in one or two dimensions using one or several scintillating elements; Radio-isotope cameras
- G01T1/1644—Static instruments for imaging the distribution of radioactivity in one or two dimensions using one or several scintillating elements; Radio-isotope cameras using an array of optically separate scintillation elements permitting direct location of scintillations
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Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
[発明の技術分野]
本発明は例えばX Fr CTスキト力に用いる高密度
配列の放射線検出器に関するものである。
配列の放射線検出器に関するものである。
[発明の技術的背景]
現在のX線CTスキャナおよびディジタル九影システム
には数百から数千のX線検出器が用いられている6各X
線検出器にはX線を光に変換づ゛るシンブレークとその
光を電気信号に変換するボ1〜セルを含んでいる。ディ
ジタル顕彰システムと同様、CTスキャナでは各検出器
(J同一ピッチで、しかも、その検出器間の中心距離が
等しいことが大切である。また検出器が最大化1立て配
列されていることも重要である。ずなわら、各検出器は
互に出来る限り近接した位置に置かれることが必要であ
る。それによって高検出効率をbち患名に対して最小量
のX線爆射で充分な影像か得られる検出器ができる。
には数百から数千のX線検出器が用いられている6各X
線検出器にはX線を光に変換づ゛るシンブレークとその
光を電気信号に変換するボ1〜セルを含んでいる。ディ
ジタル顕彰システムと同様、CTスキャナでは各検出器
(J同一ピッチで、しかも、その検出器間の中心距離が
等しいことが大切である。また検出器が最大化1立て配
列されていることも重要である。ずなわら、各検出器は
互に出来る限り近接した位置に置かれることが必要であ
る。それによって高検出効率をbち患名に対して最小量
のX線爆射で充分な影像か得られる検出器ができる。
今日では、CTスキャナなどは、通常、デスクリ−1〜
X線検出器または配列X線検出器を使用している。
X線検出器または配列X線検出器を使用している。
第1図に多数のデスクリ−1−X桟(検出器を図示しで
ある。これらのX線検出器(,11個のボ1−セル10
を含んでいる。この小トセル10は各基板12上に取付
【プられている。、1個のシンチレータ20が各ホトセ
ル10用に設けられX線数θ4をホトセル10が応答す
る光に変換している。
ある。これらのX線検出器(,11個のボ1−セル10
を含んでいる。この小トセル10は各基板12上に取付
【プられている。、1個のシンチレータ20が各ホトセ
ル10用に設けられX線数θ4をホトセル10が応答す
る光に変換している。
従来より知られているように、個ノイのホ1〜セル10
は基板12の各端16.18から少くども距1ii1t
14だけ離して取付(づなりればならない。(れはホト
セル10に損傷を与えることなく各端1G、18のとこ
ろで基板12を切断覆−るため−1分な切削余裕をもた
lるためである。ホ1−レル10を基板12の端部1G
、18力日ら距離17′lJ、:り近く取付りた場合、
ホトセル10に損傷をりえること4fしに端部16.1
8を形/i12づ゛るために基板12を切断したり、切
削したり、あるいはその他の方法で切断することは不可
能であろう。
は基板12の各端16.18から少くども距1ii1t
14だけ離して取付(づなりればならない。(れはホト
セル10に損傷を与えることなく各端1G、18のとこ
ろで基板12を切断覆−るため−1分な切削余裕をもた
lるためである。ホ1−レル10を基板12の端部1G
、18力日ら距離17′lJ、:り近く取付りた場合、
ホトセル10に損傷をりえること4fしに端部16.1
8を形/i12づ゛るために基板12を切断したり、切
削したり、あるいはその他の方法で切断することは不可
能であろう。
各ホl−セルは第1図に示されているとJ5り相等しい
幅W1である。各ホ1〜セル10は相F^るホ1〜セル
10と距114の2倍の長さに宿しい1”li INI
ILlだり離されている。図1の配列のとおり、各ホト
セル10の他のホトセルの中心とピッチ1)またけ離さ
れている。Pl =W1 +l 1 (ある。
幅W1である。各ホ1〜セル10は相F^るホ1〜セル
10と距114の2倍の長さに宿しい1”li INI
ILlだり離されている。図1の配列のとおり、各ホト
セル10の他のホトセルの中心とピッチ1)またけ離さ
れている。Pl =W1 +l 1 (ある。
