JPS60168247A - 自動的なメモリボ−ド再構成 - Google Patents

自動的なメモリボ−ド再構成

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JPS60168247A
JPS60168247A JP59203899A JP20389984A JPS60168247A JP S60168247 A JPS60168247 A JP S60168247A JP 59203899 A JP59203899 A JP 59203899A JP 20389984 A JP20389984 A JP 20389984A JP S60168247 A JPS60168247 A JP S60168247A
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JP
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memory
address
board
configuration
volatile
Prior art date
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JP59203899A
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ロバート ウイツテイング ホースト
リチヤード マシユー コリンズ
ギルバート ユージン ラウアー
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TANDEMU COMPUTER ZU Inc
TANDEMU COMPUTER-ZU Inc
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TANDEMU COMPUTER ZU Inc
TANDEMU COMPUTER-ZU Inc
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Publication date
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    • GPHYSICS
    • G06COMPUTING; CALCULATING OR COUNTING
    • G06FELECTRIC DIGITAL DATA PROCESSING
    • G06F12/00Accessing, addressing or allocating within memory systems or architectures
    • G06F12/02Addressing or allocation; Relocation
    • GPHYSICS
    • G06COMPUTING; CALCULATING OR COUNTING
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    • G06F12/00Accessing, addressing or allocating within memory systems or architectures
    • G06F12/02Addressing or allocation; Relocation
    • G06F12/06Addressing a physical block of locations, e.g. base addressing, module addressing, memory dedication
    • G06F12/0646Configuration or reconfiguration
    • G06F12/0653Configuration or reconfiguration with centralised address assignment
    • G06F12/0661Configuration or reconfiguration with centralised address assignment and decentralised selection

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  • Engineering & Computer Science (AREA)
  • Theoretical Computer Science (AREA)
  • Physics & Mathematics (AREA)
  • General Engineering & Computer Science (AREA)
  • General Physics & Mathematics (AREA)
  • Techniques For Improving Reliability Of Storages (AREA)
  • Memory System (AREA)
  • For Increasing The Reliability Of Semiconductor Memories (AREA)
  • Stored Programmes (AREA)
  • Communication Control (AREA)

Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。

Description

【発明の詳細な説明】 (産業上の利用分野) 本発明は、始動時におけるコンピュータメモリの自動的
構成に関する。特に本発明は、オペレータの干渉を必要
とせず、メモリポートをメモリの隣接する領域へ自動的
に割当てるために、各メモリボードからストアト構成デ
ータを使用することに関するものである。
(発明の背景) コンピュータのメモリは一般に、ワードのりニアアレイ
として構成されている;つまり各ワードが1つのアドレ
スに割当てられ、固定用(例えば32ビツト)のデータ
を含む。メモリチップがデータを格納し、ワードデータ
を備えたアドレスに応答する。数個のメモリチップが1
つの回路基板、1−へ集められ、更に数個の回路基板が
コンピュータのアドレススペースを構成するのに使われ
る。
各回路基板がメモリの1領域へ割当てられ、コンピュー
タのメモリアドレススペース全体の一部だけを構成する
。従って各回路基板は、メモリのその領域中のアドレス
に応答するが、別のアドレスには応答しないように°構
成されねばならない。
又回路基板は、メモリ要求に応答する際、そのメモリチ
ップの適当なグルーツブへアクセスするように設計され
る。
回路基板とそれに含まれるメモリチップは、電子機器の
うちエラーを生じ易い部品で、従って故障についてテス
トされねばならない。一般にこのテストは、メモリが最
初に構成されるときに行われる。エラーの見つかったボ
ードは、誤ったデータの読取り又は書込みをもたらすた
め、メモリアドレススペース中に含まれてはならない。
(従来技術) 各メモリ回路ボードは一般に、コンピュータのメモリア
ドレスバスへ接続される。メモリアドレスバスは、プロ
セノザのメモリアクセス要求をメモリへ伝送するのに使
われる。各メモリボードは送出されたメモリアドレスを
調べ、自らがアドレスされているかどうかを決定し、も
しそうなら応答する。これは通常、送出アドレスの高位
ビットをメモリアドレスのメモリアドレススペース中に
おける割当位置と比較することによって行われる。
メモリアドレススペースを構成するのに従来しばしば用
いられている1つの方法として、メモリアドレススペー
ス中のその位置を指示するのに、手動スイッチをセント
するか又は回路ボード上にジャンパを接続することがな
されている。送出アドレスの高位ビットがこれらスイッ
チ値と直接比較され、それらが等しいときメモリか応答
する。
従来使われている別の方法では、システム内メモリの累
積値の現カウントを保持するのに加算器が使われている
。各メモリホードは、そのアドレス範囲を決定するのに
その下にある全スペースを利用できる。[成長能力を備
えた高性能メモリシステムJ、33:3HPジヤーナル
15 (1982年3月)を参照のこと。しかしこの構
成は、サイズの減少に従い背面の隣接スし1ノドへホー
ドを割当−ζる必要がある。更に、欠陥ホードの周囲に
構成することはできない。
コンピュータシステムにおげろ?Jj Bのメモリ回路
ボードの使用を可能とするのに、上記従来の各方法はそ
れぞれの目的を達成しているが、これらには幾つかの欠
点を有する。すなわぢ、メモリボードは通常そのメモリ
容量のためコンピュータの背部に配置されねばならず、
低いアドレススしドツトにほど高い密度のメモリポート
が割当てられる。
メモリ構成は少なくとも部分的に手で行わなCjればな
らない;すなわち自動的に実施されたり、あるいはマシ
ンエラーからの動的回復の一部として行うことはできな
い。これらの問題を解消し、メモリ構成の手順を改善す
る必要がある。
(発明の目的) 従って本発明の目的は、システムのメモリを変更するの
に必要な作業を滅し、メモリポートの分頬配置の必要を
取除き、更にオペレータによる干渉の必要を取除くこと
によって、コンピュータンステム用メモリを構成するフ
レキシビリティを改善することにある。
本発明の第2の目的は、システムのメモリを変更するの
に必要な作業を減じ、更にオペレータによる干渉の必要
を取除くことによって、メモリ構成におけるメモリの数
と頻度を減少することにある。
更に本発明の第3の目的は、システムのメモリを変更す
るのに必要な作業を減し、メモリボードの分類配置の必
要を取除き、更にオペレータによる干渉の必要を取除く
ことによって、メモリ構成の容易さとスピードを改善す
ることにある。
本発明の上記及びその他の目的は、詳細な説明、添付の
図面及び請求の範囲を参照すればより明解に理解されよ
う。
(発明の構成) 本発明で使われる各メモリ回路ホー(は、不11[発性
メモリと構成レジスタを含む。これらは、ホードのサイ
ズ、欠陥アドレススペース、及び実際に割当てられたア
ドレススペースを記録するのに使われる。マイクロプロ
セッサが各ボードからサイズと欠陥アドレススペースを
読取り、情報のエラーについてテストする。次いでマイ
クロプロセッサが、メモリボードをアドレススペースを
割当てる一般的なプロセスを実施し、連続的で破損がな
く、重複していないメモリアドレスのアレイがブロモ・
ツサに対し利用可能となることを保証する。
次にマイクロプロセッサが、各ボードのアドレススペー
ス割当てをボードの構成レジスタ会格納する。この情報
が後に、システムの動作時プロセッサから要求されるメ
モリアクセスに応答するメモリボードによって使われる
