JPS60225012A - 測長器 - Google Patents

測長器

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Publication number
JPS60225012A
JPS60225012A JP8245984A JP8245984A JPS60225012A JP S60225012 A JPS60225012 A JP S60225012A JP 8245984 A JP8245984 A JP 8245984A JP 8245984 A JP8245984 A JP 8245984A JP S60225012 A JPS60225012 A JP S60225012A
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JP
Japan
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slider
scale
sub
length measuring
clamp
Prior art date
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Application number
JP8245984A
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English (en)
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JPH0347685B2 (ja
Inventor
Takashi Kobashi
隆 小橋
Tomomine Sakai
坂井 知峰
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Mitsutoyo Manufacturing Co Ltd
Original Assignee
Mitsutoyo Manufacturing Co Ltd
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Publication date
Application filed by Mitsutoyo Manufacturing Co Ltd filed Critical Mitsutoyo Manufacturing Co Ltd
Priority to JP8245984A priority Critical patent/JPS60225012A/ja
Publication of JPS60225012A publication Critical patent/JPS60225012A/ja
Publication of JPH0347685B2 publication Critical patent/JPH0347685B2/ja
Granted legal-status Critical Current

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Classifications

    • GPHYSICS
    • G01MEASURING; TESTING
    • G01BMEASURING LENGTH, THICKNESS OR SIMILAR LINEAR DIMENSIONS; MEASURING ANGLES; MEASURING AREAS; MEASURING IRREGULARITIES OF SURFACES OR CONTOURS
    • G01B3/00Measuring instruments characterised by the use of mechanical techniques
    • G01B3/20Slide gauges

Landscapes

  • Physics & Mathematics (AREA)
  • General Physics & Mathematics (AREA)
  • Length-Measuring Instruments Using Mechanical Means (AREA)
  • Length Measuring Devices With Unspecified Measuring Means (AREA)

Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。

Description

【発明の詳細な説明】 〔技術分野〕 本発明は測長器に係り、更に詳しくは、長尺本体に移動
自在に支持されたスライダの測定子を被測定物に当接さ
せて被測定物の寸法等を測定する測長器の改良に関する
[背景技術] ノギス、ハイドゲージ等の測定器には本尺、支柱等に刻
設された目盛を読取るものと、エンコーダがスライダに
一体的に設けられて測定値がデジタル表示される、いわ
ゆるデジタル表示型とがあり、後者は、読取りの個人誤
差もなく、読取りが容易で、且つ取扱いも容易である等
の種々の利点を有している。しかしながら、このような
デジタル表示型の測長器にあっては、例えば、ノギスに
おいては1本尺が、また、ハイドゲージにおいては支柱
が1m以上のような長大なものが実用化されていない、
これは、夫々前記本尺または支柱の全長にわたって光学
型または静電型スケール等を固定しようとするときには
次のような問題を生じさせてしまうからである。
■長大スケールにした場合、リニャリティ等の特性がそ
の全範囲にわたって一定に製作することが難しく、これ
がため、安定した測定値(正確な測定値)を得ることが
できない。
(■長尺スケールを用いると、熱的変形等が生じた場合
にその影響が大きく、また本尺等に長尺スケールを一旦
固足してしまうと精度劣悪化を招き易い。
e)iA定作業に際してはallll導子みに作業者の
注意力が集中するためスケールの他端側を破損させてし
まうような取扱いをし易い。
[発明の目的] 本発明の目的は、上述のような長大なスケールを用いた
場合の種々の問題を解決し、しかも測長範囲の長大なデ
ジタル型の測長器を提供することにある。
[発明の構成] そのため、本発明は、一般的な測定作業においては寸法
の大きく異なる被IN4定物を都度交換しながら測定す
ることは少なく概ね同程度の寸法の被測定物を多数測定
しているという測定作業の実際に着目してなされたもの
であり、すなわち、本尺や支柱等の長尺本体に移動自在
に支持されたスライダの測定子を被測定物に当接させて
被測定物の寸法等を測定する測長器において、前記スラ
イダに、このスライダの移動方向に沿って延び月っ長尺
本体より短いスケールの一端側を支持させるとともに、
前記本尺に移動自在1つ係止(クランプ) ’ITT能
に設けたサブスライダに前記スケールの他端側を支持さ
せ、更に、前記サブスライダには前記スケールと協1動
じてスケールに対するサブスライダの相対移動量を検出
するエンコーダおよび検出された前記相対移動量をデジ
タル表示するデジタル表示器を備えさせ、これにより、
被測定物の寸法等に対応させて前記サブスライダをスケ
ールの所定位置に移動させて且つ係止させた状態で前記
スライダを移動させればその移動量が前記スケールとサ
ブスライダのエンコータとにより検出されてデジタル表
示されるようにして前記目的を達成しようとするもので
ある。
[実施例の説明] 以下、本発明の実施例を図面に基づいて説明する。
第1.2図には夫々本発明に係る測長器がノギスに適応
された実施例が示され、これらの図において、長尺本体
としての長尺な本尺lの一端側には本尺ジヨウ2が形成
されるとともに、本尺lには本尺ジズウ2と対をなすス
ライダジョウ3が形成されたスライダ4が移動自在且つ
クランプねじ5により適宜位置に係止可能に支持されて
いる。
このスライダ4にはスライダ4の移動方向に沿って伸び
且つ本尺lより短いスケール6の一端側が支持されると
ともに、他端側はサブスライダ7に支持され、このサブ
スライダ7は本尺lおよびスケール6の夫々に移動自在
且つ係止手段としてのクランプねじ8および9を介して
係止Bf能に係合されている。また、スケール6の他端
にはストッパ6Aが設けられ、このストッパ6Aにより
スケール6からサブスライダ7の抜は止めがなされ、例
えばスライダ4を本尺ジヨウ2偏に移動させる場合にス
ライダ4だけ操作すればサブスライダ7を単独で操作し
なくともサブスライダ7も同方向に移動されるようにな
っている。
サブスライダ7は、第3図に示されるように、前記スケ
ール6と協働してサブスライダ7のスケール6に対する
相対移動量を検出するエンコーダ10を備えこのエンコ
ーダ10内においては前記スケール6に対向しながらサ
ブスライダ7とともに移動してその移動量に応じた出力
信号を生じさせる検出部11を有し、この検出部11か
ら出力される検出信号が分割回路12により方向性が判
断されたのちカウンタ13により計数されて測定値が得
られ、得られた測定値がデジタル表示器14によりデジ
タル表示されるようになっている。
このデジタル表示器工4にはプリセットa能15、零セ
ツト機能16.ホールド機能17が備えられ、これら機
能15,16.17は操作手段18により操作されるよ
うになっている。
次に本実施例の作用につき説明する。
スケール6の長手方向中間部等の両方向に移動し得る適
宜位置にクランプねじ9によりサブスライダ7を係止さ
せ、且つ、クランプねじ8は緩めてサブスライダ7を本
尺lに対しては移動自在にさせておく、この状態で、被
測定物の寸法に近似したブロックゲージ等の寸法基準器
を両パノヨウ2および3間に挟持するようスライダ4を
本尺1に対して移動させる。このときサブスライダ7は
スライダ4とともに移動する。ついで、クランプねし8
によりサブスライダ7を本尺1に係止させたのちにクラ
ンプねし9を緩めてスケール6とサブスライダ7とが相
対移動自在となるようにさせ、前記寸法基準器に替えて
被測定物を両ジヨウ2および3間に挟持させて測定作業
を行う、前記寸法基準器を両ジヨウ2および3間に挟持
させたときのデジタル表示器14の表示値を零セツト機
能16により零値とさせておけばデジタル表示器14で
表示される測定値は前記基準寸法に対する比較値として
表示される。また、前記プリセy)41I能15により
前記基準寸法を予めデジタル表示器14に設定しておけ
ば測定値は前記設定値を加算した絶対値として表示され
る。
このような本実施例によれば、本尺l自体は長尺であっ
ても、スケール6をも長尺とする必要がない、そのため
1本尺1の全長にわたって長大なスケールを設けた場合
と異なり、リニャリテイ等の特性を全域にわたって一定
にする際の製作上の困難性がなく、熱的変形の影響も少
なく、破損させてしまうような取扱い上の恐れも少なく
なるという効果がある。また、スケール6をスライダ4
とともに本尺lの種々の箇所に移動させるものであるた
め、本尺1のいずれの測定範囲においても同様の測定精
度を確保することができる。
また、既存の長尺なノギスにスケール6およびサブスラ
イダ7を装着させることは容易であるため、既存の非デ
ジタル型のノギスに適用して容易 Iにデジタル型の測
定器として利用することができ便宜である。しかも、ス
ケール6の点検等も容易である。
なお、本発明が適用されるのはノギスに限らず、例えば
第4図に示されるように、ハイドゲージであってもよい
、この図において、被測定物に当接する測定子はスクラ
イバ21であり、長尺本体は長尺な支柱22であるほか
は前記ノギスの場合と略同様である。
また、スケール6およびエンコーダlOの構成は光学型
、静電型、電磁気型等のいずれであってもよく、プリセ
ット機能15の構成についても数字ボタンによる直接セ
ット方式、継続レンジ内の表示値を自動シフトさせるシ
フト方式、あるいは間欠歩進ストップ方式等のどのよう
なものであってもよい。
〔発明の効果] 上述のように本発明によれば長大なスケールを用いた場
合の種々の問題点を解消し、しかも測長範囲の長大なデ
ジタル型の測長器を提供することができる。
【図面の簡単な説明】
第1図および第2図は夫々本発明に係る測長器の一実施
例を示す平面図および正面図、第3図は前記実施例のサ
ブスライダの構成を示すブロック図、第4図は前記以外
の実施例を示す正面図である。 l、22・・・長尺本体としての本尺、支柱、3゜21
・・・測定子としてのショウ、スクライバ、6・・・ス
ケール、6A・・・ストッパ、7・・・サブスライダ、
9・・・係止手段としてのクランプねじ、10・・・エ
ンコーダ、14・・・デジタル表示器、15・・・プリ
セット毛it能。 代理人 弁理士 木下 実圧 (ほか1名)第3図 第4図