従って図1に示すような個別検出器と使用1−る場合、
づべて検出器に対して等しいピッチを得ることは非常に
容易である。ただし、図1に示ずJ、うなデスクリート
検出器を使用づる場合には、距離IL1という重要な量
を個別ボ1〜セル10間にとる必要がある。なお、デス
クリート検出を使用するデスクリ−1へシンチレータ2
0を使用でる必要がある。これらシンチレータは相互に
一定距離だfJ Qil してd3かれる。これにより
2つの問題に到)ヱづる。まず、かような配列は使用信
号を減少づる力臼ろS / N比を悪くづる。なお、こ
のような配列ではシンチレータ間にある死区域に多量の
X線が到達するか、このようなX線は検知されない。こ
の結果、収集でべきある情報量に対して患者に必要な線
量の増加を生ずることとなる。
づべて検出器に対して等しいピッチを得ることは非常に
容易である。ただし、図1に示ずJ、うなデスクリート
検出器を使用づる場合には、距離IL1という重要な量
を個別ボ1〜セル10間にとる必要がある。なお、デス
クリート検出を使用するデスクリ−1へシンチレータ2
0を使用でる必要がある。これらシンチレータは相互に
一定距離だfJ Qil してd3かれる。これにより
2つの問題に到)ヱづる。まず、かような配列は使用信
号を減少づる力臼ろS / N比を悪くづる。なお、こ
のような配列ではシンチレータ間にある死区域に多量の
X線が到達するか、このようなX線は検知されない。こ
の結果、収集でべきある情報量に対して患者に必要な線
量の増加を生ずることとなる。
ボl−セル間の分前L1は第2図に示づ−ような配列検
出器を使用づることによつ−C減少てさる。第1図のデ
スクリ−1へ検出器の場合に(J各ボトセル22は対応
する1個のシンチレータ26を備えている。しかし、第
2図では多数のボ1−セル22が1つの基板24の上に
置かれている。従って小トセル22は相互に距離L2だ
け離して位置決めできる。この距1m L 2はホトセ
ル22の製造に利用されるマスキングと製造技術のみの
制限を受(プる。
出器を使用づることによつ−C減少てさる。第1図のデ
スクリ−1へ検出器の場合に(J各ボトセル22は対応
する1個のシンチレータ26を備えている。しかし、第
2図では多数のボ1−セル22が1つの基板24の上に
置かれている。従って小トセル22は相互に距離L2だ
け離して位置決めできる。この距1m L 2はホトセ
ル22の製造に利用されるマスキングと製造技術のみの
制限を受(プる。
従って[2は第1図のLlより実質的に小さくできる。
それによって使用信号の強さを増し、信号対雑音比が減
少し、X線の到j?可能な化1ス域の大きさも減少する
。なお、かような配置では相等しいピッチはW2となる
。(W2−Wl 十12 )ホトセル22の密度は何千
もの検出器配列の全部を1個の基板上に作ることによっ
て最大にでさる。しかし、ホトセル22中の1個が(幾
能不良どなった場合、全配列が無価値となる。−これは
l−2が小さいからホトセル22の隣りどうしの間のJ
et板2板金4ることも、あるいしよ他の方法て切fl
li !Jることもできないからである。また、現在c
(j、使用できる半導体ウェハの大きざの制限上長さ4
〜5インチより大きい配列に構成すること(よ不可能で
ある。
少し、X線の到j?可能な化1ス域の大きさも減少する
。なお、かような配置では相等しいピッチはW2となる
。(W2−Wl 十12 )ホトセル22の密度は何千
もの検出器配列の全部を1個の基板上に作ることによっ
て最大にでさる。しかし、ホトセル22中の1個が(幾
能不良どなった場合、全配列が無価値となる。−これは
l−2が小さいからホトセル22の隣りどうしの間のJ
et板2板金4ることも、あるいしよ他の方法て切fl
li !Jることもできないからである。また、現在c
(j、使用できる半導体ウェハの大きざの制限上長さ4
〜5インチより大きい配列に構成すること(よ不可能で
ある。
[背景技術の問題点]
1個の基板上のホ1〜セル22の数を制限することによ
って1個の基板上の検出器群内にただ1個の不良ホトセ
ルをもつという減殺効果を最小にすることは可能であろ
う。けれども基板24の端28に隣接して置く各ホ1〜
セルはその端から距離1−1だ(ブ離して置く必要であ
る。その結果隣接するボトセル22間の標準ピッチP2
と対比して隣接づるホトセル22a間はピッチP1とな
る。なお、幅の等しいシンチレータ26を使用した場合
;j; 1〜セル22と関連しているシンチレータ24
a間はキャップGとなる。このギャップGは新たな死区
域を導くため、収集すべきある情報量に対して必要な患
者の線用は増加する。
って1個の基板上の検出器群内にただ1個の不良ホトセ
ルをもつという減殺効果を最小にすることは可能であろ
う。けれども基板24の端28に隣接して置く各ホ1〜
セルはその端から距離1−1だ(ブ離して置く必要であ
る。その結果隣接するボトセル22間の標準ピッチP2
と対比して隣接づるホトセル22a間はピッチP1とな
る。なお、幅の等しいシンチレータ26を使用した場合
