JPS60183916A - デイジタル保護継電装置 - Google Patents

Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。

Description

【発明の詳細な説明】 〔発明の技称了分野〕 本発明は、ディジタル保護継電装置、特に点検に際して
周波数変動による影響をなくしたディジタル保護継電装
置に関するものである。

〔発明の技術的背景〕

第１図はディジタルリレーの一般的な購成図である。第
１図において送電線１１の電流、電圧量を電流変成器１
２、電圧変成器１３を介して入力変換器１４に取込み、
ここで所定のレベルに変換する。入力変換器１４の出力
はアナログフィルター１５を介して安定な信号とし、サ
ンシリングホールド回路（Ｓ／Ｉ（）　１６に取込まれ
た電流、電圧量は直流量に変換されてマルチゾレクサー
（ＭＰＸ）１７に入力されて、順次アナログ量をディジ
タル量に変換するだめのψ変換器１８に取込まれる。

そしてψ変換器１８で変換された電流、電圧量のディジ
タルデータはマイクロコンビーータ１９内のデータメモ
リ（ＲＡＭ）　１９−１に順次格納される。一方、プロ
グラムメモリー（ＲＯＭ）　１９−２にはプログラム命
令が格納されており、この命令にしたがってデータメモ
’）　（ＲＡＭ）　１９−１のデータを用いて中央演算
処理装置（ＣＰＵ）　１９−３にて演算がなされ、所定
の判定結果等を入出力インターフェース（ｉｌｏ）　１
９−４を介して外部へ出力する。

上記構成を有するディジタル保護継電器は入力変換器１
４を通して得られる電流、電圧データを用いて複数の保
護特性を実現している。

第２図は複数の保護特性図であシ、取込まれだ電流工、
電圧Ｖを用いて、（ａ）　’）アクタンス第１段、（ｂ
）リアクタンス第２段、（ｃ）モーリレー、（ｄ）不足
電圧リレー等を実現している。そして第２図で示す動作
判定式の実行プログラムは前記しだ通シゾログラムメモ
リー（ＲＯＭ）　１９−２に格納され、プログラムの内
容を変更しない限シネ変のものである。

したがって前記した所定の特性を有するリレー特性の変
動、変化は、少なくとも入力変換器１４からデータ格納
メモリー（ＲＡＭ）　１９−１までの変動。

変化に起因するものが大半を占めるものと考えられる。

上記観点からディジタル保護継電器の特性チェック方法
として種々の方法が提案されている（電気計算１９８３
　、１１月号、電気書院版）。

その代表的な方法として、入力変換器の１次側から点検
電流を入力してそのデータの妥当性を判断する方法（仮
にアナログ入力点検と呼称する）がある。第３図にその
概要を示す。点検用電源３１から所定の入力レベルを有
する点検電流ｉＴ８を入力変成器１４Ｒ（Ｒ相）、１４
Ｓ（Ｓ相）、１４Ｔ（Ｔ相）に入力して第１図中の電流
変成器から、その入力’ＲＬ　ｒ−Ｌ　Ｐ　’ＴＩ、と
共に重畳して入力させる。更に点検電源３１は各相同−
の単相入力であることから、点検入力が印加されない平
常入力と印加された場合の入力とは次のようになる。

印加されない場合 印加された場合 この（１）　＋　（２）式で示される量をベクトル的に
図示すると第４図のようになる。そして（ａ）は各相に
対して平常時の負荷電流が流れている状態であシ、（ｂ
）は（、）の状態に対して同相の点検電流’Ｔ８が重畳
　。

した状態である。なお、ディジタル保護継電器では点検
電流を印加する前の電流量をデータメモリー　（ＲＡＭ
）　１９−１に自在に記憶することができるので、点検
電流を重畳した電流量から印加前の記憶電流量を差引い
てやることによシ、点検電流のみを抽出することが比較
的楽にできる。即ち、その処理例を第５図のフローチャ
ートで示す。

第５図において、ステップ５０１で点検中であるか否か
を判断し、点検中でなければステップ５０２へ移って平
常時の電流値（瞬時値ベクトル址）を記憶しておく。点
検中となった時にはステップ５０３へ移）点検電流’Ｔ
８を印加し、ステップ５０４においてはステラｆ５０２
で記憶した平常時の電流ｉＲＬＭ　ｌ　’８ＬＭ　ｌ　
ｉＴＬＭを読出して、点検電流印加時の電流（輸ｒ、”
Ｔｓ）ｍ　Ｔ　（ｉ８Ｌ”Ｔｅ１）１７１１（ｉＴＬ”
Ｔ８）ｍから差引く。このサフィックスｍ、Ｍはｔｍｌ
　ｔＭ時点のサンブリングデータを意味し、ｍとＭは電
力系統の交流量の基本周波数の整数サイクルの間隔をな
すように選ぶ。