(発明の実施例) まず第1図を参照し、本発明のシステムハードウェアを
説明する。
1つ又はそれより多いメモリボード10が、コンピュー
タのメモリアドレスバス12に接続されている。これで
CPU14によるそれらボードへのメモリアクセスが可
能となる。各ボードは、コネクタ背面(図示せず)へ物
理的に配置されている。従来技術で見られた隣接する分
類別ボードの配置という必要と対照的に、物理的な順序
は問題がなく、ボードは任意に配置できる。
各ボード上に不揮発性メモリ16が含まれ、これがメモ
リサイズとメモリの欠陥アドレス範囲を記録する。本発
明の好ましい実施例において、不揮発性メモリ16は不
揮発性RA M (NOVII/IM)である。但し、
ご−での記載について当業者であれば、電気的に消せる
続出専用メモリ等別の形の不揮発性メモリも使えること
、又はハソテリハノクアンプを備えたCMO8RAMや
レジスタが使えることを認識し得よう。
好ましい実施例Gこおいて、不揮発性メモリ16の内容
は診断マイクロプロセッサ13)によって読取られ、こ
のプロセツサがメモリ構成プロセスに従ってボードを実
際のアドレス範囲へ割当てることができる。但し、この
タスクを実施するのに、システム中の主プロセツサ又は
任意のゾlコセノザも使える。面この目的には、ジ[I
グ(ZiloH)社製のZ−80マイクロプロセツサが
適している。
各メモリボードIOへ割当てられる実際のアドレス範囲
を決めるコードが、その決定後ボード1;に位置する構
成レジスタ20へ潜込まれる。構成レジスタ20は当該
分野で周知な数多くのデータ処理レジスタの1つで構成
できるが、好ましい実施例では直列及び並列のアクセス
レジスタから成る。構成コードは不揮発性メモリ16内
のロケーションに保持され、更新が必要なときにも、不
揮発性メモリ16内へ書込まれる。
好ましい実施例において1、構成レジスタ20!よ5ビ
ツト中である。構成レジスタ20の5ビットは、アドレ
ス範囲の3ビツト(該当メモリボードのアドレススロッ
ト用ヘースアドレスの3高位ビット)とメモリホードサ
イズを指示する2ビツトとを含む。本発明において、各
メモリボードは物理的に100〜200万ハイドのメモ
リから成る。
サイズ値の各ピントは、セントされると、メモリボード
の半分の一方が存在することを示す。
好ましい実施例において、マイクロプロセッサ18は構
成レジスタ20及び不揮発性メモリ16へ読み書きする
のに、メモリハス12を使わない。
その代わりに、“エツジトリガースキャン方式゛によっ
て、2次アクセス路22を用いる。このスキャン方式は
当該分野でよく知られている;つまリ、大きなシフトレ
ジスタループ内に複数の接続レジスタを含み、任意レジ
スタの内容を読み書きずろのにビットシフトを繰り返す
。このアクセス路は、第3図を参照して後により詳しく
説明する。
当業者であれば、構成レジスタ20及び不揮発性メモリ
16へのアクセスは、通常の並列メモリノ\゛ス12あ
るいは並列保守バス等別の形の2次アクセスによって容
易に達成できることを理解し得よう。1本以上のアドレ
ス又は制御ラインに現れる信号又はコードが、これらの
ニレメンl−(構成レジスタ20と不揮発性メモリ16
)を介してデータを読み書きする。
メモリアドレススペースの構成時、各メモリ;トート1
0がその構成レジスタ20の内容から各自に割当てられ
たアドレススペースを知る。各メモリへのアクセスは、
CPU14からメモリアドレスバス12ヘメモリアドレ
スを送出せしめて行われる。第4図を参照して更に詳し
く述べるように、各メモリボード10は送出アドレスを
調べ、それを各自に割当てられたアドレススペースと比
較する。送出アドレスがメモリボーどのアドレス範囲内
にあれば、図中24で模式的に示したメモリアレイへの
アクセが生ずる。
構成プロセスはシステムのスタート時、電源投入の手順
中に可能となるが、当業者であればソフトウェアの制御
により任意の時点に始められること、つまりメモリアク
セスの失敗後に再構成を始めてもよいことが容易に理解
されよう。好ましい実施例では、診断マイクロプロセッ
サ1Bがそのローカル制御記憶装置26の制御下で構成
プロセスを実行し、ローカルバッファ記憶装置28を使
用するが、別のプロセッサで使われている制御記録装置
及びバッファスペースを用いてもよい。
次に、第2a図を参照して構成プロセスを説明する。
ステップ52で、マイクロプロセッサ18が各メモリス
ロットについてメモリボード】0が存在するかどうか調
べる。これは、各メモリスロットへの2次アクセス路を
テストすることによって成される。このテストに合格し
なかったメモリスロットは、機能するメモリボードを含
まないと見なされる。存在し且つ機能するボードだけが
メモリアドレススペースを構成するのに使われる。
上記テストは次のように成される:まず、全て1の後に
全てOが続くパターンが格納され、各スロットのシフト
列から読み戻される。人力データを正しく戻さなかった
スロットは、直ちに不良と見なされる。残りのスロット
については、最下位ビットがOにセントされた一連の1
から成るテストパターンが形成され、第1スロットのシ
フト列へ格納される。パターン中のセロが左へシフトさ
れて、次のスロットのシフト列へ格納される。全スロッ
トのシフト列が格納されるまで、」−記の手順が繰り返
される。テストパターンのヒツトサイズは、アクセスす
べきシフト列の数に対応する。
一旦格納されたら、全パターンが読み戻されて検証され