;j; 1〜セル22と関連しているシンチレータ24
a間はキャップGとなる。このギャップGは新たな死区
域を導くため、収集すべきある情報量に対して必要な患
者の線用は増加する。
[発明の目的]
本発明は検出器間が−(Yのピッブーで、しかも、万一
その群内の1個の検出器のいずれかのホトセルが故障と
判明した場合、限られた検出器群を選択的に除去てぎる
高密度配列検出器を提供づることを目的とする。
その群内の1個の検出器のいずれかのホトセルが故障と
判明した場合、限られた検出器群を選択的に除去てぎる
高密度配列検出器を提供づることを目的とする。
[発明の概要]
この目的を達成プるために本発明は、基板ど、この基板
上に間隙して配列された複数の第1光電変換素子から成
る素子配列と、素子配列の継さ目に間隙りよりも大きい
間隙で隣接して配置され、第1光電変換素子よりは幅の
狭い2個の第2光゛市変換素子と、第1及び第2充電変
換累子の[−にそれぞれ等間隔で配置され、かつ同一幅
を石Jるシンチレータとを具備したことを要旨とづるら
のC・ある。
上に間隙して配列された複数の第1光電変換素子から成
る素子配列と、素子配列の継さ目に間隙りよりも大きい
間隙で隣接して配置され、第1光電変換素子よりは幅の
狭い2個の第2光゛市変換素子と、第1及び第2充電変
換累子の[−にそれぞれ等間隔で配置され、かつ同一幅
を石Jるシンチレータとを具備したことを要旨とづるら
のC・ある。
[発明の実施例]
以下、本発明による一実施例を図面を用い’Ci+Y細
に説明する。
に説明する。
第3図は本実施例の斜視図である。同図に示7Jように
基板30の上に複数個の11ζ1〜L!ル32く幅W1
)が取付けられている。ホ[・レルζ32(よJ、t
))i30上に並べて首かれ相互に距14L2で分前さ
れている。[2は上)ホのように小1〜セル32の留庶
を最大にする値である。しかし、距trill 1.2
jJll・1−セル32に損傷を与えることなく相隣
る小1〜セル32間の基tf230を切f!Jiでさる
値としては不−1分である。
基板30の上に複数個の11ζ1〜L!ル32く幅W1
)が取付けられている。ホ[・レルζ32(よJ、t
))i30上に並べて首かれ相互に距14L2で分前さ
れている。[2は上)ホのように小1〜セル32の留庶
を最大にする値である。しかし、距trill 1.2
jJll・1−セル32に損傷を与えることなく相隣
る小1〜セル32間の基tf230を切f!Jiでさる
値としては不−1分である。
従って、並べられているホトセル34の1対が股()ら
れているその各々の幅はWlより小さいW2にしである
。その区別を容易にηるためにホトレル34として次に
述べる。並へられた小1〜セル34の8対は小1〜セル
32の群の間に胃かれ、各ホトセルは隣接するボ]・セ
ルと距離L2だ【プ分離されCいる。ただし、小1〜セ
ル3′34の対の対向側にある小1〜セル32の中心間
は距1dl dだけ分前されている。dは小1〜セル3
2のピッチの318に竹しい、寸なわらL −1−W
1の318に等しい。
れているその各々の幅はWlより小さいW2にしである
。その区別を容易にηるためにホトレル34として次に
述べる。並へられた小1〜セル34の8対は小1〜セル
32の群の間に胃かれ、各ホトセルは隣接するボ]・セ
ルと距離L2だ【プ分離されCいる。ただし、小1〜セ
ル3′34の対の対向側にある小1〜セル32の中心間
は距1dl dだけ分前されている。dは小1〜セル3
2のピッチの318に竹しい、寸なわらL −1−W
1の318に等しい。
小1〜セル34 i、に順次距離「3だり相!フに分ト
11されている。L3はL2より十分大さくとってあり
、ホ(−セル32あるいは34に損傷をt)えることな
く点線36a−cに治ってボ1〜しル3/1間の基板3
0を選択的に切断づることがてさる。
11されている。L3はL2より十分大さくとってあり
、ホ(−セル32あるいは34に損傷をt)えることな
く点線36a−cに治ってボ1〜しル3/1間の基板3
0を選択的に切断づることがてさる。
従って、万一ホトセル32aのような小1〜セル32が
故障と判明した場合にはホトセル32aと関連している
小1〜セル32の1群全体を点線36a、36bのとこ
ろで基板30を切断することによって配列の残りの部分
から分離することができる。ホトセル32aを含むユニ
ツ]・はイの際取り除いて2個のホトセル34(各々幅
WIにり小さい幅W2のもの)をもつ同一のユニツ!〜
と取換えることができる。ホ1へセル3401つ(よそ
のtiY内のホトセル32の各端部に置かれる。上述の
ように各ホトセル34は隣接するホトセル32と最小分
離距1!lLまたけ分離され、ホトセル34と隣接する
各検出器32の中心は基板30のそれぞれの位置の端3
6a〜C力日ろL2+W1の1.518に等しい距離だ
け分離されている。なお、ホトセル34はいずれもそれ
ぞれの位置の端36 a−Cから1 、/ 2 L 3
の距離だけ分離されている。1/2L3は1 /2 L
2より十分大きいので、ホ1−t?ル34に損傷を与え