そして各相に印加された点検電流の大きさ、即ち、ステ
ップ５０５ではＲ相の点検電流ＩＲとＳ相の点検電流工
、どの差が所定値ε０よシ小さいこと、ＩＩＩＩ−Ｉ、
ｌ（εｏ１同じくステ、７’５０６ではＩ■ｓ　ＩＴｌ
　＜’Ｏｓステップ５０７ではＩＩＴ−ＩＨ１＜ε０を
判断し、前記した夫々が所定値ε０よシ小さい時、ステ
ップ５０８へ移って点検車と判定する。

なお、ステラｆ５０５．５０６及び５０７のいずれかで
前記各条件が満足されない場合はステップ５０９へ移っ
て点検不良と判定する。

〔背景技術の問題点〕

一般に電力系統の周波数は必らずしも一定しているもの
でなく、第６図（ａ）に示される電流波形かられかるよ
うに、ｔｍ時点の電流値とｔＭ時点の“−流値との間の
位相差が必らずしも２πの賊数倍となるとは限らない。

それを式で示すと、１時点の電流値を基準にとった場合
のｔ　時点の電流値は下記のようになる。

但しω；ω０＋Δω ω０Δｔ＝２πｔ：第６図ではｌｌ２ ここにωは系統の角周波数、ω０は基本角周波数、Δω
は基本角周波数からの変動分を示す。そこでｉＭとｉｍ
との間の位相差はΔω・Δｔとなる。

この位相差は、例えば５０　Ｈｚ系統でΔｆ＝ＩＨｚ。

サンプリング周波ｎ　６００　Ｈｚとすると、ｔ＝２即
ち、Δｔ＝２サイクル相当であるため、したがって、Δ
ωΔｔ＝２πＸ　ＩＨｚ　Ｘｏ、０４＝１４．４°とな
る。

この位相差に対して前記した点検電流による点検方式で
は、周波数変動に起因した不良検出であるのか、入力変
換器１４及びアナログフィルター１５等の素子の特性変
動による不良検出であるのか見分けがつかなくなる可能
性がある。その例を第６図（ｂ）　ｌ　（ｅ）　、　（
ｄ）に示す。第６図（ｂ）は（４）式のｉＬｍと’ＬＭ
との間に差がなく、シかも特性変動のない場合の例であ
シ、第６図（ｃ）は（４）式から生じる誤差はないが、
Ｒ相に特性変動が生じた場合の例である。第６図（ｄ）
は特性変動はないが、（４）式による誤差がある場合、
即ちＲ，Ｓ、Ｔ相のいずれの電流（ＩＨｒ　”ｓ　、Ｉ
Ｔ　）も同相にない場合である。したがって第６図（ｃ
）と第６図（ｄ）の各場合は第５図におけるステップ５
０５．５０６．５０７のいずれかにおいて条件が不成立
となシ、ステップ５０９へ移って点検不良と判定されて
しまう。

なお、ステップ５０６．５０７．５０８の左辺項、（Ｉ
ＩＲ−ＩＨ１，ｌｌ５−ＩＴｌ、１ＩＴ−Ｉｒｔｌ）の
各々は交流入力量の振幅に比例する値で、次式のように
めることができる（前記参考文献中にもある）。

（５）式のサフィックスｍはサンプリング時系列を表わ
し、交流入力量の基本周波数の１２倍でサンプリングし
た場合の例で示している。即ち、（ｍ）と（ｍ−３）の
時系列で表わされる交流景の位相差は９０°　（基本周
波数）である。

〔発明の目的〕

本発明は上記問題点を解決することを目的としてなされ
たものであシ、点検前の記憶データと点検時のデータと
の間の周波数変動による誤差項を極力少なくして、点検
時の入力データによシ特性反動等の劣化を高精度に検出
し得るディジタル保護継電装置を」；２供することを目
的としている。

