JPH049443B2 - - Google Patents
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- JPH049443B2 JPH049443B2 JP59066144A JP6614484A JPH049443B2 JP H049443 B2 JPH049443 B2 JP H049443B2 JP 59066144 A JP59066144 A JP 59066144A JP 6614484 A JP6614484 A JP 6614484A JP H049443 B2 JPH049443 B2 JP H049443B2
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- 230000007547 defect Effects 0.000 claims description 34
- 230000002950 deficient Effects 0.000 claims description 20
- 230000003111 delayed effect Effects 0.000 description 4
- 238000010586 diagram Methods 0.000 description 4
- 238000007689 inspection Methods 0.000 description 3
- 238000005259 measurement Methods 0.000 description 3
- 230000000694 effects Effects 0.000 description 2
- 238000001514 detection method Methods 0.000 description 1
- 230000008034 disappearance Effects 0.000 description 1
- 230000000007 visual effect Effects 0.000 description 1
Classifications
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01N—INVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
- G01N21/00—Investigating or analysing materials by the use of optical means, i.e. using sub-millimetre waves, infrared, visible or ultraviolet light
- G01N21/84—Systems specially adapted for particular applications
- G01N21/88—Investigating the presence of flaws or contamination
- G01N21/89—Investigating the presence of flaws or contamination in moving material, e.g. running paper or textiles
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- Engineering & Computer Science (AREA)
- Textile Engineering (AREA)
- Physics & Mathematics (AREA)
- Health & Medical Sciences (AREA)
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- General Health & Medical Sciences (AREA)
- General Physics & Mathematics (AREA)
- Immunology (AREA)
- Pathology (AREA)
- Measurement Of Length, Angles, Or The Like Using Electric Or Magnetic Means (AREA)
- Length Measuring Devices With Unspecified Measuring Means (AREA)
- Analysing Materials By The Use Of Radiation (AREA)
- Investigating Or Analyzing Materials Using Thermal Means (AREA)
- Investigating Or Analyzing Materials By The Use Of Ultrasonic Waves (AREA)
- Investigating Materials By The Use Of Optical Means Adapted For Particular Applications (AREA)
- Investigating Or Analyzing Materials By The Use Of Magnetic Means (AREA)
Description
【発明の詳細な説明】
〔発明の技術分野〕
この発明は、連続物体の不良部分の長さの集積
値を求める検査装置に関するものである。
値を求める検査装置に関するものである。
従来、連続物体の不良部分の長さの集積値を求
める場合、連続物体を長さ方向に一定速度で移動
させ、連続物体の移動ラインのある位置で線状物
体のある態様の欠陥を検出し、この検出による不
良部分の長さを積算していた。
める場合、連続物体を長さ方向に一定速度で移動
させ、連続物体の移動ラインのある位置で線状物
体のある態様の欠陥を検出し、この検出による不
良部分の長さを積算していた。
しかし、物体の不良は、ある態様の欠陥による
ものばかりでなく、色々な態様の欠陥によるもの
があるが、この色々な態様の欠陥による不良部分
を検出し、これらの不良部分を集積するというこ
とは、行われていなかつた。
ものばかりでなく、色々な態様の欠陥によるもの
があるが、この色々な態様の欠陥による不良部分
を検出し、これらの不良部分を集積するというこ
とは、行われていなかつた。
この発明は、上記のような事情に鑑みてなされ
たもので、連続物体の異なる態様の欠陥による不
良部分を検出し、不良部分の重複する部分を除い
て不良部分の長さを集積する検査装置を提供する
ことを目的としている。
