JPS60233797A - 測定情報の時分割多重伝送システム - Google Patents

Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。

Description

【発明の詳細な説明】 〔発明の属する技術分野〕 この発明は、現場（フィールド）に設置されている複数
の測定装置を一対の伝送線を介して集中管理室側（パネ
ル側）の処理装置に並列接続し、測定情報をディジタル
的に多重化して伝送するようにした測定情報多重伝送シ
ステムに関する０〔従来技術とその問題点〕 一般に、計測システムにおいて杜、フィールド側に多数
のセンサまたは測定装置を設置し、これらの装置からの
測定データを遠隔のパネル側装置へ伝送することにより
、フィールドの監視、制御を行なっているが、これらの
システムの殆んどは２１１式のアナログ伝送方式が用い
られているため、ノイズや温度等の外乱による変動を受
け易く、シたがって測定精度が悪く、伝送品質が低下す
るという問題点がある。

〔発明の目的〕

この発明はかかる点に鑑みてなされたもので、測定精度
および伝送品質を向上させ、信頼性の高い測定情報多重
伝送システムを提供することを目的とする。

〔発明の要点〕

その要点は、物理量をディジタル的に測定する′複数の
測定装置と上位処理装置のそれぞれにディジタル的に情
報の送受信を行なう送受信手段を設けることによりディ
ジタル伝送を可能として、ノイズや温度等による外乱の
影響を低減させるとともに、上記処理装置と各測定装置
との間を１対の伝送線゛にで並列接続して時分割多重伝
送を行なうことにより伝送路の節約を図りつ＼高品質の
伝送を可能ならしめる点にある。

〔発明の実施例〕

第１図はこの発明の実施例を示す全体構成図、第２図は
測定装置の概略構成を示すブｐツク図、第３図は測定装
置を詳細に示す回路構成図、第４図は機械的な変位量を
静電容量に変換して検出する原理を説明する原理図、第
５図は測定動作を説明するためのタイムチャート、第６
図は容量検出部の他の実施例を示す回路図である。

第１図において、ＣＥは集中管理室側装置（パネル側装
置）で、送信用トランジスタＴＣＪ受信用コンパレータ
ＣＰＴおよび受信電流検出用抵抗Ｒ等からなる送受信回
路、制御回路（ＣＰＵ）および電源Ｅ等から構成される
。ＴＲ１−Ｔ几□は種々の物理量をディジタル的に測定
するディジタル測定装置（以下、トランスミッタともい
う。）で、送信用トランジスタＴＢＳ　、受信用フォト
カプラＨＣからなる送受信回路（伝送回路）およびマイ
クロコンピュータ等からなる制御回路（μ−ＣＯＭ）等
より構成されるＯＬは集中管理室側装置（以下、上位処
理装置またはＣＰＵともいう。）と複数のトランスミッ
タＴＲ１−ＴＲ，とを互いに並列接続するための伝送路
である。なお、Ｄは保護ダイオード、Ｃは電源保持用コ
ンデンサ、ＣＣＩ。

ＣＣ２は定電流回路である。

ここで、上位処理装置とトランスミッタとの間のデータ
伝送は半二重ビットシリアル伝送方式にて行なうものと
すると、例えば情報またはデータをＣＰＵからトランス
ミッタＴＲｉへ伝送するには、ＣＰＵ側の送信用トラン
ジスタＴ　ＣＲを送信すべき情報またはデータに応じて
オン、オフすることにより行なう。つまり、ＣＰＵ側の
電源ＥをトランジスタＴＣＨによりオン、オフして信号
を送信する。これにより、トランスミッタｎ台分側でハ
電源電流のオン、オフ、つまり受信用フォトカブラＨＣ
の電流のオン、オフを適宜に検出して受信する０なお、
このとき、トランスミッタＴＲｉ側では、ＣＰＵ側から
の供給電源Ｅが断続しても、コンデンサＣによってその
保持が行なわれるが、コンデンサＣのかわりにノくツク
アップ用電池を使用してもよいこと紘勿論であル〇 一方、トランスミッタ側からは、無信号時の定電流ｎｈ
　（ｎはトランスミッタ数、■は制御回路を流れる定電
流）に、送信用トランジスタＴＲ。