る。次の簡単な2つの規則を用いて、パターンの不一致
から不良スロットが判断される。スロットのシフト列か
ら戻されたパターンがOの格納されていたビット位置に
1を含む場合、アクセスされたスロットは別のスロット
の選択にも応答している。逆に、スロットのシフト列か
ら戻されたパターンが1の格納されていたビット位置に
0を含む場合には、別のスロットがアクセスされている
スロットにも応答している。余分な0が見つかれば、過
剰0のビット位置と選択上の問題を抱えるスロットとの
直接的対応から、そのスロットは不良スロットと判断さ
れる。
例えば、4つのスロットをテストすべきなら、テストパ
ターンの最小サイズは4ビツトである。
それぞれ固有のテストパターンが各スロット列に格納さ
れ、4つのスロット列と次のパターンを含む:1110
.1101.1011.0111゜次いで全パターンが
読み戻され、上記と同じパターンを含むかどうかが検証
される。以下2つのエラーケースについて、それらが上
記の規則に従いどのように扱われるかを示ずニ スロット1がスロット3の選択に応答するものと仮定す
る。スロット1がアクセスされたときに戻されたパター
ンが101上ならば、下線を引いたビットは0となるべ
きだが1なので、これはスロット1の選択に欠陥がある
ことを意味する。
更に、両スロット3.4がシフト列3の選択に応答する
ものと仮定する。スロット3がアクセスされたときに戻
されたパターンは0011ならば、アクセスされたスロ
ットに対応するビットはそうあるべき通り0であるから
、第1位置の0がスロット4に欠陥選択回路の含まれて
いることを意味する。
相互の選択にそれぞれ応答する2スロツトの場合、テス
トはまず見つかった第1の不良列を指示する。その後、
第1のエラーが修正されてから第2の不良スロットが指
示される。
次にステップ54で、マイクロプロセッサ18が各ボー
ト内の不揮発性メモリ16の内容を読取る。その結果が
、ローカルバッファメモリ28に記録される。各不揮発
性メモリ16は、誤りデータについてもチェックできる
。又所定メモリボードlO上の不揮発性メモリ16は、
その情報の一部として、ボードに固有な通し番号を含む
。ごの情報をテスト選択に使うため、通し番号とその補
数が2値のコピーを含めて不揮発性メモリ内に入れられ
る。選択性をチェックする場合、通し番号とその補数が
続出され、2値が相互に検証される。
不一致が生じたら、通し番号とその補数の゛コピーが読
出されて検証される。コピーでも同じ不一致が生じたら
、これは不揮発性メモリ16内にデータエラーが存在す
ることを意味する。このようにして、メモリアドレスス
ペースを構成するのに、エラーのないボードだけを使う
ことが可能となる。
ステップ56でマイクロプロセッサlOは、それがメモ
リボード10から読出した欠陥アドレス範囲の集まりが
“実施可能な”構成を形成していないかどうかテストす
る。実施可能な構成とは、メモリボードへ割当てられた
アドレス範囲がアドレス0を含み、重複せず、しかも集
合的に隣接したアドレス範囲を形成しているもののこと
である。
構成が実施可能であれば、マイクロプロセッサはステッ
プ58へ進み、構成を構成レジスタ内へ書込む。実施可
能でなければ、ステップ60.62を実行してステップ
58へ入り、新たに実施可能な構成を作成してその構成
を構成レジスタ内へ書込む。
つまりステップ60で、マイクロプロセッサ18が新た
に実施可能な構成を作成する。これは好ましい実施例に
おいて、大きいメモリボードをメモリアドレススペース
内の下位位置に割当てることによって行われる。これに
よっ°ζ、アドレス可能なメモリワードアレイ中に破損
や重複がなくなり、更にその後再構成する可能性が城し
られる。
次に第2b図を参照し、実施可能な構成の作成プロセス
を更に詳しく説明する。
ステップ60aで、診断マイクロプロセッサ18がメモ
リスペースへ未だ割当°Cられてない最大のサイズメモ
リボード10を選択する。同一サイズのボードが幾つか
あるときは、低いメモリスロット番号を持つボードの方
を優先的に選択する。
この選択は任意で、どんな選択でも本発明の範囲内に入
る。ステップ60bで診断マイクロプロセッサが、最下
位の未だ割当てられていないメモリアドレスから始まる
任意なサイズ範囲のアドレスをメモリボードに割当てる
。ステップ60cで、この割当てをローカルパンツ1メ
モリ28内に記録する。割当てるメモリボードがなくな
ったとき、新たに実施可能な構成が完全に作成される。
さもなければ、マイクロプロセッサはステップ60aへ
戻り、新たに実施可能な構成が事実上完全に作成される
まで上記プロセスを継続する。
第2a図へ戻りステップ62で、マイクロプロセッサ1
8は各メモリボード毎に不揮発性メモリへ再書込みを行
い、その欠陥アドレス範囲を実際のアドレス範囲と等し
くする。好ましい実施例では、2次アクセス路22を用
いて書込みを行う。
又好ましい実施例では、構成割当ての完了後にへソファ
メモリから全てのメモリボードへマイクロプロセッサ1
8が書込むが、各メモリボードへの割当てが成された都
度そのメモリボードへ書込んでもよい。不揮発性メモリ
の中には故障する前に少ない回数(約1000回)しか
書込みできないものがあるので、不揮発性メモリはめっ
たに再再込みされない。
ステップ58でマイクロプロセッサ18は、各メモリボ
ード毎にその実際のアドレス範囲を、書込みを行うため
