JPH08271485A - 延伸された加工物の欠陥検出方法及び装置 - Google Patents
延伸された加工物の欠陥検出方法及び装置Info
- Publication number
- JPH08271485A JPH08271485A JP8097711A JP9771196A JPH08271485A JP H08271485 A JPH08271485 A JP H08271485A JP 8097711 A JP8097711 A JP 8097711A JP 9771196 A JP9771196 A JP 9771196A JP H08271485 A JPH08271485 A JP H08271485A
- Authority
- JP
- Japan
- Prior art keywords
- signal
- converter
- electrodynamic
- converters
- test
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Granted
Links
Classifications
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01N—INVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
- G01N29/00—Investigating or analysing materials by the use of ultrasonic, sonic or infrasonic waves; Visualisation of the interior of objects by transmitting ultrasonic or sonic waves through the object
- G01N29/04—Analysing solids
- G01N29/11—Analysing solids by measuring attenuation of acoustic waves
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01N—INVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
- G01N29/00—Investigating or analysing materials by the use of ultrasonic, sonic or infrasonic waves; Visualisation of the interior of objects by transmitting ultrasonic or sonic waves through the object
- G01N29/04—Analysing solids
- G01N29/041—Analysing solids on the surface of the material, e.g. using Lamb, Rayleigh or shear waves
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01N—INVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
- G01N29/00—Investigating or analysing materials by the use of ultrasonic, sonic or infrasonic waves; Visualisation of the interior of objects by transmitting ultrasonic or sonic waves through the object
- G01N29/22—Details, e.g. general constructional or apparatus details
- G01N29/222—Constructional or flow details for analysing fluids
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01N—INVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
- G01N29/00—Investigating or analysing materials by the use of ultrasonic, sonic or infrasonic waves; Visualisation of the interior of objects by transmitting ultrasonic or sonic waves through the object
- G01N29/34—Generating the ultrasonic, sonic or infrasonic waves, e.g. electronic circuits specially adapted therefor
- G01N29/341—Generating the ultrasonic, sonic or infrasonic waves, e.g. electronic circuits specially adapted therefor with time characteristics
- G01N29/343—Generating the ultrasonic, sonic or infrasonic waves, e.g. electronic circuits specially adapted therefor with time characteristics pulse waves, e.g. particular sequence of pulses, bursts
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01N—INVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
- G01N29/00—Investigating or analysing materials by the use of ultrasonic, sonic or infrasonic waves; Visualisation of the interior of objects by transmitting ultrasonic or sonic waves through the object
- G01N29/36—Detecting the response signal, e.g. electronic circuits specially adapted therefor
- G01N29/40—Detecting the response signal, e.g. electronic circuits specially adapted therefor by amplitude filtering, e.g. by applying a threshold or by gain control
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01N—INVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
- G01N29/00—Investigating or analysing materials by the use of ultrasonic, sonic or infrasonic waves; Visualisation of the interior of objects by transmitting ultrasonic or sonic waves through the object
- G01N29/44—Processing the detected response signal, e.g. electronic circuits specially adapted therefor
- G01N29/4454—Signal recognition, e.g. specific values or portions, signal events, signatures
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01N—INVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
