JPS60171644A - 光デイスクヘツドのフオ−カスずれ検出装置 - Google Patents
光デイスクヘツドのフオ−カスずれ検出装置Info
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- JPS60171644A JPS60171644A JP2718384A JP2718384A JPS60171644A JP S60171644 A JPS60171644 A JP S60171644A JP 2718384 A JP2718384 A JP 2718384A JP 2718384 A JP2718384 A JP 2718384A JP S60171644 A JPS60171644 A JP S60171644A
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- G11B7/00—Recording or reproducing by optical means, e.g. recording using a thermal beam of optical radiation by modifying optical properties or the physical structure, reproducing using an optical beam at lower power by sensing optical properties; Record carriers therefor
- G11B7/08—Disposition or mounting of heads or light sources relatively to record carriers
- G11B7/09—Disposition or mounting of heads or light sources relatively to record carriers with provision for moving the light beam or focus plane for the purpose of maintaining alignment of the light beam relative to the record carrier during transducing operation, e.g. to compensate for surface irregularities of the latter or for track following
- G11B7/0908—Disposition or mounting of heads or light sources relatively to record carriers with provision for moving the light beam or focus plane for the purpose of maintaining alignment of the light beam relative to the record carrier during transducing operation, e.g. to compensate for surface irregularities of the latter or for track following for focusing only
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Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
〔発明の技術分野〕
この発明は、光デイスクヘッドのフォーカスずれ検出装
置に関するものであり、さらに詳しくいうと、デジタル
オーディオディスク、ビデオディスク゛等の情報記録媒
体から情報を読出し、あるいは書込む光デイスクヘッド
のフォーカスずれ検出′装置に関するものである。
置に関するものであり、さらに詳しくいうと、デジタル
オーディオディスク、ビデオディスク゛等の情報記録媒
体から情報を読出し、あるいは書込む光デイスクヘッド
のフォーカスずれ検出′装置に関するものである。
従来、この種の装置として第１図に示すものがあった。
図において、半導体レーザなどの発光源／より出射され
た出射光束ａを平行光束ダにするコリメートレンズ３、
四分の一波長板Ｓ、平行光束ヶを集光し、情報記録媒体
である光ディスク７の面上に集光スポットｇを形成させ
る対物レンズ６、光デイスク面上の集光スポットｇから
対物レンズ６、四分の一波長板、コリメートレンズ３を
経た主反射光束デと出射光束コを分離するビームスプリ
ッタ１０、主反射光束９を第１．第２の反射光束／、２
と１３に分ける光束分離器であるハーフミラ−／／、ハ
ーフミラ−／ｌで分離された第１の反射光束／２の集光
点Ｐ／より近い光軸位置におかれた第１の光検知器／４
’とハーフミラ−／／で分離された第２の反射光束１３
の集光点Ｐｐよりも遠い位置に配設され第１の光検知器
／ｌＩ−と同一の第２の光検知器／Ｓで構成されていた
。
た出射光束ａを平行光束ダにするコリメートレンズ３、
四分の一波長板Ｓ、平行光束ヶを集光し、情報記録媒体
である光ディスク７の面上に集光スポットｇを形成させ
る対物レンズ６、光デイスク面上の集光スポットｇから
対物レンズ６、四分の一波長板、コリメートレンズ３を
経た主反射光束デと出射光束コを分離するビームスプリ
ッタ１０、主反射光束９を第１．第２の反射光束／、２