の2次アクセス路22を使って構成レジスタへ書込む。
これで、メモリ構成のプロセスが完了する。
次に第3図を参照して、好ましい2次(スキャン用)ア
クセス路を説明する。
別のレジスタを含め各メモリボード10上にある構成レ
ジスタ20は、それらを直列にアクセス可能とする大型
の直列シフトレジスタアセンブリへ接続されている。図
中、直列シフト路30は点線で示しである。診断マイク
ロプロセッサ18がライン32を介し全てのレジスタへ
制御信号を送出し、これが各レジスタを直列シフトモー
ドに置く。
特定のレジスタを読みたいときは、レジスタの全内容が
ローカルシフトバイトレジスタ34内に存在するように
なるまで、シフトレジスタアセンブリ内のデータを必要
なビット数だけマイクロプロセッサ18がシフトし、次
いでローカルレジスタの内容を直接読取る。値を書込む
ため、マイクロプロセッサはそのローカルシフトバイト
レジスタ34へ格納し、データバイトが所望のレジスタ
へ至るまで、必要なビット数だけシフトレジスタアセン
ブリのデータ・をシフトする。
マイクロプロセッサ18におけるプログラムの進行は、
メモリボード上の全レジスタの合計長を知った上で成さ
れるので、どの場合にも適正なビット数だけシフトでき
る。
各メモリボード10上には、不揮発性メモリ16を動作
する手段として3つのレジスタが設けられている。不揮
発性メモリ制御レジスタ36は、メモリが応答すべきコ
マンドを供給する。不揮発性メモリアドレスレジスタ3
8はアドレスをメモリへ供給し、不揮発性メモリデータ
レジスタ40はデータを不揮発性メモリ16へ出し入れ
するのに使われる。
構成レジスタ20はこ\で上記プロセスだけを使って読
み書きされるが、不揮発性メモリはもっと複雑な方法で
読み書きするようにしてもよい。
好ましい実施例で使われるN0VI?AMは実際には、
2つの部分つまり不揮発性部分16aと16bへ分割さ
れる。不揮発性(NV)メモリへ作用す名ため、マイク
ロプロセッサは各値をNVメモリ制御卸レジスタ36、
NVメモリアドレスレジスタ38及びNVメモリデータ
レジスタ40内ヘスキャンする。次いでライン42を介
し、該当メモリがデータ伝送を実施すべきことを指示す
る制御信号をその不揮発性メモリへ送出する。
NOVRAMは次の4種の制御信号を認識する;REA
D、WRITE、5TOPIF、及びHE(:八1.L
9READとWRI’rEが不揮発性部分16aを直接
変更する。S TOP I?、コマンドが不揮発性部分
16bを揮発性1:[のコピーへ変更する一方、1? 
E CA L Lコマンドが不揮発性部分を揮発性部分
にコピーする。実際には、WRITE及び5TORIE
両コマンドが一緒に発生され、不Jlf発性メモリに書
込まれたデータが失われないように保証する。
不揮発性メモリに関する上記の特性は業界のどのNOV
RAMにも共通で、当該分野においてよく知られている
。又当業者には明らかなように、それら特性は本発明の
ユーザにとって完全に理解されている。尚、不揮発性メ
モリ16とし°ζ別の型のメモリが使われる場合には、
それに応じて上記の制御シーケンスが変更される。
次に第4図を参照し、メモリボード比較器を説明する。
各メモリボード10はPROM44を含み、CPUから
メモリアドレスバス12上へ送出されるどのメモリアド
レスがそのボード用であるか決定するのにFROMを用
いる。送出メモリアドレスの高位5ビツトが、FROM
アドレスライン46に与えられる。一方、構成レジスタ
18からの5ビツトがアドレスライン48に与えられる
PROM44は、もしあるならメモリ“バンク”つまり
クォータボードがアクセスされるべきかどうかをメモリ
ボードへ告げる4ビツトベクトル50に応答する。FR
OMは、応答を是認するコ−ドとアドレスの組合せを認
識するようにプログラムされている。4ビットベクトル
が全て0なら、メモリボードは全く応答しない。ベクト
ル50を構成する4ラインのうち1つがロジンクlを含
むと、メモリアレイ24の1バンク又はクォータをエネ
イブルする。勿論比較器は、2組の5ビツトを比較して
全体のメモリポートをエネイブルするのにも使える。
以上好ましい一実施例を説明したが、当業者であれば本
発明の意図する範囲を逸脱することなく変形が可能なこ
とを理解し得よう。
【図面の簡単な説明】
第1図は本発明用のシステムハードウェアのブロック図
である。 第2a図はメモリ構成プロセスのフローチャートである
。 第2b図は実施可能な構成の作成プロセスのフローチャ
ートである。 第3図は本発明の好ましい実施例におけるメモリボード
上の構成レジスタ及び不揮発性メモリへの2次アクセス
路を示すブロック図である。 第4図は本発明の好ましい実施例におけるメモリボード
アドレス選択ハードウェアのブロック図である。 10・・・・・・メモリボード 12・・・・・・メモリバス 16・・・・・・不揮発性メモリ手段 18・・・・・・マイクロプロセッサ手段20・・・・
・・レジスタ手段 28・・・・・・一時的記憶手段 44・・・・・・比較手段 50・・・・・・エネイブル手段 N 1 φ 瞬 IJ′1 ψ 昭和 年 月 日 1.事件の表示 昭和59年特許願第203899号2
、発明の名称 自動的なメモリボード再構成3、補正を
する者 事件との関係 出願人 4、゛代理人 5、補正命令の日付 昭和60年2月26日願蕾に最初
に除1町した明細晋の捗蕾・別紙のと8つ(内容に変更
なし)

