JPS60235275A - コンピユ−タ援用計測システム - Google Patents
コンピユ−タ援用計測システムInfo
- Publication number
- JPS60235275A JPS60235275A JP9124284A JP9124284A JPS60235275A JP S60235275 A JPS60235275 A JP S60235275A JP 9124284 A JP9124284 A JP 9124284A JP 9124284 A JP9124284 A JP 9124284A JP S60235275 A JPS60235275 A JP S60235275A
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- JP
- Japan
- Prior art keywords
- input
- measurement
- program
- output device
- output
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Pending
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Classifications
-
- G—PHYSICS
- G06—COMPUTING; CALCULATING OR COUNTING
- G06F—ELECTRIC DIGITAL DATA PROCESSING
- G06F11/00—Error detection; Error correction; Monitoring
- G06F11/22—Detection or location of defective computer hardware by testing during standby operation or during idle time, e.g. start-up testing
Landscapes
- Engineering & Computer Science (AREA)
- General Engineering & Computer Science (AREA)
- Theoretical Computer Science (AREA)
- Computer Hardware Design (AREA)
- Quality & Reliability (AREA)
- Physics & Mathematics (AREA)
- General Physics & Mathematics (AREA)
- Testing Or Calibration Of Command Recording Devices (AREA)
Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
〔産業上の利用分野〕
本発明は、アナログ形式・デジタル形式等の各種センサ
ーやアクチュエータの動作を計測する場合に、計測装置
の計測条件等の動作の設定や計測データの後処理等をコ
ンピュータを用いて制御するためのコンピュータ援用計
測システムに関する。
ーやアクチュエータの動作を計測する場合に、計測装置
の計測条件等の動作の設定や計測データの後処理等をコ
ンピュータを用いて制御するためのコンピュータ援用計
測システムに関する。
従来よシ、この種の計測システムにおいては、各捗計測
装置にコンピュータに接続可節な形式でデータを入出力
するためのインターフェース装置を設け、コンピュータ
側では、そのシステム構成に対応したプログラムを用意
してシステム全体の制御を行なっていた。
装置にコンピュータに接続可節な形式でデータを入出力
するためのインターフェース装置を設け、コンピュータ
側では、そのシステム構成に対応したプログラムを用意
してシステム全体の制御を行なっていた。
〔発明が解決し７ようとする問題点〕
しかしながら、一般的に上記各種計測装置を制御するた
めには、計測データの変化に十分追従できなけｈは計測
精度が悪くなるために、その制御プログラムは通常アセ
ンブラ等により機械語レベルで作成しなければならない
ので、汎用性が低く、使用しにくいという不都合があっ
た。
めには、計測データの変化に十分追従できなけｈは計測
精度が悪くなるために、その制御プログラムは通常アセ
ンブラ等により機械語レベルで作成しなければならない
ので、汎用性が低く、使用しにくいという不都合があっ
た。
又、計測対象毎に制御プログラムを作成しなけわ、ばな
らないため、上記アセンブラを使えないと実質的に使用
できなかったシ、−回の計測結果から計測方法を変えて