〔発明の概要〕

本発明で（・ま、既知なる点検電圧と点検電流印加前の
記憶された電流との内債又は外債値を算出したものから
、点検時における既知なる点検電圧と平常時の電流に既
知なる点検電流を重畳した電流との内債又は外積値を算
出したものを減算し、この差が所定値よシ小さければ周
波数変動による誤差項が少なくなることの知得を出発点
とし、これにより特性変動の劣化を高精度に検出しよう
とするものである。

〔発明の実施例〕

以下図面を参照して実施例を説明する。第７図は本発明
によるディジタル保護継電装置の−実施例構成図であり
マイクロコンピュータ部分のみを示している。

そして本実施例による点検機能構成としては、φ変換器
１８を介して取込まれた点検電圧と点検電流印加前の電
流との内積又は外積値を算出する手段１９−Ａ、点検電
圧と点検電流を平常時の電流に重畳した電流との内積又
は外積値を算出する手段１９−Ｂ、手段１９−Ｂの結果
から手段１９−Ａの結果を減算する手段１９−Ｃ，その
減算結果が所定レベル以下か否かを検出する手段１９−
Ｄ、その結果不良か否かを判定する手段１９−Ｅからな
っている。

第８図は点検入力印加回路の一実ｊ１例構成図であシ、
第３図の点検電流印加回路と異なるのは、同一点検電源
３１から電圧入力変成器１４　（Ｖ）に点検電圧を印加
できるように構成している点である。即ち、補助リレー
Ｘｖのａ接点、ｂ接点によシミ圧変成器１３側（第１図
参照）に接続されている回路を切離して、点検用電圧Ｖ
Ｔ、（ＲＩＳＩＴ）のいずれかの代表相聞に入力するよ
う構成されている。第８図においては（Ｒ，Ｓ）相聞に
入力している。このようにして各入力変成器に取込まれ
だ電流、電圧は第１図に示される構成にてデータメモリ
（ＲＡＭ）に取込まれる。

次に入力回路をどのようにして制御して高桔度な点検を
行なうかについて説明する。

第９図は動作説明のだめのフローチャートである。なお
第９図は点検起動がかかって既に点検中の点検処理部分
のみを示している。

先ずステップ９００において点検ステップ１（点検前篭
流と点検電圧の内積外積値の算出）か否かを判定し、点
検ステップ１であればステップ９０２へ進んで点検電圧
回路と電力系統側の電圧夏成器回路を切換える補助リレ
ーＸｖを起動してステップ９０２へ進む。ステラｆ９０
２においては各相間電流（’Ｒ１，’ｓＬ）、（’ｓＬ
’ＴＬ）＋（’ＴＬ−４ＲＬ、）と点検電圧書８との内
積値を算出してステップ９０３へ進む。ステラ７’９０
３では点検ステップ２（点検電流電圧の内積外積値の算
出）への歩進制御をしてステラ７’９００へ戻る。ステ
ップ９００では点検ステラｆ１でないことから（ステッ
プ２への歩進制御がなされているため）ステラｆ９０４
へ進み、ここで点検ステップ２か否かを判定し、点検ス
テップ２であればステップ９０５へ進む。ステップ９０
５では点検用電圧は点検ステラｆ１と同様に印加したま
まとするため補助リレーＸｖを起動し、且つ点検電流’
ＴＢを印加するため補助リレーＸＸを動作させる。その
後ステップ９０６へ進み前記ステラｆ９０２と同様の処
理をして、各相に同一の点検電流を重畳した電流Ｉ、　
、　Ｉ。、■７の各相間量（ＩＲ−ＩＢ）、（Ｉ８−Ｉ
Ｔ）ｌ（ＩアーエＲ）と点検１ｄ圧υＴ８との内積値を
める。次にステップ９０７へ進み、ステップ９０６でめ
たＲ８相間の内債値（（Ｉ、−１，）ｘτＴ８）とステ
ップ９０２でめだ内積値（（’ＲＬ　’ＳＬ）”ＴＳ）
との差が所定値Ｋｏ以下であるか否かを判定し、以下で
あればステップ９０８へ進み、前記したステップ９０７
のＲ８相聞と同様の手法でＳＴ相間についても判定し、
同様に満足すればステラｆ９０９へ進みＴＲ相間につい
ても判定し、満足したならばステラｆ９１０へ進んで点
検良と判定して他の点検ステップへの歩進制御ヲ行ナウ
。又、ステーｒｆ９０７．９０８．９０９のいずれかに
おいて所定の判定結果が得られない場合はステップ９１
１へ進んで点検不良と判定し、不良処理ステップへ歩進
制御する。