Ｓをオン、オフすることにより定電流Ｉ２を上乗せして
信号を送信する。すなわち、１つのＣＰＵ側装置に複数
（ｎ）のトランスミッタが接続されているので、各トラ
ンスミッタではＣＰＵ側からの信号を同時に受信するこ
とになるが、ＣＰＵ側からは所望４のトランスミッタに
対してのみアドレス指定をして送信要求信号（ポーリン
グ信号）を発するので、指定されたアドレスのトランス
ミッタのみが応答する。これにより、ＣＰＵ側では、無
信号時のトランスミッタｎ台分の電流ｎｌｌに、指定さ
れたトランスミッタＴＲｉの信号電ｉＩｚが上乗せされ
て受信されるｏしたがって、ＣＰＵ側では、その電流検
出用抵抗比により無信号時の一定電流ｔＩＸ１１と、信
号分の工２電流をコンパレータＣＰＴにて検出すること
により、トランスミッタ側からの信号を受信することが
できる。

このようにして、ＣＰＵ側とｎ台のトランスミッタＴＲ
１−Ｔ几ｎとの間を１対の伝送線を介して互いに接続す
ることにより、双方向の時分割多重伝送を行なうことが
できる。

なお、上記では、ＣＰＵ１［−１個とし、トランスミッ
タ側をｎ個としたが、この関係を逆にする、つまりトラ
ンスミッタ側を１個とし、ＣＰＵ側をｎ個とするシステ
ムについても上記と同様にして情報の伝送が可能である
。

以下、各部の構成、動作について詳細に説明する０ 測足装置Ｔ几は第２図にそのブロック構成が示されるよ
うに検出部ｌ、検出部選択回路２、周波数変換回路３、
カウンタ４．タイマー５、基準りロック発生回路６、マ
イクロプロセッサ７（以下、μｍＣ０Ｍ演算回路ともい
うｏ）、伝送回路８、電源回路９およびキーボード１０
等より構成される。この測定装置はさらに第３図に示さ
れるように、検出部１はこ＼ではコンデンサＣ１，Ｃ２
によって構成され、検出部選択回路２はコンデンサＣｈ
Ｃ２および測温用のコンデンサＣ８ｓサーミスタ几Ｓの
選択を行なうＣ−ＭＯＳ（相補形ＭＯ８）タイプのアナ
ログスイッチ８Ｗ２（８Ｗ２１，５Ｗ２２）より構成さ
れ、容量−周波数変換回路３はコンデンサＣ１，Ｃ２の
充放電の切換えおよび７リツプフロツプＱ１のクリアま
たはリセットを行なうアナログスイッチ５ＷＩ（ＳＷｌ
ｌ、５Ｗｔ２）と、コンデンサＣ１またはＣ２の充電々
圧が所定の電圧レベル（スレッシュホールドレベル）ヲ
超えたときセットされ、所定の時定数（抵抗ｆＬｌ　、
コンデンサＣｒ）によって決まる一定時間後にリセット
される７リツプ７０ツブＱｌ（Ｄ型）とから構成されて
いる。なお、従来の一般的なり型７リツプフロツプを使
用する場合は、その前段にスレッシュホールドレベルを
判別するための回路（例えば、シュミット回路）が必要
となるが、Ｃ−ＭＯａ形のアリツブフロップを使用する
場合はこのような回路を必要とせず、その切り替わり電
圧をそのままスレッシュホールド電圧として使用するこ
とができる。同様に、タイマー５は２段のカウンタｃ’
ｒ２゜ＣＴａから構成され、μｍ００Ｍ演算回路７から
のリセット信号ＰＯ３の解除によって基準クロック発生
回路６から与えられるクロック信号の計数を開始し、カ
ウンタ（ＣＴＩ）４からのカウントアツプ信号によって
計数を停止する。μｍ００Ｍ演算回路７は基準クロック
発生回路６からのクロック信号によって駆動され種々の
演算、制御動作を行なう。剥えば、検出部選択回路２の
アナログスイッチＳＷ２にモード選択信号ＰＯＩ、ＰＯ
２を送出してコンデンサＣ１測定モード、コンデンサＣ
２測定モードまたは温度測定モード（抵抗侮、コンデン
サＣ５による測定）の選択を行ない、非測定時にはカウ
ンタ４およびタイマー５に対してリセット信号ＰＯ３を
与えてこれらのリセットを行なうとともに、測定時には
該リセット信号ＰＯ３を解除して計数動作を行なわせ、
カウンタ４からのカウントアツプ信号を割込信号ＩＲＱ
として受け、タイマー５からの計数出力を端子ＰＩＯ〜
ＰＩ１５を介して読取り、所定の演算処理を行なう。μ
ｍ００Ｍ演算回路７に紘、測定誤差を回避すべくゼロ点
またはスパンの調整を行なうための操作を指示するキー
ボード１０、または省電力化ｔ−図るべく基準クロック
発生回路６またはμ−ＣＯＭ演算回路７自体を間欠的に
動作させるためのスタンバイモード回路１１、さらには
管理室側の上位計算機との間で情報の授受を行なうため
の伝送回路８等が接続されている。なお、９は所要の各
部へ電源を供給するための電源回路であ右〇この実施例
における測定装置は圧力等の機械的な変位量を容量値に
変換して検出し、該検出結果をディジタル量に変換して
測定するものであるがら、こ＼で、その検出原理につい
て第４図を参照して説明する。