ることなく点線36a〜Cのところで基板30を切断す
ることかできる。
故障と判明した場合にはホトセル32aと関連している
小1〜セル32の1群全体を点線36a、36bのとこ
ろで基板30を切断することによって配列の残りの部分
から分離することができる。ホトセル32aを含むユニ
ツ]・はイの際取り除いて2個のホトセル34(各々幅
WIにり小さい幅W2のもの)をもつ同一のユニツ!〜
と取換えることができる。ホ1へセル3401つ(よそ
のtiY内のホトセル32の各端部に置かれる。上述の
ように各ホトセル34は隣接するホトセル32と最小分
離距1!lLまたけ分離され、ホトセル34と隣接する
各検出器32の中心は基板30のそれぞれの位置の端3
6a〜C力日ろL2+W1の1.518に等しい距離だ
け分離されている。なお、ホトセル34はいずれもそれ
ぞれの位置の端36 a−Cから1 、/ 2 L 3
の距離だけ分離されている。1/2L3は1 /2 L
2より十分大きいので、ホ1−t?ル34に損傷を与え
ることなく点線36a〜Cのところで基板30を切断す
ることかできる。
更に第3図に示すように、複数個の同一幅のシンチレー
タ素子38の各々はホトセル32および34のそれぞれ
の1個と同心になっている。従ってシンチレータ素子3
8間にギャップGが存在ゼず、その故X線は到達するが
検出はできない死区域は存在しない。
タ素子38の各々はホトセル32および34のそれぞれ
の1個と同心になっている。従ってシンチレータ素子3
8間にギャップGが存在ゼず、その故X線は到達するが
検出はできない死区域は存在しない。
X線を検出し、ホトセル32あるいは34によって順次
検出される小伝の光を生じるのはシンブレークである。
検出される小伝の光を生じるのはシンブレークである。
シンチレータ配]」は一様のビッヂをもっているから、
X線検出部は一様のビッヂを保っている。小1〜セル3
4のリーイズ(よ小さいから、小量の光がそれに相当す
るチャネルで失われる。
X線検出部は一様のビッヂを保っている。小1〜セル3
4のリーイズ(よ小さいから、小量の光がそれに相当す
るチャネルで失われる。
このことのために、これら小数のチャネルで信号振幅は
僅かに減少される。しかし、増幅器の僅かに高い電子的
ゲインによって、あるいはソフトウェアの正帛化によっ
てこのことは容易に修正できる。全てのX線がシンチレ
ータ内で検出されるから、これら小数の小さなホトセル
・チャネルにd5いてさえ、線聞効率は保存されて患者
への12mの増加は必要なくなる。
僅かに減少される。しかし、増幅器の僅かに高い電子的
ゲインによって、あるいはソフトウェアの正帛化によっ
てこのことは容易に修正できる。全てのX線がシンチレ
ータ内で検出されるから、これら小数の小さなホトセル
・チャネルにd5いてさえ、線聞効率は保存されて患者
への12mの増加は必要なくなる。
従って本発明を用いることにより多数のホ1へセルの1
個の配列(ユ、多数の小1〜セルを含めて、1個の基板
上にに2りられる。この小1−レル配列は2個の異なる
サイズのホ1−セルから成り、これはホトセルおよび光
電変換器として説明を容易にづるため上8社のように述
べた。
個の配列(ユ、多数の小1〜セルを含めて、1個の基板
上にに2りられる。この小1−レル配列は2個の異なる
サイズのホ1−セルから成り、これはホトセルおよび光
電変換器として説明を容易にづるため上8社のように述
べた。
配列内゛のほとんどのホトセルの司法は、最良の信号対
雑音比と最良の線量利用効率をしら一致している。しか
し周期的に僅かに小さいホトセルの1対が配列の中で置
き代えられ、これらのホトレル間により大きなスペース
を残している。
雑音比と最良の線量利用効率をしら一致している。しか
し周期的に僅かに小さいホトセルの1対が配列の中で置
き代えられ、これらのホトレル間により大きなスペース
を残している。
典型的な24チヤネル・単1へセル配列に(よ2個の小
形ホトセルと6個の普通の大きざのホ1−セルの8個の
ホトセルをユニツ!〜としたものを複数i!II含ませ
ることができる。ユニット内のホ1〜セル間のスペース
は最小値にとられる。この」ニラ[・間のスペースは不
良ホトセルがとのユニツ1〜内(−児つかつても切断が
できるだけの十分の人ささになっている。本発明を用い
れば、1個の不良ホl−tルが完成された配列の中に発
見された1含、この不良セルを含むユニツ1−はダイス
され取去られ、全ての作動〕1−ト°セルを含む別の」
−ニラ1−と交換される。これによってホトセルの収出
は大いに改善される。
形ホトセルと6個の普通の大きざのホ1−セルの8個の
ホトセルをユニツ!〜としたものを複数i!II含ませ
ることができる。ユニット内のホ1〜セル間のスペース
は最小値にとられる。この」ニラ[・間のスペースは不
良ホトセルがとのユニツ1〜内(−児つかつても切断が
できるだけの十分の人ささになっている。本発明を用い
れば、1個の不良ホl−tルが完成された配列の中に発
見された1含、この不良セルを含むユニツ1−はダイス
され取去られ、全ての作動〕1−ト°セルを含む別の」