と１３に分ける光束分離器であるハーフミラ−／／、ハ
ーフミラ−／ｌで分離された第１の反射光束／２の集光
点Ｐ／より近い光軸位置におかれた第１の光検知器／４
’とハーフミラ−／／で分離された第２の反射光束１３
の集光点Ｐｐよりも遠い位置に配設され第１の光検知器
／ｌＩ−と同一の第２の光検知器／Ｓで構成されていた
。
第１の光検知器／弘は第２図に示すように、円形の内側
有感領域■と外側有感領域Ｈにλ分割されており、第２
の光検知器１３は第３図に示すように円形の内側有感領
域■と外側有感領域■に二分割されている。
有感領域■と外側有感領域Ｈにλ分割されており、第２
の光検知器１３は第３図に示すように円形の内側有感領
域■と外側有感領域■に二分割されている。
以上の構成により、発光源／からのレーザ出射光束２は
コリメートレ・ンズ３により平行光束りにされ、四分の
一波長板Ｓを介して対物しレンズ乙により光ディスク７
の面上に微小な集光スボッ）ｆｆを形成する。この集光
スポットざからの反射光束は対物レンズ６に再入射［１
、四分の一波長板左、：Ｉ リメ−トレンズ３を介して
光路を逆戻りする。
コリメートレ・ンズ３により平行光束りにされ、四分の
一波長板Ｓを介して対物しレンズ乙により光ディスク７
の面上に微小な集光スボッ）ｆｆを形成する。この集光
スポットざからの反射光束は対物レンズ６に再入射［１
、四分の一波長板左、：Ｉ リメ−トレンズ３を介して
光路を逆戻りする。
この逆戻りした主反射光束デはビームスプリンタ／θに
よって反射され、ハーフミラ−７／によって２分される
。ユ分された第１の反射光束／２は第１の光検知器／４
ｔに到達するが、第１の光検知器／ダは第１の反射光束
／、２の集光点Ｐｉよりは近くに配置されているため、
第１の光検知器／弘に集光される反射光スポットはある
大きさをもっている。光ディスク７の表面が対物レンズ
６０合焦点位置にあるときの第１の光検知器／ｌＩへの
反射光スポット１６はＰＪｑ図のようになり、内側有感
領域［、外側有感領域ＩＩＫ入射する光量が等しくなる
ように、第１の光検知器／Ｆの位置、領域■の大きさが
設定されている。従って、有感領域１、ＩＩの出力差（
■−■）は０となる。一方、光ディスク７が合焦点位置
より遠ざかると、第１の反射光束／２の集光点Ｐ／は第
１の光検知器／グに近づき１反射光スポット／６は第３
図に示すように小さくなり、内側有感領域■への入射光
量が大きくなり、その出力差（ＩＩ−Ｉ）は負となる。
よって反射され、ハーフミラ−７／によって２分される
。ユ分された第１の反射光束／２は第１の光検知器／４
ｔに到達するが、第１の光検知器／ダは第１の反射光束
／、２の集光点Ｐｉよりは近くに配置されているため、
第１の光検知器／弘に集光される反射光スポットはある
大きさをもっている。光ディスク７の表面が対物レンズ
６０合焦点位置にあるときの第１の光検知器／ｌＩへの
反射光スポット１６はＰＪｑ図のようになり、内側有感
領域［、外側有感領域ＩＩＫ入射する光量が等しくなる
ように、第１の光検知器／Ｆの位置、領域■の大きさが
設定されている。従って、有感領域１、ＩＩの出力差（
■−■）は０となる。一方、光ディスク７が合焦点位置
より遠ざかると、第１の反射光束／２の集光点Ｐ／は第
１の光検知器／グに近づき１反射光スポット／６は第３
図に示すように小さくなり、内側有感領域■への入射光
量が大きくなり、その出力差（ＩＩ−Ｉ）は負となる。
逆Ｋ、光ディスク７が合焦点位置より近づくと、第６図
に示すよう九反射光スポット／６は大きくなり、光検知
′益田力差（ｎ−ｔ）は正となる。従って、この第１の
検知器／弘の出力差（ＩＩ−１）はフォーカスずれに応
じた信号となる。第７図は、光ディスク７の合焦点位置
からのずれ（遠ざかる方向を正）を横軸とし、第１の検
知器／弘の出力差（ｎ−ｔ）を縦軸に示したものである
。
に示すよう九反射光スポット／６は大きくなり、光検知
′益田力差（ｎ−ｔ）は正となる。従って、この第１の
検知器／弘の出力差（ＩＩ−１）はフォーカスずれに応
じた信号となる。第７図は、光ディスク７の合焦点位置
からのずれ（遠ざかる方向を正）を横軸とし、第１の検
知器／弘の出力差（ｎ−ｔ）を縦軸に示したものである
。
さらに、２分されたもう一方の第２の反射光束１３は第
２の光検知器ｌりに到達する。第２の光検知器ｌｊは第
２の反射光束／３の集光点Ｐ−より遠い位置に設けられ
、第１の光検知器／弘と同一のもので、第１の光検知器
／％と同様に光ディスク７が合焦点位置にあるとき有感
領域ｍ、ｆｆに入射する光量が等しくなるように設定さ
れている。
２の光検知器ｌりに到達する。第２の光検知器ｌｊは第
２の反射光束／３の集光点Ｐ−より遠い位置に設けられ
、第１の光検知器／弘と同一のもので、第１の光検知器
／％と同様に光ディスク７が合焦点位置にあるとき有感
領域ｍ、ｆｆに入射する光量が等しくなるように設定さ
れている。
従って、第２の光検知器／Ｓの有感領域ｍ、−ＩＶの出
力差（ｍ −ｒｖ ）は第ｇ図に示すように、第７図の
特性を原点のまわりにｌざグ回転させた形の特性を示す
。これら第１．第２の光検知器／グ、ｌ左の出力差を加
算して、これをフォーカス誤差信号ＥｆとすればＥｆ＝
（ｕ −ｒ ）＋（Ｉｒ［−１Ｖ ）は、第デ図に示
すように、対称性のよい、合焦点位置の前後でも検出感
度の等しい特性を示す。
力差（ｍ −ｒｖ ）は第ｇ図に示すように、第７図の
特性を原点のまわりにｌざグ回転させた形の特性を示す
。これら第１．第２の光検知器／グ、ｌ左の出力差を加
