JPS6017303A - ラインセンサ−カメラ装置 - Google Patents
ラインセンサ−カメラ装置Info
- Publication number
- JPS6017303A JPS6017303A JP13036584A JP13036584A JPS6017303A JP S6017303 A JPS6017303 A JP S6017303A JP 13036584 A JP13036584 A JP 13036584A JP 13036584 A JP13036584 A JP 13036584A JP S6017303 A JPS6017303 A JP S6017303A
- Authority
- JP
- Japan
- Prior art keywords
- lens
- line sensor
- optical axis
- measured
- substance
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Pending
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Classifications
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01B—MEASURING LENGTH, THICKNESS OR SIMILAR LINEAR DIMENSIONS; MEASURING ANGLES; MEASURING AREAS; MEASURING IRREGULARITIES OF SURFACES OR CONTOURS
- G01B11/00—Measuring arrangements characterised by the use of optical techniques
- G01B11/02—Measuring arrangements characterised by the use of optical techniques for measuring length, width or thickness
- G01B11/024—Measuring arrangements characterised by the use of optical techniques for measuring length, width or thickness by means of diode-array scanning
Landscapes
- Physics & Mathematics (AREA)
- General Physics & Mathematics (AREA)
- Length Measuring Devices By Optical Means (AREA)
Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
本発明はラインセンサーカメラ装置に関するもので、長
さを測定する際に誤差を生ずる原因となる、光軸方向の
測定点の移動を僅少にして、正確な測定を可能にするこ
とを目的とする。
さを測定する際に誤差を生ずる原因となる、光軸方向の
測定点の移動を僅少にして、正確な測定を可能にするこ
とを目的とする。
従来、ラインセンサーによシ、物体の長さを測定する原
理は第１図に示す如く、カメラ１内のラインセンサー２
に投影される被測定物３の像を計測するのが通常である
。この際、レンズ１よす被測定物３−１．での距離をａ
、レンズ１人とピント面（ラインセンサー２の面）距１
ｉ１１ｂにより定まるレンズ倍率ｂ／２Ｌが測定する精
度を左右する。すなわち、ピントを合わせてレンズを固
定すればｂは一定とガるが、第２図にてｐ点の測定とｑ
点の測定では板厚ｔの差だけａが変動するので正確々測
定が不可能となる。
理は第１図に示す如く、カメラ１内のラインセンサー２
に投影される被測定物３の像を計測するのが通常である
。この際、レンズ１よす被測定物３−１．での距離をａ
、レンズ１人とピント面（ラインセンサー２の面）距１
ｉ１１ｂにより定まるレンズ倍率ｂ／２Ｌが測定する精
度を左右する。すなわち、ピントを合わせてレンズを固
定すればｂは一定とガるが、第２図にてｐ点の測定とｑ
点の測定では板厚ｔの差だけａが変動するので正確々測
定が不可能となる。
また、２台のカメラで両端を計測する方式が良く行われ
るが、第２図の如き方式で、鉄鋼圧延の如く板厚の異々
っだ材料を常時切換えて生産する場合に対応することは
困難である。従って別に板厚を測定して電子的な演算回
路の常数を変更することが行われて居るが、第２図のｐ
点とｑ点の差などは補正し切れない。
るが、第２図の如き方式で、鉄鋼圧延の如く板厚の異々
っだ材料を常時切換えて生産する場合に対応することは
困難である。従って別に板厚を測定して電子的な演算回
路の常数を変更することが行われて居るが、第２図のｐ
点とｑ点の差などは補正し切れない。
ところで、鉄板１紙１合成樹脂板などの生産は通常第３
図に示す如く、圧延ローラー４，６．送りローラー６，
７によってガイドされて送られる。
図に示す如く、圧延ローラー４，６．送りローラー６，
７によってガイドされて送られる。
また、途中の撓み防止のために、下面を支える複数個の
ローラー８が設置される。この際、ラインセンサーカメ
ラ１は被測定物の」一方に位置し、 。
ローラー８が設置される。この際、ラインセンサーカメ
ラ１は被測定物の」一方に位置し、 。
下方の照明機９による被測定物の陰影をラインセンサー
上に結像して寸法が測定される。この場合被測定物の寸
法とラインセンサーのビットカウントＬ＝−ＸＱＸＰ
・・・・・・・・・・・・・・・・・・・（１）々お、
Ｌは物体の大きさ、Ｑはラインセンサー上の計数素子数
、Ｐはフォトダイオード（ラインセンサー）のピンチ長
、ａはレンズ主点と物体迄の距離、ｂはレンズ主点とラ
インセンサーまでの距離である。
上に結像して寸法が測定される。この場合被測定物の寸
法とラインセンサーのビットカウントＬ＝−ＸＱＸＰ
・・・・・・・・・・・・・・・・・・・（１）々お、
Ｌは物体の大きさ、Ｑはラインセンサー上の計数素子数
、Ｐはフォトダイオード（ラインセンサー）のピンチ長
、ａはレンズ主点と物体迄の距離、ｂはレンズ主点とラ
インセンサーまでの距離である。
ここで測定物が大きい場合には、フォトダイオードアレ
イ（ラインセンサー）２の長さに限りがあるために被測
定物の一端の測定をする場合が多く、第４図に示す如き
配置となり、この際の誤差要因としては次の２つがある
。
イ（ラインセンサー）２の長さに限りがあるために被測
定物の一端の測定をする場合が多く、第４図に示す如き
配置となり、この際の誤差要因としては次の２つがある
。
（１）板厚の変動による乙の変化
（２）測定点が板の上端Ｐになるが、下端ｑになるかの
相違 すなわち、カメラ１の光軸１０を挟んで照明機９による
像はＰ点になったり、ｑ点になったシして変化する。ま
