JPS60234969A - 対向タ−ゲツト式スパツタ装置 - Google Patents

対向タ−ゲツト式スパツタ装置

Info

Publication number
JPS60234969A
JPS60234969A JP9099184A JP9099184A JPS60234969A JP S60234969 A JPS60234969 A JP S60234969A JP 9099184 A JP9099184 A JP 9099184A JP 9099184 A JP9099184 A JP 9099184A JP S60234969 A JPS60234969 A JP S60234969A
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
target
magnetic
magnetic field
sputtering apparatus
targets
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Granted
Application number
JP9099184A
Other languages
English (en)
Other versions
JPH0245701B2 (ja
Inventor
Kazuhiko Honjo
和彦 本庄
Kimio Kinoshita
木下 公夫
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Teijin Ltd
Original Assignee
Teijin Ltd
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Teijin Ltd filed Critical Teijin Ltd
Priority to JP9099184A priority Critical patent/JPH0245701B2/ja
Publication of JPS60234969A publication Critical patent/JPS60234969A/ja
Publication of JPH0245701B2 publication Critical patent/JPH0245701B2/ja
Anticipated expiration legal-status Critical
Expired - Lifetime legal-status Critical Current

Links

Classifications

    • CCHEMISTRY; METALLURGY
    • C23COATING METALLIC MATERIAL; COATING MATERIAL WITH METALLIC MATERIAL; CHEMICAL SURFACE TREATMENT; DIFFUSION TREATMENT OF METALLIC MATERIAL; COATING BY VACUUM EVAPORATION, BY SPUTTERING, BY ION IMPLANTATION OR BY CHEMICAL VAPOUR DEPOSITION, IN GENERAL; INHIBITING CORROSION OF METALLIC MATERIAL OR INCRUSTATION IN GENERAL
    • C23CCOATING METALLIC MATERIAL; COATING MATERIAL WITH METALLIC MATERIAL; SURFACE TREATMENT OF METALLIC MATERIAL BY DIFFUSION INTO THE SURFACE, BY CHEMICAL CONVERSION OR SUBSTITUTION; COATING BY VACUUM EVAPORATION, BY SPUTTERING, BY ION IMPLANTATION OR BY CHEMICAL VAPOUR DEPOSITION, IN GENERAL
    • C23C14/00Coating by vacuum evaporation, by sputtering or by ion implantation of the coating forming material
    • C23C14/22Coating by vacuum evaporation, by sputtering or by ion implantation of the coating forming material characterised by the process of coating
    • C23C14/34Sputtering
    • C23C14/35Sputtering by application of a magnetic field, e.g. magnetron sputtering
    • C23C14/352Sputtering by application of a magnetic field, e.g. magnetron sputtering using more than one target
    • CCHEMISTRY; METALLURGY
    • C23COATING METALLIC MATERIAL; COATING MATERIAL WITH METALLIC MATERIAL; CHEMICAL SURFACE TREATMENT; DIFFUSION TREATMENT OF METALLIC MATERIAL; COATING BY VACUUM EVAPORATION, BY SPUTTERING, BY ION IMPLANTATION OR BY CHEMICAL VAPOUR DEPOSITION, IN GENERAL; INHIBITING CORROSION OF METALLIC MATERIAL OR INCRUSTATION IN GENERAL
    • C23CCOATING METALLIC MATERIAL; COATING MATERIAL WITH METALLIC MATERIAL; SURFACE TREATMENT OF METALLIC MATERIAL BY DIFFUSION INTO THE SURFACE, BY CHEMICAL CONVERSION OR SUBSTITUTION; COATING BY VACUUM EVAPORATION, BY SPUTTERING, BY ION IMPLANTATION OR BY CHEMICAL VAPOUR DEPOSITION, IN GENERAL
    • C23C14/00Coating by vacuum evaporation, by sputtering or by ion implantation of the coating forming material
    • C23C14/22Coating by vacuum evaporation, by sputtering or by ion implantation of the coating forming material characterised by the process of coating
    • C23C14/34Sputtering
    • C23C14/35Sputtering by application of a magnetic field, e.g. magnetron sputtering

