JPS60214254A - 超音波探傷装置 - Google Patents
超音波探傷装置Info
- Publication number
- JPS60214254A JPS60214254A JP59072195A JP7219584A JPS60214254A JP S60214254 A JPS60214254 A JP S60214254A JP 59072195 A JP59072195 A JP 59072195A JP 7219584 A JP7219584 A JP 7219584A JP S60214254 A JPS60214254 A JP S60214254A
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- JP
- Japan
- Prior art keywords
- flaw detection
- defect
- inspected
- waveform
- probe
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- Pending
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Classifications
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01N—INVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
- G01N29/00—Investigating or analysing materials by the use of ultrasonic, sonic or infrasonic waves; Visualisation of the interior of objects by transmitting ultrasonic or sonic waves through the object
- G01N29/04—Analysing solids
- G01N29/06—Visualisation of the interior, e.g. acoustic microscopy
- G01N29/0609—Display arrangements, e.g. colour displays
- G01N29/0618—Display arrangements, e.g. colour displays synchronised with scanning, e.g. in real-time
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01N—INVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
- G01N2291/00—Indexing codes associated with group G01N29/00
- G01N2291/02—Indexing codes associated with the analysed material
- G01N2291/028—Material parameters
- G01N2291/02854—Length, thickness
-
- G—PHYSICS
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- G01N—INVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
- G01N2291/00—Indexing codes associated with group G01N29/00
- G01N2291/04—Wave modes and trajectories
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- Investigating Or Analyzing Materials By The Use Of Ultrasonic Waves (AREA)
Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
〔発明の技術分野〕
本発明はＡクコ−１表示する超音波探傷装置に係シ、特
に欠陥位置を容易に把握可能とした超音波探傷装置に関
する。
に欠陥位置を容易に把握可能とした超音波探傷装置に関
する。
近年、超音波探傷では、探傷された欠陥の位置及びその
大きさを記録、表示する必要が高まっている。第１図は
