JPS60199225A - フアジイ含意回路 - Google Patents

フアジイ含意回路

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JPS60199225A
JPS60199225A JP59057122A JP5712284A JPS60199225A JP S60199225 A JPS60199225 A JP S60199225A JP 59057122 A JP59057122 A JP 59057122A JP 5712284 A JP5712284 A JP 5712284A JP S60199225 A JPS60199225 A JP S60199225A
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JP59057122A
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Fumio Ueno
文男 上野
Retsu Yamakawa
烈 山川
Yuji Shirai
白井 雄二
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Omron Corp
Original Assignee
Tateisi Electronics Co
Omron Tateisi Electronics Co
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    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01LSEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
    • H01L27/00Devices consisting of a plurality of semiconductor or other solid-state components formed in or on a common substrate
    • H01L27/02Devices consisting of a plurality of semiconductor or other solid-state components formed in or on a common substrate including semiconductor components specially adapted for rectifying, oscillating, amplifying or switching and having at least one potential-jump barrier or surface barrier; including integrated passive circuit elements with at least one potential-jump barrier or surface barrier
    • H01L27/04Devices consisting of a plurality of semiconductor or other solid-state components formed in or on a common substrate including semiconductor components specially adapted for rectifying, oscillating, amplifying or switching and having at least one potential-jump barrier or surface barrier; including integrated passive circuit elements with at least one potential-jump barrier or surface barrier the substrate being a semiconductor body
    • H01L27/06Devices consisting of a plurality of semiconductor or other solid-state components formed in or on a common substrate including semiconductor components specially adapted for rectifying, oscillating, amplifying or switching and having at least one potential-jump barrier or surface barrier; including integrated passive circuit elements with at least one potential-jump barrier or surface barrier the substrate being a semiconductor body including a plurality of individual components in a non-repetitive configuration
    • H01L27/0611Devices consisting of a plurality of semiconductor or other solid-state components formed in or on a common substrate including semiconductor components specially adapted for rectifying, oscillating, amplifying or switching and having at least one potential-jump barrier or surface barrier; including integrated passive circuit elements with at least one potential-jump barrier or surface barrier the substrate being a semiconductor body including a plurality of individual components in a non-repetitive configuration integrated circuits having a two-dimensional layout of components without a common active region
    • H01L27/0617Devices consisting of a plurality of semiconductor or other solid-state components formed in or on a common substrate including semiconductor components specially adapted for rectifying, oscillating, amplifying or switching and having at least one potential-jump barrier or surface barrier; including integrated passive circuit elements with at least one potential-jump barrier or surface barrier the substrate being a semiconductor body including a plurality of individual components in a non-repetitive configuration integrated circuits having a two-dimensional layout of components without a common active region comprising components of the field-effect type
    • H01L27/0629Devices consisting of a plurality of semiconductor or other solid-state components formed in or on a common substrate including semiconductor components specially adapted for rectifying, oscillating, amplifying or switching and having at least one potential-jump barrier or surface barrier; including integrated passive circuit elements with at least one potential-jump barrier or surface barrier the substrate being a semiconductor body including a plurality of individual components in a non-repetitive configuration integrated circuits having a two-dimensional layout of components without a common active region comprising components of the field-effect type in combination with diodes, or resistors, or capacitors
    • HELECTRICITY
    • H03ELECTRONIC CIRCUITRY
    • H03KPULSE TECHNIQUE
    • H03K19/00Logic circuits, i.e. having at least two inputs acting on one output; Inverting circuits
    • HELECTRICITY
    • H03ELECTRONIC CIRCUITRY
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    • H03K19/08Logic circuits, i.e. having at least two inputs acting on one output; Inverting circuits using specified components using semiconductor devices
    • H03K19/094Logic circuits, i.e. having at least two inputs acting on one output; Inverting circuits using specified components using semiconductor devices using field-effect transistors

Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。

Description

【発明の詳細な説明】 発明の背景 この発明はファジィ含意回路に関する。
ファジィ論理はファジネスすなわち「あいまいさJを取
扱う論理である。人間の思考や行動にはあいまいさがつ
きまとっている。そこで、このようなあいまいさを数m
化したり理論化できれば、交通管制、緊急、応用医療体
IIII等の社会システム、人間を模倣してつくられる
ロボット等の設品1に応用できる筈である。1965年
にl、 A、 7adehによってファジィ集合のm念
が提唱されて以来、このJ:うな観点から「あいまいさ
」を取扱う一つの手段としてファジィ論理の研究が行な
われてきた。しかしながらこのような研究の多くがディ
ジタル計算機を用いたソフトウェア・システムへの応用
に向けられているのが現状である。ディジタル1lll
lはOと1とからなる2値論理に基づく演算を行なうも
のであり、その演惇処理はきわめて厳密ではあるが、ア
ナログ量の入力にはA/D変挽回路をイリ加づる必要が
あり、このために膨大な情報を処理させようとすると最
終結果が得られるまでに長い時間を要するという問題が
ある。また、ファジィ論理の応用のためのプログラムは
きわめて複雑にならざるを得ず、複雑な処理のためには
大型ディジタル計算機が必要となり経済的でない。
そもそもファジィ論理はOから1までの区間の連続的な
値(0,1)を扱う論理であるから、2値論理を基礎と
するディジタル81算機にはなじまないという面をもっ
ている。またファジィ論理は1】のあるあいまいな儂を
取扱うものであるから、ディジタル計篩機による演算は
どの厳密性は要求されない。そこで、ファジィ論理を取
扱うのに適した回路、システムの実現が望まれている。
発明の概要 この発明は、ファジィ論理のための基本回路であるファ
ジィ含意回路を提供することを目的とする。
この発明によるファジィ含意回路は、演算の変数を表わ
す2つの電流を入力とする第1のファジィ限界差回路、
および第1のファジィ限界差回路の出力電流と、ファジ
ィ論理で1を表わす電流とを入力とし、その出力がファ
ジィ含意演算結果を表わす第2のファジィ限界差回路か
らなることを特徴とする。ここで、第1のファジィ限界
差回路は、F、ETにより構成された電流ミラーと、そ
の出力側に接続されたワイヤードORとからなり、第2
のファジィ限界差回路は、FETにより構成された電流
ミラーと、その出力側に接続されたワイヤードORと、
出力電流の向きに対して順方向に接続されたダイオード
とからなる。
この発明によるファジィ含意回路は、2つのファジィ限
界差回路の組合せにより構成されるから、その構成がき
わめて簡素であり、IC(集積回路)化に最適である。
ファジィ含意回路の基本要素であるファジィ限界差回路
においては、FETを用いて電流ミラーが構成されてい
る。したがって、ミラ一定数を常に1に保つことが可能
であり、正確なファジィ論理演算ができるとともに、演
算速度の高速化が可能である。
実施例の説明 ファジィ集合Xはメンバーシップ関数μ×によって特性
づけられる。メンバーシップ関数とはその変数がファジ
ィ集合Xに属している度合いを表わすものであり、この
度合いは0がら1までの区間の連続的な値(0,1)に
よって表わされる。したがって、メンバーシップ関数は
その変数を(0,1)に変換するものであるということ
ができる。ファジィ集合Yも同様にメンバーシップ関数
μyによって特性づけられる。
ファジィ論理とは、あいまいさをファジィ集合の形で表
わし、これを用いて、通常の論理をあいまいさを取扱う
ことができるよう、に拡張したものである。ファジィ含
意もまたファジィ論理の基本8XI算の1つである。
この発明におけるファジィ含意回路は電流モードで動作
する。そこで電流の入出力形態を簡単に説明しておく。
第1図において、ファジィ論理回路(10)の入力電流
がIiで、出力電流が10でそれぞれ表わされている。
(A)は、入力電流1iが回路(10)に向って流れ込
み、出力電流IOが回路(10)から流出する入出力形