算して、これをフォーカス誤差信号ＥｆとすればＥｆ＝
（ｕ −ｒ ）＋（Ｉｒ［−１Ｖ ）は、第デ図に示
すように、対称性のよい、合焦点位置の前後でも検出感
度の等しい特性を示す。
しかし、以上の構成になる従来の装置では、第１、第ユ
の光検知器／Ｆ 、 ／！の位置をそれぞれ独立して３
軸調整しなければならず、調整が複雑で調整コストが高
くなるという欠点を有していた。
の光検知器／Ｆ 、 ／！の位置をそれぞれ独立して３
軸調整しなければならず、調整が複雑で調整コストが高
くなるという欠点を有していた。
この発明は、上記のような従来のものの欠点を除去する
ことを目的とするもので、主反射光束を二分割する光束
分離器としてグレーティング手段を用い、λつの光検知
器を同一平面上に配設することにより、特性のよいフォ
ーカス誤差信号を簡単な調整によって得られる光デイス
クヘッドのフォーカスずれ検出装置を提供するものであ
る。
ことを目的とするもので、主反射光束を二分割する光束
分離器としてグレーティング手段を用い、λつの光検知
器を同一平面上に配設することにより、特性のよいフォ
ーカス誤差信号を簡単な調整によって得られる光デイス
クヘッドのフォーカスずれ検出装置を提供するものであ
る。
以下、この発明の第一の実施例を第１Ｏ図〜第１左図に
ついて説明する。第１θ図において第１図と同一符号は
同一または相当部分を示し、ビームスプリッタ１０から
の主反射光束りを振幅の等しい第１．第２−の反−射−
光束／ ２ ＋、 ／ ｊにコ分割する光束分離器とし
てクレーティングレンズ／りを配置し、λ分割された一
方の第１の反射光束７．２を点Ｑ／に、他方の第一の反
射光束１３を点Ｑｌとは異なる点Ｑ２に集光させる。ま
た、第１の反射光束１２の集光点Ｑ／よりは近く、第一
の反射光束１３の集光点ＱＪよりは遠い位置の面上に光
検知装置ｉｇを配置し、第１図の第１．第２の検知器／
Ｆ 、 ／！と同様の第１．第一の光検知器／’ｆ、／
！を光検知装置１５の同一平面上罠配設し、第１／図に
示すように有感領域■、■ｌ ＩＩＩ １■のψ分割に
構成したものである。
ついて説明する。第１θ図において第１図と同一符号は
同一または相当部分を示し、ビームスプリッタ１０から
の主反射光束りを振幅の等しい第１．第２−の反−射−
光束／ ２ ＋、 ／ ｊにコ分割する光束分離器とし
てクレーティングレンズ／りを配置し、λ分割された一
方の第１の反射光束７．２を点Ｑ／に、他方の第一の反
射光束１３を点Ｑｌとは異なる点Ｑ２に集光させる。ま
た、第１の反射光束１２の集光点Ｑ／よりは近く、第一
の反射光束１３の集光点ＱＪよりは遠い位置の面上に光
検知装置ｉｇを配置し、第１図の第１．第２の検知器／
Ｆ 、 ／！と同様の第１．第一の光検知器／’ｆ、／
！を光検知装置１５の同一平面上罠配設し、第１／図に
示すように有感領域■、■ｌ ＩＩＩ １■のψ分割に
構成したものである。
次に、グレーティングレンズ／７について詳しく述べる
。第１２図において、点Ｐはクレーティングレンズ１７
がないときの主反射光束デの集光点を示し、Ｚθ をグ
レーティングレンズｌりの位置Ａから点Ｐまでの距離と
する。第１の反射光束／Ｊの中心光線１９を主反射光束
９の光軸２０ＶＣ対して角度θだけ上向きに偏向し、点
Ｐから光軸λＯの正方向（＋ｚ′方向）Ｋ△Ｚずれた点
Ｑ／に第一／の反射光束１２を集光するのに必要なグレ
ーティングレンズ１７の位相シフト関数ΦはΦ ＝ Φ
ｌ ＋ Φコ Φ、 ＝ −（ｓｉｎθ）ｙ λ λ：入射波長 で与えられる。ここで、ｘ＋７軸は原点をＡとし、光軸
コＯに垂直にとられた直交軸であり、Φｌは中心光線１
９を光軸２０に対してθ偏向するために必要な位相シフ
ト関数、Φコは第１の反射光束／λの集光スポットを△
Ｚだけ光軸２０の正方向にずらせるために必要な位相シ
フト関数である。また、第一の反射光束１３の中心光線
２１を光軸２０ＶＣ対して角度θだけ下方に偏向し、点
Ｐから光軸２０の方向手前如△２ずれた点ＱＪに第２の
反射光束１３を集光するの忙必要な位相シフト関数Φ′
はΦ′ ＝ −Φ で与えられる。なお、第１θ図、第７２図中で、グレー
ティングレンズ１７の位置はビームス７’ ＩＪフッタ
０と光検知装置／ｇの間であるが、第７３図に示すよう
にビームスプリッタ／θ上にあってもよく、また、光検
知器の窓上にあってもよい。
。第１２図において、点Ｐはクレーティングレンズ１７
がないときの主反射光束デの集光点を示し、Ｚθ をグ
レーティングレンズｌりの位置Ａから点Ｐまでの距離と
する。第１の反射光束／Ｊの中心光線１９を主反射光束
９の光軸２０ＶＣ対して角度θだけ上向きに偏向し、点
Ｐから光軸λＯの正方向（＋ｚ′方向）Ｋ△Ｚずれた点
Ｑ／に第一／の反射光束１２を集光するのに必要なグレ
ーティングレンズ１７の位相シフト関数ΦはΦ ＝ Φ
ｌ ＋ Φコ Φ、 ＝ −（ｓｉｎθ）ｙ λ λ：入射波長 で与えられる。ここで、ｘ＋７軸は原点をＡとし、光軸
コＯに垂直にとられた直交軸であり、Φｌは中心光線１
９を光軸２０に対してθ偏向するために必要な位相シフ
ト関数、Φコは第１の反射光束／λの集光スポットを△
Ｚだけ光軸２０の正方向にずらせるために必要な位相シ
フト関数である。また、第一の反射光束１３の中心光線
２１を光軸２０ＶＣ対して角度θだけ下方に偏向し、点
Ｐから光軸２０の方向手前如△２ずれた点ＱＪに第２の
反射光束１３を集光するの忙必要な位相シフト関数Φ′
はΦ′ ＝ −Φ で与えられる。なお、第１θ図、第７２図中で、グレー
ティングレンズ１７の位置はビームス７’ ＩＪフッタ