上述した欠陥の位置及びその大きさを把握できることが
可能なＡクコ−１表示が可能表超音波探傷装置の従来の
一構成例を示している。
大きさを記録、表示する必要が高まっている。第１図は
上述した欠陥の位置及びその大きさを把握できることが
可能なＡクコ−１表示が可能表超音波探傷装置の従来の
一構成例を示している。
第１図において、送信回路１により探触子２の振動子を
励振し、図示し力い被検体に超音波を送信し、その反射
涙金例えば上記探触子２で受信し、受信回路３で電気信
号に変換し、検波増幅回路４にて検波、増幅し、ＣＲＴ
（陰極線管）等よりなる表示部５にてＡクコ−１表示
するようにしている。また、上記探傷時の探触子２の位
置は、探触子位置検出部６にて位置データ間（ｘ、ｙ）
として得られ、この位置データＭ（ｘ、ｙ）と、上記検
波増幅回路４の出力をＡ／Ｄ変換回路７にてデジタル量
に変換した反射波データとを演算回路８に取込み、ここ
で欠陥位置及び反射波強度等の情報を得て記録部９に与
え記録するようにしている。
励振し、図示し力い被検体に超音波を送信し、その反射
涙金例えば上記探触子２で受信し、受信回路３で電気信
号に変換し、検波増幅回路４にて検波、増幅し、ＣＲＴ
（陰極線管）等よりなる表示部５にてＡクコ−１表示
するようにしている。また、上記探傷時の探触子２の位
置は、探触子位置検出部６にて位置データ間（ｘ、ｙ）
として得られ、この位置データＭ（ｘ、ｙ）と、上記検
波増幅回路４の出力をＡ／Ｄ変換回路７にてデジタル量
に変換した反射波データとを演算回路８に取込み、ここ
で欠陥位置及び反射波強度等の情報を得て記録部９に与
え記録するようにしている。
上記における探触子位置検出部６は、例えば第２図（、
） （ｂ）に示される如く構成されている。即ち、９Ａ
はＸスライド軸、９ＢはＹスライド軸であシ、これらの
交差部には駆動装置９Ｃが設けられてＸスライド軸９Ａ
の端部の探触子２をＸ方向、Ｙ方向に移動可能としてい
る。そしてこの駆動装置９Ｃには、Ｘ、、Ｙ座標をポテ
ンショメータ等で検出する位置検出センサー９Ｄが設け
られ、位置データＭ（Ｘ、Ｙ）を出力し、演算回路８に
与える。上記構成の探触子位置検出部９は、被検体Ｐに
載置され、その欠陥ｃｔ６探傷し、超音波路程Ｂ１超音
波入射角θ、基準線Ｅから、内部欠陥ｃｔ−１での距離
し、被検体Ｐの表面から欠陥Ｃｔまでの距離（深さ）Ｄ
を知ることができるようになり、いる。そして演算回路
８からは欠陥位置データ（Ｌ、Ｙ、Ｄ）と、その欠陥Ｃ
ｔからの反射波強度データを出力するようになっている
。
） （ｂ）に示される如く構成されている。即ち、９Ａ
はＸスライド軸、９ＢはＹスライド軸であシ、これらの
交差部には駆動装置９Ｃが設けられてＸスライド軸９Ａ
の端部の探触子２をＸ方向、Ｙ方向に移動可能としてい
る。そしてこの駆動装置９Ｃには、Ｘ、、Ｙ座標をポテ
ンショメータ等で検出する位置検出センサー９Ｄが設け
られ、位置データＭ（Ｘ、Ｙ）を出力し、演算回路８に
与える。上記構成の探触子位置検出部９は、被検体Ｐに
載置され、その欠陥ｃｔ６探傷し、超音波路程Ｂ１超音
波入射角θ、基準線Ｅから、内部欠陥ｃｔ−１での距離
し、被検体Ｐの表面から欠陥Ｃｔまでの距離（深さ）Ｄ
を知ることができるようになり、いる。そして演算回路
８からは欠陥位置データ（Ｌ、Ｙ、Ｄ）と、その欠陥Ｃ
ｔからの反射波強度データを出力するようになっている
。
上記構成であれば、基準線Ｅからの探触子２の位置が位
置データＭ（Ｘ、Ｙ）として得られ、これにより探傷さ
れた欠陥Ｃｔの位置を把握することが可能となる。しか
し乍ら、探触子位置検出部９は、機械的な構成であるの
で、装置全体が大型であり、取扱いが容易でないばかシ
か、被検体Ｐが複雑形状の場合、狭部の探傷等では適用
が困難である等の不具合を有している。
置データＭ（Ｘ、Ｙ）として得られ、これにより探傷さ
れた欠陥Ｃｔの位置を把握することが可能となる。しか
し乍ら、探触子位置検出部９は、機械的な構成であるの
で、装置全体が大型であり、取扱いが容易でないばかシ
か、被検体Ｐが複雑形状の場合、狭部の探傷等では適用
が困難である等の不具合を有している。
本発明は上記事情に基づいて力されたもので、その目的
とするところは、被検体内の内部欠陥の位置を容易に把
握することが可能な超音波探傷装置を提供することにあ
る。
とするところは、被検体内の内部欠陥の位置を容易に把
握することが可能な超音波探傷装置を提供することにあ
る。
本発明による超音波探傷装置は、Ａノコ−１表示と共に
、被検体の所定部位から得た複数の反射波を加算し、こ
の加算波形のピークを上記被検体の内部欠陥の位置デー