−ニラ1−と交換される。これによってホトセルの収出
は大いに改善される。
[発明の効果コ
以上、本発明によれば最良の線量利用効率をもつ同一大
きさのシンチレータの配列が上記ホトセル配列に結合さ
れる。シンチレータはX線を検出するものであるから等
ピッチで高検出効率で、低ノイズの検出配列ができる。
きさのシンチレータの配列が上記ホトセル配列に結合さ
れる。シンチレータはX線を検出するものであるから等
ピッチで高検出効率で、低ノイズの検出配列ができる。
比較的小数の小形+1・1へセルにおいて、検出出力は
幾分小さくなり、S、/N比はこれら小数の単1へセル
においてのみ幾分悲くなる。しかし、それらの縮少面積
の単1へセルにおいてもX線は検出されるので線量効率
は悪くならない。
幾分小さくなり、S、/N比はこれら小数の単1へセル
においてのみ幾分悲くなる。しかし、それらの縮少面積
の単1へセルにおいてもX線は検出されるので線量効率
は悪くならない。
更に付加わる利益や改造は技術に熟練している人々には
容易に起こるであろう。それ故更に広い方面での発明は
上記に示し、また説明した特殊な詳細事項や図解例に限
るものではない。従って、出願人の一般発明の概念の精
神や範囲から逸脱しない範囲で種々の変形例が導けるこ
とは言うまでもない。
容易に起こるであろう。それ故更に広い方面での発明は
上記に示し、また説明した特殊な詳細事項や図解例に限
るものではない。従って、出願人の一般発明の概念の精
神や範囲から逸脱しない範囲で種々の変形例が導けるこ
とは言うまでもない。
第1図及び第2図は従来の放射線検出器のrI視図、第
3図は本発明の一実施例の斜視図である。 3o・・・基板、32.34・・・ホトしル、38・・
・シンチレータ
3図は本発明の一実施例の斜視図である。 3o・・・基板、32.34・・・ホトしル、38・・
・シンチレータ
Claims (1)
- 基板と、この基板上に間隙して配列された少数の第1光
電変換素子から成る素子配列と、免r配列の継ぎ目に間
隙1−よりも大きい間隙でrW I); L/ ゛c配
装され、第1光電変換素子よりは幅の狭い2 ++IJ
の第2光電変換素子と、第1及び第2光電変[φ水子の
上にそれぞれ等間隔で配置され、かつ1111−幅を有
するシンブレークとを具備したことを’B+ ’dりと
覆る放射線検出器。
Applications Claiming Priority (2)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
US523366 | 1983-08-15 | ||
US06/523,366 US4543490A (en) | 1983-08-15 | 1983-08-15 | High density detector array with replaceable sections |
Publications (2)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JPS6040985A true JPS6040985A (ja) | 1985-03-04 |
JPH0469351B2 JPH0469351B2 (ja) | 1992-11-05 |
Family
ID=24084706
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP59061240A Granted JPS6040985A (ja) | 1983-08-15 | 1984-03-30 | 放射線検出器 |
Country Status (4)
Country | Link |
---|---|
US (1) | US4543490A (ja) |
EP (1) | EP0139375B1 (ja) |
JP (1) | JPS6040985A (ja) |
DE (1) | DE3474863D1 (ja) |
Families Citing this family (12)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
US5166961A (en) * | 1988-10-20 | 1992-11-24 | Picker International, Inc. | CT scanner having multiple detector widths |
US5228070A (en) * | 1988-10-20 | 1993-07-13 | Picker International, Inc. | Constant image quality CT scanner with variable radiation flux density |
JPH0619441B2 (ja) * | 1989-06-21 | 1994-03-16 | 株式会社東芝 | X線検出器およびx線ctスキャナ装置 |
US5140395A (en) * | 1990-04-03 | 1992-08-18 | Electromed International Ltd. | X-ray sensor arrays |