- G01N2291/00—Indexing codes associated with group G01N29/00
- G01N2291/04—Wave modes and trajectories
- G01N2291/042—Wave modes
- G01N2291/0425—Parallel to the surface, e.g. creep waves
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01N—INVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
- G01N2291/00—Indexing codes associated with group G01N29/00
- G01N2291/04—Wave modes and trajectories
- G01N2291/044—Internal reflections (echoes), e.g. on walls or defects
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01N—INVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
- G01N2291/00—Indexing codes associated with group G01N29/00
- G01N2291/26—Scanned objects
- G01N2291/263—Surfaces
- G01N2291/2634—Surfaces cylindrical from outside
Landscapes
- Physics & Mathematics (AREA)
- Analytical Chemistry (AREA)
- Health & Medical Sciences (AREA)
- Life Sciences & Earth Sciences (AREA)
- Chemical & Material Sciences (AREA)
- Biochemistry (AREA)
- General Health & Medical Sciences (AREA)
- General Physics & Mathematics (AREA)
- Immunology (AREA)
- Pathology (AREA)
- Acoustics & Sound (AREA)
- Signal Processing (AREA)
- Engineering & Computer Science (AREA)
- Investigating Or Analyzing Materials By The Use Of Ultrasonic Waves (AREA)
Abstract
(57)【要約】
【課題】 管材１又は棒材を回転させずにエレクトロダ
イナミック変換器（Ｗ１〜Ｗ６）の近傍を軸方向に移動
させ、上記変換器で管材等の周方向に伝播する超音波を
発生させ、反射波、透過波を解析することにより欠陥を
検出する方法、装置において、管材等の直径が４００ｍ
ｍ以上のときに適用できるものを提案する。 【解決手段】 変換器を２つづつ対にして（Ｗ１，Ｗ
２；Ｗ３，Ｗ４；Ｗ５，Ｗ６）、１つの変換器担体（１
１，１１ａ，１１ｂ）に取り付け、これらの変換器担体
を周上に等角度間隔で配置、全変換器担体の一方の変換
器の組（Ｗ１，Ｗ３，Ｗ５）と他方の変換器の組（Ｗ
２，Ｗ４，Ｗ６）を交互に送信器と受信器として使用
し、１つの欠陥からの反射波、透過波を複数の変換器で
受信し、これらの複数の変換器の出力を解析して欠陥の
位置を同定する。
イナミック変換器（Ｗ１〜Ｗ６）の近傍を軸方向に移動
させ、上記変換器で管材等の周方向に伝播する超音波を
発生させ、反射波、透過波を解析することにより欠陥を
検出する方法、装置において、管材等の直径が４００ｍ
ｍ以上のときに適用できるものを提案する。 【解決手段】 変換器を２つづつ対にして（Ｗ１，Ｗ
２；Ｗ３，Ｗ４；Ｗ５，Ｗ６）、１つの変換器担体（１
１，１１ａ，１１ｂ）に取り付け、これらの変換器担体
を周上に等角度間隔で配置、全変換器担体の一方の変換
器の組（Ｗ１，Ｗ３，Ｗ５）と他方の変換器の組（Ｗ
２，Ｗ４，Ｗ６）を交互に送信器と受信器として使用
し、１つの欠陥からの反射波、透過波を複数の変換器で
受信し、これらの複数の変換器の出力を解析して欠陥の
位置を同定する。
Description
【０００１】
【発明の属する技術分野】本発明は請求項１の上位概念
に記載の例えば管材及び棒材等の延伸された加工物の欠
陥検出方法に関する。
に記載の例えば管材及び棒材等の延伸された加工物の欠
陥検出方法に関する。
【０００２】
【従来の技術】ドイツ特許出願公告第ＤＥ３９４３２２
６Ｂ１号公報に本発明の基本となる発明が開示されてい
る。そこで開示されている公知の方法では、試験体が回
転されずに少なくとも１つの定置のエレクトロダイナミ
ック変換器の側を軸方向に通過案内され、各クロック毎
にエレクトロダイナミック変換器により音波の波パルス
が試験体の中に作られ、波パルスは試験体の中で円周方
向の接線方向の両方向に伝播し案内される波の波長の１
／４の長さだけ送信場所に対してずらされている受信場
所で受信される。試験体の周方向の方向に同時に伝播し
ている波パルスを送信する場所と受信する場所は、両者
が受信場所で相殺的に干渉するように選択されている。
この場合それぞれのクロックにおいて、受信信号と、試
験体の回りを回転する波パルスの１回転時間の１／４の
時間より短く選択されている信号周期を有し欠陥無しの
加工物の場合に妨げられずに走行する波パルスの減衰時
間の長さに対応する信号幅を有する高いデューティ比の
バースト信号とが、ピーク検出器に供給され、ピーク検
出器の出力信号がデジタル化されて計算機に伝送され
る。
６Ｂ１号公報に本発明の基本となる発明が開示されてい
る。そこで開示されている公知の方法では、試験体が回
転されずに少なくとも１つの定置のエレクトロダイナミ
ック変換器の側を軸方向に通過案内され、各クロック毎
にエレクトロダイナミック変換器により音波の波パルス
が試験体の中に作られ、波パルスは試験体の中で円周方
向の接線方向の両方向に伝播し案内される波の波長の１
／４の長さだけ送信場所に対してずらされている受信場
所で受信される。試験体の周方向の方向に同時に伝播し
ている波パルスを送信する場所と受信する場所は、両者
が受信場所で相殺的に干渉するように選択されている。
この場合それぞれのクロックにおいて、受信信号と、試
験体の回りを回転する波パルスの１回転時間の１／４の
時間より短く選択されている信号周期を有し欠陥無しの
加工物の場合に妨げられずに走行する波パルスの減衰時
間の長さに対応する信号幅を有する高いデューティ比の
バースト信号とが、ピーク検出器に供給され、ピーク検
出器の出力信号がデジタル化されて計算機に伝送され
る。
【０００３】この方法の欠点は、大きい周縁長を有する
管、すなわち、直径が４００ｍｍより大きい管に適して
いないことにある。更に、欠陥個所の周縁座標に関する
情報が提供されない。これは、修理されるべき溶接管の
場合には容認されない。
管、すなわち、直径が４００ｍｍより大きい管に適して
いないことにある。更に、欠陥個所の周縁座標に関する
情報が提供されない。これは、修理されるべき溶接管の
場合には容認されない。
【０００４】
【発明が解決しようとする課題】本発明の課題は、直径
が４００ｍｍより大きい管，特に９００ｍｍより大きい
管に適し欠陥個所の円周上の座標を求めることを可能に
する管材及び棒材等の延伸された加工物における欠陥を
検出する方法を提供することにある。更に、必要な機械
的構造が簡単かつ安価であることも課題である。
が４００ｍｍより大きい管，特に９００ｍｍより大きい
管に適し欠陥個所の円周上の座標を求めることを可能に
する管材及び棒材等の延伸された加工物における欠陥を
検出する方法を提供することにある。更に、必要な機械
的構造が簡単かつ安価であることも課題である。
【０００５】
【課題を解決するための手段】上記課題は本発明によ
り、請求項１の特徴部分に記載の特徴により解決され
る。本発明の方法を実施する装置は、従属する請求項に
記載されている。
り、請求項１の特徴部分に記載の特徴により解決され
る。本発明の方法を実施する装置は、従属する請求項に
記載されている。
【０００６】本発明では、試験体の中に、少なくとも４
つの対称的に周方向に分離されて位置する場所で周方向
