JPS60214229A - キセノンフラツシユランプを用いた分光光度計 - Google Patents

キセノンフラツシユランプを用いた分光光度計

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JPS60214229A
JPS60214229A JP7194284A JP7194284A JPS60214229A JP S60214229 A JPS60214229 A JP S60214229A JP 7194284 A JP7194284 A JP 7194284A JP 7194284 A JP7194284 A JP 7194284A JP S60214229 A JPS60214229 A JP S60214229A
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JP
Japan
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xenon flash
spectrophotometer
lighting
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Tomiji Minekane
峯金 富治
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    • G01MEASURING; TESTING
    • G01NINVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
    • G01N21/00Investigating or analysing materials by the use of optical means, i.e. using sub-millimetre waves, infrared, visible or ultraviolet light
    • G01N21/17Systems in which incident light is modified in accordance with the properties of the material investigated
    • G01N21/25Colour; Spectral properties, i.e. comparison of effect of material on the light at two or more different wavelengths or wavelength bands
    • G01N21/255Details, e.g. use of specially adapted sources, lighting or optical systems

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Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。

Description

【発明の詳細な説明】 り発明の技術分野] 本発明は光源にキセノンフラッシュランプを用いた分光
光度計に関するものである。
[発明の技術的背渠] 従来の分光光度計の光源は吸光光度計に用いられる可視
、近赤外用のハロゲンタングステンランプや、紫外域用
の重水素ランプ、螢光光度計の励起光用としてのキセノ
ンショートアーク等が安定な光源として一般的であり、
多くの分光光度計はこれらのランプを採用している。
しかし、最近では分光光度計自体の小型化、省力化、長
寿命化、安全性という点が要求され、このような要求に
対しては従来の光源は十分なものではない。
すなわち、ハロゲンタングステンランプや重水素ランプ
は発熱量が大きく光源ボックスの熱対策のため光源部分
が大きくなり、また、高輝度を必要とする場合には光源
の消費電力が著しく大きくなる。
また紫外域のキセノンショートアークの場合には、その
取扱いが難しく安全性に欠けるという欠点がある。
最近、これらの欠点をカバーする光源として、キセノン
フラッシュランプが注目を浴びている。
キセノンフラッシュランプの長所は、小型、高輝度でか
つ発熱量が小さく、しかも、長寿命で消特電力が小さい
点にあるが、発光点のばらつきが大きいという欠点を有
し、この欠点を解消する対策が望まれ−Cいる。
[1禁技術の問題点] ゛ 、し述しi=発光点のばらつきが大きいというキレノン
フラッシュランプの欠点は、電極間プラズマの賀定度、
トリガー端子や電極の高電圧の安定性等に起因する。
■電圧の安定性に関しては、最近のエレクトロニクスの
進歩により改善されてきている。
−1:セノンフラッシュランプの分光光度計における一
般的な使用態様は、一定周波数の下に連続的に点灯して
いるのが現状であり、周波数としては10H2〜100
Hzテ、理論上的3,000〜8,000時間の寿命と
なる。
Cの寿命は入カイ(ワーに依存するが、例えば1回のフ
ラッシュの入ツノパワーをo、oiジュール(J ou
les )と°りれば、約109回の点灯回数をmるこ
とができる。
このように、キセノンフラッシュランプは寿命に関して
は連続的に使用しても従来の各種ランプよりも長寿命で
ある。
しかしながら、連続点灯の場合、キセノンフラッシュラ
ンプ内のガスの熱対流が大きくなり、プラズマ状態を不
安定にさせるという大きな欠点があり。このことに起因
して発光点のばらつきが生じる。
この様子を第1図に示す。同図は横軸に時間(()を、
W111sl+に吸光度(mAbs)をとり、周波数2
01−11における検体の測光データの分布をO印で、
周波数100Hzにおける測光データの分布をX印でそ
れぞれ表わしたものである。
同図から明らかなように、測光データのばらつき、すな
わち、キセノンフラッシュランプの発光点のばらつきは
、高い周波数はど顕著である。
[発明の目的] 本発明は上記事情に鑑みてなされたものであり、発光点
のばらつきによる測光データの不安定性を解消し得ると
ともに小型化、長寿命化が可能でかつ発熱量を少なくす
ることができる光源を具備しIcハロゲンフラッシュラ
ンプを用いた分光光度計の提供を目的とするものである
[発明の概要] 上記目的を達成するための本発明の概要は、光源にキセ
ノンフラッシュランプを用いた分光光度g1において、
所定周波数でかつ所定周期毎の断続的な点灯方式で前記
キセノンフラッシュランプを点灯さゼるとともに、この
キセノンフラッシュランプの点灯により得られる検体の
各測光データのうら最初の部分以外の各測光データによ
り測光演nを行なうように構成されたことを特徴とする
ものCある。
[発明の実施例] 】ス下に本発明の詳細な説明する。本実施例における分
光光度計は、光源としてキセノンフラッジ−t 7 ン
ブを用い、この光源は2QOmsec < 5l−1z
 )毎ト二方形波状のステータス信号Sを発生する信号
発生部と、このステータス信号Sに対応して例えば10
m5ec(100H2)の点灯周波数でキセノンフラッ
シュランプを点灯させる点対制御部とを有し、第2図(
a)、(b)に示すようにステータス信号Sの時間幅に
対応して100)I Zで4回キせノンフラッシュラン
プを断続的に点灯させる方式(バースト方式)を採用し
ている。
また、本実施例における分光光度J!は上記キセノンフ
ラッシュランプの断続点灯により1qられる検体の測光
データを演剪処理(る演算処理手段(CPU、記憶手段
(RAM)等)を有している。
この演算処理手段による測光データの処理方式としては
、測光データのうち最初の部分を取り去り残りの1個、
1個の測光データを演n4る方式、残りの1個、1個の
測光データの加算平均をとる方式、同じく中間値をとる
方式、最小2乗法による方式等種々のものがあるが、測
光データの精度の点からこの測光データ数が少ない場合
は中間値をとる方式が、測光データ数が多い場合は加算
平均をとる方式が好適である。
次に上記構成のキセノンフラッシュランプを用いた分光
光度計の作用を第3図に示づ前記点灯方式による各測光
データの分布状態をも参照して説明する。
同図はキセノンフラッシュランプのn番目の点灯(周波
数100Hzで4回)による測光データをX印で、n+
1番目の点灯(周波数100Hzテ4回)による測光デ
ータをΔ印で示すものである。
同図から明らかなように、n番目及びn+1番目の各測
光データのうち、それぞれ1回目、2回目の測光データ
が吸光度(mAbs)の安定性がない。
このようにして得られた各測光データのうち1回目、2
回目の測光データを演算処理手段で除去し、残りの安定
性あるそれぞれの3回目、4回目の測光データの中間値
をとることにより高精度で安定性ある測光データを得る
ことができる。
本発明は上述した実施例に限定されるものではなく、そ
の要旨の範囲内で種々の変形が可能である1゜ 点灯させる6式を採用した場合について説明したが、n
番目とn+1番目の間の点り周期や各点灯時における点
灯周波数、点灯回数を任意に設定することができる。
また、測光データを4個とし、最初の2個の測光データ
をとり去る場合について説明したが、最初の1個のみを
とり去ったり、測光データが多い場合に3個以上の測光
データをとり去って演算処理することもできる。
[発明の効果1 以上詳述した本発明によれば、安定した測光データを得
ることができるとともに、断続的な点灯方式を採用する
ことによって光源の小形化、長寿命化が図れ、かつ、発
熱量も少ないキセノンフラッシュランプを用いた分光光
度計を提供することができる。
j4、図面の簡単な説明 第1図は従来の分光光度計による測光データの分布を示
すグラフ、第2図(a)は本発明の実施例におけるキセ
ノンフラッシュランプの点灯状態を示す波形図、第2図
(b)は同上のステータス信号を示づ波形図、第3図は
本発明の実施例における測光データの分布を示す一グラ
フである。
S・・・ステータス信号。
第 1 図 第2図 (b)