０と光検知装置／ｇの間であるが、第７３図に示すよう
にビームスプリッタ／θ上にあってもよく、また、光検
知器の窓上にあってもよい。
次Ｋ、位相シフト関数Φ、Φ′の実現方法について述べ
る。グレーティングレンズ１７にΦ（ｘｍ 、ｙｍ）＝
ｍπ （ｍ：整数）を満たす曲線をフリンジとするバ
イナリ・グレーティングで構成することができる。特に
、位相型のバイナリ構造で、主反射光束９に与える位相
シフト量がσ、ｌざグの２つの値である場合、主反射光
束デのｔｒｏ％が第１．第一の反射光束／コと／３に等
しく分配され、かつ、Ｐ点に集光する光量はＯとなり、
最も感度がよい。第１Ｖ図、 ｇ ｉｓ図は、表面の凹
凸で位相型バイナリ・グレーティングレンズ１７を構成
した例であり、前述の位相シフト量１．１ｇσを実現す
るために必要な溝／？ａの深さｔは ｔ−λ／ ２（ｎ −／） で与えられる。ここで、ｎはグレーティングレンズ部の
屈折率である。グレーティングレンズ１７は、ガラス基
板上に塗布した透明レジストにレンズパターンを露光Φ
現像することにより、または、上記のレジストをマスク
にガラス基板をエツチングすることにより作製できる。
る。グレーティングレンズ１７にΦ（ｘｍ 、ｙｍ）＝
ｍπ （ｍ：整数）を満たす曲線をフリンジとするバ
イナリ・グレーティングで構成することができる。特に
、位相型のバイナリ構造で、主反射光束９に与える位相
シフト量がσ、ｌざグの２つの値である場合、主反射光
束デのｔｒｏ％が第１．第一の反射光束／コと／３に等
しく分配され、かつ、Ｐ点に集光する光量はＯとなり、
最も感度がよい。第１Ｖ図、 ｇ ｉｓ図は、表面の凹
凸で位相型バイナリ・グレーティングレンズ１７を構成
した例であり、前述の位相シフト量１．１ｇσを実現す
るために必要な溝／？ａの深さｔは ｔ−λ／ ２（ｎ −／） で与えられる。ここで、ｎはグレーティングレンズ部の
屈折率である。グレーティングレンズ１７は、ガラス基
板上に塗布した透明レジストにレンズパターンを露光Φ
現像することにより、または、上記のレジストをマスク
にガラス基板をエツチングすることにより作製できる。
なお、位相型のグレーディングレンズの動作、その−作
製法については藤田、西原、小山著［電子ビーム描画作
製マイクロフレネルレンズ」電子通信学会論文誌、 ｖ
ｏｔ、ｒ−ｂｐｃ、／１６ｔｏ、ｐ、ｐ、ｂｓ、ｚ−ｂ
ｓｑ（ｔゾｇ／） を参照されたい。
製法については藤田、西原、小山著［電子ビーム描画作
製マイクロフレネルレンズ」電子通信学会論文誌、 ｖ
ｏｔ、ｒ−ｂｐｃ、／１６ｔｏ、ｐ、ｐ、ｂｓ、ｚ−ｂ
ｓｑ（ｔゾｇ／） を参照されたい。
次に動作を詳しく説明する。第１．２図に示されている
ように、第１の反射光束１２の集光点Ｑｌと第一の反射
光束１３の集光点ＱＪは光軸コＯの方向にコ△Ｚずれた
位置にある。従って、光ディスククが合焦点位置にある
ときのＱ／とＱＪの間のある位＠（点Ｐ付近）において
、それぞれの反射光束／、２．／３の断面光束系が等し
くなる所がある。その位置で、光軸２０の点で垂直に２
分割された第１．第一の光検知器ｌ弘、ｌ左からなる光
検知装置ｌざを配置し、光検知装置ｌざの出力、すなわ
ち、フォーカス誤差信号Ｆｆが、Ｅｆ ＝（ＩＩ −Ｉ
）＋ （■−ｒｖ ）＝ｏとなるように設定すれば、
光ディスク７が合焦点位置より遠ざかる方向に＠くと１
１Ｂは負、また逆忙近づく方向に動くとＥｆは正となる
。そして、フォーカス誤差検出特性は第９図と全く同様
になる。さらに、 ＠ ／図の場合は第７．第２の光検
知器／Ｆ 、 ／！に対してそれぞれ独立に３軸調斃を
行う必要があったが、この発明の装置では同−３訓上に
配設された第１゜第一の光検知器ｔ ａ 、 ／ ｒｓ
ｓら成る１つの光検知装置ｌざを３軸調整するだけで足
りることになる。
ように、第１の反射光束１２の集光点Ｑｌと第一の反射
光束１３の集光点ＱＪは光軸コＯの方向にコ△Ｚずれた
位置にある。従って、光ディスククが合焦点位置にある
ときのＱ／とＱＪの間のある位＠（点Ｐ付近）において
、それぞれの反射光束／、２．／３の断面光束系が等し
くなる所がある。その位置で、光軸２０の点で垂直に２
分割された第１．第一の光検知器ｌ弘、ｌ左からなる光
検知装置ｌざを配置し、光検知装置ｌざの出力、すなわ
ち、フォーカス誤差信号Ｆｆが、Ｅｆ ＝（ＩＩ −Ｉ
）＋ （■−ｒｖ ）＝ｏとなるように設定すれば、
光ディスク７が合焦点位置より遠ざかる方向に＠くと１
１Ｂは負、また逆忙近づく方向に動くとＥｆは正となる
。そして、フォーカス誤差検出特性は第９図と全く同様
になる。さらに、 ＠ ／図の場合は第７．第２の光検
知器／Ｆ 、 ／！に対してそれぞれ独立に３軸調斃を
行う必要があったが、この発明の装置では同−３訓上に
配設された第１゜第一の光検知器ｔ ａ 、 ／ ｒｓ
ｓら成る１つの光検知装置ｌざを３軸調整するだけで足
りることになる。
なお、上記第一の実施例では円形の２つの有感領域をも
つ弘分割光検知装置／ｇを示したが、第二の実施例とし
て第７６図に示すような、３分割の第１．第一の光検知
器２２．２３からなる６分割の短冊型の光検知装置２ｕ
を用いてもよい。
つ弘分割光検知装置／ｇを示したが、第二の実施例とし
て第７６図に示すような、３分割の第１．第一の光検知
器２２．２３からなる６分割の短冊型の光検知装置２ｕ
を用いてもよい。
２ｋ 、２７．２９は加電器、コＡ、、２には引算器で
、この場合のフォーカス誤差信号ＥｆはＪ ＝ （ｎ＋
ｔｔ’＋ｍ ） −（Ｉ＋ｌＶ＋Ｉｖ）となる。この光