タとして記録表示するようにしたことを特徴としている
。
、被検体の所定部位から得た複数の反射波を加算し、こ
の加算波形のピークを上記被検体の内部欠陥の位置デー
タとして記録表示するようにしたことを特徴としている
。
以下本発明に係る超音波探傷装置を第３図に示す一実施
例に従い説明する。第３図においては第１図と同一部分
には同一符号を付している。
例に従い説明する。第３図においては第１図と同一部分
には同一符号を付している。
即ち、１は探触子２に励振信号を与える送信回路である
。３は探触子２を介して反射波信号を受信する受信回路
である。７は受信回路４からのアナログ量の反射波信号
をデジタル量に変換するＡ／Ｄ変換回路である。１０は
予じめ、距離対して感度補正した基準波形データが記憶
されている基準波形データメモリである。１１は１探傷
毎に上記基準波形データと上記反射波データとを取込み
、基準波形よりも大きい信号レベルの反射波形を１探傷
毎に演算する演算回路である。１２は上記演算回路１１
の１探傷毎の演算結果全記憶するデータメモリであシ、
複数の反射波データが単純加算される。１３は探触子２
に取付けられ、複数回探傷するに際して探傷開始、終了
信号全手動にて起動する記録開始スイッチである。１４
は演算回路１ノからのＡスコープ像を表示する表示部で
ある。１５は複数回の探傷後にデータメモリ１２にて得
た加算波形に基づき得た欠陥位置データを記録する記録
部である。
。３は探触子２を介して反射波信号を受信する受信回路
である。７は受信回路４からのアナログ量の反射波信号
をデジタル量に変換するＡ／Ｄ変換回路である。１０は
予じめ、距離対して感度補正した基準波形データが記憶
されている基準波形データメモリである。１１は１探傷
毎に上記基準波形データと上記反射波データとを取込み
、基準波形よりも大きい信号レベルの反射波形を１探傷
毎に演算する演算回路である。１２は上記演算回路１１
の１探傷毎の演算結果全記憶するデータメモリであシ、
複数の反射波データが単純加算される。１３は探触子２
に取付けられ、複数回探傷するに際して探傷開始、終了
信号全手動にて起動する記録開始スイッチである。１４
は演算回路１ノからのＡスコープ像を表示する表示部で
ある。１５は複数回の探傷後にデータメモリ１２にて得
た加算波形に基づき得た欠陥位置データを記録する記録
部である。
次に上記の如く構成された本実施例の作用について第４
図の模式図、第５図のＡスコープ表示図、第６図のデー
タメモリ１２の出力表示図を参照して説明する。
図の模式図、第５図のＡスコープ表示図、第６図のデー
タメモリ１２の出力表示図を参照して説明する。
即ち、第４図に示すように被検体Ｐの欠陥Ｃｔに対し、
探触子２を移動しつつ複数回探傷する。
探触子２を移動しつつ複数回探傷する。
この場合、各探傷結果（Ａノコ−１表示）は第５図に示
す波形となる。この探傷をＸ回行なって、その探傷毎に
基準波形Ｎと反射波とを比較し、基準波形Ｎよシも信号
レベルが大きい信号をデータメモリ１２にｘ回単純加算
する。これによシ＠６図に示す加算波形が得られる。こ
の加算波形には第１、第２のビークＢ、、Ｂ、が存在し
、このビークＢ、、Ｂ、の近傍に欠陥Ｃｔ （ピークが
２個で欠陥Ｃｔは２個存在している）が存在しているこ
とがわかる。ここで記録開始スイッチ１３を起動するこ
とによシ第５図の距離軸ｆｎ等分し、その１番目の強度
Ｆ （］）が数値化されて記録部１５から出力される。
す波形となる。この探傷をＸ回行なって、その探傷毎に
基準波形Ｎと反射波とを比較し、基準波形Ｎよシも信号
レベルが大きい信号をデータメモリ１２にｘ回単純加算
する。これによシ＠６図に示す加算波形が得られる。こ
の加算波形には第１、第２のビークＢ、、Ｂ、が存在し
、このビークＢ、、Ｂ、の近傍に欠陥Ｃｔ （ピークが
２個で欠陥Ｃｔは２個存在している）が存在しているこ
とがわかる。ここで記録開始スイッチ１３を起動するこ
とによシ第５図の距離軸ｆｎ等分し、その１番目の強度
Ｆ （］）が数値化されて記録部１５から出力される。
なお第４図及び第５図におけるＢは超音波発射点から欠
陥Ｃｔまでの距離である。
陥Ｃｔまでの距離である。
以上述べたように本実施例によれば、機械的な手段を用
いることなく、ある探傷部位で複数回探傷することで、
Ａスコープ表示と共に被検体Ｐ中の欠陥の位置をデータ
出力することができる。これにより、被検体Ｐの周状、
探傷部によらないで容易に欠陥の位置全把握することが
できる。
いることなく、ある探傷部位で複数回探傷することで、
Ａスコープ表示と共に被検体Ｐ中の欠陥の位置をデータ
出力することができる。これにより、被検体Ｐの周状、