Landscapes

  • Chemical & Material Sciences (AREA)
  • Chemical Kinetics & Catalysis (AREA)
  • Engineering & Computer Science (AREA)
  • Materials Engineering (AREA)
  • Mechanical Engineering (AREA)
  • Metallurgy (AREA)
  • Organic Chemistry (AREA)
  • Physical Vapour Deposition (AREA)

Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。

Description

【発明の詳細な説明】 〔利用分野〕 本発明は一組のターゲットを所定間隔隔てて対面させ、
その側方に配した基板上に薄膜を形成するようにした対
向ターゲット式スパック装甜に関し、史に詳しくは形成
される薄膜の膜厚分布の調整が容易で長時間均一膜厚の
薄膜が形成できる対向ターゲット式スパック装置に関し
、特に磁性薄膜形成に有利な対向ターゲット式スパッタ
装置に関する。
〔従来技術〕
上述の対向ターゲット式スパッタ装置は、「応用物理」
第48巻(1979)第6号P558〜P559.特開
昭57−158380号公報等で公知の通り、陰極とな
る一対のターゲットをそのスパッタ面が空間を隔てて平
行に対面するようVC設けると共に、該スパッタ面に垂
直な方向の磁界な発生する磁界発生手段を設け、前記タ
ーゲット間の空間の側方圧配した基板上に膜形成するよ
うになしたスパック装置で、高速・低温の膜形成ができ
る上、磁性材料にも通用できる非常に浸れたものである
本発明者らも、その実用化を目的に、特開昭58−18
9370号公報、特開昭58−189371号公報等で
その改善を提案した。
〔発明の目的〕
本発明者らは、対向ターノメット式スパッタ装置の前述
の特長に注目し、磁気記録媒体の製造への適用を検討し
てきた。この方法は、特願昭57−163081号で提
案した巾の広い長方形のターゲットと移送ローラとを組
合せた対向ターゲット式スパンタ装置に数100mとい
うような長尺のポリエステルフィルム等の可撓性の基板
をa−ル状にして装填1−1長時間連続して該基板を移
送しつつその上に所定の磁性薄膜を形成して磁気記録媒
体を連続生産するものである。
ところで、本発明者らは、上記の検討において、以下の
知見、すなわちスパッタ時間の経過とともに、形成され
る薄膜の幅方向の膜厚分布が一方向に推移していく現象
を発見した。
この幅方向の膜厚分布の推移していく原因を複々の角度
から検討]−だ結果、以下のことが判明した。
公知のi+!1つ、上述のスパック装置では、スパッタ
されて対向ターゲット空間に飛び出たスパッタ粒子は、
必要とする基板上に堆積する以外に、装置の内壁や、タ
ーゲットホルダーのシールドカバーにも堆積してい(。
そして、ターゲット社員に磁性材料を用いる場合にはシ
ールドカバーの先端折曲部への堆積が以上のよ5に問題
となる。すなわち、ターゲットホルダーのシールドカバ
ー、特に、その先端部において対向するターゲット側に
突設した先端折曲部に堆積l−だ磁性薄膜は、長時間ス
パッタしていくうちに次第に厚くなり、運転開始時には
ターゲットのスパッタ面に垂直な方向にターゲットの周
辺に沿つ℃均一なプラズマ収束用の磁界を発生するよう
になされていたものが、その均一な磁界がくずれるほど
にまで成長する。しかもこの先端折曲部に堆積する膜は
先端折曲部全面忙亘って均一にはならない。特に、広幅
の基板に適用されるAl1述の長方形のターゲットを用
いる場合は顕著で、堆積膜の膜厚は基板の幅方向中心が
厚(両端で薄くなる分布を示し、しかもその分布が、対
称形にならない場合が多い。この原因としては、スパッ
タガスの流れの不均一、ターゲツト面より発生させるプ
ラズマ収束用の磁界のわずかな不均一性等が考えられる
このわずかな不均一性に基い【ターゲット幅方向に非対
称に堆積した先端折曲部上の磁性膜により、ターゲット
周辺部より発生しているプラズマ収束用の磁界は、最も
厚い磁性膜部分に集中するようになり、対向ターゲット
空間に収束されているプラズマは、該磁界の分布変化圧
応じてその分布が変化する。この不均一現象の愚循環が
長時間のスパッタの間助長されていく。又、ターゲット
幅方向に対称形にシールドカバーの先端折曲部上に磁性
膜が堆積したとしても、上記同様な現象により、ターゲ
ット幅方向の中心に磁界の集中が起り、該中心部へのプ