検知装置ＪＦの分割線方向を、トラッキングに伴って光
検知器上の反射光スポットが動く方向と平行になるよ５
に設定すれば、トラッキングに伴うフォーカスずれ検出
エラーを生じさせない利点を有している。
、この場合のフォーカス誤差信号ＥｆはＪ ＝ （ｎ＋
ｔｔ’＋ｍ ） −（Ｉ＋ｌＶ＋Ｉｖ）となる。この光
検知装置ＪＦの分割線方向を、トラッキングに伴って光
検知器上の反射光スポットが動く方向と平行になるよ５
に設定すれば、トラッキングに伴うフォーカスずれ検出
エラーを生じさせない利点を有している。
また、上記実施例では、光束分割器として透過型のグレ
ーティングレンズを用いたが、これの代わりに反射型グ
レーティングレンズを用いることも、もちろん可能であ
る。
ーティングレンズを用いたが、これの代わりに反射型グ
レーティングレンズを用いることも、もちろん可能であ
る。
さらに、上記第一、第二の実施例では光束分離器として
グレーティングレンズを用いた場合を説明したが、グレ
ーティングレンズの代わりに単なるグレーティングを用
い、光検知装置を光軸に対して傾けることで同様の効果
を得ることができる。
グレーティングレンズを用いた場合を説明したが、グレ
ーティングレンズの代わりに単なるグレーティングを用
い、光検知装置を光軸に対して傾けることで同様の効果
を得ることができる。
第１ｆ図はかかる第三の実施例で、第１ｇ図（第１９図
に示す透過型グレーティング３０を用い、光検知装置／
Ｉは集光点Ｑ／ＩＱＪ間に傾けて配置する。
に示す透過型グレーティング３０を用い、光検知装置／
Ｉは集光点Ｑ／ＩＱＪ間に傾けて配置する。
さらＫまた、上記実施例において、光束分離用グレーテ
ィングレンズの集光作用を一方向に限ることにより、合
焦点時の光検知器上のスポットが一方向について集束さ
れるような光路系を設計することが可能となる。すなわ
ち、第四の実施例として第２θ図に示すようＫ、グレー
ティングレンズＪ／は、図中のｙ方向には単なる偏向素
子として主反射光束デを第１．第２の反射光束／、２．
／、？それぞれにコ分する働きをし、Ｘ方向にはレンズ
として機能して反射光束／２．／３のｘＺ′面丙の焦点
位置を前後にずらせる働きをする。点ｆ３ｔ、Ｓｓはそ
れぞれ第１．第一の反射光束１２．／３のｘＺ′面内の
焦点位置を示している。光検知装置−ＪＦの１光面は、
グレーティングレンズ３／がなＣ・ときの主反射光束デ
の焦１点面上に置かれる。そうして第２７図は合焦点時
の検知器上の光スポラ動形状を示し、３．２．３３はそ
れぞれ反射光束／、２．／３の光検知装置、２９Ｌ上で
の断面形状を示している。
ィングレンズの集光作用を一方向に限ることにより、合
焦点時の光検知器上のスポットが一方向について集束さ
れるような光路系を設計することが可能となる。すなわ
ち、第四の実施例として第２θ図に示すようＫ、グレー
ティングレンズＪ／は、図中のｙ方向には単なる偏向素
子として主反射光束デを第１．第２の反射光束／、２．
／、？それぞれにコ分する働きをし、Ｘ方向にはレンズ
として機能して反射光束／２．／３のｘＺ′面丙の焦点
位置を前後にずらせる働きをする。点ｆ３ｔ、Ｓｓはそ
れぞれ第１．第一の反射光束１２．／３のｘＺ′面内の
焦点位置を示している。光検知装置−ＪＦの１光面は、
グレーティングレンズ３／がなＣ・ときの主反射光束デ
の焦１点面上に置かれる。そうして第２７図は合焦点時
の検知器上の光スポラ動形状を示し、３．２．３３はそ
れぞれ反射光束／、２．／３の光検知装置、２９Ｌ上で
の断面形状を示している。
この構成になるものは、光デイスク７０案内溝の影響に
より光束断面内の光強度分布の対称性がくずれた場合に
生ずる。フォーカスサーボのオフセットを軽減できる利
点を有している。
より光束断面内の光強度分布の対称性がくずれた場合に
生ずる。フォーカスサーボのオフセットを軽減できる利
点を有している。
また、上記実施例においては主反射光束ヂの波面を分離
して第１．第一の反射光束／、２．／、？を得ているが
、第五の実施例として第、２２図に示すように、主反射
光束デをその断面で分割することＫより同様の効果が得
られる。図中３弘は主反射光束りの上半分を点Ｑ／に集
光し、下半分を点ＱＪに集光するグレーティングレンズ
であり、レンズ効果を高く維持するためには、鋸歯状の
位相構造もしくは体積的同期構造が望ましい。さらＫ、
第六の実施例として第２３に示すように、分離された第
１の反射光束１２についてｙ ｚｒ面内の焦点位置が第
１の光検知器−２上に、ｘＺ’面内の焦点位置が検知器
後方の８点になるように、第二の反射光束／、、？につ
いてはｙ ｚｒ面内の焦点位置が第二の光検知器２３上
に、ｘ Ｚ’面内の焦点位置が検知器手前のＳ一点にな
るようにグレーティングレンズ３５を設計することも可
能である。
して第１．第一の反射光束／、２．／、？を得ているが
、第五の実施例として第、２２図に示すように、主反射
光束デをその断面で分割することＫより同様の効果が得
られる。図中３弘は主反射光束りの上半分を点Ｑ／に集
光し、下半分を点ＱＪに集光するグレーティングレンズ
であり、レンズ効果を高く維持するためには、鋸歯状の
位相構造もしくは体積的同期構造が望ましい。さらＫ、
第六の実施例として第２３に示すように、分離された第
１の反射光束１２についてｙ ｚｒ面内の焦点位置が第
１の光検知器−２上に、ｘＺ’面内の焦点位置が検知器
後方の８点になるように、第二の反射光束／、、？につ
いてはｙ ｚｒ面内の焦点位置が第二の光検知器２３上
