JPS60191544A - 端末装置の試験方式 - Google Patents
端末装置の試験方式Info
- Publication number
- JPS60191544A JPS60191544A JP59048630A JP4863084A JPS60191544A JP S60191544 A JPS60191544 A JP S60191544A JP 59048630 A JP59048630 A JP 59048630A JP 4863084 A JP4863084 A JP 4863084A JP S60191544 A JPS60191544 A JP S60191544A
- Authority
- JP
- Japan
- Prior art keywords
- circuit
- terminal device
- test
- power
- exchange station
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Pending
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Classifications
-
- H—ELECTRICITY
- H04—ELECTRIC COMMUNICATION TECHNIQUE
- H04M—TELEPHONIC COMMUNICATION
- H04M3/00—Automatic or semi-automatic exchanges
- H04M3/22—Arrangements for supervision, monitoring or testing
- H04M3/26—Arrangements for supervision, monitoring or testing with means for applying test signals or for measuring
- H04M3/28—Automatic routine testing ; Fault testing; Installation testing; Test methods, test equipment or test arrangements therefor
- H04M3/30—Automatic routine testing ; Fault testing; Installation testing; Test methods, test equipment or test arrangements therefor for subscriber's lines, for the local loop
- H04M3/301—Circuit arrangements at the subscriber's side of the line
Landscapes
- Engineering & Computer Science (AREA)
- Signal Processing (AREA)
- Monitoring And Testing Of Exchanges (AREA)
Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
発明の技術分野
本発明は、交換局から動作用の電力の供給を受ける各種
端末装置を、交換局から試験する端末装置の試験方式に
関するものである。
端末装置を、交換局から試験する端末装置の試験方式に
関するものである。
従来技術と問題点
一般電話機等の端末装置は、交換局から給電されて動作
するものであり、一般電話機の場合は、送受器のオフフ
ックにより動作状態となる。従って、交換局から試験を
しようとしても、オフフックしなければ、端末装置が動
作状態とならなし）ものであるから、一旦呼出しを行い
、それに応答するオフフックにより動作状態として、試
験することになる。即ち端末装置で応答動作を行わなけ
れば、交換局から試験をすることができないものであっ
た。
するものであり、一般電話機の場合は、送受器のオフフ
ックにより動作状態となる。従って、交換局から試験を
しようとしても、オフフックしなければ、端末装置が動
作状態とならなし）ものであるから、一旦呼出しを行い
、それに応答するオフフックにより動作状態として、試
験することになる。即ち端末装置で応答動作を行わなけ
れば、交換局から試験をすることができないものであっ
た。
発明の目的
本発明は、交換局から端末装置が動作状態となるように
制御して、その端末装置の試験を行うことを目的とする
ものである。以下実施例につむ）で詳細に説明する。
制御して、その端末装置の試験を行うことを目的とする
ものである。以下実施例につむ）で詳細に説明する。
発明の実施例
第１図は本発明の実施例の要部ブロック図であり、１は
交換局、１１は他の交換局とのインタフェース回路、１
２は送受信回路、１３は試験情報の発生及び応答信号の
受信判定を行う試験回路、２は端末装置、２１は受電回
路、２２は給電極性が反転されたときに受電回路２１へ
供給する為のダイオード回路、２３はフックスイッチ、
２４は制御部、２５は送受信回路、２６は音声及びデー
タのインタフェース回路、２７は試験情報の受信及び応
答信号の送出の制御を行う試験応答回路、３は電話機、
