JPS60210744A - 連続物体の検査装置 - Google Patents
連続物体の検査装置Info
- Publication number
- JPS60210744A JPS60210744A JP59066144A JP6614484A JPS60210744A JP S60210744 A JPS60210744 A JP S60210744A JP 59066144 A JP59066144 A JP 59066144A JP 6614484 A JP6614484 A JP 6614484A JP S60210744 A JPS60210744 A JP S60210744A
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-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01N—INVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
- G01N21/00—Investigating or analysing materials by the use of optical means, i.e. using sub-millimetre waves, infrared, visible or ultraviolet light
- G01N21/84—Systems specially adapted for particular applications
- G01N21/88—Investigating the presence of flaws or contamination
- G01N21/89—Investigating the presence of flaws or contamination in moving material, e.g. running paper or textiles
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- Analysing Materials By The Use Of Radiation (AREA)
- Investigating Or Analyzing Materials Using Thermal Means (AREA)
- Investigating Or Analyzing Materials By The Use Of Ultrasonic Waves (AREA)
- Investigating Materials By The Use Of Optical Means Adapted For Particular Applications (AREA)
- Investigating Or Analyzing Materials By The Use Of Magnetic Means (AREA)
Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
〔発明の技術分野〕
この発明は、連続物体の不良部分の長さの集積値をめる
検査装置に関するものである。
検査装置に関するものである。
従来、連続物体の不良部分の長さの集積値をめる場合、
連続物体を長さ方向に一定速度で移動させ、連続物体の
移動ラインのある位置で線状物体のある態様の欠陥を検
出し、この検出による不良部分の長さを積算していた。
連続物体を長さ方向に一定速度で移動させ、連続物体の
移動ラインのある位置で線状物体のある態様の欠陥を検
出し、この検出による不良部分の長さを積算していた。
しかし、物体の不良は、ある態様の欠陥によるものばか
りでなく、色々な態様の欠陥によるものがあるが、この
色々な態様の欠陥による不良部分を検出し、これらの不
良部分を集積するということは、行われていなかった。
りでなく、色々な態様の欠陥によるものがあるが、この
色々な態様の欠陥による不良部分を検出し、これらの不
良部分を集積するということは、行われていなかった。
この発明は、上記のような事情に鑑みてなされたもので
、連続物体の異なる態様の欠陥による不良部分を検出し
、不良部分の重複する部分を除いて不良部分の長さを集
積する検査装置を提供することを目的としている。
、連続物体の異なる態様の欠陥による不良部分を検出し
、不良部分の重複する部分を除いて不良部分の長さを集
積する検査装置を提供することを目的としている。
以下、この発明の実施例を図について説明する。
第１図はこの発明の一実施例の説明図であシ、図におい
て（１１は矢印方向に一定速度で移動するコイル、（２
）は操作員が目視によりてコイルのきず検査をし、不良
部分の情報を計算機（図示していない）に入手するため
の操作盤、（３）はコイル（１）の厚さを計測する厚み
計であり、計測値が基準値を超えると、計算機に不良信
号（オフ・ゲージ）を送る。
て（１１は矢印方向に一定速度で移動するコイル、（２
）は操作員が目視によりてコイルのきず検査をし、不良
部分の情報を計算機（図示していない）に入手するため
の操作盤、（３）はコイル（１）の厚さを計測する厚み
計であり、計測値が基準値を超えると、計算機に不良信
号（オフ・ゲージ）を送る。
（４）はコイル（１）の移動速度に対応するパルスを発
生するパルス発振器である。
生するパルス発振器である。
第２図は計算機に入力される不良部分の情報の説明図で
ある。
ある。
図において、（５）を操作盤（２）によりて入力された
情報によるきす不良部分、（６）ヲ厚み計（３）によっ