再計測する必要が生じた場合は、システムの再構成に非
常に時間がかかつて効率が良くないという不都合もあっ
た。
らないため、上記アセンブラを使えないと実質的に使用
できなかったシ、−回の計測結果から計測方法を変えて
再計測する必要が生じた場合は、システムの再構成に非
常に時間がかかつて効率が良くないという不都合もあっ
た。
本発明は上記実情に鑑みてなされたものであって、その
目的は、計測条件等の設定・変更が容易に行なえる汎用
性の高いコンピュータ援用計測システムを提供すること
にある。
目的は、計測条件等の設定・変更が容易に行なえる汎用
性の高いコンピュータ援用計測システムを提供すること
にある。
上記目的を達成すべく、本発明によるコンピュータ援用
計測システムは、予め設定された形式の信号を夫々接続
されたセンサー・アクチュエータ等に対して入出力を行
なう複数の計測信号入出力装置と、この入出力装置の動
作を予め設定された条件に基いて一対一に管理する複数
の管理手段と、前記管理手段に対して計測結果および動
作条件の設定等の制御情報の入出力を行なうモニタ手段
とを備え、前記モニタ手段を介して前記各計測信号入出
力装置の動作条件の設定および計測結果のデータを入出
力する点に特徴を有する。
計測システムは、予め設定された形式の信号を夫々接続
されたセンサー・アクチュエータ等に対して入出力を行
なう複数の計測信号入出力装置と、この入出力装置の動
作を予め設定された条件に基いて一対一に管理する複数
の管理手段と、前記管理手段に対して計測結果および動
作条件の設定等の制御情報の入出力を行なうモニタ手段
とを備え、前記モニタ手段を介して前記各計測信号入出
力装置の動作条件の設定および計測結果のデータを入出
力する点に特徴を有する。
以下、上記構成を第１図に示すブロック図に基いて説明
する。
する。
計測対象としての計測機器や各種センサー・アクチュエ
ータ等に対して所定の信号を入出力する複数の計測信号
入出力装置（１）・・の動作を夫々一対一に管理する複
数の管理手段（１１）・・と、この管理手段（１１）・
・に対して各入出力装置（１）・・の動作条件等の制御
情報の生成および計測結果としての入出力データの管理
等を行なうモニタ手段（ＩＩ＋）を設け、使用する入出
力装置（１）・・、その動作条件としての計測条件の設
定、および計測結果（入出力データ）の受取り等を行な
うシステム制御手段ＯＶ）によって設定された各制御情
報を−Ｈ前記モニタ手段（ＩＩ＋）に一括して引渡し、
このモニタ手段（ＩＩＯよシ対応する入出力装置（１）
の管理手段（１１）に制御情報や入出力データを入出力
し、処理が終了するまでは各管理手段（１１）によって
夫々の入出力装置（１）・・の動作を個別に管理するの
である。
ータ等に対して所定の信号を入出力する複数の計測信号
入出力装置（１）・・の動作を夫々一対一に管理する複
数の管理手段（１１）・・と、この管理手段（１１）・
・に対して各入出力装置（１）・・の動作条件等の制御
情報の生成および計測結果としての入出力データの管理
等を行なうモニタ手段（ＩＩ＋）を設け、使用する入出
力装置（１）・・、その動作条件としての計測条件の設
定、および計測結果（入出力データ）の受取り等を行な
うシステム制御手段ＯＶ）によって設定された各制御情
報を−Ｈ前記モニタ手段（ＩＩ＋）に一括して引渡し、
このモニタ手段（ＩＩＯよシ対応する入出力装置（１）
の管理手段（１１）に制御情報や入出力データを入出力
し、処理が終了するまでは各管理手段（１１）によって
夫々の入出力装置（１）・・の動作を個別に管理するの
である。
上記構成数に、下記の如き優れた効果が発揮されるに至
っ念。
っ念。
即ち、各管理手段すなわち対応する各入出力装置の状態
をモニタ手段によって一括管理するので、従来のように
各入出力装置の動作条件等の制御情報の細部まで指示す
るための機械語レベルのプログラムの作成を行なう必要
が無く、前記モニタ手段に対して、マクロ的な制御情報
や入出力データを指示するだけで簡単に必要な計測シス
テムを構成できるに至った。
をモニタ手段によって一括管理するので、従来のように
各入出力装置の動作条件等の制御情報の細部まで指示す
るための機械語レベルのプログラムの作成を行なう必要
が無く、前記モニタ手段に対して、マクロ的な制御情報
や入出力データを指示するだけで簡単に必要な計測シス
テムを構成できるに至った。
従って、複雑なプログラムを作成することなく、比較的
プログラムの作成が容易な上位レベルの言語で簡単に目
的の計測システムの全体を構成するための制御プログラ
ムを作ることができるに至った。