以上説明したフローチャート中の本発明の骨子となる内
容を以下詳細に説明する。

点検ステラｆ１において、点検電圧と点検気流印加前の
各相間電流との内積値を算出するステップ９０２は次の
処理を行なう。

内積値：（輸Ｌ−ｉＩＩＬ）Ｍ−３”ＴＪＩＭ−３−（
輸Ｌ−’ＢＬ）’ＴＩＩＭ−々ＩＶ（μｓ（ωｔニーΔ
ωΔｔ）・為（ωｔつ＋ψ−ΔωΔｔ）十ｇｉｎ（ωｔ
ｇ）−ｒ−ｂｎ　（ωｔＭ＋ψ−２ΔωΔｔ）−■（ω
ｔウーΔωΔｔ＋α）・房（ωζ十ψ−ΔωΔｔ）−５
ｉｎ（ωｔ　−舗・ｓｉｎ　（ω１．＋ψ−２ΔωΔ１
））−ＣＱ９（２Ｏ２Ｍ十ψ−２ΔωΔ１））＋　ｃｏ
ｓ　（ψ〜α−２ΔωΔｔ）−ｃａｓ（２ωｔ、十ψ−
２ΔωΔｔ）Ｅ＝魚（ΔωΔｔ）〔ｃｏｓ（ψ−ΔωΔ
ｔ）−勇（ψ−α−ΔωΔ１））・聞ベア）（輸Ｌ×”
Ｔ８）内債値、（ｊｓＬｘυＴＳ）内積値（α：Ｒ８相
間位相、平常時１２０°）同様にしてＳＴ相間及びＴＲ
相間をめると（８）式のようＫなる。

以上の（７）　、　（８）式に示される如く、電力系統
及び点検用電圧間に周波数変動が生じても、周波数液間
が生じない場合に比してΔωΔｔの位相変動が現われる
だけであシ、これは無視可能である。即ち、５０　Ｈｚ
糸系統Δｆ−＋：ＩＨｚ、サンプリング周波数６００Ｈ
ｚ　、（６）式にてΔｔ＝３Ｔ（＝９ｏ’）であるため
、に改善されている。

次に点検ステップ２において、点検電流と点検電圧を印
加した場合のステラ７″９０６における［（Ｉ、−Ｉ、
）ｘυＴｓ］、（（Ｉ、−ＩＴ）ｘｖＴ、）、［（ＩＴ
−Ｉｓ）Ｘ？ＪＴ８：］　（Ｄ値は次式のようになる。

（６）　、　（７）　Ｔ　（８）式と同手法で演算すれ
ばよい。

（１）項’　（’ＲＬ−’８１．）×ｖＴ８＝（’Ｒ１
，’ｓＪ、−ｘ　丁８ｍ−３（’Ｒ１，’８１．）ｍ′
ｖＴ８ｍ−６＝ＩＶｃｏｓ　（ΔωΔｔ　）Ｃｃａｇ（
ψ−ΔωΔ１）−ｃＩｙ５（ψ−α−ΔωΔｔ）：］　
、、、（Ｑ９正常時：輸Ｔｌ１＝ｉ８Ｔｌ＋（”’ＴＴ
８）特性装動時：（輸Ｔ８　’１１７１１）ｙｙｌ”Δ
ｔｘｇｍ（ωｔｍ＋ξ）＝Δ− なおξは変動時の任意位相 （１１）項：（輸Ｔｌｌ　’ｌ！Ｔａ）ＸτＴＳ＝Δ’
ｎ１−５”７８ｍ−３−Δ’ｍ”　丁８ｍ−６ ＝ΔＩＶ（ｍｎ（ωｔｍ十ξ−ω０Δを一Δωハ）Ｘｓ
ｉｎ　（ωｔｍ−ω０バーΔωΔｔ）−ｓｉｎ（ωｔｍ
＋ξ）・ｓｉｎ　（ωｔｍ−２ωＯΔを一ΔωΔ１））
＝ΔＩ　ＶＣｏｏｓ＠ｔｒｎ＋ξ−ΔωΔｔ）　・ｃｔ
ｓ　（ωｔ、−ΔωΔｔ）＋５ｌｎ（ωｔｍ＋ξ）×Ｓ
Ｌ＋１（ωｔｍ−２ΔωΔｔ）〕＝ΔＩｘｖＸａｌＩｓ
（ΔωΔｔ）ｘｃＤｓ（ξ−ΔωΔ１）　−・・・・・
・・・αＯ＋、′τＴ８＝ｖｌＩＩｒ＋（ωｔｍ）（７
）　、　（９）　、α０式より （（ＩＲ−１，）ＸｖＴＢ）、、−（（輸Ｌ　’ｓｔ、
）Ｘ”Ｈ）Ｈ＝■■（ΔωΔｔ）ＣＩ（邸（ψ−ΔωΔ
ｔ）−μｓ（ψ−α−ΔωΔ１））−２（房（ψ−Δω
Δｔ）−朝（ψ−α−ΔωΔ１））十Δ工勇（ξ−Δω
Δ１）） ＝Ｖ　ｃｏｓ　（ΔωΔｔ　）ｘ７Ｉ囲（ξ−ΔωΔｔ
）　・・・・・・・・・・・・αυとなる。しだがって
点検前データと点検時データ間の時間的な差による誤差
項がなくなることがわかる。上記ｂ？、明は（Ｒ，Ｓ）
間に誤浬要因かめる場合の例であるが、（Ｓ、Ｔ）、（
Ｔ、Ｒ）間も同趣旨にそって検出できる。