４はデータ端末、ａ、ｂは加入者線である。通常は加入
者線ａが−、加入者線すが十であり、オンフック状態で
はフックスイッチ２３がオフであるから、ダイオード回
路２２は受電回路２１に対してオフ状態となり、受電回
路２１には給電されないので、端末装置２は非動作状態
である。又オフフック状態ではフックスイッチ２３は受
電回路２１に対してオン状態となり、ダイオード回路２
２を介して受電回路２１に交換局１からの電力が供給さ
れることになり、受電回路２１から制御部２４に動作用
の電力が供給されて、端末装置２は動作状態となる。
交換局、１１は他の交換局とのインタフェース回路、１
２は送受信回路、１３は試験情報の発生及び応答信号の
受信判定を行う試験回路、２は端末装置、２１は受電回
路、２２は給電極性が反転されたときに受電回路２１へ
供給する為のダイオード回路、２３はフックスイッチ、
２４は制御部、２５は送受信回路、２６は音声及びデー
タのインタフェース回路、２７は試験情報の受信及び応
答信号の送出の制御を行う試験応答回路、３は電話機、
４はデータ端末、ａ、ｂは加入者線である。通常は加入
者線ａが−、加入者線すが十であり、オンフック状態で
はフックスイッチ２３がオフであるから、ダイオード回
路２２は受電回路２１に対してオフ状態となり、受電回
路２１には給電されないので、端末装置２は非動作状態
である。又オフフック状態ではフックスイッチ２３は受
電回路２１に対してオン状態となり、ダイオード回路２
２を介して受電回路２１に交換局１からの電力が供給さ
れることになり、受電回路２１から制御部２４に動作用
の電力が供給されて、端末装置２は動作状態となる。
本発明は、交換局１からの給電極性を反転することによ
り、端末装置２の受電回路２１に交換局１からの電力を
供給して端末装置２を動作状態とし、交換局１から試験
情報を送出して、これを受信した端末装置２が応答信号
を返送し、交換局１でこの応答信号を受信して、端末装
置２が正密か否かを判定するものである。端末装置２に
於ては、ダイオード回路２２等の極性反転により受電回
路２１に交換局１からの電力を供給できる回路を設け、
且つ試験応答回路２７を設けるだけで、他の構成は従来
の端末装置の構成で良く、マイクロプロセッサ等により
端末装置２が構成されている場合は、試験応答回路２７
の機能をソフトで実現することができる。又交換局１は
プロセッサ制御による構成が一般的であるから、試験回
路１３の機能を付加することは容易である。
り、端末装置２の受電回路２１に交換局１からの電力を
供給して端末装置２を動作状態とし、交換局１から試験
情報を送出して、これを受信した端末装置２が応答信号
を返送し、交換局１でこの応答信号を受信して、端末装
置２が正密か否かを判定するものである。端末装置２に
於ては、ダイオード回路２２等の極性反転により受電回
路２１に交換局１からの電力を供給できる回路を設け、
且つ試験応答回路２７を設けるだけで、他の構成は従来
の端末装置の構成で良く、マイクロプロセッサ等により
端末装置２が構成されている場合は、試験応答回路２７
の機能をソフトで実現することができる。又交換局１は
プロセッサ制御による構成が一般的であるから、試験回
路１３の機能を付加することは容易である。
第２図は端末装置の試験の説明図であり、交換局１の試
験回路１３に試験指示信号ＴＳＴが加えられると、試験
回路】３から送受信回路１２に給電極性反転指示信号が
加えられ、今まで加入者線ａが−、ｂが十の極性であっ
たものが、加入者線ａを→−１ｂを−の極性に反転する
。それにより、端末装置２のダイオード回路２２を介し
て受電回路２１に交換局１からの電力が供給されること
になる。又交換局１の試験回路１３では試験情報を発生
し、送受信回路１２を介して端末装置２に送出する。端
末装置２では給電極性の反転により動作状態となり、試
験情報を送受信回路２５を介して試験応答回路２７が受
信し、試験情報に対応した応答信号を発生させて、送受
信回路２５から交換局１へ送出する。交換局１はその応
答信号を送受信回路１２を介して試験回路１３が受信し
、それにより送受信回路１２からの給電極性を復帰させ
、試験回路１３は応答信号を判定して、端末装置２が正
常か異常かを識別する。
験回路１３に試験指示信号ＴＳＴが加えられると、試験
回路】３から送受信回路１２に給電極性反転指示信号が
加えられ、今まで加入者線ａが−、ｂが十の極性であっ
たものが、加入者線ａを→−１ｂを−の極性に反転する
。それにより、端末装置２のダイオード回路２２を介し
て受電回路２１に交換局１からの電力が供給されること
になる。又交換局１の試験回路１３では試験情報を発生
し、送受信回路１２を介して端末装置２に送出する。端
末装置２では給電極性の反転により動作状態となり、試
験情報を送受信回路２５を介して試験応答回路２７が受
信し、試験情報に対応した応答信号を発生させて、送受
信回路２５から交換局１へ送出する。交換局１はその応
答信号を送受信回路１２を介して試験回路１３が受信し
、それにより送受信回路１２からの給電極性を復帰させ
、試験回路１３は応答信号を判定して、端末装置２が正
常か異常かを識別する。
又第３図は端末装置２が応答信号を返送することができ
なかった場合を示すものであり、試験情報を交換局１か
ら送出してから所定の時間の経過後にも端末装置２から