に、ｘ Ｚ’面内の焦点位置が検知器手前のＳ一点にな
るようにグレーティングレンズ３５を設計することも可
能である。
以上の説明から明らかなように、この発明は、特性のよ
いフォーカスずれ検出を簡単な調整で行うことができ、
調整コストが安＜ｋ：ｉ全体が安価にできるという優れ
た効果を有している。
いフォーカスずれ検出を簡単な調整で行うことができ、
調整コストが安＜ｋ：ｉ全体が安価にできるという優れ
た効果を有している。
第１図〜第７図は従来装置を示し、第１図は光学配置側
面図、第３図と第３図はそれぞれ光検知器の特性を示す
部分正面図、第１図〜第７図はそれぞれ光検知器の動作
説明のための部分正面図、第７図〜第を図はそれぞれ検
出器信号とフォーカスずれの関係を示す特性線図である
。 第１Ｏ図〜第２３図はこの発明のいくつかの実施例を示
し、第１Ｏ図は第一の実施例の光学配置側面図、第７ノ
図はその光検知装置の特性を示す部分正面図、第１２図
は第１０図の一部詳細側面図、第ｉ、ｙ図は第１Ｏ図の
一部変形側面図、第１ψと第１Ｓ図はそれぞれ第１θ図
における一部の正面図と側断面図、第１６図は第二の実
施例の光検知装置の正面図および結線図、第７７図は第
三の実施例の光学配置要部側面図、第１ｇ図と第１９図
はそれぞれ第１７図における一部の正面図と側断面図、
第、１０図は第四の実施例の光学配置側面図、第２１図
は第２０図における光検知装置の動作を示す正面図、第
２２図は第五の実施例の光学配ｆＩｔ、要部側面図、第
、２３図は第六の実施例の光学配置要部側面図である。 ｌ・・発光源、コ・・出射光束、３・・コリメートレン
ズ、Ｓ−Φ四分の一波長板、６・・対物レンズ、りφ螢
光ディスク、５ｌｌｅ光スポツト、デ・φ主反射光束、
１０−−ビームスプリッタ、ｌコ、／３・・分離された
第１．第二の反射光束、ｌぐ、／！−＠第１．第コの光
検知器、／７−・グレーティングレンズ孟グレーティン
グ手段）、ｉｔ・・光検知装置、２２、．２３・・第１
．第二の光検知器、コ弘・・光検知装置、３０・・グレ
ーティング（クレーティング手段）： ３ａ、３ｇ−・
グレーティングレンズ（クレーティング手段）、なお、
各図中、同一符号は同−又は相当部分を示す。 姑１図 殆２図 姑３図 ｖ）７図 尤１０図 尤１２図 ■ 幣１３図 殆１４図 焔１５図 第１６図 ２ム 幣１７図 幣１８図 幣１９図 第２０図 手続補正書「自発」 ″”Ａｆ’ｌ１５９ 、’Ｉ′１２．貼１特許庁長官殿 １、事件の表示 昭和５９年特許願第λ７ ／１３ 号 ２、発明の名称 光デイスクヘッドのフォーカスずれ検出装置３、補正を
する者 事件との関係 特許出願人 住 所 東京都千代田区丸の内二丁目２番３号名 称
（６０１）三菱電機株式会社 代表者 片山仁へ部 ４、代理人 住 所 東京都千代口」区丸の内二丁目４番１号（１）
明細書の発明の詳細な説明の欄 ６、補正の内容 （１）明細書第３頁第８行 「波長板」を「波長板５」と補正する。。 （２）同第８頁第１４行 と補正する。 （３）同第９頁第１５行 「レンズ１７に」を「レンズ１７は」と補正する。 （４）同第１４頁第７行 「場合に生ずる。７オーカスサーボの」を［場合に生ず
る７オーカスサーボの」と補正する。 （５）同第１５頁第１行 「８点」をｒｓｔ点」と補正する。 （６）同第１５頁第１４行 「特性を示す」を削除する。 （７） 同 第 １５ 頁 第 ｌ ５ イテ「光検知
器の動作説明のための」を「７オーカスずれ検出動作説
明のため光検出器の」と補正する。 （８）同第１５頁２０行 ［特性を示すＪを削除する。 （９）同第１６頁第１行 「部分正面図」を「正面図」と補正する。 （１０）同第１６頁第１０行 「を示す」の後に「ための光検出器の」を加入する。
面図、第３図と第３図はそれぞれ光検知器の特性を示す
部分正面図、第１図〜第７図はそれぞれ光検知器の動作
説明のための部分正面図、第７図〜第を図はそれぞれ検
出器信号とフォーカスずれの関係を示す特性線図である
。 第１Ｏ図〜第２３図はこの発明のいくつかの実施例を示
し、第１Ｏ図は第一の実施例の光学配置側面図、第７ノ
図はその光検知装置の特性を示す部分正面図、第１２図
は第１０図の一部詳細側面図、第ｉ、ｙ図は第１Ｏ図の
一部変形側面図、第１ψと第１Ｓ図はそれぞれ第１θ図
における一部の正面図と側断面図、第１６図は第二の実
施例の光検知装置の正面図および結線図、第７７図は第
三の実施例の光学配置要部側面図、第１ｇ図と第１９図
はそれぞれ第１７図における一部の正面図と側断面図、
第、１０図は第四の実施例の光学配置側面図、第２１図
は第２０図における光検知装置の動作を示す正面図、第
２２図は第五の実施例の光学配ｆＩｔ、要部側面図、第
、２３図は第六の実施例の光学配置要部側面図である。 ｌ・・発光源、コ・・出射光束、３・・コリメートレン
ズ、Ｓ−Φ四分の一波長板、６・・対物レンズ、りφ螢
光ディスク、５ｌｌｅ光スポツト、デ・φ主反射光束、
１０−−ビームスプリッタ、ｌコ、／３・・分離された
第１．第二の反射光束、ｌぐ、／！−＠第１．第コの光
検知器、／７−・グレーティングレンズ孟グレーティン
グ手段）、ｉｔ・・光検知装置、２２、．２３・・第１
．第二の光検知器、コ弘・・光検知装置、３０・・グレ
ーティング（クレーティング手段）： ３ａ、３ｇ−・
グレーティングレンズ（クレーティング手段）、なお、
各図中、同一符号は同−又は相当部分を示す。 姑１図 殆２図 姑３図 ｖ）７図 尤１０図 尤１２図 ■ 幣１３図 殆１４図 焔１５図 第１６図 ２ム 幣１７図 幣１８図 幣１９図 第２０図 手続補正書「自発」 ″”Ａｆ’ｌ１５９ 、’Ｉ′１２．貼１特許庁長官殿 １、事件の表示 昭和５９年特許願第λ７ ／１３ 号 ２、発明の名称 光デイスクヘッドのフォーカスずれ検出装置３、補正を