同図（Ａ）には２つの固定電極ＥＬＦ間に可動電極ＥＬ
ｖが配置され、該可動電極ＢＬｖは圧力等の機械的な変
位に応じて図の左右（矢印Ｒ参照）方向に移動する。こ
の場合、各電極間の容量ＣＡｌ　ｙＣＡ２は一方が増大
すれば他方は減少する、つまり差動的に変化する。こ＼
で、各電極の面積を８１電極間の誘電率を６．可動電極
ＢＬｖと固定電極ＥＬＦとの間隔をｄとし、例えば同Ｉ
Ｎ（Ａ）の点線で示される如く可動電極ＥＬｖがΔｄだ
け変位したときの容量ＣＡｌ、ＣＡ２は ＣＡ１　＝　ｇＡ　／　ｄ−Δｄ ＣＡ２　＝εＡ／ｄ＋Δｄ としてめられる。こ＼で、これら容量の和および差を考
えると、 ＣＡ１　＋ＣＡ２−εＡ・２　ｄ　／　ｄ”−Δｄ２Ｃ
Ａ１−ＣＡ２＝ｇＡ・２Δｄ／ｄ”−Δｄ２となり、し
たがってその比をとると、 ＣＡｌ−ＣＡ２／ＣＡ、＋ＣＡ２＝Δｄ／ｄが得られ、
変位量Δｄを容量値ＣＡ１−ＣＡ２／ＣＡ□＋ＣＡ２に
よってめることができる。　□同様にして、第４図（Ｂ
）では２つの固定電極ＥＬＦに対して可動電極ＥＬｖが
図の如く配置され、外部圧力等の変位によって図の点線
位置にΔｄだけ変位した場合は次のようになるＯこの場
合、容量ＣＡ、は固定、　ＣＡ２は可変であって、それ
ぞれの値は上記と同様にして ＣＡ１＝ｔｋ／ｄ　、ＣＡ２−ｇＡ／ｄ＋Δｄと表わす
ことができる０そこで、これらの差を考えると、 ＣＡ１−　ＣＡ２−εＡ・Δｄ／ｄ（ｄ＋Δｄ）であり
、したがってＣＡ１−ＣＡ２とＣＡ２との比をとると、 ＣＡ１−ＣＡ２／ＣＡ２−Δｄ／ｄ となり、変位量Δｄを静電容量値の変化として検出する
ことができる。これらの式からも明らかなように、変位
量は静電容量のみの関数となるから、電極間の誘電率や
浮遊容量の影響を受けず、このため容量によって機械的
な変位量を正確に検出することが可能となる。