第１０図は入力印加回路の他の実施例である。

本実施例では各相の相電流をとシ苓相量として抽出する
ものでりる。そしてこの場合、第８図の各相電流回路の
他に零相回路を有するのが一般的である。しだがって点
検電流を各相及び零相回路にも流すことによって前述し
た特性反動を尚精度に検出することができる。

第１１図は動作説明のためのフローチャートである。第
９図の場合と同様に、ステップ１１０にあればステ、ゾ
１１１へ進み第８図の補助リレーＸｖを起動し、更にス
テップ１１２へ進む。ステップ１１２では各相電流の和
（輸Ｌ”８Ｌ”ＴＬ）と零相電流３ｉｏの差分をめ、点
検電圧ｖＴｌ＋との内積値を算出してステップ１１３へ
進み、ステップ１１３では点検ステップ２への歩進制御
をしてステップ１１０へ戻る。ステップ１１０では点検
ステップ１でないことからステラｆ１１４へ進み、点検
ステップ２であるか否かを判定する。ステップ２であれ
ばステップ１１５へ進み、ここで点検用電圧印加補助リ
レーＸｖヒ点検用電流印加補助リレーＸ！を動作させる
。そして更にステップ１１６へ進み、各相に同一の点検
電流を重畳した電流Ｉ、　ｊ　Ｉ、　Ｔ　Ｉ、の和（Ｉ
、＋Ｉ、＋ＩＴ）と零相電流３Ｉ。

との差分と点検電圧との内積値 （（（工Ｒ＋工８＋工Ｔ）　３■Ｏ）×ｖＴｌり　を算
出してステップ１１７へ進む。ステップ１１７ではステ
ップ１１６でめた内積値とステップ１１２でめた内積値
との差分が所定値ＫＯ以下か否かを４′（定し、所に値
以下であればステップ１１８へ進み、他の点検ステップ
への歩進制御をすると共に点検良と判断する。又、ステ
ップ１１７において所定値Ｋ　Ｏ以下でない場合はステ
ラ７’ｌ　１９へ進み、点検不良と判定して不良処理ス
テップへの歩進制御を行なう。

以上の骨子を以下に説明する。ステラ７°１１２の演算
値は次式となる。

Δｉ　−τ　−Δｉ・υ Ｍ−５７８Ｍ−５Ｍ　７８Ｍ−６ −ΔＩｏ　’ＶＸ魚（ΔωΔｔ）・ｃｏｓ（ψ−ΔωΔ
ｔ）　・・・・・・・・・（２）更にステップ１１６の
演算値をめると下式となる。