探傷部によらないで容易に欠陥の位置全把握することが
できる。
本発明は上記実施例に限定されるものではなく、本発明
の要旨を逸脱しない範囲で種々変形して実施できる。
の要旨を逸脱しない範囲で種々変形して実施できる。
以上述べたように本発明によれば１．Ａスコープ表示す
ると共に被検体の所定部位から得た複数の反射波を加算
し、この加算波形のピークを上記被検体の内部欠陥の位
置データとして記録表示するようにしたので、容易に内
部欠陥の位置を把握することが可能な超音波探傷装置が
提供できる。
ると共に被検体の所定部位から得た複数の反射波を加算
し、この加算波形のピークを上記被検体の内部欠陥の位
置データとして記録表示するようにしたので、容易に内
部欠陥の位置を把握することが可能な超音波探傷装置が
提供できる。
第１図は従来の超音波探傷装置を示すブロック図、第２
図（、） （ｂ）は第１図の装置における探触子位置検
出部を示し第２図（、）は上面図、第２図（ｂ）は側面
図、第３図は本発明に係る超音波探傷装置の一実施例を
示すブロック図、第４図乃至第６図は夫々同実施例の作
用を説明するための図である。 １・・・送信回路、２・・・探触子、３・・・受信回路
、４・・・検波増幅回路、７・・・Ａ／Ｄ変換回路、１
゜・・・基準波形データメモリ、１ノ・・・演算回路、
１２・・・データメモリ、１３・・・配備開始スイッチ
、１４・・・表示部、１５・・・記録部。 出願人代理人 弁理士 鈴 江 武 彦第２図 第３図
図（、） （ｂ）は第１図の装置における探触子位置検
出部を示し第２図（、）は上面図、第２図（ｂ）は側面
図、第３図は本発明に係る超音波探傷装置の一実施例を
示すブロック図、第４図乃至第６図は夫々同実施例の作
用を説明するための図である。 １・・・送信回路、２・・・探触子、３・・・受信回路
、４・・・検波増幅回路、７・・・Ａ／Ｄ変換回路、１
゜・・・基準波形データメモリ、１ノ・・・演算回路、
１２・・・データメモリ、１３・・・配備開始スイッチ
、１４・・・表示部、１５・・・記録部。 出願人代理人 弁理士 鈴 江 武 彦第２図 第３図
Claims (1)
- 被検体に超音波を送信しその反射波をＡクコ−１表示す
る超音波探傷装置において、上記被検体の所定部位から
得た複数の反射波を加算し、この加算波形のピークを、
上記被検体の内部欠陥の位置データとして記録表示する
手段を具備したことを特徴とする超音波探傷装置。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP59072195A JPS60214254A (ja) | 1984-04-11 | 1984-04-11 | 超音波探傷装置 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP59072195A JPS60214254A (ja) | 1984-04-11 | 1984-04-11 | 超音波探傷装置 |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPS60214254A true JPS60214254A (ja) | 1985-10-26 |
Family
ID=13482191
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP59072195A Pending JPS60214254A (ja) | 1984-04-11 | 1984-04-11 | 超音波探傷装置 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPS60214254A (ja) |
Cited By (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPH11337534A (ja) * | 1998-05-28 | 1999-12-10 | Hitachi Constr Mach Co Ltd | 携帯用超音波探傷器 |
-
1984
- 1984-04-11 JP JP59072195A patent/JPS60214254A/ja active Pending
Cited By (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPH11337534A (ja) * | 1998-05-28 | 1999-12-10 | Hitachi Constr Mach Co Ltd | 携帯用超音波探傷器 |
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