Claims (1)

  1. 【特許請求の範囲】 (11それぞれ複数のメモリ装置を01r1えた複数の
    メモリボードを有するデータ処理システムのメモリアド
    レス構造を自動的に再構成するための装置であって; 各メモリホード上にあって、当8亥メモリポートのアド
    レスサイズに関する積上lを格納する不揮発性メモリ手
    段; 上記不揮発性メモリ手段の内容を読取り、該内容を一時
    的な記1.a手段内に集め、各メモリボード毎に7ドレ
    ススペースの割当°ζを行い、更にそのアドレススペー
    スのSり当てを各メモリボードへ占込むプロセンサ手段
    ; 各メモリボートドにあって、十記アトし/ヌスペースの
    割当てを格納するレジスタ手段;各メモリポートとにあ
    って、データ処理システl、のメモリバスへ送出された
    アドレスを1記アドレススペースの割当てと比較する比
    較手段;各メモリボード上にあって、上記比較手段に応
    答し、ボード上の選定されたメモリ装置へのアクセスを
    可能とするエネイブル手段; を備えた装置。
JP59203899A 1983-09-29 1984-09-28 自動的なメモリボ−ド再構成 Pending JPS60168247A (ja)

Applications Claiming Priority (2)

Application Number Priority Date Filing Date Title
US53704083A 1983-09-29 1983-09-29
US537040 1983-09-29

Publications (1)

Publication Number Publication Date
JPS60168247A true JPS60168247A (ja) 1985-08-31

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ID=24140926

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
JP59203899A Pending JPS60168247A (ja) 1983-09-29 1984-09-28 自動的なメモリボ−ド再構成

Country Status (13)

Country Link
EP (1) EP0136178A3 (ja)
JP (1) JPS60168247A (ja)
KR (1) KR850002909A (ja)
AU (1) AU3359184A (ja)
BR (1) BR8404920A (ja)
CA (1) CA1217282A (ja)
DK (1) DK462384A (ja)
FI (1) FI843783L (ja)
IL (1) IL73107A0 (ja)
IN (1) IN162543B (ja)
NO (1) NO843896L (ja)
NZ (1) NZ209664A (ja)
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