た板厚が変化するとＰ点は板厚変化分Δを上デしてＰ′
となり一の比率で測定誤差を生ずる。
相違 すなわち、カメラ１の光軸１０を挟んで照明機９による
像はＰ点になったり、ｑ点になったシして変化する。ま
た板厚が変化するとＰ点は板厚変化分Δを上デしてＰ′
となり一の比率で測定誤差を生ずる。
まだ照明機９の照明は拡散照明を行々つでいるために、
矢印１３に示す如き被測定物よりの反則光を生じ、陰影
が阻害された。
矢印１３に示す如き被測定物よりの反則光を生じ、陰影
が阻害された。
本発明はとのよう々欠点を除去したもので、以下第５図
の一実施例により説明する。同図においてラインセンサ
ー２の一端はレンズ１人の光軸に合わせ、且つフレネル
レンズ１１により近似平行光を投じ、誤差要因を減じて
いる。すなわち第３図の如く、厚延された板のガイドロ
ーラーは下面が基準になるのでｔがΔｔに変化してもレ
ンズ物体間の距離ａは変化せず、レンズ倍率の変化は々
い。捷た下端９点はｆに、ｑ′はｆ′点に結像し、第４
図の如く、Ｐ点が結像することはない。まだ、近似平行
光であるから、陰影を阻害する反射光も非常に減少する
。
の一実施例により説明する。同図においてラインセンサ
ー２の一端はレンズ１人の光軸に合わせ、且つフレネル
レンズ１１により近似平行光を投じ、誤差要因を減じて
いる。すなわち第３図の如く、厚延された板のガイドロ
ーラーは下面が基準になるのでｔがΔｔに変化してもレ
ンズ物体間の距離ａは変化せず、レンズ倍率の変化は々
い。捷た下端９点はｆに、ｑ′はｆ′点に結像し、第４
図の如く、Ｐ点が結像することはない。まだ、近似平行
光であるから、陰影を阻害する反射光も非常に減少する
。
第６図はさらに他の実施例を示すものである。
この装置はカメラ１．１．１１’を２台配置して、板−
１１の両端を測定するもので、板巾Ｌ′は次式でめられ
、結果はカメラ８，８′の信号が、処理機１２によって
計算され表示される。
１１の両端を測定するもので、板巾Ｌ′は次式でめられ
、結果はカメラ８，８′の信号が、処理機１２によって
計算され表示される。
Ｌ′−１３−４１−β２
なお７１！６はカメラ８，８′の中心距離、ｐｌ はカ
メラ８の測定値、１２ はカメラ８′の測定値である。
メラ８の測定値、１２ はカメラ８′の測定値である。
またカメラの測定範囲を越えて、大巾に寸法が変化する
任意の板を計測する場合には多数のカメラを並べて、順
次に走査し、測定することも可能である。
任意の板を計測する場合には多数のカメラを並べて、順
次に走査し、測定することも可能である。
以上実施例により説明したが本発明によればレンズの光
軸に対してラインセンサの中心をずらせているために精
度よく測定できる特徴がある。
軸に対してラインセンサの中心をずらせているために精
度よく測定できる特徴がある。
第１図，第２図および第３図はそれぞれ従来のラインセ
ンサーカメラ装置の側断面図、第４図は板材生産工程図
、第５図は本発明の一実施例によるラインセンサーカメ
ラ装置の側断面図、第６図は他の実施例の側断面図であ
る。 ２・・・・・・ラインセンサー、３・・・・・・被ｆｉ
ｌ 宝物。 代理人の氏名 弁理士 中 尾 敏 男 ほか１名第４
図 第５図 −１５− 第６図
ンサーカメラ装置の側断面図、第４図は板材生産工程図
、第５図は本発明の一実施例によるラインセンサーカメ
ラ装置の側断面図、第６図は他の実施例の側断面図であ
る。 ２・・・・・・ラインセンサー、３・・・・・・被ｆｉ
ｌ 宝物。 代理人の氏名 弁理士 中 尾 敏 男 ほか１名第４
図 第５図 −１５− 第６図
Claims (3)
- （１）下方に光源を有する測定物体上にレンズの光軸に
対し中心をずらしたラインセンサを設けたラインセンサ
ーカメラ装置。 - （２） レンズの光軸に対し、ラインセンサの一端を合
わせた特許請求の範囲第１項記載のラインセンサーカメ
ラ装置。 - （３）光源は平行光源から力る特許請求の範囲第１項ま
たは第２項記載のラインセンサーカメラ装置。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP13036584A JPS6017303A (ja) | 1984-06-25 | 1984-06-25 | ラインセンサ−カメラ装置 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP13036584A JPS6017303A (ja) | 1984-06-25 | 1984-06-25 | ラインセンサ−カメラ装置 |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPS6017303A true JPS6017303A (ja) | 1985-01-29 |
Family
ID=15032629
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP13036584A Pending JPS6017303A (ja) | 1984-06-25 | 1984-06-25 | ラインセンサ−カメラ装置 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPS6017303A (ja) |
Cited By (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPH038308U (ja) * | 1989-06-12 | 1991-01-25 |
Citations (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS5225265A (en) * | 1975-08-22 | 1977-02-25 | Fujitsu Ltd | Method of measuring accuracy of pattern on multilayered printed wiring board |
-
1984
- 1984-06-25 JP JP13036584A patent/JPS6017303A/ja active Pending
Patent Citations (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS5225265A (en) * | 1975-08-22 | 1977-02-25 | Fujitsu Ltd | Method of measuring accuracy of pattern on multilayered printed wiring board |
Cited By (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPH038308U (ja) * | 1989-06-12 | 1991-01-25 |
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