ラズマの集中、ターゲット浸食の集中が発生し、結局幅
方向膜厚分布の不均一化を助長する点で何ら前述の場合
と変らない。
本発明は、上述の知見に基いて71jされたもので、膜
厚分布の調整が容易で、膜厚分布が長期安定した連続生
*に好適な対向ターゲット式スパッタ装置の提供を目的
としたものである。
〔発明の構成及び作用効果〕
前述の目的は以下の本発明により達成される。すなわち
、本発明は、前述の公知の対向ターゲット式スパッタ装
置、具体的にはそのスパッタ面が空間を隔てて平行に対
面するようfeけられたターゲットの周囲にシールドカ
バーを設けると共に、該ターゲットの背面に該スパッタ
面圧垂直な方向の磁界を発生する磁界発生手段を股1す
、前記ターゲット間の空間の側方に該空間に対面するよ
うに配置した基鈑上に膜形成するようになした対向ター
ゲット式スパッタ装gvcおいて、前記ターゲットの油
力の周囲に前記磁界発生手段からの磁束の磁路となる軟
磁性材からなる磁路部材を配し、前記磁界のターゲツト
回りの分布パターンを調整可能となした−ことを特徴と
する対向ターゲット式スパッタ装置である。
上述の本発明は、前記知見と対向ターゲット式スパッタ
方式の原理、すなわち、ターゲットのスパッタ面f垂直
な方向に発生させるプラズマ収束用の磁界は、ターゲッ
トの外周辺部のみに、強(しかも周辺均一にする方が、
ターゲット全面により均一にスパッタ浸食されるという
ことに基いてなされたものである。
すなわち、本発明は、前述のシールドカバーの先端折曲
部上に堆積した磁性薄膜の作用に注目し、この効果を積
極的に利用したもので、ターゲットの前面に磁界発生手
段からの磁束の通路となる磁姫路部材を配し、磁路部材
に紡記磁性薄膜と同じ作用をさせ、プラズマ捕捉用磁界
のパターンを設定するものである。従って従来の如く、
磁界発生手段の配置あるいは磁界強度を調整して磁界パ
ターンを設定するのに比べ極め【簡単であり且つ融通性
に富む効果がある。その上、磁性薄膜の形成に際しても
シールドカバーの先端折曲部に多少磁性薄膜が堆積して
も、磁路部材は充分な透磁率を有するので、磁路部材で
設定したパターンは前述した従来装置に比べて長期間安
鴛している利点もある。なお、磁路部材としては上述の
その作用から磁束を通し易いものであれば艮(、軟磁性
材、特に商運磁率のもの、更には磁束密度の大きいもの
が好ましく、軟鋼、ケイ素鋼、パーマロイ等が適用され
る。
また、磁路部材が磁界発生手段に対し前記シールドカバ
ーの先端折曲部と並列の磁路となるよう圧設けると、先
端折曲部上に堆積する磁性薄膜の影響を完全に除くこと
ができ、長期安定運転が可能となる。そし−C@路路材
材自体先端折曲部であるようにすることにより、従来装
置と全く同じ機械的構成で長期安定運転が可能な対向タ
ーゲット式スパッタ装置が得られる。なお、この場合、
磁界パターンの設定は先端折曲部の折自巾の寸法、ター
ゲットを囲む形状の調整等により行なうことができる。
更に本発明は、パターンの調整が難しい基板の幅方向鎖
長い長方形のターゲラ)K%に有利に適用されるが、円
形等その他形状のターゲットにも有効であることは、上
述の本発明の趣旨から明らかである。又、本発明の磁路
部材の形状はターゲット背後にその周辺に沿って配置さ
れた磁界発生手段(永久磁石)からの磁束の分布パター
ンを調整できるものであれば良く、例えば第1図に示す
ように板状体の磁性材をターゲット周辺の前面に配置し
たものが使用できるが、特に限定されない。
第1図は対向ターゲット式スパッタ装置の一方のターゲ
ット部の平面図で、Tは長方形ターゲット、Sはターゲ
ット前面に配置したシールドカバーの先端折曲部で、M
が磁路部材である。第1図(alは基板巾方向の膜厚の
均一化を目的にターゲットの四角に磁路部材Mを配した
例で、第1図(blは、基板巾方向に所定の分布を得る
ため、巾方向の適所に磁路部材Mを配した例で、共に、
先端折曲部SK取着した例を示しである。(clは後述
する実施例に用いた先端折曲部Sを軟磁性材で構成し磁
路部材としたもので、後述の通り膜厚の均一な領域が基
板幅方向に十分広い結果が得られると共に磁性薄膜形成
においても設定されたパターンが長期に亘って非常に安
定している利点もある。
なお、本発明は磁性薄膜の形成の場合に特にその効果が
大きいことはこれまでの説明で明らかであるが、磁性薄
膜以外の薄膜の作成にも有効に適用できることも明らか
である。
以下、本発明の詳細を図面、により説明する。
第2図は、本発明に係わる対向ターゲット式スパッタ装
置の説明図、第3図はそのターゲット部の拡大図である
図から明らかな通り、本装置は前述の%開昭57−15