の両方向に伝播する波パルスが発生され、それぞれの試
験クロックで全変換器の半数が交互にトリガされる。こ
れは、分離されて位置する発生場所を６個所又は８個所
とすることが可能であることを意味する。しかし、更に
発生場所の数を増加すると、全装置を作動するための電
子的及び機械的コストも増加する。
つの対称的に周方向に分離されて位置する場所で周方向
の両方向に伝播する波パルスが発生され、それぞれの試
験クロックで全変換器の半数が交互にトリガされる。こ
れは、分離されて位置する発生場所を６個所又は８個所
とすることが可能であることを意味する。しかし、更に
発生場所の数を増加すると、全装置を作動するための電
子的及び機械的コストも増加する。
【０００７】このように選択された配置は次の利点を有
する。新しい試験波の発射が行われる前に、先行の超音
波は消滅しなければならない。従って、できるだけ大き
いクロック周波数と、ひいては高い検査効率を得るため
に、半数、すなわち６つの変換器の配置の場合には３つ
の変換器が同時にトリガされる。これにより、全部で２
回の試験波の発射を行えば管の全周縁が重畳して試験さ
れることが保証される。
する。新しい試験波の発射が行われる前に、先行の超音
波は消滅しなければならない。従って、できるだけ大き
いクロック周波数と、ひいては高い検査効率を得るため
に、半数、すなわち６つの変換器の配置の場合には３つ
の変換器が同時にトリガされる。これにより、全部で２
回の試験波の発射を行えば管の全周縁が重畳して試験さ
れることが保証される。
【０００８】選択された対称的配置により、反射信号及
び透過信号は最小限にしか互いに妨げず、透過ピークの
間隔が一様になる。更に、この配置により、試験される
領域が最適に重畳して検査される。
び透過信号は最小限にしか互いに妨げず、透過ピークの
間隔が一様になる。更に、この配置により、試験される
領域が最適に重畳して検査される。
【０００９】発生データ量の処理は、反射波を用いる技
術において非常に重要である。ゲート区間発生器は、典
型的には３３μｓの周期及び９９：１のデューティ比を
有する方形信号を発生する。方形信号（バースト信号）
の全パルス長は、直径に依存して、評価する信号のパル
ス長に合わされる。この方形信号は変換器を励振するス
トローブ信号として機能する。例えば、１メートルの直
径の管に対しては３４個のゲート区間が設けられる。こ
れは、周方向で見て５０ｍｍを単位として検査すること
に相当する。管が軸方向に移動するので、５０ｍｍの幅
のラスタができる。通常の試験課題ではこの分解能で充
分である、何故ならば研磨個所は常に数ｃｍの大きさで
あり、従って互いに隣接する領域も一緒に試験されるか
らである。
術において非常に重要である。ゲート区間発生器は、典
型的には３３μｓの周期及び９９：１のデューティ比を
有する方形信号を発生する。方形信号（バースト信号）
の全パルス長は、直径に依存して、評価する信号のパル
ス長に合わされる。この方形信号は変換器を励振するス
トローブ信号として機能する。例えば、１メートルの直
径の管に対しては３４個のゲート区間が設けられる。こ
れは、周方向で見て５０ｍｍを単位として検査すること
に相当する。管が軸方向に移動するので、５０ｍｍの幅
のラスタができる。通常の試験課題ではこの分解能で充
分である、何故ならば研磨個所は常に数ｃｍの大きさで
あり、従って互いに隣接する領域も一緒に試験されるか
らである。
【００１０】特別な場合、このラスタを２０ｍｍ幅に減
じることが必要であることもある。この場合、信号の数
が増えるので、実際に重要な信号のみが処理されるよう
に、例えば６ｄＢのノイズレベルより大幅に高い振幅値
のみが、ゲート区間の番号（波の伝播時間から求められ
る）を表す信号と一緒に中央演算装置に伝送される。
じることが必要であることもある。この場合、信号の数
が増えるので、実際に重要な信号のみが処理されるよう
に、例えば６ｄＢのノイズレベルより大幅に高い振幅値
のみが、ゲート区間の番号（波の伝播時間から求められ
る）を表す信号と一緒に中央演算装置に伝送される。
【００１１】反射波が捕らえられたときその伝播時間に
対応するゲート区間の番号は既知であるので、それぞれ
の組合せられている変換器からの推定欠陥個所の距離が
情報として得られる。しかしこの場合まだ、欠陥個所が
変換器から見て時計の針の回転方向に位置するか又はそ
の反対の方向に位置するかは判断できない。
対応するゲート区間の番号は既知であるので、それぞれ
の組合せられている変換器からの推定欠陥個所の距離が
情報として得られる。しかしこの場合まだ、欠陥個所が
変換器から見て時計の針の回転方向に位置するか又はそ
の反対の方向に位置するかは判断できない。
【００１２】この判断を可能にするためには適切な論理
回路により、別の変換器の反射信号も一緒に考慮し、こ
れにより、いずれの周縁セグメント（例えば周囲を５０
ｍｍ毎に区切った区間）の中に欠陥個所が位置するかを
求める。
回路により、別の変換器の反射信号も一緒に考慮し、こ
れにより、いずれの周縁セグメント（例えば周囲を５０
ｍｍ毎に区切った区間）の中に欠陥個所が位置するかを
求める。
【００１３】適切な統計的なゆらぎ除去アルゴリズムに
より、試験動作の終了後にデータを評価でき、これによ
り例えば統計的ゆらぎに起因する孤立的データが除去さ
れる。２つの変換器が同一の場所に表示を検出すると初
めて、欠陥個所と推定される。
より、試験動作の終了後にデータを評価でき、これによ
り例えば統計的ゆらぎに起因する孤立的データが除去さ
れる。２つの変換器が同一の場所に表示を検出すると初
めて、欠陥個所と推定される。
【００１４】このように範囲が限定された欠陥個所に対
して、付加的に振幅値が得られ、これにより表示すべき
欠陥として評価することが可能となる。
して、付加的に振幅値が得られ、これにより表示すべき
欠陥として評価することが可能となる。
【００１５】前述の方法の利点は、第１に、ゲート区間
を適切に設定することにより、中央演算装置が処理する
データ量を最初から減少でき、第２に、欠陥個所の周縁
上の座標を求めることができることにある。
を適切に設定することにより、中央演算装置が処理する
データ量を最初から減少でき、第２に、欠陥個所の周縁
上の座標を求めることができることにある。
【００１６】例えば精密管の場合には欠陥個所の周縁座
標を求めることは無益である、何故ならば所定の欠陥レ
ベルを越えると、その管は廃棄されなければならないか
らである。局所的修理は不可能であり、たとえ可能であ
ってもコストがかかりすぎる。
標を求めることは無益である、何故ならば所定の欠陥レ
ベルを越えると、その管は廃棄されなければならないか
らである。局所的修理は不可能であり、たとえ可能であ
ってもコストがかかりすぎる。
【００１７】大型管の場合には修理が可能であること
は、重要である。この点に関して大型溶接管の場合に
は、更に次のことを注意しなければならない。本装置に
試験体を制御して供給する際、溶接継目が変換器の下に
位置しないことが保証されなければならない。何故なら
ば溶接継目が変換器の下に位置すると、この変換器とは
不定の不充分な結合となるからである。溶接継目は、あ
る程度は管全長にわたり予測される小さい反射波の表示
を生じさせる。この表示線は検出でき、継目に対応させ
ることができる。
は、重要である。この点に関して大型溶接管の場合に
は、更に次のことを注意しなければならない。本装置に
試験体を制御して供給する際、溶接継目が変換器の下に
位置しないことが保証されなければならない。何故なら
ば溶接継目が変換器の下に位置すると、この変換器とは
不定の不充分な結合となるからである。溶接継目は、あ
る程度は管全長にわたり予測される小さい反射波の表示
を生じさせる。この表示線は検出でき、継目に対応させ
ることができる。
【００１８】本発明の反射波解析の技術と、公知の透過
波解析の技術とを一緒に利用することにより得られる利
点は、形態及び大きさが非常に異なる欠陥を確実に検出
できることにある。例えば、表面の浅い窪みは反射技術
では確実には検出できない。しかしこのような窪みは透
過技術により確実に検出できる。
波解析の技術とを一緒に利用することにより得られる利
点は、形態及び大きさが非常に異なる欠陥を確実に検出
できることにある。例えば、表面の浅い窪みは反射技術
では確実には検出できない。しかしこのような窪みは透
過技術により確実に検出できる。
【００１９】簡単かつ小コストの機械的構造のための選
択された配置は、とりわけ有利である。それぞれ２つの
変換器がそれぞれ１つの変換器担体に一緒に取付けられ