次に、このような検出原理にもとづく測定動作について
、主に第３図および第５図を参照して説明する。

初期状ｗＡにおいては、μｍ００Ｍ演算回路７からはモ
ード選択信号ＰＯＩ、ＰＯ２は与えられず、リセット信
号ＰＯ３によってカウンタ（ＣＴＩ）４およびタイマー
５はリセット状態にある。ここで、１ｉ５図←）の如き
コンデンサＣ，の測定モード信号が与えられ、第５図（
ロ）の如くリセット信号ＰＯ３が解除されると、コンデ
ンサＣ１１スイツチ５Ｗ２１．５Ｗ１１、抵抗Ｒ５電源
■ＤＤなる径路が形成されるので、コンデンサｃ１が第
５図（ハ）で示されるように充電される０１８時間後に
この充電々圧が７リツプ７０ツブＱ１のスレッシュホー
ルド電圧ｖＴＨを超えると、該フリップフロップＱ１が
セットされ、その出力端子Ｑより出力が得られる。この
出力は抵抗几ｆおよびコンデンサＣｆに与えられるとと
もに、アナログスイッチＳＷＩにも与えられる。その結
果、スイッチ８Ｗ１２が開放されて抵抗ｎｆとコンデン
サＣｆによる充電回路が形成される。なお、このときス
イッチ５ＷＩＩが点線の位置へ切替えられ、コンデンサ
ＣＩの放電が行なわれる。コンデンサＣｆの充電々圧が
第５ｖ！Ｊ（ホ）で示されるように、所定時間ｔ。後に
所定の値になると、アリツブフロップＱ１はクリアされ
、その結果、フリップ７０ツブＱｌからは第５図に）の
如き一定幅（１ｃ）の出力パルスが得られる０なお、７
９ツブフロツプＱｕのリセットによってアナ田グスイッ
チＳＷＩもオフとなるので、スイッチ５Ｗ１２は第３図
の如き状態に復帰し、コンデンサＣｆの放電回路を形成
する。上記の時間ｔ工状コンデンサＣ１および抵抗凡の
大きさに比例するから、アリツブフロップＱ１の出力か
らはコンデンサＣ１の容量に比例した周波数のパルス信
号が得られることになる。このパルス信号はカウンタ４
によつＣ計数され、所定数に達すると第５図（へ）Ｋ示
される如きパルス（カウントＵＰ出力）を発してタイマ
ー５を第５図（ト）の如く計数停止させる。タイマー５
は先のリセット信号ＰＯ３の解除とともにパルス発生回
路６からのクロックパルスを計数しており、該計数結果
がカウンタ４からのカラン）ＵＰ信号を受けたμｍ００
Ｍ演算回路７により端子Ｐｌ〜Ｐ１１５を介して読取ら
れる。

こ＼で、上記フリップフロップＱｌのスレッシュホール
ド電圧を■Ｔ□とすれば、 Ｉ ＶＴＨ””ＶＤＤ（１６Ｒｃｌ） として表わされ、したがってコンデンサＣ１の充電時間
１．（第５図に）を参照）は、 の如く表わされる・ また、上記の時間ｔＣも同様にして として表わされる。なお、町５ＣｆＯ値は既知であり、
したがって１ｃは一定の値である。

したがって、コンデンサＣ１の充、放電動作をｎ回カウ
ントする迄の基準りｐツク発生回路６からのクリックパ
ルスを教えることにより、すなわちタイマー５からの出
力によってコンデンサＣ１による充放電時間Ｔ１をめる
ことができる。この充放電時間ＴＩは第５図に）からも
明らかなように、充電（ｔｌ）はｎ回であるのに対して
放電（１，）は（ｎ−１）回であるから ＴＩ　＝ｎ　ｔ　１＋　（ｎ　１　）　’ｃ　・・−・
・（Ｉ　）としてめることができる。なお、このように
１回カウントするのは、時間測定カウンタ（Ｃｒ２゜Ｃ
Ｔａ）の分解能を上げるためであり、その数ｎは基準ク
ロック発生回路６の出力周波数、抵抗比の抵抗値または
コンデンサＣ１の容量値等に応じて適宜選択される。