8380号公報で公知の対向ターゲット式スパッタ装置
と基本的に同じ構成となっている。
すなわち、図において10は真空槽、20は真空槽10
を排気する真空ポンプ等からなる排気系、30は真空槽
10内に所定のガスを導入して真空槽10内の圧力を1
0−1〜10−’ Torr 94度の所定のガス圧力
に設定するガス導入系である。
そして、真空槽10内には、図示の如く真空槽10の側
板11,12IC絶縁部材13゜14を介して固着され
たターゲットホルダー15.16により1対の長方形の
ターゲットT、 、 T、が、そのスパッタされる面’
r、 l j ’r、aを空間を隔てて平行に対面する
ように配設しである。そして、ターゲラ) T、 、 
T、とそれに対応するターゲットホルダー15.16は
、冷却バイブ151,161を介して冷却水によりター
ゲットT、 、 T、 、永久磁石152,162が冷
却される。磁石152,162はターゲラ) ’r、 
、 ’r、を介してN極、S極が対抗するようIC設け
てあり、従って磁界Φは図示のようにターゲラ)T、、
T、に垂直な方向に、かつターゲット間のみに形成され
る。なお、17゜18は絶縁部材13.14及びターゲ
ットホルダー15.16をスバッタリノグ時のプラズマ
粒子から保護するためとターゲット表面以外の部分の異
常放電を防止するためのシールドカバー、17a、18
aはその先端折曲部である。また図のMDは基板の移送
方向従って基板の長手方向を示す。そしてこれに直交す
る方向が基板の巾方向となる。
ところで、先端折曲部17a、18aは第3図に示すよ
うにターゲラ) T、 、 T、の回りにターゲットT
、 、 T、とシールドカバー17.18との間ヘソラ
ズマ粒子等が飛来するのを防止するように以下の通り設
けられている。図はクー′rットT、を示したものであ
るが、図示の通りターゲットT、は基板40の巾方ro
Jに長い長刀形となっており、先端折曲部17aは、折
曲部Wが一定となるように一定巾〜qの板状体をスパッ
タ面と所定間隔(通常数朋〜10数闘の間隔)を隔てて
、その内周がターゲットの周辺より若干内側に位置する
ようにシールドカバー17の筒部に取着して設け、異常
放電を防止するようにしである。なお、ターゲットT、
の方も全く同様である。そして、本例では先端折曲部1
7a、18aは軟鋼、ケイ素鋼、パーマロイ等の高透磁
率の軟磁性材で構成し、前述した磁路部材を兼ねた構成
となっている。
また、磁性薄膜が形成される長尺の基板40を保持する
基板保持手段41は、真空槽10内のターゲラ) T、
 、 T、の側方に設けである。基板保持手段41は、
図示省略した支持ブラケットにより夫々回転自在かつ互
いに軸平行に支持された、ロール状の基板40を保持す
る繰り出しロール41aと、支持ロール41bと、巻取
ロール41Cとの3個のロールからなり、基板40をタ
ーゲラ) T、 、 T、間の空間に対面するようにス
パッタ面T、、 、 T7.に対して略直角方向に保持
するように配置しである。従って基板40は巻取りロー
ル41cによりスバ・ツタ面T”+s I T21に対
して直角方向に移動可能である。なお、支持ロール41
bはその表面温度が調節可能となっている。
一方、スパッタ電力を供給する直流電源からなる電力供
給手段50はプラス側をアース1(、−ンイ、ナスイ則
をターゲットT、 、 T2に夫々接続する。従って電
力供給手段50からのスパッタ重力は、アースをアノー
ドとし、ターゲットT、 、 T、をカン−ドとして、
7メード、カソード間に供給される。
なお、プレスパッタ時基板40を保護するため、基板4
0とターに゛ットT、 、 T、との間に出入するシ=
ヤツター(図示省略)が設けである。
以上の通り、前述の特開昭57−158380号公報の
ものと基本的には同じ構成であり、公知の通り高速低温
スパツタカλ可能となる。
すなわち、ターゲラ) T、 、 T、間の空間に、磁
界の作用によりスパッタガスイオン、スパッタにより放
出されたr電子等が束縛され高密度プラズマが形成され
る。従って、ターゲラ) T、 、 T、のスパッタが
促進されて前記空間より析出量が増大し、基板40上へ
の堆積速度が増し高速スパッタが出来る上、基板40が
ターゲラ) T、 、 T、の側方にあるので低温スパ
ッタも出来る。
ところで、前述の通り、先端折曲部17a。
18aは磁路部材として高透磁率の磁性材で苓 構成しであるので、その上前述したように磁性薄膜が形
成されても、磁界パターンを設定する先端折曲部17a
、18aの折曲巾W方向の磁気抵抗は何ら影響されず、
従って磁界パターンは設定した通り長期に亘って安定と