態を示している。これを、吸い込み入力、吐き出し出ツ
ノと名(lける。(B)は、入力電流Iiが回路(10
)から流出し、出力電流IOが回路(10)に流入する
吐き出し入力、吸い込み出力の形態を示している。同様
にして、(C)は吸い込み入力、吸い込み出力を、(D
)は吐き出し入力、吐き出し出力をそれぞれ示している
ファジィ論理回路を多段(カスケード)に接続する場合
には、第1図(△)または(B)の形態を採用すること
が好ましい。第1図は1人力、1出力の例であるが、多
入力、多出力の回路においても電流の入出力形態は変わ
らない。
ファジィ含意演算を実行する回路は、ファジィ限界差演
算を実行する回路の組合せによって構成される。したが
って、まずファジィ限界差回路について説明し、その後
、ファジィ含意回路について述べる。
以下に述べる実施例は、上記のファジィ論理演算回路を
PチャネルMO8形FET (電界効果トランジスタ)
 (P−MOS FET)で実現したものであり、吐き
出し入力、吸い込み出力の電流入出力形態が採用されて
いる。ファジィ論理回路はP−MOS FETのみなら
ず、NチャネルMO8形FET (N−MOS FET
)、相補形MO3(C−MOS)FETによっても実現
でき、るのはいうまでもない。
ファジィ集合X、Yに対して、限界差は、それらのメン
バーシップ関数μX、μyにより次のように定性される
XeYe/L1xey 三μ×θμy =OV CμX−μy) ・・・(1)ここでOは限界
差、■は論理和(max ) (大きい方を選択りるこ
と)、−は粋術上の引算(算術差)をそれぞれ表わして
いる。ファジィ論理では負の値は使用しないから、第(
1)式において、(μX−μy)が負の値になった場合
には論理和Vによって限界差はOとなる。すなわら、第
(1)式は具体的には次の関係を表わし下いる、 ・・・ (2) 第2図に限界差回路が示されている。限界差回路は、P
−MOS FETにより構成される電流ミラー(1)、
ワイヤードOR、ダイA−ド(2)、2つの入力端子(
3)(4)および1つの出力端子(5)からなる。電流
ミラーく1)は2つのP−MOS FETからなる電流
ミラーと等価である。第4図において、(A>は第2図
における電流ミラー(1)を、(B)は2つのP−MO
S FET(11)(12)からなる電流ミラーをそれ
ぞれ示している。
第4図(B)において、2つのFET(11)(12)
のソース(S)が接地されている。まI、:これらのゲ
ート(G)が互いに接続され、かつこれらのグー1〜(
G)が一方のFET(11)のドレイン(D)に接続さ
れている。一方のFET(11)のドレイン(D)に吐
き出し入力電流1iを与えると、他方のFET(11)
ドレイン(D)から1i=ioとなる吐き出し出力電流
IOが得られる。これは、FET(11)のドレイン電
流がliに等しくなるようにゲート電圧(グーh /ソ
ース間電圧)が加わるからであり、このゲート電圧は他
方のFET(12)にも作用してFET(12)のトレ
イン電流もliに等しくなるからである。ただし、2つ
のFET(11)(12)の構造および5i−3in2
界面物性が等しいことが条件である。ゲート(G)と一
方のFET(11)のドレイン(0)との間の短絡路に
はli流は流れない。
2つのFETの構造および5t−SiO□界面物性が等
しければ、入力電流の大きさに関係なく入力端子11に
等しい出力電流10が得られるというのはFETを用い
た電流ミラーの大きな特徴である。バイポーラ素子、た
とえば通常の接合トランジスタを用いたff1lミラー
では、電流増幅率βが非常に大きい場合にのみ1i−1
゜が成立する。入力ffl流11が小さい場合には電流
増幅率βも小さくなるので上記の等式が成立しなくなる
。第4図(B)の電流ミラーを、以下第4図(A)の記
号で表現する。
第2図に戻って、電流ミラー〈1)の入ツノ用ドレイン
(ゲート)側の入力端子(4)に吐き出し入力電流IY
を与えれば、その出力用トレインにはこれと等しい値I
Vの吐き出し電流が得られることは、上述の説明から明
らかであろう。この出力用ドレインに、吐き出し入力1
!流lxを酎換える入力端子(3)と、吐き出し方向に