このようにして、コンデンサＣ１の充放電時間Ｔ１をめ
た後、μｍ００Ｍ演算回路７は信号ＰＯ１またはＰＯ２
によってスイッチ５ｗ２１を切換えてコンデンサＣ２の
検出モードとし、コンデンサＣ２の充放電時間Ｔ２を測
定する。この場合の動作態様は上記と全く同様であり、
そのタイムチャートは第５図の右半分に示されている。

なお、充放電時間Ｔ２は（Ｉ）式と同様にしてＴ２＝ｎ
　ｔ２＋（ｎ　１）　ｔｃ＋＋＋＋＋　（ｎ）となる。

μｍ００Ｍ演算回路７では、（Ｉ）、（ＩＩ）式より次
の如き演算を行なう。

Ｔ１＋Ｔ２　２（ｎ　１）ｔＣ ＴＩ　＋Ｔ２　２（ｎ　１　）　ｔ（：　Ｃ１＋Ｃ２・
・−・・　（ＩＩＩ） この■式は先の原理図における説明からも明らかなよう
に、変位に比例するから、μｍ００Ｍ演算回路７で杜上
記の如き演算を行なうことによってその変位を測定する
ことができる。

なお、上記ではコンデンサＣ１，Ｃ２の容量を差動的に
変化させることにより機械的な変位量、例えば差圧ΔＰ
を測定するようにしたが、第６図に示されるように、コ
ンデンサの一方（Ｃ２）を固定とし、他方（Ｃ１）を可
変とするものｋついても同様に適用しうろことは、先の
原理図の説明かうも明らかである。ただし、この場合は
上記の差圧ΔＰのかわりに圧力Ｐをめることとなり、そ
の演算式紘上記と同様にして次のように表わされる。

上記の実施例においては、機械的な変位量を静電容量値
に変換して検出するようにしたが、これを抵抗、周波数
または電圧に変換して検出することも可能である。

＃！７〜９図は検出部の他の実施例を示す回路図で、第
７図は抵抗値に変換する場合、第８図は周波数に変換す
る場合、そして第９図は電圧値に変換して検出する場合
をそれぞれ示すものである。

これらの図において、コンデンサＣの容量値および抵抗
Ｒｃの抵抗値はともに一定であり、またスイッチ５Ｗ１
１，５Ｗ２１および７リツプフロツプＱ１は第３図実施
例に示されるものと同様のものである。

第７ｖ！Ｊ（ａ）〜（Ｃ）における検出原理はいずれも
容量による検出原理と全く同様であって、充放電時間が
抵抗とコンデンサとの積−に比何することを利用して、
ここでは抵抗値を検出するようにしたものである。すな
わち、同図（ａ）に示されるものはスイッチ５Ｗ２１を
島側に倒してその充放電時間−Ｔｌを測定（なお、測定
されるのは厳密には充電時間だけである。）シ、次にＲ
ｃ側に倒して同様に充放電時間Ｔ２をめ、 ”ｘ　Ｔ１−−　（ｎ−１）　ｔ　Ｃ Ｒ（Ｔ２　（ｎ　１　）　ｔ　ｃ なる演算によって爬（の抵抗値をめる。

同じく同図（Ｃ）に示されるものは、先の実施的におけ
るコンデンサＣ１ｅ　Ｃ２を抵抗Ｒｔ　ｔ　Ｒ２におき
かえたものに相当するから、その演算式もの如く同様に
表わされることになる。

また、同図Φ）に示されるものはライン抵抗Ｒ。

が変動する場合である。したがって、スイッチ５Ｗ２１
を順次切替えることＫよって〜＋２Ｂ、。

２几ｔおよびＲｃによるそれぞれの充放電時間Ｔｌ。

Ｉ２およびＩ３をめ、− なる演算式より抵抗値ｆＬＸを測定する。

第８図においては、検出部にてすでに周波数に変換され
ているから、第３図実施例の如き周波数変換回路は不要
となり、検出部からの出力は適宜増巾されて直接カウン
タへ導入される＠この場合、カウンタが所定数Ｎを計数
する迄にどれだけの時間Ｔがか−るかを演算することに
よってその周波数（Ｎ／Ｔ　）をめることができる。