なる。以Fこの点を異体例により、説明する。
第4図は、先端折曲部17a、18aを非磁性材のステ
ンレス鋼で構成し、た従来装置の連転結果を示オクラフ
である。この比較例は基板の11]方向のrll 33
04m、、奥行130闘の長方形で19さ12朋のパー
マロイからなイ)ターゲラ) T、 、 i’、を用い
て、厚さ100μillのホリエチレンテレフタレート
フイルム上に連続的に磁性薄膜を形成した場合のもので
ある。
第4図(alにターゲット幅方向断面のエロージョン分
布を、第4図(b+にターゲット外周部の幅方向の磁界
強度分布を、第4図(clに基板に堆積したパーマロイ
薄膜の幅方向の膜厚分布を示す。なお、図におい【、点
線は運転初期の、実線は93時間連続運転後の結果を示
す。図から明らかなように、ターゲット外周辺部より発
生する磁界強度の分布は、ターゲット使用開始時均一で
あったものが、連続膜て、ターゲット外周辺部の磁界強
度は中心部が強くなった分布になっている。又、基板上
に堆積するパーマロイ薄膜のターゲ′ント幅方向の膜厚
分布も、初期には該幅方向の中心に関し対称形であ−っ
だものが、磁界強度の分布の変化に対応して、連続運転
後には該中心より膜厚のピークが一方向に変化し、しか
も中心より膜厚の厚い方向にはより厚く、薄い方向には
より薄くなり、左右非対称形に変化している。なお、図
において、エロージョン分布はターゲットの厚さ自体で
、パーマロイ薄膜の膜厚分布は最大膜厚なiooチとし
た百分率で示した。ターゲットのエロージョンの最大浸
食深さは投入電カフ kWで93時間連続運転後11.
7 Mであった。
このような現象は、工業的に問題となる。
すなわち、上述の例のように連続膜作成においては新し
いターゲットを装置にセ・ントし、これを使い終わるま
で(ターゲットの最大浸食部の厚さが所定値、例えば装
置の安全をみて、3101以下となるまで)できるだけ
長時間連続スパッタをすることが好ましい。しかし、こ
のような現象があると、長尺媒体を作製する上で、初・
期と後との均一性に欠けてしまう。
途中装置を止めて、L441′ItntpJ:の堆積膜
を除去すれば一応の品質管理は可能であるが、そのたび
に真空排気に長時間を要する、掃除の手間がかかりすぎ
る等、工業的に大きな問題がある。できれば、このよう
な掃除の手間が必要なく、しかも初期ターゲット幅方向
の膜厚分布が改善され、それが長時間にわたっても変化
しないような方法が9望される。
第5図は、比較例と同じ萌述の対向ターゲット式スパッ
タ装置において比較例のステンレス製先端折曲部17 
a 、18 a K l)えて同寸法の軟鋼製先端折曲
部17a、18aを設けて磁路部材とした前述の第2図
の装置すなわち本発明の実施結果を示すグラフである。
図のfat 、 (b) 、 (clには、比較例の第
4図(al 、 (bl 、 (clと対応して、エロ
ージョン、磁界、#厚が同じように示しである。なお、
−[記実施結果はターゲットも比較例と同じパーマロイ
ターゲットとして磁性薄膜を連続形成したもので、点線
は運転初期の、実線は130時間連続運転後の結果であ
る。
図から明らかなように、ターゲットエロージョンは均一
になり、ターゲットが有効に利用されている。又、ター
ゲット外周辺部の磁界も均一でしかも長時間変化するこ
とがなくなり、しかも、ターゲット幅方向の膜厚分布も
中心対象で変化がなく長時間安定運転が可能で、しかも
、従来装置に比し膜厚の均一性が増して均一な領域が広
くな2ており、製品利用率が向上する。これは、前記対
向ターゲット式スパッタ方式の原理のとと(ターゲット
外周辺部に、より強(、均一に、磁界を発生させること
ができた効果である。なお、本実施例におい【、磁路部
材の先端折曲部17a118aの厚みは、0.1Xから
3Xまで変えたが効果は同じであった。
以上の通り、本発明は、薄膜形成特に磁気記碌媒体の製
造等磁性薄膜の安定連続生産に有利に適用できる対同タ
ーゲット式スパッタ装置であり、工業上非常に大きな効
果を奏する巾−用なイ、のである。
【図面の簡単な説明】
第1図(al 、 (bl 、 (clは、本発明の磁
路部材の各m態様を示す説明図、第2図は本発明に係わ
る対向ターゲット式スパック装置の説明図、第3図は第
2図の装置のターゲット部の拡大図、第4図(at 、
 (bl 、 (c)は比較例の運転結果を示すグラフ
、第5 同fat 、 fbj 、 ((1は実施例の
運転結果を示すグラフである。 10:真空槽、T、T、、T、:ターゲット。 S+17a+18a:シールドカバーの先端折曲部9M
:磁路部材、40:基板。 50:電源 ;F1m 3f31M 矛 47!7 オS図