る。この変換器担体は全体として、管中心点を通り、管
軸線に垂直な軸線に沿って動かすことができ、この変換
器担体は、前述の軸線を中心に僅かな回転運動を行うこ
とができる。これにより、試験の間の管がずれを補償で
き、この機構は、例えば管径等に合わせるための寸法調
整の面で非常に簡単に構成できる。
択された配置は、とりわけ有利である。それぞれ２つの
変換器がそれぞれ１つの変換器担体に一緒に取付けられ
る。この変換器担体は全体として、管中心点を通り、管
軸線に垂直な軸線に沿って動かすことができ、この変換
器担体は、前述の軸線を中心に僅かな回転運動を行うこ
とができる。これにより、試験の間の管がずれを補償で
き、この機構は、例えば管径等に合わせるための寸法調
整の面で非常に簡単に構成できる。
【００２０】一般的に言って、本発明では２・ｎ個の変
換器（ただしｎは２以上）が設けられ、１つの変換器担
体に取付けられている変換器と変換器との間の間隔は３
６０゜／４／ｎである。それぞれ２つの変換器を有する
変換器担体と変換器担体との間の間隔は、３６０゜／ｎ
である。
換器（ただしｎは２以上）が設けられ、１つの変換器担
体に取付けられている変換器と変換器との間の間隔は３
６０゜／４／ｎである。それぞれ２つの変換器を有する
変換器担体と変換器担体との間の間隔は、３６０゜／ｎ
である。
【００２１】提案される方法は、内径が本機構構造の通
過を可能にする場合には管の内部試験にも適する。この
場合、本発明により得られる簡単な構造が有利である。
過を可能にする場合には管の内部試験にも適する。この
場合、本発明により得られる簡単な構造が有利である。
【００２２】
【発明の実施の形態】図１には、本発明の方法を実施す
る原理的構成が示されている。
る原理的構成が示されている。
【００２３】試験体１に僅かに間隔を置いて配置されて
いる全部で６つの変換器Ｗ１〜Ｗ６から同時に３つの変
換器（図１では変換器Ｗ１，Ｗ３，Ｗ５）が、試験体１
の周方向上の両方向に波パルスＡ，Ｂを放出する。この
例では、放出された波パルスＡ又はＢは波状線により示
され、波パルスＡは時計の針と同一の回転方向に定めら
れ、Ｂは時計の針とは反対の回転方向に定められてい
る。
いる全部で６つの変換器Ｗ１〜Ｗ６から同時に３つの変
換器（図１では変換器Ｗ１，Ｗ３，Ｗ５）が、試験体１
の周方向上の両方向に波パルスＡ，Ｂを放出する。この
例では、放出された波パルスＡ又はＢは波状線により示
され、波パルスＡは時計の針と同一の回転方向に定めら
れ、Ｂは時計の針とは反対の回転方向に定められてい
る。
【００２４】両方の波パルスＡ，Ｂは周方向に幾度も回
り、周縁の一定の２つの点で再び出合う。それぞれの変
換器Ｗ１，Ｗ３，Ｗ５のそれぞれに正確１８０゜ずれて
位置するすなわち正確に対向して位置する個所がそれぞ
れ、Ｐos．２，Ｐos．３，Ｐos．４により示されてい
る。
り、周縁の一定の２つの点で再び出合う。それぞれの変
換器Ｗ１，Ｗ３，Ｗ５のそれぞれに正確１８０゜ずれて
位置するすなわち正確に対向して位置する個所がそれぞ
れ、Ｐos．２，Ｐos．３，Ｐos．４により示されてい
る。
【００２５】図示の変換器Ｗ１〜Ｗ６は組合せ変換器と
呼ばれる、何故ならば変換器Ｗ１〜Ｗ６は送信巻線と受
信巻線を有するからである。必要な試験感度を保証する
ために、まず反射技術が使用される、すなわち欠陥個所
で反射された波成分が検出される。更に、透過信号も測
定され評価される。
呼ばれる、何故ならば変換器Ｗ１〜Ｗ６は送信巻線と受
信巻線を有するからである。必要な試験感度を保証する
ために、まず反射技術が使用される、すなわち欠陥個所
で反射された波成分が検出される。更に、透過信号も測
定され評価される。
【００２６】大型管すなわち直径が９００ｍｍより大き
い管の場合に試験体の全周縁をくまなく監視できるため
には、組合せ変換器Ｗ１〜Ｗ６が必要である。これらの
６つの変換器Ｗ１〜Ｗ６は１つの平面の中に周縁の上に
位置−１５゜，１５゜（変換器Ｗ１，Ｗ２）；１０５
゜，１３５゜（変換器Ｗ３，Ｗ４）及び２２５゜，２５
５゜（変換器Ｗ５，Ｗ６）に配置されている。３つの送
信変換器Ｗ１，Ｗ３，Ｗ５又はＷ２，Ｗ４，Ｗ６はそれ
ぞれ、同時にトリガされる。
い管の場合に試験体の全周縁をくまなく監視できるため
には、組合せ変換器Ｗ１〜Ｗ６が必要である。これらの
６つの変換器Ｗ１〜Ｗ６は１つの平面の中に周縁の上に
位置−１５゜，１５゜（変換器Ｗ１，Ｗ２）；１０５
゜，１３５゜（変換器Ｗ３，Ｗ４）及び２２５゜，２５
５゜（変換器Ｗ５，Ｗ６）に配置されている。３つの送
信変換器Ｗ１，Ｗ３，Ｗ５又はＷ２，Ｗ４，Ｗ６はそれ
ぞれ、同時にトリガされる。
【００２７】本発明ではそれぞれ２つの変換器、すなわ
ち変換器Ｗ１，Ｗ２；変換器Ｗ３，Ｗ４又は変換器Ｗ
５，Ｗ６は変換器担体に載置されて取付けられている。
変換器担体は、２つのホルダ９，１０；９ａ，１０ａ：
９ｂ，１０ｂから成り、これらの２つのホルダ９，１
０；９ａ，１０ａ：９ｂ，１０ｂは回転中心点１１，１
１ａ，１１ｂを中心に回転させることができる。変換器
Ｗ１，Ｗ２の領域内の矢印１２は、変換器担体の運動可
能方向を示す。これにより、異なる寸法への簡単な整合
が可能となる。
ち変換器Ｗ１，Ｗ２；変換器Ｗ３，Ｗ４又は変換器Ｗ
５，Ｗ６は変換器担体に載置されて取付けられている。
変換器担体は、２つのホルダ９，１０；９ａ，１０ａ：
９ｂ，１０ｂから成り、これらの２つのホルダ９，１
０；９ａ，１０ａ：９ｂ，１０ｂは回転中心点１１，１
１ａ，１１ｂを中心に回転させることができる。変換器
Ｗ１，Ｗ２の領域内の矢印１２は、変換器担体の運動可
能方向を示す。これにより、異なる寸法への簡単な整合
が可能となる。
【００２８】本発明の方法を説明するために、１つのク
ロックｌの中で変換器Ｗ１を考察する。図２は概略的に
受信信号を示す。
ロックｌの中で変換器Ｗ１を考察する。図２は概略的に
受信信号を示す。
【００２９】送信巻線と受信巻線とのクロストークに起
因して変換器Ｗ１の直接下からの反射信号は受信できな
い。
因して変換器Ｗ１の直接下からの反射信号は受信できな
い。
【００３０】増幅器の過励振が減衰した後、図示の区間
ａ，ｂ（図１）からの反射信号が受信される。これは、
図２の区間５に相当する。
ａ，ｂ（図１）からの反射信号が受信される。これは、
図２の区間５に相当する。
【００３１】変換器Ｗ３，Ｗ５は変換器Ｗ１に対して対
称的に配置されているので、これらの変換器Ｗ３，Ｗ５
から発信された波は、実際の上で同時に変換器に到達
し、これらの波の振幅が大きいことに起因して変換器Ｗ
１の受信増幅器に過励振を生じさせる。両波列の重畳度
は定まらないので、この時間領域内での振幅測定は無益
である。
称的に配置されているので、これらの変換器Ｗ３，Ｗ５
から発信された波は、実際の上で同時に変換器に到達
し、これらの波の振幅が大きいことに起因して変換器Ｗ
１の受信増幅器に過励振を生じさせる。両波列の重畳度
は定まらないので、この時間領域内での振幅測定は無益
である。
【００３２】区間ｃ及びｄ（図１）からの反射信号が後
続し、そして変換器Ｗ３及びＷ５からそれぞれ逆の周方
向に発信された波が同時に変換器Ｗ１に到達する。区間
ｃ，ｄは図２の区間６に相当する。
続し、そして変換器Ｗ３及びＷ５からそれぞれ逆の周方
向に発信された波が同時に変換器Ｗ１に到達する。区間
ｃ，ｄは図２の区間６に相当する。
【００３３】より長い時間間隔での測定、すなわち区間
ｅ，ｆ（図１）からの信号の測定は無益である、何故な
らば個々の信号の同定はますます複雑になり、反射信号
は吸音に起因して振幅が小さすぎるからである。
ｅ，ｆ（図１）からの信号の測定は無益である、何故な
らば個々の信号の同定はますます複雑になり、反射信号
は吸音に起因して振幅が小さすぎるからである。
【００３４】現在の超音波が完全に消滅すると初めて、
すなわち回っている波の振幅がノイズとなって消滅する
と初めて、次の試験波を発射することに注意されたい。
すなわち回っている波の振幅がノイズとなって消滅する
と初めて、次の試験波を発射することに注意されたい。
【００３５】変換器Ｗ３，Ｗ５の受信信号は、アナログ
構造を有する。それぞれの周縁セグメントａ〜ｆは二重
に試験されるので、原理的には、反射表示がどこから到
来したのかを決定できる、何故ならば変換器Ｗ１〜Ｗ６
は両方向で動作するからである。
構造を有する。それぞれの周縁セグメントａ〜ｆは二重
に試験されるので、原理的には、反射表示がどこから到
来したのかを決定できる、何故ならば変換器Ｗ１〜Ｗ６
は両方向で動作するからである。
【００３６】周縁全体を完全に監視するために、次のク
ロックｌｌでは変換器Ｗ２，Ｗ４，Ｗ６を用いる。この