の応答信号を受信できなかった場合は、端末装置２の異
常と判定する。
なかった場合を示すものであり、試験情報を交換局１か
ら送出してから所定の時間の経過後にも端末装置２から
の応答信号を受信できなかった場合は、端末装置２の異
常と判定する。
試験情報としては、単−又は複数のテストパターンを用
いることができ、応答信号としては、単に試験情報を受
信したことを示す信号とすることも可能であり、或いは
受信したテストパターンを返送するようにすることも可
能である。テストパターンを返送する場合は、交換局１
の試験回路で送出したテストパターンと端末装置２から
返送されたテストパターンとを比較することにより、端
末装置２の正常か否かを判定することができる。
いることができ、応答信号としては、単に試験情報を受
信したことを示す信号とすることも可能であり、或いは
受信したテストパターンを返送するようにすることも可
能である。テストパターンを返送する場合は、交換局１
の試験回路で送出したテストパターンと端末装置２から
返送されたテストパターンとを比較することにより、端
末装置２の正常か否かを判定することができる。
発明の詳細
な説明したように、本発明は、交換局１から端末装置２
への給電極性を反転し、端末装置１のダイオード回路２
２等の回路により受電回路２１に供給して端末装置２を
動作状態とし、交換局１から試験情報を送出して、その
試験情報を受信した端末装置２が応答信号を交換局１へ
送出することにより、交換局１で端末装置２を試験する
ものであり、任意の端末装置２を選択して交換局１から
試験することができるので、不在の端末装置に対しての
試験を容易に行うことができるものとなる。
への給電極性を反転し、端末装置１のダイオード回路２
２等の回路により受電回路２１に供給して端末装置２を
動作状態とし、交換局１から試験情報を送出して、その
試験情報を受信した端末装置２が応答信号を交換局１へ
送出することにより、交換局１で端末装置２を試験する
ものであり、任意の端末装置２を選択して交換局１から
試験することができるので、不在の端末装置に対しての
試験を容易に行うことができるものとなる。
第１図は本発明の実施例の要部ブロック図、第２図及び
第３図は本発明の実施例の試験動作の説明図である。 １は交換局、２は端末装置、３は電話機、４はデータ端
末、１１はインタフェース回路、１２は送受信回路、１
３ば試験回路、２１は受電回路、２２はダイオード回路
、２３はフックスイッチ、２４は制御部、２５は送受信
回路、２６はインタフェース回路、２７は試験応答回路
である。 特許出願人 冨士通株式会社 桝；ト名−代理人弁理士
玉蟲久五部 外１名 第２図 第３図
第３図は本発明の実施例の試験動作の説明図である。 １は交換局、２は端末装置、３は電話機、４はデータ端
末、１１はインタフェース回路、１２は送受信回路、１
３ば試験回路、２１は受電回路、２２はダイオード回路
、２３はフックスイッチ、２４は制御部、２５は送受信
回路、２６はインタフェース回路、２７は試験応答回路
である。 特許出願人 冨士通株式会社 桝；ト名−代理人弁理士
玉蟲久五部 外１名 第２図 第３図
Claims (1)
- 交換局からの給電によって動作可能の端末装置を、交換
局から試験する方式に於て、前記交換局から給電極性を
反転して被試験端末装置に供給し、該被試験端末は給電
極性の反転により該被試験端末装置の受電回路に動作用
電力を供給する回路を有し、該受電回路から制御部へ電
力を供給して該被試験端末装置を動作状態とし、前記交
換局から試験情報を送出して、該試験情報を受信した前
記被試験端末装置の前記制御部から前記試験情報に対応
した応答信号を前記交換局へ送出することを特徴とする
端末装置の試験方式。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP59048630A JPS60191544A (ja) | 1984-03-13 | 1984-03-13 | 端末装置の試験方式 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP59048630A JPS60191544A (ja) | 1984-03-13 | 1984-03-13 | 端末装置の試験方式 |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPS60191544A true JPS60191544A (ja) | 1985-09-30 |
Family
ID=12808698
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP59048630A Pending JPS60191544A (ja) | 1984-03-13 | 1984-03-13 | 端末装置の試験方式 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPS60191544A (ja) |
-
1984
- 1984-03-13 JP JP59048630A patent/JPS60191544A/ja active Pending
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