たもので、連続物体の異なる態様の欠陥による不
良部分を検出し、不良部分の重複する部分を除い
て不良部分の長さを集積する検査装置を提供する
ことを目的としている。
以下、この発明の実施例を図について説明す
る。第１図はこの発明の一実施例の説明図であ
り、図において１は矢印方向に一定速度で移動す
るストリツプ、２は操作員が目視によつてストリ
ツプのきず検査をし、不良部分の情報を計算機
（図示していない）に入手するための操作盤、３
はストリツプ１の厚さを計測する厚み計であり、
計測値が基準値を超えると、計算機に不良信号
（オフ・ゲージ）を送る。４はストリツプ１の移
動速度に対応するパルスを発生するパルス発振器
である。
る。第１図はこの発明の一実施例の説明図であ
り、図において１は矢印方向に一定速度で移動す
るストリツプ、２は操作員が目視によつてストリ
ツプのきず検査をし、不良部分の情報を計算機
（図示していない）に入手するための操作盤、３
はストリツプ１の厚さを計測する厚み計であり、
計測値が基準値を超えると、計算機に不良信号
（オフ・ゲージ）を送る。４はストリツプ１の移
動速度に対応するパルスを発生するパルス発振器
である。
第２図は計算機に入力される不良部分の情報の
説明図である。
説明図である。
図において、５を操作盤２によつて入力された
情報によるきず不良部分、６を厚み計３によつて
入力された情報による厚み不良部分とすると、７
の部分の長さが求める長さとなる。計算機で７の
部分の長さを求めるには５の不良部分と６の不良
部分の重複する部分の長さを除かねばならない。
情報によるきず不良部分、６を厚み計３によつて
入力された情報による厚み不良部分とすると、７
の部分の長さが求める長さとなる。計算機で７の
部分の長さを求めるには５の不良部分と６の不良
部分の重複する部分の長さを除かねばならない。
重複する部分を知るには、不良部分の情報を同
じ位置での計測による情報としなければならな
い。そのためには、厚み計３による情報の発生時
点を操作盤２による情報の発生時点まで遅らせれ
ばよい。パルス発振器４からのパルスによつて、
ストリツプ１の移動した距離がわかるので、計算
機においてプログラムにより、厚み計３での情報
を、厚み計３が計測する位置から目視によるきず
検査を行う位置までの距離分、ソフトウエア的に
遅らせて発生させ、操作盤２からの情報によるも
のとの重複する部分を検出し、重複する部分を除
いて、７の部分を求めればよい。
じ位置での計測による情報としなければならな
い。そのためには、厚み計３による情報の発生時
点を操作盤２による情報の発生時点まで遅らせれ
ばよい。パルス発振器４からのパルスによつて、
ストリツプ１の移動した距離がわかるので、計算
機においてプログラムにより、厚み計３での情報
を、厚み計３が計測する位置から目視によるきず
検査を行う位置までの距離分、ソフトウエア的に
遅らせて発生させ、操作盤２からの情報によるも
のとの重複する部分を検出し、重複する部分を除
いて、７の部分を求めればよい。
第３図及び第４図にプログラム・フローチヤー
トを示す。
トを示す。
第３図１でオフ・ゲージ情報入力、すなわちオ
フ・ゲージ情報が論理「０」から「１」に変化し
た時点を遅延させ、２でこの遅延時間が経過した
時点で、きず情報（一般的には他の態様の欠陥情
報の何れか一つ）が論理「１」であるか否かを検
査し、きず情報が存在しない、すなわち、きず情
報が論理「１」でない場合だけオフ・ゲージ情報
入力の遅延した時点を不良発生時点、すなわち欠
陥の始点とし、３では、きず情報入力、すなわ
ち、きず情報が論理「０」から「１」に変化した
時点でオフ・ゲージ情報（一般的には他の態様の
欠陥情報の何れか一つ）が論理「１」であるか否
かを検査し、オフ・ゲージ情報が存在しない、す
なわちオフ・ゲージ情報が「１」でない場合だ
け、きず情報入力時点を不良発生時点、すなわち
欠陥の始点とする。以上のようにして第３図のフ
ローチヤートにより、不良発生時点すなわち欠陥
の始点を定めることができる。
フ・ゲージ情報が論理「０」から「１」に変化し
た時点を遅延させ、２でこの遅延時間が経過した
時点で、きず情報（一般的には他の態様の欠陥情
報の何れか一つ）が論理「１」であるか否かを検
査し、きず情報が存在しない、すなわち、きず情
報が論理「１」でない場合だけオフ・ゲージ情報
入力の遅延した時点を不良発生時点、すなわち欠
陥の始点とし、３では、きず情報入力、すなわ
ち、きず情報が論理「０」から「１」に変化した
時点でオフ・ゲージ情報（一般的には他の態様の
欠陥情報の何れか一つ）が論理「１」であるか否
かを検査し、オフ・ゲージ情報が存在しない、す
なわちオフ・ゲージ情報が「１」でない場合だ
け、きず情報入力時点を不良発生時点、すなわち
欠陥の始点とする。以上のようにして第３図のフ
ローチヤートにより、不良発生時点すなわち欠陥
の始点を定めることができる。
同様に第４図４でオフ・ゲージ情報消滅、すな
わちオフ・ゲージ情報が論理「１」から「０」に
変化した時点を遅延させ、５でこの遅延時間が経
過した時点で、きず情報が論理「０」である場合
だけこれを欠陥の終点として、第３図のフローチ
ヤートで定めた欠陥の始点に対応して不良長積算
を行い、６で、きず情報が論理「１」から「０」
に変化したことを検出したとき、その時点でオ
フ・ゲージ情報が論理「０」である場合だけこれ
を欠陥の終点として不良長積算を行う。
わちオフ・ゲージ情報が論理「１」から「０」に
変化した時点を遅延させ、５でこの遅延時間が経
過した時点で、きず情報が論理「０」である場合
だけこれを欠陥の終点として、第３図のフローチ
ヤートで定めた欠陥の始点に対応して不良長積算
を行い、６で、きず情報が論理「１」から「０」
に変化したことを検出したとき、その時点でオ
フ・ゲージ情報が論理「０」である場合だけこれ
を欠陥の終点として不良長積算を行う。
上記実施例は、２か所で計測するものである
が、３か所以上で計測するものについても、同様
のことがいえる。
が、３か所以上で計測するものについても、同様
のことがいえる。
以上のように、この発明によれば、色々な態様
の欠陥による不良部分を検出し、重複する部分を
除いて不良部分を集積するので、なんらかの欠陥
がある部分の正確な長さを知ることができるとい
う効果がある。
の欠陥による不良部分を検出し、重複する部分を
除いて不良部分を集積するので、なんらかの欠陥
がある部分の正確な長さを知ることができるとい
う効果がある。
第１図はこの発明の一実施例の説明図、第２図
は計算機に入力される不良部分の情報の説明図、
第３図及び第４図はこの発明の一実施例のプログ