場合、監視されるセグメントの各端縁領域内では既にク
ロックｌで監視されたと想定される、何故ならば通常、
１つのクロックの中で試験不可能な区間は、試験可能な
区間より短いからである。
ロックｌｌでは変換器Ｗ２，Ｗ４，Ｗ６を用いる。この
場合、監視されるセグメントの各端縁領域内では既にク
ロックｌで監視されたと想定される、何故ならば通常、
１つのクロックの中で試験不可能な区間は、試験可能な
区間より短いからである。
【００３７】反射信号の外に、それぞれの時間クロック
の中で透過信号も受信される。変換器Ｗ１に対する図２
の第２の振幅７は、例えば方向Ａの変換器Ｗ３，Ｗ５の
透過信号を示し、図２の第３の振幅８は、反対の方向Ｂ
の変換器Ｗ３，Ｗ５の透過信号を示す。
の中で透過信号も受信される。変換器Ｗ１に対する図２
の第２の振幅７は、例えば方向Ａの変換器Ｗ３，Ｗ５の
透過信号を示し、図２の第３の振幅８は、反対の方向Ｂ
の変換器Ｗ３，Ｗ５の透過信号を示す。
【００３８】周縁座標を求める方法を説明するために、
図２の区間５は欠陥個所の振幅１３を示すとする。それ
ぞれの区間５と６の中に設定されるゲート区間１４又は
１５が概略的に画面表示装置の下方に示されている。
図２の区間５は欠陥個所の振幅１３を示すとする。それ
ぞれの区間５と６の中に設定されるゲート区間１４又は
１５が概略的に画面表示装置の下方に示されている。
【００３９】例として１つの区間毎に５つのゲート区間
が示されているが、しかし実際には非常に多数のゲート
区間が密に隣接して配置されている。同定は、ピーク検
出器が、ノイズレベル１６から立ち上っている振幅１３
を検出し、最大測定振幅値を記憶して行われる。
が示されているが、しかし実際には非常に多数のゲート
区間が密に隣接して配置されている。同定は、ピーク検
出器が、ノイズレベル１６から立ち上っている振幅１３
を検出し、最大測定振幅値を記憶して行われる。
【００４０】同時に、設定されたゲート区間の番号が計
数される。この場合、左側から数えてゲート区間列１４
の２番目のゲート区間である。ゲート区間の番号は走行
時間に対応するので、幾ｍｍだけ変換器Ｗ１から離れて
欠陥個所１３が位置するかを簡単に計算できる。
数される。この場合、左側から数えてゲート区間列１４
の２番目のゲート区間である。ゲート区間の番号は走行
時間に対応するので、幾ｍｍだけ変換器Ｗ１から離れて
欠陥個所１３が位置するかを簡単に計算できる。
【００４１】変換器Ｗ２，Ｗ４，Ｗ６の次の試験波の発
射でこの欠陥個所１３は再び変換器Ｗ２，Ｗ４，Ｗ６の
うちの１つにより検出されると、第１に、統計的ゆらぎ
でないことが確認され、第２に、これら２つの走行時間
を論理的に解析することにより欠陥個所１３の周縁上の
座標を正確に求めることができる。
射でこの欠陥個所１３は再び変換器Ｗ２，Ｗ４，Ｗ６の
うちの１つにより検出されると、第１に、統計的ゆらぎ
でないことが確認され、第２に、これら２つの走行時間
を論理的に解析することにより欠陥個所１３の周縁上の
座標を正確に求めることができる。
【００４２】変換器対Ｗ１，Ｗ２；Ｗ３，Ｗ４；Ｗ５，
Ｗ６を試験体の円周上の位置に割当てるときの基準とな
る位置は、継ぎ目無管においては前もって管の表面に描
かれたパイロット線により行われ、溶接管では通常溶接
継目がこの機能を引受ける。
Ｗ６を試験体の円周上の位置に割当てるときの基準とな
る位置は、継ぎ目無管においては前もって管の表面に描
かれたパイロット線により行われ、溶接管では通常溶接
継目がこの機能を引受ける。
【００４３】図３は概略的に、時間クロックｌの中での
変換器Ｗ２での受信信号を示す。この時間クロックｌの
中では変換器Ｗ１，Ｗ３，Ｗ５がトリガされている。図
１で既に示されているように方向Ａは、図１において超
音波が時計の針の回転方向に回り、方向Ｂは、時計の針
の回転方向とは反対の方向に回ることを意味する。
変換器Ｗ２での受信信号を示す。この時間クロックｌの
中では変換器Ｗ１，Ｗ３，Ｗ５がトリガされている。図
１で既に示されているように方向Ａは、図１において超
音波が時計の針の回転方向に回り、方向Ｂは、時計の針
の回転方向とは反対の方向に回ることを意味する。
【００４４】この時間クロックの中で作動されている３
つの送信変換器から到来する超音波の受信信号と受信信
号との間の時間間隔は、超音波探触子の配置が対称的に
選択されていることに起因して等間隔である。
つの送信変換器から到来する超音波の受信信号と受信信
号との間の時間間隔は、超音波探触子の配置が対称的に
選択されていることに起因して等間隔である。
【００４５】透過信号が飽和することを防止するために
増幅率は、反射信号の受信の場合に比して大幅に小さ
い。変換器Ｗ２の場合と同一の構造の透過信号を同時に
変換器Ｗ４及びＷ６の受信機が受信する。
増幅率は、反射信号の受信の場合に比して大幅に小さ
い。変換器Ｗ２の場合と同一の構造の透過信号を同時に
変換器Ｗ４及びＷ６の受信機が受信する。
【００４６】第２の時間クロックｌｌの中では変換器Ｗ
２，Ｗ４，Ｗ６がトリガされ、変換器Ｗ１，Ｗ３，Ｗ５
は透過信号を検出する。図示の試験は、試験体１を長手
方向に搬送しながら行われ、その際の線速度は１０ｍ／
ｍｉｎより大きい。試験の間、試験体１を回転させるこ
とは不要であり、上記変換器が試験体表面を機械的に走
査することも不要である。
２，Ｗ４，Ｗ６がトリガされ、変換器Ｗ１，Ｗ３，Ｗ５
は透過信号を検出する。図示の試験は、試験体１を長手
方向に搬送しながら行われ、その際の線速度は１０ｍ／
ｍｉｎより大きい。試験の間、試験体１を回転させるこ
とは不要であり、上記変換器が試験体表面を機械的に走
査することも不要である。
【００４７】図４，図５に本発明に係る方法を実施する
装置の電子回路の一例が示されている。
装置の電子回路の一例が示されている。
【００４８】送信側では、中央演算装置ＺＲがよりトリ
ガされて信号発生源ＳＧがバースト信号を発生する。
ガされて信号発生源ＳＧがバースト信号を発生する。
【００４９】図１の例では、６個の変換器Ｗ１〜Ｗ６の
中のＷ１，Ｗ３，Ｗ５の組とＷ２，Ｗ４，Ｗ６の組を交
互に励振するために送信器マルチプレクサＳＭを用い
て、上記バースト信号が上記組の変換器に交互に送られ
る。
中のＷ１，Ｗ３，Ｗ５の組とＷ２，Ｗ４，Ｗ６の組を交
互に励振するために送信器マルチプレクサＳＭを用い
て、上記バースト信号が上記組の変換器に交互に送られ
る。
【００５０】その信号は送信器用増幅器ＳＶで増幅され
て変換器の組Ｗ１，Ｗ３，Ｗ５あるいは変換器の組Ｗ
２，Ｗ４，Ｗ６の送信コイルＳに送られる。
て変換器の組Ｗ１，Ｗ３，Ｗ５あるいは変換器の組Ｗ
２，Ｗ４，Ｗ６の送信コイルＳに送られる。
【００５１】これにより管体、棒体等の試験内の表面に
音波が誘起され、これが試験内の表面に沿って伝播して
いく。
音波が誘起され、これが試験内の表面に沿って伝播して
いく。
【００５２】このサイクルでは送信器として動作しなか
った方の変換器の組が受信器として動作し、その変換器
の組の受信コイルＥが伝播してきた波パルスを検出す
る。
った方の変換器の組が受信器として動作し、その変換器
の組の受信コイルＥが伝播してきた波パルスを検出す
る。
【００５３】各受信コイルＥの出力は低ノイズの前置増
幅器ＶＶでインピーダンス変換をしながら前置増幅され
る。各変換器の受信コイルＥと前置増幅器ＶＶの間のケ
ーブルの長さは、信号の減衰を防止するためにできるだ
け短くする。
幅器ＶＶでインピーダンス変換をしながら前置増幅され
る。各変換器の受信コイルＥと前置増幅器ＶＶの間のケ
ーブルの長さは、信号の減衰を防止するためにできるだ
け短くする。
【００５４】前置増幅器ＶＶで増幅された信号は主増幅
器ＨＶで適当な信号レベルになるように増幅される。
器ＨＶで適当な信号レベルになるように増幅される。
【００５５】反射波の信号レベルは透過波の信号レベル
より桁ちがいに小さいので、反射波の信号と受信波の信
号を共に用いて処理するために、反射波の信号について
は更に増幅するために固定増幅率の増幅器Ｖを通し、透
過波の信号についてはそのまま出力端子に出力するマル
チプレクサＭ１，Ｍ２が、変換器のそれぞれの組に設け
られている。
より桁ちがいに小さいので、反射波の信号と受信波の信
号を共に用いて処理するために、反射波の信号について
は更に増幅するために固定増幅率の増幅器Ｖを通し、透
過波の信号についてはそのまま出力端子に出力するマル
チプレクサＭ１，Ｍ２が、変換器のそれぞれの組に設け
られている。
【００５６】主増幅器ＨＶのマルチプレクサＭ１，Ｍ２
を通った出力信号は、ピーク検出器ＰＤに送られる。
を通った出力信号は、ピーク検出器ＰＤに送られる。