Claims (1)

  1. 【特許請求の範囲】 光源にキセノンフラッシュランプを用いた分光′X度計
    において、所定周波数でかつ所定周期毎の1続的な点灯
    方式で前記キセノンフラッシュランフを点灯させるとと
    もに、このキセノンフラッジ−【ランプの点灯により得
    られる検体の各測光データのうち最初の部分以外の各測
    光データにより測光演篩を行なうように構成されたこと
    を特徴どするキセノンフラッシュランプを用いた分光光
    度計。
JP59071942A 1984-04-10 1984-04-10 分光光度計 Expired - Lifetime JPH0623671B2 (ja)

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JP59071942A JPH0623671B2 (ja) 1984-04-10 1984-04-10 分光光度計

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JP59071942A JPH0623671B2 (ja) 1984-04-10 1984-04-10 分光光度計

Publications (2)

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JPS60214229A true JPS60214229A (ja) 1985-10-26
JPH0623671B2 JPH0623671B2 (ja) 1994-03-30

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ID=13475060

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JP59071942A Expired - Lifetime JPH0623671B2 (ja) 1984-04-10 1984-04-10 分光光度計

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Citations (3)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPS5352183A (en) * 1976-09-13 1978-05-12 Kollmorgen Tech Corp Parallel detecting spectrophotometer
JPS54110886A (en) * 1978-01-20 1979-08-30 Hoffmann La Roche Spectrophotometer
JPS5629436U (ja) * 1979-08-10 1981-03-20

Patent Citations (3)

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JPS5629436U (ja) * 1979-08-10 1981-03-20

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