ラム・フローチヤートである。 図において１はストリツプ、２は操作盤、３は
厚み計、４はパルス発振器である。
は計算機に入力される不良部分の情報の説明図、
第３図及び第４図はこの発明の一実施例のプログ
ラム・フローチヤートである。 図において１はストリツプ、２は操作盤、３は
厚み計、４はパルス発振器である。
Claims (1)
- 【特許請求の範囲】 １ 検査対象となる連続物体をその長さの方向に
移動させる装置、 上記物体の移動線上の異なる位置でそれぞれ上
記物体の異なる態様の欠陥を検出し、欠陥が存在
する場合論理「１」の信号を、欠陥が存在しない
場合論理「０」の信号を計算機に入力する各入力
手段、 上記物体の単位長の移動ごとにパルスを発生し
て上記計算機に入力する手段、 上記物体の移動線上に仮に基準位置を定め、上
記各入力手段の上記基準位置からの距離と上記計
算機に入力される上記パルスの数とから、上記物
体が上記各入力手段から上記基準位置に到るまで
の各遅延時間を算出し、この算出した各遅延時間
により上記各入力手段から入力した欠陥情報を上
記各入力手段が上記基準位置に置かれた場合に検
出する欠陥情報に変換する時間軸補正手段、 この時間軸補正手段により変換済みの欠陥情報
について、いずれか一つの入力手段からの欠陥情
報が論理「０」から「１」に変化したとき、他の
すべての入力手段からの欠陥情報がすべて論理
「０」である場合にこれを欠陥情報の始点とし、
いずれか一つの入力手段からの欠陥情報が論理
「１」から「０」に変化したとき、他のすべての
入力手段からの欠陥情報がすべて論理「０」であ
る場合にこれを欠陥情報の終点として、欠陥情報
の始点からこの次に来る終点までを欠陥部分の長
さとする手段、 を備えた連続物体の検査装置。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP59066144A JPS60210744A (ja) | 1984-04-03 | 1984-04-03 | 連続物体の検査装置 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP59066144A JPS60210744A (ja) | 1984-04-03 | 1984-04-03 | 連続物体の検査装置 |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPS60210744A JPS60210744A (ja) | 1985-10-23 |
| JPH049443B2 true JPH049443B2 (ja) | 1992-02-20 |
Family
ID=13307369
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP59066144A Granted JPS60210744A (ja) | 1984-04-03 | 1984-04-03 | 連続物体の検査装置 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPS60210744A (ja) |
Cited By (2)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| US8858798B2 (en) | 2006-10-05 | 2014-10-14 | Mitsubishi Heavy Industries, Ltd. | Dehydration method |
| US9149769B2 (en) | 2007-03-15 | 2015-10-06 | Mitsubishi Heavy Industries, Ltd. | Dehydration system and dehydration method |
Citations (3)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS52116175A (en) * | 1976-03-26 | 1977-09-29 | Mitsubishi Electric Corp | Pattern defect recognition device |
| JPS5574406A (en) * | 1978-12-01 | 1980-06-05 | Fujitsu Ltd | Inspection of pattern defect |
| JPS5821110A (ja) * | 1981-07-29 | 1983-02-07 | Nippon Kogaku Kk <Nikon> | パタ−ン検査装置 |
-
1984
- 1984-04-03 JP JP59066144A patent/JPS60210744A/ja active Granted
Patent Citations (3)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS52116175A (en) * | 1976-03-26 | 1977-09-29 | Mitsubishi Electric Corp | Pattern defect recognition device |
| JPS5574406A (en) * | 1978-12-01 | 1980-06-05 | Fujitsu Ltd | Inspection of pattern defect |
| JPS5821110A (ja) * | 1981-07-29 | 1983-02-07 | Nippon Kogaku Kk <Nikon> | パタ−ン検査装置 |
Cited By (2)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| US8858798B2 (en) | 2006-10-05 | 2014-10-14 | Mitsubishi Heavy Industries, Ltd. | Dehydration method |
| US9149769B2 (en) | 2007-03-15 | 2015-10-06 | Mitsubishi Heavy Industries, Ltd. | Dehydration system and dehydration method |
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| JPS60210744A (ja) | 1985-10-23 |
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