【００５７】他方中央演算装置ＺＲに制御されてゲート
区間発生器ＢＧがゲート信号を発生し、そのゲート信号
はマルチプレクサＭ３を通って、変換器の一方の組ある
いは他方の組のピーク検出器ＰＤに送られる。
区間発生器ＢＧがゲート信号を発生し、そのゲート信号
はマルチプレクサＭ３を通って、変換器の一方の組ある
いは他方の組のピーク検出器ＰＤに送られる。
【００５８】ピーク検出器ＰＤは、ゲート区間が開いて
いるときの信号のピーク値を検出する。ゲート信号は次
々に送られて来るので、各ゲート区間におけるピーク値
が検出される。波の伝播時間と、何番目のゲート信号で
あるかを対応づけることによって、欠陥の位置について
の情報となる。
いるときの信号のピーク値を検出する。ゲート信号は次
々に送られて来るので、各ゲート区間におけるピーク値
が検出される。波の伝播時間と、何番目のゲート信号で
あるかを対応づけることによって、欠陥の位置について
の情報となる。
【００５９】ゲート信号の頻度は、試験体の直径、ある
いは検査目的によって選ばれる。
いは検査目的によって選ばれる。
【００６０】ピーク検出器ＰＤの出力はアナログ／デジ
タル変換器ＡＤでデジタル信号に変換され、前置計算器
Ｒに送られる。前置計算器Ｒでは、例えば、上記デジタ
ル信号の信号レベルが雑音レベルより充分大きいかどう
かを判断し、充分雑音レベル信号より大きい信号だけを
中央演算装置ＺＲに送るデータ選別等の処理をする．
タル変換器ＡＤでデジタル信号に変換され、前置計算器
Ｒに送られる。前置計算器Ｒでは、例えば、上記デジタ
ル信号の信号レベルが雑音レベルより充分大きいかどう
かを判断し、充分雑音レベル信号より大きい信号だけを
中央演算装置ＺＲに送るデータ選別等の処理をする．
【００６１】中央演算装置ＺＲは、上記マルチプレクサ
Ｍ１，Ｍ２，Ｍ３を制御しており、ピーク検出器ＰＤで
得られたピーク値は、どの変換器から送信され、どの変
換器で受信されたかを判断することができる。更に、変
換器の２つの組を交互に切り替えることによって、同一
の欠陥について、少なくとも２つのデータを得ることが
できる。また、何番目のゲート区間でピーク検出器ＰＤ
がピーク値を検出したかをも判断できる。これらのデー
タを総合することによって、中央演算装置ＺＲは、欠陥
の場所を同定することができる。
Ｍ１，Ｍ２，Ｍ３を制御しており、ピーク検出器ＰＤで
得られたピーク値は、どの変換器から送信され、どの変
換器で受信されたかを判断することができる。更に、変
換器の２つの組を交互に切り替えることによって、同一
の欠陥について、少なくとも２つのデータを得ることが
できる。また、何番目のゲート区間でピーク検出器ＰＤ
がピーク値を検出したかをも判断できる。これらのデー
タを総合することによって、中央演算装置ＺＲは、欠陥
の場所を同定することができる。
【図１】本発明の方法を実施する方法を概略的に示す断
面図である。
面図である。
【図２】トリガされている送信変換器Ｗ１，Ｗ３，Ｗ５
の受信信号の線図である。
の受信信号の線図である。
【図３】トリガされている変換器Ｗ１，Ｗ３，Ｗ５にお
ける変換器Ｗ２の受信信号を概略的に示す線図である。
ける変換器Ｗ２の受信信号を概略的に示す線図である。
【図４】送信側のブロック回路図である。
【図５】受信側のブロック回路図である。
１ 試験体 Ｗ１〜Ｗ６ 変換器 ９，９ａ，９ｂ，１０，１０ａ，１０ｂ ホルダ １１，１１ａ，１１ｂ 回転中心点 １２ 変換器担体の運動の可能性を示す二重矢印 １３ 振幅 １４，１５ ゲート区間 Ａ，Ｂ 波パルス ＺＲ 中央演算装置 ＳＧ 信号発生源 ＳＭ 送信器マルチプレクサ ＳＶ 送信器用増幅器 Ｓ 送信コイル Ｅ 受信コイル ＶＶ 前置増幅器 ＨＶ 主増幅器 Ｖ 増幅器 Ｍ１，Ｍ２，Ｍ３ マルチプレクサ ＰＤ ピーク検出器 ＢＧ ゲート区間発生器 ＡＤ アナログ／デジタル変換器 Ｒ 前置計算器
Claims (8)
- 【請求項１】 試験体の周方向に分離されて配置され試
験体の近傍に定置のエレクトロダイナミック変換器の側
を試験体が回転せずに軸方向に通過案内され、上記エレ
クトロダイナミック変換器により前記試験体の中に試験
クロック毎に交互に異なる場所で周方向の両方向に伝播
する波パルスが発生され、反射信号を受信する変換器が
透過信号を受信する変換器とが異なり、受信信号の列が
分離されて評価され、それぞれのクロックに対して受信
信号とバースト信号とがピーク検出器に供給され、ピー
ク検出器の出力信号がデジタル化されて計算機に伝送さ
れる、例えば管材及び棒材等の延伸された加工物の欠陥
検出方法において、 試験体の中に少なくとも４つの対称的に周方向に分離さ
れて位置する場所で周方向の両方向に伝播する波パルス
が発生され、それぞれの試験クロックで全変換器の半数
が交互にトリガされ、透過信号の受信が反射信号の受信
に比して大幅に小さい増幅率で行われ、試験課題に依存
して所要場所分解能を提供するように反射信号の測定の
ためのバースト信号の波形が構成され、バースト信号
は、ゲート区間の中で測定されかつノイズレベルから選
択された閾値以上の振幅値の信号のみが更に伝播される
ように構成されていることを特徴とする延伸された加工
物の欠陥検出方法。 - 【請求項２】 周方向の６つのエレクトロダイナミック
変換器が両方向に波パルスを試験クロック毎に交互に発
生することを特徴とする請求項１に記載の延伸された加
工物の欠陥検出方法。 - 【請求項３】 大型管の場合、反射信号の測定のための
バースト信号の周期が、５ｃｍ以下の周方向の場所分解
能に相当するように選択されることを特徴とする延伸さ
れた加工物の欠陥検出方法。 - 【請求項４】 欠陥個所で発生した反射波が少なくとも
２つのエレクトロダイナミック変換器で検出され、中央
演算装置の中の論理回路により両エレクトロダイナミッ
ク変換器の出力が互いに論理結合され欠陥個所の周方向
の座標をも求めることを特徴とする請求項１から請求項
３のうちのいずれか１項に記載の延伸された加工物の欠
陥検出方法。 - 【請求項５】 互いに離されて配置されている送信コイ
ル及び受信コイルを有する複数のエレクトロダイナミッ
ク変換器が試験体の一断面平面内で試験体の周縁から少
しずらされて装置に固定されて配置され、上記エレクト
ロダイナミック変換器が評価回路ユニットに結合され、
１つのエレクトロダイナミック変換器が多数の送信コイ
ルを有する場合には全て送信コイルが同じタクト信号で
制御されて励振される、請求項１または２の方法を実施
する装置において、２・ｎ個（ｎは２以上の整数）のエ
レクトロダイナミック変換器（Ｗ１〜Ｗ６）が対称的に
配置され、それらのエレクトロダイナミック変換器は２
個づつ対にして（Ｗ１，Ｗ２；Ｗ３，Ｗ４；Ｗ５，Ｗ
６）１つの変換器担体の上に一緒に固定され、上記変換
器担体は３６０°／ｎの角度の間隔で配置され、各エレ
クトロダイナミック変換器（Ｗ１〜Ｗ６）は固有の前置
電子回路と固有の評価回路を備えることを特徴とする、
延伸された加工物の欠陥検出装置。 - 【請求項６】 変換器担体に配置されている２つのエレ
クトロダイナミック変換器の間隔が３６０゜／４／ｎで
あることを特徴とする請求項５に記載の加工物の欠陥検
出装置。 - 【請求項７】 それぞれの変換器（Ｗ１〜Ｗ６）のため
の変換器担体がホルダ（９，１０，９ａ，１０ａ，９
ｂ，１０ｂ）を有し、２つづつの変換器（Ｗ１，Ｗ２；
Ｗ３，Ｗ４；Ｗ５，Ｗ６）が対をなして互いに固定さ
れ、それらの間に位置する回転中心点（１１，１１ａ，
１１ｂ）を中心に回転可能であることを特徴とする請求
項５又は請求項６に記載の加工物の欠陥検出装置。 - 【請求項８】 エレクトロダイナミック変換器（Ｗ１〜
Ｗ６）と、前記変換器（Ｗ１〜Ｗ６）に所属の前置電子
装置との間のケーブル長が可能な限り短いことを特徴と
する請求項５から請求項７のうちのいずれか１項に記載
の加工物の欠陥検出装置。
Applications Claiming Priority (2)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| DE19513194A DE19513194C1 (de) | 1995-03-31 | 1995-03-31 | Verfahren und Vorrichtung zur Erfassung von Ungänzen an langgestreckten Werkstücken, insbesondere Rohre und Stangen |
| DE19513194.0 | 1995-03-31 |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH08271485A true JPH08271485A (ja) | 1996-10-18 |