Claims (1)

  1. 【特許請求の範囲】 1 そのスパッタ面が空間を隔てて平行に対面するよう
    に設けられたターゲットの周囲にシールドカバーを設け
    ると共に、該ターゲットの背面に該スパッタ面に垂直な
    方向の磁界を発生ずる磁界発生手段を設け、前記ターゲ
    ット間の空間の側方に該空間に対面するように配置した
    基板上に膜形成するようになした対向ターゲット式スパ
    ッタ装Rにおいて、前記ターゲットのmI方の周囲に前
    記磁界発生手段からの磁束の磁路となる軟磁性材からな
    る磁路部材を配し7、前記磁界のターゲット回りの分布
    パターンをvI4V可能となしたことを特徴とする対向
    ターゲット式スパッタ装置。 2 前記磁路部材が、前記磁束に対して前記シールドカ
    バーの先端近曲部と並列の磁路を形成するように設けら
    れている特許請求の範囲第1項記載の対向ターゲット式
    スパッタ装置。 3 前記磁路部材が前記シールドカバーの先端折曲部で
    ある特許請求の範囲第2項記載の対向ターゲット式スパ
    ック装置。 4、 形成された膜の基板の巾方向の膜厚分布が所定の
    パターンになるように前記先端折曲部の折曲部を調整し
    た特許請求の範囲第3項記載の対向ターゲット式スパッ
    タ装置。 5、 ターゲットの形状が基板の巾方向に長い長方形で
    ある特許請求の範囲第1項、第2項。 第3項若しくは第4項記載の対向ターゲット式スパッタ
    装置。 6、 クーグツトが磁性材である特許請求の範囲第1項
    、第2項、第3項、第4項若しくは第5項記載の対向タ
    ーゲット式スパッタ装置。
JP9099184A 1984-05-09 1984-05-09 Taikotaagetsutoshikisupatsutasochi Expired - Lifetime JPH0245701B2 (ja)