する者 事件との関係 特許出願人 住 所 東京都千代田区丸の内二丁目２番３号名 称
（６０１）三菱電機株式会社 代表者 片山仁へ部 ４、代理人 住 所 東京都千代口」区丸の内二丁目４番１号（１）
明細書の発明の詳細な説明の欄 ６、補正の内容 （１）明細書第３頁第８行 「波長板」を「波長板５」と補正する。。 （２）同第８頁第１４行 と補正する。 （３）同第９頁第１５行 「レンズ１７に」を「レンズ１７は」と補正する。 （４）同第１４頁第７行 「場合に生ずる。７オーカスサーボの」を［場合に生ず
る７オーカスサーボの」と補正する。 （５）同第１５頁第１行 「８点」をｒｓｔ点」と補正する。 （６）同第１５頁第１４行 「特性を示す」を削除する。 （７） 同 第 １５ 頁 第 ｌ ５ イテ「光検知
器の動作説明のための」を「７オーカスずれ検出動作説
明のため光検出器の」と補正する。 （８）同第１５頁２０行 ［特性を示すＪを削除する。 （９）同第１６頁第１行 「部分正面図」を「正面図」と補正する。 （１０）同第１６頁第１０行 「を示す」の後に「ための光検出器の」を加入する。
Claims (1)
- 【特許請求の範囲】 （／） 発光源と、この発光源からの出射光束を光デイ
スク上に集光させる対物レンズと、前記光デイスク上の
集光スポットからの前記対物レンズを通った主反射光束
と前記出射光束を分離するビームスプリッタと、このビ
ームスプリッタにより分離された前記主反射光束をさら
に第１．第一の反射光束に分離する光束分離器と、前記
第１．第一の反射光束の集光点位置より光軸方向にずれ
た位置に配置され前記第１．第一の反射光束のスポット
の所定太きさよりの大小罠よって異った受光出力が得ら
れる第１．第一の光検知器とを備えた光。 ディスクヘッドのフォーカスずれ検出装置において、 グレーティング手段でなる前記光束分離器と、前記第１
．第一の反射光束の一方の集光点よりは遠く他方の集光
点よりは近くの位置の同一平面上に前記第１．第２の゛
光検知器を配設した光検知装置を備えてなることを特徴
とする光デイスクヘッドのフォーカスずれ検出装置。 （２） グレーティングレンズでなる光束分離器と、前
記グレーティングレンズと平行に配置された光検出装置
を備えた特許請求の範囲第１項記載の光デイスクヘッド
のフォーカスずれ検出装置。 （３）グレーティングでなる光束分離器と、前記グレー
ティングに対して傾斜して配置された光検知装置を備え
た特許請求の範囲第１項記載の光デイスクヘッドのフォ
ーカスずれ検出装置。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP59027183A JPH079708B2 (ja) | 1984-02-17 | 1984-02-17 | 光デイスクヘツドのフオ−カスずれ検出装置 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP59027183A JPH079708B2 (ja) | 1984-02-17 | 1984-02-17 | 光デイスクヘツドのフオ−カスずれ検出装置 |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPS60171644A true JPS60171644A (ja) | 1985-09-05 |
| JPH079708B2 JPH079708B2 (ja) | 1995-02-01 |
Family
ID=12213960
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP59027183A Expired - Fee Related JPH079708B2 (ja) | 1984-02-17 | 1984-02-17 | 光デイスクヘツドのフオ−カスずれ検出装置 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPH079708B2 (ja) |
Cited By (11)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS61233441A (ja) * | 1985-04-09 | 1986-10-17 | Canon Inc | 光ヘツド装置 |
| JPS62141651A (ja) * | 1985-12-16 | 1987-06-25 | Canon Inc | 光ヘツド装置 |
| JPS62239433A (ja) * | 1986-04-11 | 1987-10-20 | Hitachi Ltd | 光学ヘツド |
| JPS62264444A (ja) * | 1986-05-12 | 1987-11-17 | Matsushita Electric Ind Co Ltd | 光学式記録再生装置 |
| JPS63229640A (ja) * | 1987-03-19 | 1988-09-26 | Matsushita Electric Ind Co Ltd | 光ヘツド装置 |
| JPH0194541A (ja) * | 1987-10-05 | 1989-04-13 | Matsushita Electric Ind Co Ltd | 光ヘッド装置 |