第９図は電圧Ｂ、に変換して検出する場合であって、コ
ンデンサＣに一定の電流（Ｉ）を流して充電を行ない、
該充電による電圧を演算増巾器ＯＰ２の一方に与え、も
う一方には演算増巾器ＯＰ１によって増巾された入力端
子Ｅ１を導入し、該入力電圧Ｅ！を充電々圧が超えたと
きフリップ７０ツブＱ１をセットするようにしたもので
ある。

コンデンサＣによる充電は一定の態様で行なわれるのに
対し入力電圧レベルＥ１が変動するので、電圧値に応じ
た時間信号を得ることができる。ここで、スイッチ５Ｗ
２１が図示の状態にあるときの時間歯定出力をＩ２、図
示とは反対側の状態に切替えたときのそれをＴ１とする
と、 Ｉ２−　ＴＩ　−ＣＸ　／　１−Ｅｌ なる演算によって電圧値Ｅ１をめることができる。こ−
に、［１は測定電圧、■はコンデンサＣに与えられる電
流、ＣＸはコンデンサＣの容鴛値である。

このように構成される測定装置と中央処理装置（第１図
参照）との情報伝送について、さらに説明する。

第１０図は測定装置と中央処理装置ＣＰＵとの間で授受
される情報の形式を示す構成図で、（ａ）は制御情報Ｃ
８を示し、（ｂ）はＣＰＵから測定装置に対して測定レ
ンジ設定を行なう場合（以下、レンジ設定モードともい
う。）の情報形式を示し、（Ｃ）は測定データを測定装
置からＣＰＵへ送出する場合（測定モードともいう。）
の情報形式、（ｄ）はＣＰＵよりレンジ設定情報を受け
たことをチェックのために測定装置ＣＰＵへ返送する場
合の情報形式をそれぞれ示すものである０また、第１１
図は測定装置とＣＰＵとの間で伝送される情報を電流レ
ベルとの関係にて示す波形図であり、＃！１２図は測定
装置の送、受信動作を説明するフローチャートである。

第１０図（ａ）に示される如く、制御情報ＵＳはスター
トピッ）ＳＴ（Ｄｏ）、各測定装置に個有な番号を示す
アドレス情報ＡＤ（Ｄ１〜Ｄ３）、測定モードであるか
レンジ設定モードであるかを示すモード情報ＭＯ（Ｄ４
）、予備情報ＡＵ（Ｄ５〜Ｄｓ）およびパリティビット
ＰＡ（Ｄ７）より構成される〇測足モ＝ドの場合は、同
図（→の情報をＣＰＵから測定装置へ送ることにより、
アドレス指定された所定の測定装置から同図（Ｃ）の如
き制御情報Ｃ８と測定データＤＡとがＣＰＵへ送られる
。なお、スター）トビツ）ＳＴによってす゛べての測定
装置が同時に起動され−るが、アドレス指定を受けなか
った測定装置は所定時間後に動作を停止する。また、レ
ンジ設定モードの場合は、測定装置に同ＩＩ　（ｂ）の
如き制御情報Ｃ８が与えられたのち、さらに所定の時間
経過後にスタートビットＳＴを含むゼロ点情報ＺＢとス
パン情報ＳＰとが与えられ、これによって測定装置は同
図（Φの如く同様の情報を返送することによりレンジ設
定情報を正しく受信した旨ＣＰＵへ報告する。

以上の如く伝送される各情報を電流レベルとの関係で示
すと、ＩＩ！１１図σ如くなる。すなわち、第１図にて
説明した如き電流ＩＩ　ｅ　Ｉ２のレベルについて、例
えばＩｌを４ｍＡ、Ｉ２を１２ｍＡとし、ＣＰＵ側およ
びトランスミッタ側で検出レベルをそれぞれ適宜に設定
することにより、ＣＰＵ側からトランスミッタ側への情
報およびトランスミッタ側からＣＰＵ側への情報を確実
に伝送することができる。

