JPS60201641A - ウエハの並べ換え装置 - Google Patents

ウエハの並べ換え装置

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JPS60201641A
JPS60201641A JP5990684A JP5990684A JPS60201641A JP S60201641 A JPS60201641 A JP S60201641A JP 5990684 A JP5990684 A JP 5990684A JP 5990684 A JP5990684 A JP 5990684A JP S60201641 A JPS60201641 A JP S60201641A
Authority
JP
Japan
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semiconductor
wafer
wafers
semiconductor wafers
semiconductor wafer
Prior art date
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Pending
Application number
JP5990684A
Other languages
English (en)
Inventor
Hideaki Ozawa
小沢 英明
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Fujitsu Ltd
Original Assignee
Fujitsu Ltd
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Filing date
Publication date
Application filed by Fujitsu Ltd filed Critical Fujitsu Ltd
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Publication of JPS60201641A publication Critical patent/JPS60201641A/ja
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    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01LSEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
    • H01L21/00Processes or apparatus adapted for the manufacture or treatment of semiconductor or solid state devices or of parts thereof
    • H01L21/67Apparatus specially adapted for handling semiconductor or electric solid state devices during manufacture or treatment thereof; Apparatus specially adapted for handling wafers during manufacture or treatment of semiconductor or electric solid state devices or components ; Apparatus not specifically provided for elsewhere
    • H01L21/67005Apparatus not specifically provided for elsewhere
    • H01L21/67242Apparatus for monitoring, sorting or marking
    • H01L21/67271Sorting devices
    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01LSEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
    • H01L21/00Processes or apparatus adapted for the manufacture or treatment of semiconductor or solid state devices or of parts thereof
    • H01L21/67Apparatus specially adapted for handling semiconductor or electric solid state devices during manufacture or treatment thereof; Apparatus specially adapted for handling wafers during manufacture or treatment of semiconductor or electric solid state devices or components ; Apparatus not specifically provided for elsewhere
    • H01L21/68Apparatus specially adapted for handling semiconductor or electric solid state devices during manufacture or treatment thereof; Apparatus specially adapted for handling wafers during manufacture or treatment of semiconductor or electric solid state devices or components ; Apparatus not specifically provided for elsewhere for positioning, orientation or alignment

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  • Power Engineering (AREA)
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Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。