対して逆方向となるダイオード(2)を介して出力端子
(5)とを接続しておく。端子(3)に接続された電流
源によってlxの値の電流が引っばられるので、lx>
Iyの場合にのみIz=Ix−1yの出力電流が端子(
5)からダイオード(2)を通して吸い込まれることに
なる。1x≦lyの場合にはIV −IXの出力電流が
吐き出されようとするが、ダイオード(2)によって阻
止されるので、端子(5)に流れる出力電流は零となる
。以上の関係をまとめると、次のようになる。
・・・(3) メンバーシップ関数μ×、μYをそれぞれ入力端srx
、ryに、限界差μy、eyを出力電流Izにそれぞれ
対応させれば、第(3)式は第(2)式と全く同じ関係
を表わしている。第2図の回路が限界差の基本演算回路
であることが理解できよう。
第3図は、入力電流の一方1yをパラメータとした場合
における、他方の入力電流1xと出力電流1zとの関係
を示している。ここで、人、出力電流はいずれも、最大
値が1となるように正規化されている。
第5図は、第2図に示される限界差回路をIC(集積回
路)によって実現した場合のICの構造の一例を示して
いる。(A)IJ平而面ターン図、(B)はb−b線に
そう断面図、(C)はC−C線にそう断面図であり、い
ずれも図式的に示されている。また、リアストレート(
第2ゲート)は省略されている。この回路は、n形基板
(30)上に通常のP−MO8製造プロセスによってつ
くることができる。
電流ミラー(1)におけるソースとなるA/(櫛体)パ
ターン(61)はn領域(41)にオーミック接触して
いる。入力側のドレインとなるA/パターン(62)は
n領域(42)に接続されている。出力側のドレインと
なるA/パターン(63)もまたp領bi、(43)に
接続されている。
2つのFETのチャンネル巾、チャンネル長、グー1−
酸化膜厚はそれぞれ等しくなるように製作されている。
n領域(41)と(42) (43)との間にのぞむよ
うに、グー1−となる多結晶5i(Bドープ、p形)(
50)が5ICh絶縁膜(51)を介して設置ノられて
いる。この多結晶5i(50)はA/パターン(62)
に接続されているが、AIパターン(63)とは5iO
z(51)を介して絶縁されている。n領域(44)と
n領域(45)とによりダイオード(2)が構成されて
いる。A/パターン(63)がカソード側となるn領[
(45)上までのばされ、このn領域(45)に接続さ
れている。出ノj端子(5)に接続されるA/パターン
(64)はn領域(44)に接続されている。
第6図は、N−MOS FETにより構成された限界差
回路を示している。吸い込み入力、吐き出し出力の電流
入出力形態となっている。
また2つのドレインが設置ノられ、一方がグー1〜に接
続され、他方は出力側に接続されている。
ソースは接地されている。ダイオード(2)【よ第2図
に示すものとは当然のことながら白さが逆である。この
ような回路においても第(3)式の演算が達成されるの
はいうまでもない。
ファジィ集合X、Yに対して、含意はそれらのメンバー
シップ関数μX、μyにより次のように定性される。
X→’1/ 4jμX→γ 三1Δ(1−μX+μy) ・・・(4)μ×は集合X
に属している度合を表わすから、(1−μ×)は集合X
に属していない度合を表わすことになる。また論理積(
In)八はいずれか小さい方を選択づるものである。以
上を考慮すると、含意とは、集合Xに属していない度合
と集合Yk−属している度合との算術和を表わし、この
算術和が1よりも大きい場合には結果を1とづることを
意味している。第(4)式をより分りやすく表現づると
次のようになる。
1△(1−μ×→−μy) ・・・ (5) また、第(4)式は次のように変形することが可能であ
る。
1Δ(1−μ×十μy) 一1θ(μXθμy) ・・・(6) 第(6)式は次のようにして証明される。
1θ(μ×eμy)三1θ(x Cry )=OV [
1−(x ey ) ] =OV [1−[OV (x −y ) ] ]=OV
[(1−0)Δ(1−(x−y))]−OV [1△(
1−x +y ) ]−1△(1−x+y) 三1△(1−μX+μy) ・・・(7)第(6)式に