| JPH0194542A (ja) * | 1987-10-05 | 1989-04-13 | Matsushita Electric Ind Co Ltd | 光ヘッド装置 |
| JPH01298539A (ja) * | 1988-05-26 | 1989-12-01 | Matsushita Electric Ind Co Ltd | 光ピックアップヘッド装置 |
| JPH02172033A (ja) * | 1988-12-23 | 1990-07-03 | Matsushita Electric Ind Co Ltd | 光ヘッド装置及びこれを用いた光情報処理装置 |
| JPH03173946A (ja) * | 1989-09-21 | 1991-07-29 | Ricoh Co Ltd | 光ピックアップ装置 |
| JPH0845091A (ja) * | 1994-07-30 | 1996-02-16 | Samsung Electron Co Ltd | フォーカスエラー検出装置 |
Citations (3)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS57198553A (en) * | 1982-05-24 | 1982-12-06 | Hitachi Ltd | Information processor |
| JPS5821334A (ja) * | 1981-07-29 | 1983-02-08 | Toshiba Corp | 半導体単結晶インゴツトの切断方法 |
| JPS58220249A (ja) * | 1982-06-15 | 1983-12-21 | Nippon Kogaku Kk <Nikon> | 光学式ピツクアツプ |
-
1984
- 1984-02-17 JP JP59027183A patent/JPH079708B2/ja not_active Expired - Fee Related
Patent Citations (3)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
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| JPS58220249A (ja) * | 1982-06-15 | 1983-12-21 | Nippon Kogaku Kk <Nikon> | 光学式ピツクアツプ |
Cited By (13)
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| JPS62239433A (ja) * | 1986-04-11 | 1987-10-20 | Hitachi Ltd | 光学ヘツド |
| JPH0750530B2 (ja) * | 1986-04-11 | 1995-05-31 | 株式会社日立製作所 | 光学ヘツド |
| JPH0743833B2 (ja) * | 1986-05-12 | 1995-05-15 | 松下電器産業株式会社 | 光学式記録再生装置 |
| JPS62264444A (ja) * | 1986-05-12 | 1987-11-17 | Matsushita Electric Ind Co Ltd | 光学式記録再生装置 |
| JPS63229640A (ja) * | 1987-03-19 | 1988-09-26 | Matsushita Electric Ind Co Ltd | 光ヘツド装置 |
| JPH0194542A (ja) * | 1987-10-05 | 1989-04-13 | Matsushita Electric Ind Co Ltd | 光ヘッド装置 |
| JPH0194541A (ja) * | 1987-10-05 | 1989-04-13 | Matsushita Electric Ind Co Ltd | 光ヘッド装置 |
| JPH01298539A (ja) * | 1988-05-26 | 1989-12-01 | Matsushita Electric Ind Co Ltd | 光ピックアップヘッド装置 |
| JPH02172033A (ja) * | 1988-12-23 | 1990-07-03 | Matsushita Electric Ind Co Ltd | 光ヘッド装置及びこれを用いた光情報処理装置 |
| JPH03173946A (ja) * | 1989-09-21 | 1991-07-29 | Ricoh Co Ltd | 光ピックアップ装置 |
| JPH0845091A (ja) * | 1994-07-30 | 1996-02-16 | Samsung Electron Co Ltd | フォーカスエラー検出装置 |
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| JPH079708B2 (ja) | 1995-02-01 |
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| JPS63239401A (ja) | 光学ヘッド用のビ−ムスプリッタ− |
Legal Events
| Date | Code | Title | Description |
|---|---|---|---|
| LAPS | Cancellation because of no payment of annual fees |