て入力された情報による径不良部分とすると、（７）の
部分の長さがめる長さとなる。計算機で（７）の部分の
長さをめるには（５１の不良部分と１６１の不良部分の
重複する部分の長さを除かねばならない。
情報によるきす不良部分、（６）ヲ厚み計（３）によっ
て入力された情報による径不良部分とすると、（７）の
部分の長さがめる長さとなる。計算機で（７）の部分の
長さをめるには（５１の不良部分と１６１の不良部分の
重複する部分の長さを除かねばならない。
重複する部分を知るには、不良部分の情報を同じ位置で
の計測による情報としなければならない。
の計測による情報としなければならない。
そのためには、厚み計−（３１による情報の発生時点を
操作盤（２）による情報の発生時点まで遅らせればよい
。パルス発振器（４）からのパルスによりて、コイルｆ
ｉ＋の移動した距離がわかるので、計算機においてプロ
グラムによシ、厚み計（３１での情報を、厚み計（３）
が計測する位置から目視によるきず検査を行う位置まで
の距離分、ソフトウェア的に遅らせて発生させ、操作盤
（２）からの情報によるものとの重複する部分を検出し
、重複する部分を除いて、（７）の部分をめればよい。
操作盤（２）による情報の発生時点まで遅らせればよい
。パルス発振器（４）からのパルスによりて、コイルｆ
ｉ＋の移動した距離がわかるので、計算機においてプロ
グラムによシ、厚み計（３１での情報を、厚み計（３）
が計測する位置から目視によるきず検査を行う位置まで
の距離分、ソフトウェア的に遅らせて発生させ、操作盤
（２）からの情報によるものとの重複する部分を検出し
、重複する部分を除いて、（７）の部分をめればよい。
第３図及び第４図にプログラム・フローチャートを示す
。
。
上記実施例は、２か所で計測するものであるが、３か所
以上で計測するものについても、同様のことがいえる。
以上で計測するものについても、同様のことがいえる。
以上のように、この発明によれば、色々な態様の欠陥に
よる不良部分を検出し、重複する部分を除いて不良部分
を集積するので、なんらかの欠陥がある部分の正確な長
さを知ることができるという効果がある。
よる不良部分を検出し、重複する部分を除いて不良部分
を集積するので、なんらかの欠陥がある部分の正確な長
さを知ることができるという効果がある。
第１図はこの発明の一実施例の説明図、第２図は計算機
に入力される不良部分の情報の説明図、第３図及び第４
図はこの発明の一実施例のプログラム・フローチャート
である。 図において（１）はコイル、１２＋ ｆ′ｉ操作盤、（
３１は厚み計、１４）はパルス発振器である。 代理人 大巻増雄 第１図 第２図 −一會コイル進行方向 第３図 第４図 手続補正書（自発） ２、 発明の名称 連続物体の検査装置 ３、 補正をする者 事件との関係 特許出願人 住 所 東京都千代田区丸の内二丁目２番３号住 所
東京都千代田区丸の内二丁目２番３号５、補正の対象 ６、補正の内容 （１） 明細書の特許請求の範囲を別紙のとおシ訂正す
る。 （２）明細書第３頁中第３行目、第４行目、第６行目及
び第９行目に「コイル」とあるをそれぞれ「ス） ＩＪ
ツブ」と訂正する。 （３）同書第３頁第１５行目「径不良部分」とあるを「
厚み不良部分」と訂正する。 （４）同書第４頁第３行目乃至第４行目「コイル」とあ
るを「ストリップ」と訂正する。 （５） 明細書第５頁第７行目「コイル」とあるを「ス
トリップ」と訂正する。 ７、添付書類の目録 （１）訂正した特許請求の範囲 １通 別 ・紙 ２、特許請求の範囲 検査対象となる連続物体の長さ方向の移動線上の異なる
位置でそれぞれ検出された異なる態様の欠陥及びそれぞ
れの欠陥の検出される時間の始点と終点の情報を計算機
に入力する手段、上記物体の単位長の移動ごとに発生さ
れるパルスを上記計算機に入力する手段、上記移動線上
の異なる位置でそれぞれの欠陥が検出された時間の始点
と終点との情報を、当該位置と仮に定める基準位置との
間の距離に相当するパルス数だけ遅延させ、上記基準位
置ですべての態様の欠陥を検出した場合の情報に変換す
る手段、このように変換した情報から異なる態様の欠陥
の重複する部分を除いて欠陥部分の長さを集積する手段
とを備えた連続物体の検査装置。
に入力される不良部分の情報の説明図、第３図及び第４
図はこの発明の一実施例のプログラム・フローチャート
である。 図において（１）はコイル、１２＋ ｆ′ｉ操作盤、（
３１は厚み計、１４）はパルス発振器である。 代理人 大巻増雄 第１図 第２図 −一會コイル進行方向 第３図 第４図 手続補正書（自発） ２、 発明の名称 連続物体の検査装置 ３、 補正をする者 事件との関係 特許出願人 住 所 東京都千代田区丸の内二丁目２番３号住 所
東京都千代田区丸の内二丁目２番３号５、補正の対象 ６、補正の内容 （１） 明細書の特許請求の範囲を別紙のとおシ訂正す
る。 （２）明細書第３頁中第３行目、第４行目、第６行目及
び第９行目に「コイル」とあるをそれぞれ「ス） ＩＪ
ツブ」と訂正する。 （３）同書第３頁第１５行目「径不良部分」とあるを「
厚み不良部分」と訂正する。 （４）同書第４頁第３行目乃至第４行目「コイル」とあ
るを「ストリップ」と訂正する。 （５） 明細書第５頁第７行目「コイル」とあるを「ス
トリップ」と訂正する。 ７、添付書類の目録 （１）訂正した特許請求の範囲 １通 別 ・紙 ２、特許請求の範囲 検査対象となる連続物体の長さ方向の移動線上の異なる
位置でそれぞれ検出された異なる態様の欠陥及びそれぞ