US5028788A (en) * | 1990-04-03 | 1991-07-02 | Electromed International Ltd. | X-ray sensor array |
US5153438A (en) * | 1990-10-01 | 1992-10-06 | General Electric Company | Method of forming an x-ray imaging array and the array |
US5233177A (en) * | 1991-01-18 | 1993-08-03 | The Furukawa Electric Co., Ltd. | Optical sensor with fiberless optical member |
US5254480A (en) * | 1992-02-20 | 1993-10-19 | Minnesota Mining And Manufacturing Company | Process for producing a large area solid state radiation detector |
US5499114A (en) * | 1994-10-31 | 1996-03-12 | Eastman Kodak Company | Digital image scanning apparatus with pixel data compensation for bad photosites |
US5648996A (en) * | 1995-08-04 | 1997-07-15 | Omega International Technology, Inc. | Tangential computerized tomography scanner |
FI99074C (fi) * | 1995-11-21 | 1997-09-25 | Planmed Oy | Menetelmä ja laite digitaaliseen kuvantamiseen tarkoitetun kameran anturijärjestelmän muodostamiseksi |
CN1886674B (zh) * | 2003-11-28 | 2010-12-08 | 皇家飞利浦电子股份有限公司 | 辐射检测器模块 |
Family Cites Families (4)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
US3717762A (en) * | 1970-09-21 | 1973-02-20 | Baird Atomic Inc | Sensing matrix for a radioactivity-distribution detector |
GB1564385A (en) * | 1977-03-24 | 1980-04-10 | Emi Ltd | Arrangements for detecting ionising radiation |
DE2744226C2 (de) * | 1977-09-30 | 1985-06-27 | Siemens AG, 1000 Berlin und 8000 München | Schichtgerät zur Herstellung von Transversalschichtbildern |
US4338521A (en) * | 1980-05-09 | 1982-07-06 | General Electric Company | Modular radiation detector array and module |
-
1983
- 1983-08-15 US US06/523,366 patent/US4543490A/en not_active Expired - Fee Related
-
1984
- 1984-03-30 JP JP59061240A patent/JPS6040985A/ja active Granted
- 1984-08-10 DE DE8484305474T patent/DE3474863D1/de not_active Expired
- 1984-08-10 EP EP84305474A patent/EP0139375B1/en not_active Expired
Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
JPH0469351B2 (ja) | 1992-11-05 |
EP0139375A1 (en) | 1985-05-02 |
US4543490A (en) | 1985-09-24 |
DE3474863D1 (en) | 1988-12-01 |
EP0139375B1 (en) | 1988-10-26 |
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