Claims (1)

  1. 【特許請求の範囲】 (1)長尺本体に移動自在に支持したスライダの測定子
    を被測定物に当接させて被測定物の寸法等を測定する測
    長器において、前記スライダにこのスライダの移動方向
    に延び且つ前記長尺本体より短いスケールの一端を支持
    させ、前記長尺本体に移動自在且つ適宜位置に係止可能
    に設けたサブスライダに前記スケールの他端側を支持さ
    せ、さらに前記サブスライダには前記スケールと協働し
    てスケールに対するサブスライダの相対移動量を検出す
    るエンコーダおよび検出された前記相対移動量をデジタ
    ル表示するデジタル表示器が備えられていることを特徴
    とする測長器。 (2、特許請求の範囲M1項において、前記サブスライ
    ダは前記Iスケールの適宜位置に係止可能とされている
    ことを特徴とする測長器。 (3)特許請求の範囲第1項または第2項において、前
    記デジタル表示器には、長尺本体に対するスライダの位
    置に応じた所定の表示値を予め設定するプリセット機能
    が備えられていることを特徴とする測長器。
JP8245984A 1984-04-24 1984-04-24 測長器 Granted JPS60225012A (ja)

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JP8245984A JPS60225012A (ja) 1984-04-24 1984-04-24 測長器

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JP8245984A JPS60225012A (ja) 1984-04-24 1984-04-24 測長器

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JPH0347685B2 JPH0347685B2 (ja) 1991-07-22

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Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPH01162607U (ja) * 1988-04-28 1989-11-13
CN109798857A (zh) * 2017-11-17 2019-05-24 财团法人工业技术研究院 测量夹持装置及测量方法

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