プログラムの作成が容易な上位レベルの言語で簡単に目
的の計測システムの全体を構成するための制御プログラ
ムを作ることができるに至った。
又、ある計測条件を設定して計測を行なった結果に基い
て一部条件を変更し念り、異なる条件で再計測を行なう
必要が生じた場合でも簡単に計測システムの再構成を行
なうことが可能になったのである。
て一部条件を変更し念り、異なる条件で再計測を行なう
必要が生じた場合でも簡単に計測システムの再構成を行
なうことが可能になったのである。
更に又、各計測信号入出力装置の動作条件や入出力デー
タの管理は対応する管理手段によって夫々個別に行なう
ことから、いわゆる並列処理的に各入出力装置を高速か
つ独立的に動作させることができるので、計測システム
全体を構成するための制御プログラムの負担が低くなシ
、システム構成が容易なものにできたのである。
タの管理は対応する管理手段によって夫々個別に行なう
ことから、いわゆる並列処理的に各入出力装置を高速か
つ独立的に動作させることができるので、計測システム
全体を構成するための制御プログラムの負担が低くなシ
、システム構成が容易なものにできたのである。
以下、本発明の実施例を図面に基いて説明する。
第２図に示すように、本実施例では、前記システム制御
子＃（ＩＶ）としていわゆるパーソナルコンピュータ（
１）を用い、例えばＲＡＳＩＣ言語等の上位言語で計測
システムのマクロ的な構成を作成し全体の動作を制御す
べく構成しである。
子＃（ＩＶ）としていわゆるパーソナルコンピュータ（
１）を用い、例えばＲＡＳＩＣ言語等の上位言語で計測
システムのマクロ的な構成を作成し全体の動作を制御す
べく構成しである。
一方、Ａ／Ｄ変換器、Ｄ／Ａ変換器、デジタル的なＯＮ
・ＯＦＦ信号等の各称計測用の信号を入出力する計測信
号入出力装置（２）を前肥コンピュータの拡張ユニット
（３）のバスへ接続するとともに、前記各入出力装置（
２）の動作を管理する手段（１１）としての入出力装置
制御プログラム（Ｐｉ ）・・およびこの制御プログラ
ム（ＰＩ ）の実際の制御を行なうモニタプログラム（
ｐｍ）とを前記コンピュータ（１）のメモリー（財）の
所定エリアに配置する。
・ＯＦＦ信号等の各称計測用の信号を入出力する計測信
号入出力装置（２）を前肥コンピュータの拡張ユニット
（３）のバスへ接続するとともに、前記各入出力装置（
２）の動作を管理する手段（１１）としての入出力装置
制御プログラム（Ｐｉ ）・・およびこの制御プログラ
ム（ＰＩ ）の実際の制御を行なうモニタプログラム（
ｐｍ）とを前記コンピュータ（１）のメモリー（財）の
所定エリアに配置する。
そして、前記上位言語で作成したメイン制御プログラム
（Ｐａ）によって各入出力装置＋２１の制御情報や入出
力データを引数の形式としてｇｔ＋記モニタプログヲム
（２面に全部の情報を引渡す。
（Ｐａ）によって各入出力装置＋２１の制御情報や入出
力データを引数の形式としてｇｔ＋記モニタプログヲム
（２面に全部の情報を引渡す。
前記モニタプログラム（Ｐｒｎ）はメイン制御プログラ
ム（Ｐａ）から引渡された情報を予め設定された手順に
基いて対応する管理プログラム（Ｐｉ）・・に順次制御
情報やデータを引渡すとともに必要な処理を行ない各入
出力装置の動作状態を管理するのである。
ム（Ｐａ）から引渡された情報を予め設定された手順に
基いて対応する管理プログラム（Ｐｉ）・・に順次制御
情報やデータを引渡すとともに必要な処理を行ない各入
出力装置の動作状態を管理するのである。
尚、前記モニタプログラム（Ｐｍ）および各管理プログ
ラム（Ｐｉ）は全ての入出力装置の動作条件等に対応で
きるように予め構成するとともに、パラメータの設定の
みで動作するように、機械語レベルで作成しである。
ラム（Ｐｉ）は全ての入出力装置の動作条件等に対応で
きるように予め構成するとともに、パラメータの設定の
みで動作するように、機械語レベルで作成しである。
従って、計測目的やその計測条件に応じて必要な処理手
順や入出力データのみをメイン制御プログラムで作成す
ればよいので、計測システムの構成が容易になったので
ある。
順や入出力データのみをメイン制御プログラムで作成す
ればよいので、計測システムの構成が容易になったので
ある。
また、各入出力装置の実際の動作の制御・管理は管理プ
ログラムによって夫々個別に行なうためメイン制御プロ
グラムの処理負担が少なくなるとともに、処理速度を要
求されるような場合にも十分対応できるものになったの
である。
ログラムによって夫々個別に行なうためメイン制御プロ
グラムの処理負担が少なくなるとともに、処理速度を要
求されるような場合にも十分対応できるものになったの