（ＩＢ＋ＩＢ＋Ｉ７３Ｉｏ）　ｍ＝　（’　ＲＬ”ｌｌ
Ｌ”ＴＬ　”’Ｏ）ｍ＋（’ＲＴ８”８Ｔ８”ＴＴａ−
３’ＯＴＩＩ）ｍ正常時’　（ｉｎｔｓ”ｓＴｓ”Ｔｔ
ｓ）−３ｉｏｒ　ｓ　＝０特性家一時’　（’ｉｔｓ”
ｓｒｓ”ＴＴｓ）−３’ｏＴｓ＝Δ−＝ΔＩ龜（ωｔｍ
＋ξ１） （’、’　ｌＴ８Ｉｒｌ＝Ｖｇｉｃｃ（ω１ｎ、）　）
ξ１：変動時の任意位相 （Ｉ　、十Ｉ　８＋Ｉ　Ｔａ　■ｏ　）ｍ−３・υＴ８
ｍ−３−（Ｉ、−＋４．＋Ｉ、−３Ｉ。堀・τＴＢｍ−
６−ΔＩｏ−Ｖμｓ（ΔωΔｔ）・焦（ψ−ΔωΔｔ）
十Δ工・Ｖ邸（ΔωΔｔ）・房（ξｌ−ΔωΔｔ）　・
・・・・・　α葎したがってステップ１１７の左辺項は
、［：（Ｉ、＋Ｉ、＋ＩＴ−３ＩＯ）ｍ−３−ｖＴ、ｍ
−３−（Ｉ　、ＩＩ　、ＩＩ　Ｔ−３Ｉ　、）ｍ・υＴ
Ｂｍ−６〕−〔（輸ｂ＋’ｓＬ＋ｊＹ、１．−３ｊｏ）
ｋ−３’ｔ’Ｔｌ１Ｍ−３−（峠、十ＺｇＬ＋８７１．
−３’ｏ）Ｍ”ＴｓＭ−６〕＝Δ工・■■（ΔωΔｔ）
・ｃｏ！＋（ξ１−ΔωΔｔ）　・・・・・・・・・Ｑ
柳となる。

上記計算式は０９式と同様となる。そして本実施例によ
れば前記した第９図の実施例に比して内積演算が少なく
てすみ、同等の検出精度が確保できる。

以上はＲ，Ｓ、Ｔ及び零相のいずれかの相の特性変動の
レベル誤差に対して検出精度が高くなる。

即ち、α℃、α→式のξ、ξ１が零付近の誤差に対して
は検出精度が高くなる。しかし位相誤差が生じた場合は
検出精度が低下することになる。これを解決するために
第１１図に示されるフローチャートのステップ１１２及
び１１６の算出値に外債値も算出するようにして下記処
理とすれば、検出感度は低下することがない。

ステップ１１２における外債値処理 Δｉ　、ｖ　−Δｉ　・υ Ｍ　ＴＢＭ−５Ｍ−３ＴＳＭ ＝ΔＩ６Ｖ魚（ΔωΔｔ）・ｓｉｎ　（ψ−ΔωΔｔ）
　・・・・・・・・・α→ステップ１１６における外債
値処理 （ＩＲ＋Ｉ、＋ＩＴ−３Ｉ。）ｍ”Ｔｌ１ｍ−５−（Ｉ
　、ＩＩ　、ＩＩ　Ｔ−３Ｉ。）ｍ−３・ｖｔｓｍ＝Δ
ＩｏＶ魚（ΔωΔｔ）・８石（ψ−ΔωΔｔ）＋ΔＬＶ
ｃｏｓ（ΔωΔｔ）・ｓＩｒ＋（ξ１−ΔωΔｔ）・・
・・・・・・・αＱ（ＩＩ　、　Ｈ式より （”（Ｉ、＋Ｉ、＋ｒＴ−３ｘＯ）ｍ−ＴＴａ　ｍ−ｓ
−（Ｉ　ｎ　＋　Ｉ　ｓ　＋　Ｉ　Ｔ−３ＩＯ）　。−
５１Ｔ　ａｍ） −〔Δ’Ｍ”７８Ｍ−３−Δ−−３・′ｕＴ８Ｍ）−Δ
Ｉ−Ｖ房（ΔωΔｔ）・自（ξ１−ΔωΔｔ）　・・・
・・・・・・α力となる。したがって内積値の計算結果
のＩＪ１式と外積値の計算結果の０り式とによシ、 ＭＡＸ（ΔＩＶ、（ΔωΔ１＞−−＜ξｌ−ΔωΔｔ）
。

Δｒｖ（２）（ΔωΔｔ）・５１１１（ξｉ−ΔωΔ１
））≦ＫＯ・・・・・・・・・０樽が成立すれば正常、
もし成立しなければ不良と判定すればよい。このように
することによシ、ξｌの位相がいずれにあっても検出精
度を高く維持できる。