より、含意の演算は2つの限界差回路により実現できる
ことが分る。第7図は含意回路を示している。この図に
おいて、第1段の限界差回路の出力電流1aは次式で与
えられる。
・・・(8) この電流laが第2段の限界差回路の一方の入力電流と
なり、他方の入力電流(端子(23) )としては値が
1の電流が与えられている。したがって、この第2段の
限界差回路の出力電流I2は次式で与えられる。
・・・(9) 第(9)式を第(5)式に対応させることにより、含意
の演算が実行されていることが理解できるであろう。
第7図において、第2段の限界差回路のffi流ミラー
(2旬のゲートに電流が流入することはあり得ないから
、ダイオード(2)は省略することが可能となる。また
、第2段のmmミラー(22)の出力側ドレインから流
出する電流(1aに等しい)は、端子(23)の入力電
流1よりも大きくなることはあり得ないから、ダイオー
ド(22)もまた省略することが可能である。したがっ
て、第7図の含意回路をIC化づる場合には、第8図<
A)に示すように、ダイオード(2)(22)を設ける
必要はない。第8図(A)におけるb−bmgli面は
同図(B)に示されている。C−CWAIi面は第5図
(C)に示すものと同じである。また、第5図に対応す
るものについては同一符号が付けられている。第1段の
電流ミラー(1)と第2段の電流ミラー(21)とはA
/パターン(63)によって接続されている。
第5図との対応から、第8図に示すICパターンが第7
図の回路(ダイオードを除く)を構成していることが容
易に理解できよう。
【図面の簡単な説明】
第1図はffi流の入出力形態の説明図、第2図は限界
差回路を示す回路図、第3図はその入出力特性を示タグ
ラフ、第4図は等価な2つの電流ミラーの回路図、第5
図は、限界差回路をIC化した場合のその構造を示ずも
ので、(A)は平面パターン図、(B)は(A)のb−
b線にそう断面図、(C)は(A>のC−C線にそう断
面図、第6図はN−MOS FETにより構成された限
界差回路を示す回路図、第7図は含意回路の回路図、第
8図はそのICパターンを示すもので、<A)は平面パ
ターン図、(8)は<A)のb−biaにそう断面図で
ある。 (1)(21)・・・電流ミラー、(2)(22)・・
・ダイオード、(3) (4) (23)・・・入力端
子、(5)(25)・・・出力端子。 以 上 外4名 第5図 第6図 第7図 第0図

Claims (1)

  1. 【特許請求の範囲】 演算の変数を表わす2つの電流を入力とする第1のファ
    ジィ限界差回路、および 第1のファジィ限界差回路の出力電流と、ファジィ論理
    で1を表わす電流とを入力とし、その出力がファジィ含
    意演算結果を表わす第2のファジィ限界差回路からなり
    、 第1のファジィ限界差回路が、FETにより構成された
    電流ミラーと、その出力側に接続されたワイヤードOR
    とからなり、第2の71シイ限界差回路が、FETにJ
    :り構成された電流ミラーと、その出力側に接続された
    ワイヤードORと、出力電流の向きに対して順方向に接
    続されたダイオードとからなる、 ファジィ含意回路。
JP59057122A 1984-03-23 1984-03-23 フアジイ含意回路 Pending JPS60199225A (ja)

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US06/714,809 US4694418A (en) 1984-03-23 1985-03-22 Fuzzy logic basic circuit and fuzzy logic integrated circuit operable in current mode
US07/041,696 US4860243A (en) 1984-03-23 1987-04-23 Fuzzy logic semifinished integrated circuit

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