である。
また、各入出力装置の処理終了は割り込み処理等によっ
てメイン制御プログラムに通知できる。
てメイン制御プログラムに通知できる。
図面は本発明に係るコンピュータ援用計測システムの実
施例を示し、第１図はシステムの構成を示すブロック図
、第２図はハードウェアの構成を示すブロック図である
。
施例を示し、第１図はシステムの構成を示すブロック図
、第２図はハードウェアの構成を示すブロック図である
。
Claims (1)
- 予め設定でハた形式の信号を夫々接続されたセンサー・
アクチュエータ等に対して入出力を行なう複数の計測信
号入出力装置（１）と、この入出力装置（１）の動作を
予め設定された条件に基いて一対一に管理する複数の管
理手段（１１）と、前記各管理手段（１１）に対して計
測結果および動作条件の設定等の制御情報の入出力を行
なうモニタ手段（Ｉｌｌ）とを備え、＠記モニタ手段（
Ｉｌｌ）を介して前記各計測信号入出力装置（１）の動
作条件の設定および計測結果のデータを入出力すること
を特徴とするコンピュータ援用計測システム。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP9124284A JPS60235275A (ja) | 1984-05-08 | 1984-05-08 | コンピユ−タ援用計測システム |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP9124284A JPS60235275A (ja) | 1984-05-08 | 1984-05-08 | コンピユ−タ援用計測システム |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPS60235275A true JPS60235275A (ja) | 1985-11-21 |
Family
ID=14020949
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP9124284A Pending JPS60235275A (ja) | 1984-05-08 | 1984-05-08 | コンピユ−タ援用計測システム |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPS60235275A (ja) |
Cited By (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| KR100250350B1 (ko) * | 1995-07-21 | 2000-04-01 | 다니구찌 이찌로오 | 절연 게이트형 반도체 장치의 제조방법 |
Citations (2)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS57208411A (en) * | 1981-06-15 | 1982-12-21 | Westinghouse Electric Corp | Method of operating automatic tester and automatic tester |
| JPS5969896A (ja) * | 1982-10-15 | 1984-04-20 | 横河電機株式会社 | 分散形計測システム |
-
1984
- 1984-05-08 JP JP9124284A patent/JPS60235275A/ja active Pending
Patent Citations (2)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS57208411A (en) * | 1981-06-15 | 1982-12-21 | Westinghouse Electric Corp | Method of operating automatic tester and automatic tester |
| JPS5969896A (ja) * | 1982-10-15 | 1984-04-20 | 横河電機株式会社 | 分散形計測システム |
Cited By (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| KR100250350B1 (ko) * | 1995-07-21 | 2000-04-01 | 다니구찌 이찌로오 | 절연 게이트형 반도체 장치의 제조방법 |
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