第１２図は外積値を加味した場合の効果を示すベクトル
図である。なお図はＲ相電流回路に装動がない場合であ
り、実線のＩＲはゲイン誤差によらず位相誤差が生じた
場合を示している。そして内債値により電圧υＴ８の同
相成分が抽出され、外積値によシ直角成分が抽出される
。したがってどちらか大きい方の値が所定値Ｋｏを越え
たか否かを判断すれば、よシ高精度な検出ができること
がわかる。

なお内積、外積演算についての詳細説明は文献、電気計
算１９８３−１１．ｖｏｔ５１．煮１５に記載されてい
る。

〔発明の効果〕

以上説明した如く、本発明によれば点検前の記憶電流と
点検電圧との内債又は外積の演算結果から、点検時の電
流に対して点検電流を重畳して得られた電流と点検電圧
との内積又は外積の演算結果を得てこれを差引き、これ
が所定値以下に、なるか否かを判定するよう溝成しだの
で、周波数変動による誤差項を極めて少なくでき、特性
変動等による劣化を高精度に検出し得るディジタル保護
継電装置を提供できる。

【図面の簡単な説明】

第１図はディジタルリレーの一般的な構成図、第２図は
複数の保護特性図であシ点検の必要性を示す図、第３図
は従来の点検電流印加回路図、第４図は点検電流印加前
後の各相電流のベクトル図、第５図は従来の点検方法を
説明するフローチャート、第６図は従来の方法例を定性
的に説明する図、第７図は本発明によるディジタル保護
継電装置の一実施例の機能ブロック図であシ、マイクロ
コンピュータ部分のみを示す図、第８図は点検入力印加
回路の一実施例構成図、第９図は動作説明のだめのフロ
ーチャート、第１０図は入力印加回路の他の実施例構成
図、第１１図は動作説明のだめの７０−チャート、第１
２図は外積値・看加味した場合の効果を示すベクトル図
である。 １１・・・送電線　１２・・・電流変成器１３・・・電
圧変成器　１４・・・入力変換器１５・・・フィルタ Ｊ６・・・サンプリングホールド回路 １７・・・マルチプレクサ　１８・・・Ａ／Ｄ変換回路
１９・・・マイクロコンピュータ １９−１・・・データメモリ １９−２・・・グロダラムメモリ １９−３・・・中央演算処理装置 １９−４・・・入出力インターンエース１９−Ａ・・・
点検前電流と点検電圧との内積外債値算出手段 １９−Ｂ・・・点検電流電圧の内積性積値算出手段１９
−Ｃ・・・減算手段　１９−Ｄ・・・レベル検出手段１
９−Ｅ・・・不良判定手段 特許出願人　東京芝浦電気株式会社 代理人　弁理士　石　井　紀　男 第２図 Ｘ 第３図 ノ。 第４図 （α）（ｂ。 篤５図 ２ 第６図 （ｂ）　ＣＣ） （ｄ） Ｌｐｔｍ４ＬＲｙ 第９図

Claims (3)

【特許請求の範囲】
1. （１）電力系統から入力した電気量を、所定のサンプリ
   ング間隔ごとにサンプリングし、ディジタル量に変換し
   た後所定のプログラムに従って保護演算を行なうディジ
   タル保護継電装置において、電力系統から切換入力され
   た既知なる点検電圧と点検電流印加前の記憶電流との内
   積又は外債値を算出する第１の演算手段と、 前記既知なる点検電圧と点検時の電力系統から入力した
   電流に対して既知なる点検電流を重畳して得られる電流
   との内積又は外積値を算出する第２の演算手段と、 前記第１の演算手段から出力された信号と第２の演算手
   段から出力された信号との減算を行なう減算手段と、 前記減算結果を所定レベルと比較する比較手段と、前記
   比較結果の良否を判断する判定手段とを夫々そなえだこ
   とを特徴とするディジタル保設継電装置。
2. （２）第１の演算手段及び第２の演算手段に用いる電流
   は各相間電流を適用することを特徴とする特許請求の範
   囲第１項記載のディジタル保護継電装置。
3. （３）第１の演算手段及び第２の演算手段に用いる電流
   は各相電流の和と零相電流との差の電流を適用すること
   を特徴とする特許請求の範囲第１項記載のディジタル保
   簡継電装は。