Description

【発明の詳細な説明】 (a) 発明の技術分野 本発明は半導体ウェハの並べ換え装置に係り、特に半導
体ウェハ番号検出器で半導体ウェハのロフト番号を検出
して選択させ、自動的に半導体ウェハを番号順に並べ変
えする装置に関する。
(bl 技術の背景 半導体ウェハの製造工程において、生産面や品質面で管
理をするために、半導体ウェハには、収納されているカ
セットと、そのカセットをロットとした半導体ウェハ一
枚ごとに追い番の番号が記録されている。
然しなから、半導体ウェハの製造工程で、抜取検査や、
異品のある半導体ウェハのチェックとか、その半導体ウ
ェハの修正作業などにより、最初に順番どおりであった
10フトの半導体ウェハの順番が不規則になってしまい
、順番どうりに並べ換えをする必要がある際には並べ換
えの作業が非常に煩雑である。
特に、半導体ウェハの製造工程が複雑になるに従いこの
ようなケースが増え、効率的な並べ換え方法が要望され
ている。
(C1従来技術と問題点 従来の半導体ウェハの並べ換えの方法は、半導体ウェハ
を一枚づつ、手に持ったビンセントで半導体ウニバカセ
ントから摘出して抜き出して、半導体ウェハ表面上のロ
ット番号を確認して半導体ウニバカセントに、番号順に
並べ換えをして収納していた。
この際に、半導体ウェハの並べ換えの煩雑さと、このた
めに半導体ウェハが、所定の製造工程以外の作業取扱の
ため損傷を受ける恐れがあるという欠点がある。
+d) 発明の目的 本発明は、上記従来の欠点に鑑み、ロフト番号が無秩序
に配列された半導体ウェハを、自動的にロット番号の順
序どおりに並べ換えをする装置を提供することを目的と
する。
+el 発明の構成 この目的は、本発明によれば、複数のウェハが所定の番
号どおりに並べられずに収納された第1のウェハカセッ
トと、第2のウニバカセントとの間でウェハを搬送する
第1の搬送手段と、該第1の搬送手段の搬送径路上で前
記ウェハの番号を示す記号を読み取る読み取り手段、該
搬送径路の途中からウェハを第3のウェハカセットへ搬
送する第2の搬送手段とを具備し、前記読み取り手段に
よって読み取ったウェハの記号が示す番号が収納すべき
番号に一致した時は、該ウェハを第3のウニバカセント
へ搬送し、一致しない時は第2のウェハカセットへ搬送
し、該第1と第2のウェハカセット間でウェハを往復さ
せながら該第3のカセットウェハを所定の順番に収納す
るようにしたことを特徴とするウェハの並べ換え装置を
提供することによって達成できる。
(f) 発明の実施例 半導体ウェハは、製造工程において、生産管理や品質管
理の観点から、ロフト管理に必要な記号表示をする必要
があり、一般には半導体ウェハのカ七ソトロントと半導
体ウェハの一枚毎に追い番号を表示することでロフトを
明確にしているが、その表示方法として、最初に製品名
をアルファベントで表示し、次にウニバカセントの番号
、及びウェハの一枚ごとの番号を、レーザーによる番号
刻印機でA3−001 のような記号が4 mmx 4
 mmの大きさで、半導体ウェハの端部に表示される。
第1図はその番号がウェハに刻印された図であり、番号
1がウェハ2に刻印されるが、この番号はバーコードで
刻印して計算機で読み取りを容易にすることも可能であ
る。
第2図は本発明の半導体ウェハ番号並べ換え装置であり
、その端部に無秩序に半導体ウェハ2が収納された第1
のウェハカセット3があり、4は半導体ウェハ搬送ベル
トで、半導体ウェハは、このベルト上に搭載されて搬出
され、ロット番号読み取り装置5の検出部6の真下を通
過する。
番号読み取り装置を通過した半導体ウェハは、予めロッ
ト番号読み取り装置で検出すべき番号がメモリーされて
いるので、その番号に合致した番号の半導体ウェハが通
過すると、番号読み取り装置が、その半導体ウェハを選
択して正規順番の第3のウェハカセット7に搬入し、合
致しない番号の半導体ウェハの場合には、ベルトの他端
に設けられた第2のウェハカセット8に搬入される。
半導体ウェハカセット3から搬出された半導体ウェハが
、予め定めた番号と合致して正規順番の半導体ウェハカ
セット6に搬入された直後には、番号読み取り装置は、
直ちに次の番号がメモリーとして選定され、これに合致
する番号の半導体ウェハを選択することができる。
このようにして、半導体ウェハカセット3から搬出され
た半導体ウェハが全部搬出された後に、半導体ウェハカ
セット8に搬入された半導体ウェハから、それまでと反
対に半導体ウェハカセット8から、半導体ウェハカセッ
ト3の方向に半導体ウェハを順次搬出して、番号読み取
り装置を通過させ番号の合致した半導体ウェハが選択さ
れる。
このようにして、番号読み取り装置の選択番号に合致し
た半導体ウェハは正規順番の半導体ウェハカセット6に
搬入され、一方合致しない半導体ウェハは半導体ウェハ
カセット3に搬入され、この半導体ウェハの往復動作が
半導体ウェハの並べ換えが完了するまで続行される。
このように、半導体ウェハがベルト面を往復するうちに
、順次半導体ウェハの番号順の並べ換えが完了する。
従って番号読み取り装置の最初の検出番号を1にしてお
けは、番号読み取り装置の最初の検出半導体ウェハは、
番号が1となり、1が検出された後では、番号読み取り
装置が直ちに2の番号を検出するように制御されて、引
き続いて番号2の半導体ウェハを検出して正規順番の半
導体ウェハカセット7に搬入されることになる。
第3図は、番号読み取り装置の構成を示すブロック図で
ある。
半導体ウェハ10をテレビカメラ11で読み取り、この
信号をA/D変換器12でデジタルに変換してパターン
マツチング装置13に入力する。
同時に、このパターンマツチング装置13には、順番指
示信号回路14から選択すべき半導体ウェハーの番号が
入力される。
この順番指示信号回路14は、信号指示として1から順
番に指示され、1が検出されれば、次ぎに2が指示され
るように、自動的に制御される機能を有するものとする
このパターンマツチング装置13と、順番指示信号回路
14とから、前記の半導体ウェハカセット3と7及び順
番並べ換え半導体ウェハカセット6に、半導体ウェハー
が搬入されて、半導体ウェハの並び換え動作がなされる
(g) 発明の効果 以上詳細に説明したように、本発明の半導体ウェハの並
べ換え装置は、半導体ウェハを清浄にして極めて短時間
に行い得るという効果大なるものがある。
【図面の簡単な説明】
第1図はウェハ上の番号を示す図、第2図は本発明の半
導体ウェハ番号並べ替え装置の枳弐図。 第3図は番号読み取り装置のブロック図である。 図において、1は番号、2は半導体ウェハ、3は半導体
ウェハカセット、4は半導体ウェハ搬送面、5は番号読
み取り装置、6は検出部、7は正規順番の半導体ウニバ
カセント、8は半導体ウェハカセット、10は半導体ウ
ェハ、11はテレビカメラ、12はA/D変換器、13
はパターンマツチング装置、14は順番指示信号回路で
ある。 第1図 第2図 第3囚 j b l

Claims (1)

    【特許請求の範囲】
  1. 複数のウェハが所定の番号どおりに並べられずに収納さ
    れた第1のウェハカセットと、第2のウニバカセントと
    の間でウェハを搬送する第1の搬送手段と、該第1の搬
    送手段の搬送径路上で前記ウェハの番号を示す記号を読
    み取る読み取り手段、該搬送径路の途中からウェハを第
    3のウェハカセットへ搬送する第2の搬送手段とを具備
    し、前記読み取り手段によって読み取ったウェハの記号
    が示す番号が収納すべき番号に一致した時は、該ウェハ
    を第3のウニバカセントへ搬送し、一致しない時は第2
    のウニバカセントへ搬送し、該第1と第2のウニバカセ
    ント間でウェハを往復させながら該第3のカセットウェ
    ハを所定の順番に収納するようにしたことを特徴とする
    ウェハの並べ換え装置。
JP5990684A 1984-03-27 1984-03-27 ウエハの並べ換え装置 Pending JPS60201641A (ja)

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Cited By (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US4970435A (en) * 1987-12-09 1990-11-13 Tel Sagami Limited Plasma processing apparatus
US5030057A (en) * 1987-11-06 1991-07-09 Tel Sagami Limited Semiconductor wafer transferring method and apparatus and boat for thermal treatment of a semiconductor wafer

Cited By (3)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US5030057A (en) * 1987-11-06 1991-07-09 Tel Sagami Limited Semiconductor wafer transferring method and apparatus and boat for thermal treatment of a semiconductor wafer
US5131799A (en) * 1987-11-06 1992-07-21 Tel Sagami Limited Semiconductor wafer transferring apparatus and boat for thermal treatment of a semiconductor wafer
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