れの欠陥の検出される時間の始点と終点の情報を計算機
に入力する手段、上記物体の単位長の移動ごとに発生さ
れるパルスを上記計算機に入力する手段、上記移動線上
の異なる位置でそれぞれの欠陥が検出された時間の始点
と終点との情報を、当該位置と仮に定める基準位置との
間の距離に相当するパルス数だけ遅延させ、上記基準位
置ですべての態様の欠陥を検出した場合の情報に変換す
る手段、このように変換した情報から異なる態様の欠陥
の重複する部分を除いて欠陥部分の長さを集積する手段
とを備えた連続物体の検査装置。
Claims (1)
- 検査対象となる連続物体をその長さの方向に移動させる
装置、上記物体の移動線上の異なる位置でそれぞれ上記
物体の異なる態様の欠陥を検出し、それぞれの欠陥の検
出される時間の始点と終点の情報を計算機に入力する手
段、上記物体の単位長の移動ごとにパルスを発生して上
記計算機に入力する手段、上記移動線上の異なる位置で
それぞれの欠陥が検出された時間の始点と終点との情報
を、当該位置と仮に定める基準位置との間の距離に相当
するパルス数だけ遅延させ、上記基準位置ですべての態
様の欠陥を検出した場合の情報に変換する手段、このよ
うに変換した情報から異なる態様の欠陥の重複する部分
を除いて欠陥部分の長さを集積する手段とを備えた連続
物体の検査装置。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP59066144A JPS60210744A (ja) | 1984-04-03 | 1984-04-03 | 連続物体の検査装置 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP59066144A JPS60210744A (ja) | 1984-04-03 | 1984-04-03 | 連続物体の検査装置 |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPS60210744A true JPS60210744A (ja) | 1985-10-23 |
| JPH049443B2 JPH049443B2 (ja) | 1992-02-20 |
Family
ID=13307369
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP59066144A Granted JPS60210744A (ja) | 1984-04-03 | 1984-04-03 | 連続物体の検査装置 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPS60210744A (ja) |
Families Citing this family (2)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JP2008221176A (ja) | 2007-03-15 | 2008-09-25 | Mitsubishi Heavy Ind Ltd | 脱水システム及び脱水方法 |
| US8585904B2 (en) | 2008-03-14 | 2013-11-19 | Mitsubishi Heavy Industries, Ltd. | Dehydration system and dehydration method |
Citations (3)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS52116175A (en) * | 1976-03-26 | 1977-09-29 | Mitsubishi Electric Corp | Pattern defect recognition device |
| JPS5574406A (en) * | 1978-12-01 | 1980-06-05 | Fujitsu Ltd | Inspection of pattern defect |
| JPS5821110A (ja) * | 1981-07-29 | 1983-02-07 | Nippon Kogaku Kk <Nikon> | パタ−ン検査装置 |
-
1984
- 1984-04-03 JP JP59066144A patent/JPS60210744A/ja active Granted
Patent Citations (3)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS52116175A (en) * | 1976-03-26 | 1977-09-29 | Mitsubishi Electric Corp | Pattern defect recognition device |
| JPS5574406A (en) * | 1978-12-01 | 1980-06-05 | Fujitsu Ltd | Inspection of pattern defect |
| JPS5821110A (ja) * | 1981-07-29 | 1983-02-07 | Nippon Kogaku Kk <Nikon> | パタ−ン検査装置 |
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| JPH049443B2 (ja) | 1992-02-20 |
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