なお、測定装置における送、受信動作を含む動作の詳細
は次の如くである◇ 以下、第１２図を参照して測定装置（トランスミヅタ）
の動作について説明する。

トランスミッタ内の処理装置μｍＣ０Ｍは上位計算機Ｃ
ＰＵの割込み信号（スタート信号）によって起動され（
■）、゛第１０図の如き入力信号（制御情報）を読取り
（■）、該入力信号によって自分のアドレスが指定され
ているか否かを調べ（■）、自分のアドレスでない場合
は、他のトランスミッタへ与えられるレンジ設定情報を
受信して誤動作しないように、所定の時間を確保して（
０）、次の割込み待ち状態とする（＠）。一方、上記入
力信号によって自分のアドレスが指定されている場合に
は、測定モードであるか否かを調べ（■）、測定モード
でない場合はレンジ変更のための入力データを読取り（
［相］）、該読取ったデータの確認のためにパネル側の
ＣＰＵへ返送しく０）、他の入力信号によって誤動作し
ないように、他の入力信号があったことを確認したのち
（０）、所定の時間を確保して（＠）、割込み待ち状態
とする（＠）。上記（■）において測定モードであると
判定されたときは、前回の演算結果を直列に伝送する（
■）とともに、所定の演算を行なうべく充放電時間Ｔ１
の測定を行ない（■）、必要に応じて時間Ｔ２を測定し
く■）、これら測定結果にもとづいて所定の演算を行な
う（■）０次いで、ゼロおよびスパン補正を行ない（■
）、また、同様に温度によるゼロ、スパン補正を行なう
（［相］）。その後、パネル側ＣＰＵから既に送られて
来ているレンジ設定情報にもとづいてレンジの調整をし
くＯ）、またダンピングが生じていれば所定の演算式に
もとづくダンピングの補正を行なう（＠）。

次いで温度を測定しく［相］）、電源電圧の測定を行な
い（＠）、以下上述の如く他の入力信号によって当該ト
ランスミッタが誤動作しないように、他の入力信号があ
ったことを確認して（［相］）から、所定の時間を確保
したのち（［相］）、割込み待ちとする（０）。

〔発明の効果〕

この発明によれば、測定装置をディジタル化するととも
に、情報の伝送もディジタル的に時分割多重化して行な
うようにしたので、測定精度が向上するばかりでなく、
ノイズやサージ等の影響を受けない高品質の伝送が可能
となる利点を有するものである。また、複数の測定装置
と上位処理装置との間を１対の線路にて並列接続するよ
うにしたので、伝送路の本数または必要な長さを低減さ
せることができ、したがって経済的な効果が大となるも
のである。

さらに、ＣＰＵから測定装置へ伝送する情報形式を変え
ることにより測定レンジ・設定またはダンピングの設定
、場合によ７てはゼロ、スパンの調整をＣＰＵ側から行
なうことも可能である０

【図面の簡単な説明】

第１図はこの発明の実施例を示す全体構成図、第２図は
測定装置の概略構成を示すブロック図、＃Ｉ３図は測定
装置の詳細構成を示す回路図、第４図は変位量を容量値
に変換して検出する検出原理を説明する原理図、第５図
は第３図の動作を説明するためのタイムチャート、第６
図は容量検出部の他の実施例を示す回路図、第７図は抵
抗検出部の実施例を示す回路図、第８図れ周波数検出部
の実施例を示す回路図、第９図は電圧検出部の実施例を
示す回路図、第１０図は測定装置と中央処理装置との間
で授受される情報の形式を示す構成図、第１１図は測定
装置と中央処理装置との間で伝送される情報を電流レベ
ルとの関係にて示す波形図、第１２図は測定装置の全体
動作を示すフローチャートである。 ゛符号説明

Claims (1)

【特許請求の範囲】
1. 物理量をディジタル的に測定する複数の２線式測定装置
   と少なくとも電源を備えた上位処理装置とからなるシス
   テムにおいて、これら各装置には信号をディジタル的に
   送受信する送受信手段をそれぞれ設けるとともに、該送
   受信手段および一対の接続線を介してこれら各装置を互
   いに並列接続し、各測定装置は上位処理装置からの指令
   にもとづき測定情報をディジタル的に時分割多重化して
   伝送する一方、上位処理装置から各測定装置に対しては
   前記接続線を介して電源を供給することを特徴とする測
   定情報の時分割多重伝送システム。