Priority Applications (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP9099184A JPH0245701B2 (ja) 1984-05-09 1984-05-09 Taikotaagetsutoshikisupatsutasochi

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP9099184A JPH0245701B2 (ja) 1984-05-09 1984-05-09 Taikotaagetsutoshikisupatsutasochi

Publications (2)

Publication Number Publication Date
JPS60234969A true JPS60234969A (ja) 1985-11-21
JPH0245701B2 JPH0245701B2 (ja) 1990-10-11

Family

ID=14013978

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
JP9099184A Expired - Lifetime JPH0245701B2 (ja) 1984-05-09 1984-05-09 Taikotaagetsutoshikisupatsutasochi

Country Status (1)

Country Link
JP (1) JPH0245701B2 (ja)

Cited By (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US4784739A (en) * 1986-12-26 1988-11-15 Teijin Limited Method of producing a thin film by sputtering and an opposed target type sputtering apparatus

Cited By (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US4784739A (en) * 1986-12-26 1988-11-15 Teijin Limited Method of producing a thin film by sputtering and an opposed target type sputtering apparatus

Also Published As

Publication number Publication date
JPH0245701B2 (ja) 1990-10-11

Similar Documents

Publication Publication Date Title
US4767516A (en) Method for making magnetic recording media
US4395465A (en) Magnetic recording medium and process for production thereof
US4399013A (en) Method of producing a magnetic recording medium
JPS61183466A (ja) 対向タ−ゲツト式スパツタ装置
JPS6214633B2 (ja)
JPS60234969A (ja) 対向タ−ゲツト式スパツタ装置
JPH034621B2 (ja)
Nakamura et al. " GT target", A new high rate sputtering target of magnetic materials
JP3903509B2 (ja) スパッタリング装置
JPH0232353B2 (ja) Taikotaagetsutoshikisupatsutasochi
JPS59124038A (ja) 磁気記録媒体の製造方法
JPH031810B2 (ja)
JPS63277756A (ja) 対向タ−ゲット式スパッタ装置
JPS6134175A (ja) スパツタリング装置
JPS58199862A (ja) マグネトロン形スパツタ装置
JPS6134176A (ja) 対向タ−ゲツト式スパツタ装置
JPS61279673A (ja) 対向タ−ゲツト式スパツタ装置
JPH0417671A (ja) 通過式スパッタリング方法および装置
JPH02294476A (ja) マグネトロンスパッタリング用カソード
JPS63468A (ja) 対向タ−ゲツト式スパツタ装置
JP2906163B2 (ja) スパッタリング装置
JPS6046369A (ja) 対向タ−ゲツト式スパツタ装置
JPS6320303B2 (ja)
JPS63210006A (ja) アモルフアスカ−ボン薄膜の形成方法
JPH03247761A (ja) スパッタターゲット装置