| JP3769067B2 JP3769067B2 (ja) | 2006-04-19 |
Family
ID=7759139
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP09771196A Expired - Fee Related JP3769067B2 (ja) | 1995-03-31 | 1996-03-27 | 延伸された加工物の欠陥検出方法及び装置 |
Country Status (4)
| Country | Link |
|---|---|
| US (1) | US5679898A (ja) |
| EP (1) | EP0735366B1 (ja) |
| JP (1) | JP3769067B2 (ja) |
| DE (2) | DE19513194C1 (ja) |
Cited By (2)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JP2003329513A (ja) * | 2002-05-15 | 2003-11-19 | Koyo Seiko Co Ltd | 円筒ころ軸受の内輪の超音波伝播速度測定方法および疲労度測定方法 |
| JP2011145146A (ja) * | 2010-01-14 | 2011-07-28 | Jfe Steel Corp | ローラの外面亀裂診断装置及び診断方法 |
Families Citing this family (5)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| US6164137A (en) * | 1999-02-03 | 2000-12-26 | Mcdermott Technology, Inc. | Electromagnetic acoustic transducer (EMAT) inspection of tubes for surface defects |
| DE10220946A1 (de) * | 2002-04-29 | 2003-12-04 | Mannesmann Roehren Werke Ag | Verfahren zur Erfassung von Ungänzen an langgestreckten Werkstücken mittels Ultraschall |
| DE10304270B4 (de) * | 2003-02-03 | 2005-03-03 | Basf Ag | Vorrichtung und Verfahren zum Auffinden von Fehlstellen, insbesondere in Form von Materialrissen, in einem rotationssymmetrischen Prüfling aus einem zumindest metallische Materialanteile aufweisenden Werkstoff |
| US9347851B2 (en) * | 2011-12-14 | 2016-05-24 | Westinghouse Electric Company Llc | Signal processing of lamb wave data for pipe inspection |
| US9915632B2 (en) * | 2015-04-06 | 2018-03-13 | Fbs, Inc. | Long-range magnetostrictive ultrasonic guided wave scanner system and method |
Family Cites Families (10)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| US3828609A (en) * | 1972-09-05 | 1974-08-13 | Automation Ind Inc | Tube inspection system with interlaced scanning |
| US4027527A (en) * | 1975-04-01 | 1977-06-07 | Aluminum Company Of America | System for determining tube eccentricity |
| DE2605405A1 (de) * | 1976-02-09 | 1977-08-11 | Mannesmann Ag | Verfahren zur us-pruefung von rohren |
| US4092868A (en) * | 1976-10-12 | 1978-06-06 | Rockwell International Corporation | Ultrasonic inspection of pipelines |
| DE2828643A1 (de) * | 1978-06-27 | 1980-01-10 | Mannesmann Ag | Verfahren und vorrichtung zum ultraschallpruefen von rohren und stangen im geradlinigen durchlauf durch eine anlage mit feststehenden pruefkoepfen |
| GB2083222B (en) * | 1980-03-03 | 1985-04-11 | Republic Steel Corp | Ultrasonic inspection |
| DE3416709A1 (de) * | 1984-05-05 | 1985-11-07 | Nukem Gmbh, 6450 Hanau | Verfahren zur zerstoerungsfreien pruefung von werkstuecken oder bauteilen mit ultraschall und vorrichtung zur durchfuehrung des verfahrens |
| US4872130A (en) * | 1985-05-17 | 1989-10-03 | Pagano Dominick A | Automated in-line pipe inspection system |
| DE3943226C2 (de) * | 1989-01-13 | 1995-01-05 | Mannesmann Ag | Verfahren und Vorrichtung zur Erfassung von Ungänzen an langgestreckten Werkstücken |
| ES2088409T3 (es) * | 1989-01-13 | 1996-08-16 | Mannesmann Ag | Procedimiento para la deteccion de deficiencias en piezas de trabajo oblongas. |
-
1995
- 1995-03-31 DE DE19513194A patent/DE19513194C1/de not_active Expired - Fee Related
-
1996
- 1996-03-04 EP EP96250054A patent/EP0735366B1/de not_active Expired - Lifetime
- 1996-03-04 DE DE59610854T patent/DE59610854D1/de not_active Expired - Fee Related
- 1996-03-27 JP JP09771196A patent/JP3769067B2/ja not_active Expired - Fee Related
- 1996-03-28 US US08/627,938 patent/US5679898A/en not_active Expired - Fee Related
Cited By (2)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JP2003329513A (ja) * | 2002-05-15 | 2003-11-19 | Koyo Seiko Co Ltd | 円筒ころ軸受の内輪の超音波伝播速度測定方法および疲労度測定方法 |
| JP2011145146A (ja) * | 2010-01-14 | 2011-07-28 | Jfe Steel Corp | ローラの外面亀裂診断装置及び診断方法 |
