JPS60197874A - マグネトロンスパツタ装置 - Google Patents

マグネトロンスパツタ装置

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Publication number
JPS60197874A
JPS60197874A JP5394484A JP5394484A JPS60197874A JP S60197874 A JPS60197874 A JP S60197874A JP 5394484 A JP5394484 A JP 5394484A JP 5394484 A JP5394484 A JP 5394484A JP S60197874 A JPS60197874 A JP S60197874A
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
target
sputtering
poles
magnetron sputtering
distance
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Pending
Application number
JP5394484A
Other languages
English (en)
Inventor
Minoru Omoto
大本 稔
Takashi Ito
孝 伊東
Akira Odagiri
小田切 耀
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
SHINKU KIKAI KOGYO KK
Original Assignee
SHINKU KIKAI KOGYO KK
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Filing date
Publication date
Application filed by SHINKU KIKAI KOGYO KK filed Critical SHINKU KIKAI KOGYO KK
Priority to JP5394484A priority Critical patent/JPS60197874A/ja
Publication of JPS60197874A publication Critical patent/JPS60197874A/ja
Pending legal-status Critical Current

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Classifications

    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01JELECTRIC DISCHARGE TUBES OR DISCHARGE LAMPS
    • H01J37/00Discharge tubes with provision for introducing objects or material to be exposed to the discharge, e.g. for the purpose of examination or processing thereof
    • H01J37/32Gas-filled discharge tubes
    • H01J37/34Gas-filled discharge tubes operating with cathodic sputtering
    • H01J37/3402Gas-filled discharge tubes operating with cathodic sputtering using supplementary magnetic fields
    • H01J37/3405Magnetron sputtering
    • H01J37/3408Planar magnetron sputtering

Landscapes

  • Physics & Mathematics (AREA)
  • Engineering & Computer Science (AREA)
  • Plasma & Fusion (AREA)
  • Chemical & Material Sciences (AREA)
  • Analytical Chemistry (AREA)
  • Physical Vapour Deposition (AREA)

Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。

Description

【発明の詳細な説明】 本発明はマグネトロンスパッタ装置に関する。
スパッタリングは、他のPVD法、たとえば真空蒸着に
比べて得られる膜の特性において優れているが、基板の
温度上昇が大きい点、膜の形成速度が遅い点などが大き
な問題となっていた。しがし、これらの問題は、電場と
磁場とを直交させるマグネトロンスパッタ法により、著
しく軽減されるに至った。特に、ターゲット電極の裏面
に1対の磁極を互いに離間して配設し、ターゲット表面
上に閉じた磁界を発生させてプラズマを閉じこめるよう
にした。いわゆる高速マグネトロンスパッタ装置は、大
きな成膜速度が得られ、しかも基板への電子の流入を抑
えることが可能であることから大きく注目されるように
至っている。(昭和58月12月10日、オーム社発行
、薄膜ハンドブックP186〜P190等参照) しかしながら、高速マグネトロンスパッタではターゲッ
トが大きな速度でエツチングされるため、短時間のうち
にターゲラ!・の浸食が顕著になる。
浸食(エロージョン)が現われるとスパッタ電圧が低下
し、そのため、所期の成膜速度を得るためには、スパッ
タ電圧の低下に応じてスパッタ電流を増加しなければな
らない。この操作が煩雑であるばかりか、このように電
力を一定にしても成膜速度は一定の値とならず、再現性
にも問題があった。さらに、高速マグネトロンスパッタ
では、不均一磁界を用いプラズマを局部的に集束するた
めに、ターゲット・のプラズマ集束部だけが局部的に浸
食され、ターゲットの不均一浸食が生じてしまうという
問題もあった。
本発明は、このような観点からなされたものであり、タ
ーゲットの浸食に由来する種々の問題を解決することの
できるスパッタ装置を提供することを目的とする。
本発明は、また、高速マグネトロンスパッタに伴なうタ
ーゲットの不均一浸食を緩和することのできるスパッタ
装置を提供することを目的とする。
すなわち、本発明のスパッタ装置は、陰極のターゲツト
面の反対面側にN極およびS極が互いに離間して配設さ
れ、N極から発してターゲツト面を通過してS極に入る
磁力線とターゲツト面とによる閉ループがターゲツト面
上に形成されるようになっているスパッタ装置において
、前記N極およびS極とターゲツト面との距離を調節自
在にしたことを特徴とする。
以下、添付図面に沿って本発明をさらに詳細に説明する
第1図は本発明のマグネトロンスノ(ツタ装置の電極構
造の実施例を示す断面図であり、この実施例では円板型
のプレーナータイプにつし1て示している。マグネトロ
ンスパッタ電極11のターゲツト材13の裏面には磁石
アッセンブリ15が配設されている。磁石アッセンブリ
15は互し4に離間してターゲツト材13の裏面に近接
して配設されたN極およびS極を有する。磁力線がN極
から発し、ターゲツト材13を裏面から表面に向けて通
り抜け、再びターゲラI・材13を表面から裏面番二通
り抜けてS極に至り、第2図に模式的に示したような閉
ループがターゲツト材13に生じるように、永久磁石1
7.19が配設される。マグネトロンスパッタ電極11
には冷却水供給管(図示せず)から冷却水21を供給、
循環するようになっている。
本発明の最大の特徴は、N極およびS極とターゲツト面
と距離が調節自在になっている点にある。
この実施例では、磁石アッセンブリ15に駆動軸16が
取付けられており、この駆動軸16をモータなどの駆動
部材23により上下番;動かすことにより、永久磁石1
7,19のN極およびS極をターゲツト材13に遠ざけ
たり、近づけたりすることができる。
また、駆動軸16の動きを肉視あるいは差動変圧器など
で監視するようにすれば浸食深さ、即ちターゲットの残
存厚が判る。
以上の説明では磁極をターゲツト面に対して動かして両
者の距離を調整する場合について示したが磁極に対して
ターゲットを動かすこともできる。
また、電極構造も円板型のプレーナータイプに限定され
るものではない。
第3図は浸食が起った場合のエロージョン(浸食)深さ
と磁束密度との関係を示すグラフである。
エロージョンが進むにつれて、その部分のターゲラ1〜
表面の磁束白変が増加しているのが判る。磁束密度は放
電強度を支配する因子であるため、二ローションが進む
につれて放電条件が変化し、そのため第4図に示すよう
にターゲットを使用するにつれて、スパッタ電圧(ター
ゲット電圧)が低下する。そこで、成膜速度を一定にす
るために、従来は、第4図に示すようにスパッタ電流を
増加してスパッタリングを行なっていた。しかし、単に
スパッタ電力が一定になるようにしても成膜速度は一定
値にならず、経験的にスパッタ電力を徐々に増加させる
必要があり、安定性や再現性あるいは操作性の点で問題
が多かった。
これに対して本発明のスパッタ電極によれば、磁極とタ
ーゲツト材との距離を調整自在とすることにより、ター
ゲットのスパッタ面の磁束密度を所定値に維持すること
ができる。よって、スパッタ電圧とスパッタ電流との関
係を一定に保ってスパッタすることができ、電力を制御
するだけで。
スパッタ速度を一定に再現性よく制御できる。
また、スパッタ電圧をスパッタ電流とは無関係に一定に
制御できるので、スパッタされた粒子のエネルギーおよ
びプラズマ強度を一定に保つことができ、再現性よく反
応スパッタを行なうことができる。従来のスパッタ装置
では電圧が徐々に低下するため、再現性を得るために反
応ガスの導入量を経時的に変化させる必要がある場合も
多かった。さらに、ターゲット電圧が一定であることか
らスパッタ率も一定であり、合金をスパッタする際にも
得られる合金膜にターゲットの使用につれての経時変化
がなく、再現性にも問題がない。
また、磁極とスパッタ面との距離の調整量から逆にター
ゲットの浸食深さが判るので、適正な時期にターゲット
の取替作業を行なうことができる。
第5図は、第1図に示した磁石アッセンブリの磁極上部
各位M(距離h)での磁束密度分布を示したものである
。この図からも判るように、磁極とターゲツト面との距
離(図中h)が15mnの場合に良好な磁束密度分布が
得られている場合に、距離が短かくなると分布曲線が尖
ってくる。高速マグネトロンスパッタでは使用につれて
エロージミンによりターゲットがほられ、その分だけ磁
極とスパッタ面との距離が短くなる。そのためターゲッ
トの使用につれて磁束密度分布が設定値からずれ。
不均一浸食が一層助長されることになる。
本発明のスパッタ電極では、磁極とスパッタ面との距離
が調整自在であるので、所定の磁束密度分布を維持する
こ、とができる。
さらに、以上の諸効果により1本発明によれば厚いター
ゲットの使用ができ、ターゲットの取替作業が少なくて
すみ、作業によるスパッタ室の汚染防止や作業時間の短
縮が可能である。
磁極とターゲットとの距離の調整は、ターゲット電圧、
付着速度などの種々の量をモニタすることによりできる
が、ターゲット電圧による制御が容易である。
第6図は本発明のスパッタ装置を用いてスパッタリング
を行なう方法について示すチャート図である。スパッタ
電圧を電圧検知手段31で検知し、これが設定電圧範囲
となるように制御手段33からモータなどの作動部材3
5に制御信号を送り、ターゲツト材37の裏面に配設さ
れた磁石アッセンブリ39を動かして、N極およびS極
とターゲツト面との距離を調整する。41は真空室、4
3は排気系、47は基板ホルダー(陽極)を表わす。
【図面の簡単な説明】
第1図は本発明のマグネトロンスパッタ装置で用いられ
るマグネ1〜ロンスパツタ電極の実施例を示す断面図、
第2図は電極上に形成される磁場について示す模式図、
第3図は二ローション深さと磁束密度との関係を示すグ
ラブ、第4図はターゲットの使用率とスパッタ電圧およ
びスパッタ電流との関係を示すグラフ、第5図は第1図
に示した磁石アッセンブリの磁極上部各位置での磁束密
度分布を示すグラフ、第6図は本発明のスパッタ装置を
用いたスパッタリング方法を説明するチャート図である
。 図中、11はマグネトロンスパッタ電極、13はターゲ
ツト材、15は磁石アッセンブリ、16は駆動軸、17
.19は永久磁石、23は駆動部材、31は電圧検知手
段、33は制御手段、39は磁石アッセンブリである。 沁l閉 焔3凶 エロージ、ンff+’ (m而 箔2謹 弔6(2)

Claims (1)

  1. 【特許請求の範囲】 陰極のターゲツト面の反対面側にN極およびS極が互い
    に離間して配設され、N極から発してターゲツト面を通
    過してS極に入る磁力線とタルゲット面とによる閉ルー
    プがターゲツト面上に形成されるようになっているスパ
    ッタ装置において。 前記N極およびS極とターゲラ1〜面との距離を調整自
    在にしたことを特徴とするマグネトロンスパッタ装置。
JP5394484A 1984-03-21 1984-03-21 マグネトロンスパツタ装置 Pending JPS60197874A (ja)

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JPS60197874A true JPS60197874A (ja) 1985-10-07

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Cited By (3)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2003077975A (ja) * 2001-08-31 2003-03-14 Anelva Corp マルチチャンバースパッタ処理装置
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