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| DE59610854D1 (de) | 2004-01-22 |
| EP0735366B1 (de) | 2003-12-10 |
| US5679898A (en) | 1997-10-21 |
| DE19513194C1 (de) | 1996-09-05 |
| EP0735366A3 (de) | 1997-02-05 |
| JP3769067B2 (ja) | 2006-04-19 |
| EP0735366A2 (de) | 1996-10-02 |
Similar Documents
| Publication | Publication Date | Title |
|---|---|---|
| MXPA04002117A (es) | Raspadores de inspeccion para tuberias. | |
| US6823736B1 (en) | Nondestructive acoustic emission testing system using electromagnetic excitation and method for using same | |
| US20120191377A1 (en) | Method and device for ultrasonic testing | |
| WO1995027897A1 (en) | Ultrasonic flaw detection device | |
| JPH0415415B2 (ja) | ||
| US5113697A (en) | Process and apparatus for detecting discontinuities on long workpieces | |
| US6843131B2 (en) | Method of detecting discontinuities on elongated workpieces | |
| JP2007500340A (ja) | 被検体の超音波無破壊試験のための方法及び回路装置 | |
| US3820387A (en) | Probe system for ultrasonic nondestructive testing | |
| JP3769067B2 (ja) | 延伸された加工物の欠陥検出方法及び装置 | |
| US4760737A (en) | Procedure for flaw detection in cast stainless steel | |
| US3961523A (en) | Scanning ultrasonic inspection method and apparatus | |
| JPS60253968A (ja) | 検査すべき部品中の欠点の選択的検出方法と設備 | |
| RU2089896C1 (ru) | Способ исследования дефектов трубопровода и устройство для его осуществления | |
| US20110126628A1 (en) | Non-destructive ultrasound inspection with coupling check | |
| KR101826917B1 (ko) | 다중 채널 초음파를 이용한 장거리 배관 진단 방법 | |
| JPH07244028A (ja) | 球状被検体の超音波探傷装置およびその方法 | |
| RU2156455C1 (ru) | Способ диагностики состояния магистральных трубопроводов | |
| RU2042946C1 (ru) | Ультразвуковое устройство для автоматического контроля качества металла трубопроводов | |
| JPH09229909A (ja) | 移動被検体の検査方法および検査装置 | |
| GB2124379A (en) | Improvements in or relating to ultrasonic testing | |
| JPS594663B2 (ja) | 超音波を用いるひれ管の非破壊材料検査方法 | |
| SU1727050A1 (ru) | Способ ультразвукового контрол изделий и устройство дл его осуществлени | |
| JPS61138160A (ja) | 超音波探傷装置 | |
| JPH0257973A (ja) | 管用斜角探傷ヘツド及びそれを用いた管用斜角探傷装置 |
Legal Events
| Date | Code | Title | Description |
|---|---|---|---|
| A521 | Written amendment |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A821 Effective date: 20040521 |
|
| A711 | Notification of change in applicant |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A711 Effective date: 20040521 |
|
| A131 | Notification of reasons for refusal |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A131 Effective date: 20041119 |
|
| A601 | Written request for extension of time |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A601 Effective date: 20050215 |
|
| A602 | Written permission of extension of time |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A602 Effective date: 20050222 |
|
| A521 | Written amendment |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A523 Effective date: 20050404 |
|
| A131 | Notification of reasons for refusal |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A131 Effective date: 20050830 |
|
| A521 | Written amendment |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A523 Effective date: 20051122 |
|
| TRDD | Decision of grant or rejection written | ||
| A01 | Written decision to grant a patent or to grant a registration (utility model) |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A01 Effective date: 20060113 |
|
| A61 | First payment of annual fees (during grant procedure) |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A61 Effective date: 20060203 |
|
| R150 | Certificate of patent or registration of utility model |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R150 |
|
| LAPS | Cancellation because of no payment of annual fees |