JPS60157372A - 画像処理システムの枠検出装置 - Google Patents

Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。

Description

【発明の詳細な説明】 （発明の技術分野） 本発明は、枠に保持された透光可能なフィルムや不透明
の印画紙等の媒体に光学的に記録された画像を光電変換
して情報処理する際に、枠と画像とを識別するための画
像情報処理システムの枠検出装置に関する。

（発明の背Ｗ４） 近年、ネガフィルムや印画紙等の媒体に光学的に記録さ
れた画像情報のデータ伝送或いは画像処理システムでは
、媒体に記録された画像の最小濃度（最明部）や最大濃
度（最暗部）を検出することが要求される。

例えば本願出願人がすでに提案している特願昭５８−１
７０８０９号の「画像走査装置」　（昭和５８年９月１
６日出願）では、透光可能なフィルムに記録された画像
をラインセンサの主副走査で電気的な画像信号に光電変
換する際に、まず予備的に高速で主副走査を行なって１
画面内の画像信号の最大値と最小値、即ち最明部と最暗
部を検出し、この検出値に基づいて絞り開度や増幅器の
オフセット或いはクランプレベル等を自動調整し、最適
な光電変換を可能にしている。

ところで、このような画像走査装置では、フィルムホル
ダでフィルムを挾み込んで保持し、且つフィルムホルダ
はＸ−Ｙ方向に移動可能なＸ−Ｙステージに取り付けら
れており、ラインセンサの走査範囲に対しフィルムの位
置を適宜に合わせることで、フィルムの中の必要な部分
の画像を自由に光電変換できるようにしている。従って
、設定位置によっては、ラインセンサの走査範囲の中に
フィルムを保持している枠の影が入り込むことが当然に
起り、枠の影を画像信号として光電変換してしまう。し
かし、枠の影は画像信号ではないので最暗部として検出
してはならず、枠の影で得られた信号を除去する必要が
生ずる。

そこで、Ｘ−Ｙ方向のフィルムホルダの移動を検出する
手段を設け、この検出手段の出力信号によって秤の影の
部分及びその影響を受けた部分の信号を最暗部検出の際
に除去するように構成することが考えられる。

しかし、フィルムホルダの移動の検出精度は非常に高い
ものが要求されるため、構造の複雑化と大型化を招き、
且つ高価になる。

更に、例えば透明フィルムに不透明なゴミ（カーボン粒
等）が付着したような場合は、ゴミによる彰の部分を１
画面における最暗部として検出してしまい、正しい最暗
部の検出が不可能になるという問題がある。

また、透明フィルムに傷がついているような場合、この
キズを最明部として検出してしまう不具合もある。

このような問題は上記の画像走査装置に限らず、一般的
に透光可能なフィルムや不透明な印画紙等の媒体に光学
的に記録された画像を光電変換する各種の装置、例えば
電話回線を利用した写真電送装置、透光フィルムの画像
を電話回線を利用して電送するフィルムダイレクト電送
装置、ファクシミリ狭置寺に６い（ｂ１ラインセンザシ
ご対し相対移動可能に設けたｘ−Ｙステージにホルダに
より記録媒体を保持し、適宜の画像位置を光電変換する
場合には、全く同様に、枠による信号を除去し、且つゴ
ミ等の付着や傷による影豐を除去すること　゛が最暗部
或いは最明部等を検出するために必要となる。

（発明の目的） 本発明は上記に鑑みてなされたもので、機械的な位置検
出を行なうことなく光電変換する画像媒体の外縁部を形
成する枠を検出し、構造が簡単で小型化でき、且つコス
ト的にも安価な画像処理システムの枠検出装置を提供す
ることを目的とする。

（発明の概要） この目的を達成するため本発明は、ラインセンサにおけ
る光電変換素子の配列方向を主走査方向とすると共に機
械的な移動方向を副走査方向とし、光学記録された画像
媒体をラインセンサの走査範囲の適宜の位置に枠体によ
り保持し、ライセンサの主副走査で画像情報を電気信号
に変換して所定の情報処理を実行する画像処理システム
において、ラインセンサの主走査で得られた画像信号に
含まれる枠信号をハードウェア手段で検出し、ラインセ
ンサの副走査で得られた枠信号はソフトウェア手段で検
出するようにしたものである。

（実施例） 第１図は本発明の枠検出装置に用いるラインセンサの走
査構造を示した説明図である。

第１図において、１は光電変換素子として用いる複数の
ＣＯＤを一列に配列したＣＣＤラインセンサであり、Ｃ
ＣＤラインセンサ１は矢印２で示すＣＯＤの配列方向を
主走査方向とし、矢印２に直交した矢印３で示す機械的
な移動方向を副走査方向としている。ＣＣＤラインセン
サ１に相対した位置には斜線部で示すフィルムホルダ４
が設けられ、このフィルムホルダ４はＣＣＤラインセン
サ１に対し相対移動可能なＸ−Ｙステージ（図示せず）
に装着されている。フィルムホルダ４は中央にフィルム
画像部分５を保持するため、くり抜きをもって枠６を備
えている。

第２図は第１図のラインセンサ走査構造におけるライン
センサの走査範囲とフィルムホルダ４による枠の相対位
置関係を示したもので、同図（Ａ）はフィルムホルダ４
の枠６に対し破線で示すＣＣＤラインセンサ１の走査範
囲７を１対１に位置合せしたもので、この場合、矢印３
で示すラインセンサの副走査方向については枠６の影響
はないが、矢印２で示すラインセンサの主走査方向につ
いては上下の枠が掛かるようになる。また、第２図（Ｂ
）はフィルム画像部分５の左半分を取り出すための位置
合せを示し、更に同図（Ｃ）はフィルム画像部分５の右
半分を取り出す場合を示しており、いずれの場合にもう
インセンサの主走査方向及び副走査方向のそれぞれにつ
いて枠６の彰饗を受けるようになる。

第３図は第１図に示したラインセンサの走査構造をもつ
本発明の一実施例を示したブロック図である。

まず構成を説明すると、１はＣＯＤラインセンサ、８は
ラインセンサの主走査で光電変換された映像信号を適正
レベルまで増幅する増幅器、９は増幅器８の出力信＠に
含まれるクロックノイズ等を除去するローパスフィルタ
、１０は演算増幅器の使用によりＤＣ再生を行なうクラ
ンプ回路、１１はＤＣ再生された出力信号に含まれるゴ
ミや傷によるノイズ成分を除去するローパスフィルタ、
１２は１ライン主走査で得られた画像信号の中から最大
濃度（信号レベル最小）及び最小濃度（信号レベル最大
）のそれぞれを検出するピークホールド回路である。

一方、ピークホールド回路１２に対しては枠の影響によ
る不要信号を除去するためのリセット信号１３が主走査
方向枠信号除去回路１４より与えられている。

この主走査方向枠信号除去回路１４はコンパレータ１５
を備え、コンパレータ１５の正入力端子にはクランプ回
路１０より出力される枠信号を含む画像信号が入力され
、負入力端子には基準電源１６により枠検出レベルが設
定され、クランプ回路１０よりの入力信号が基準電源１
６による枠検出レベルを上回っている間、コンパレータ
１５はＨレベル出力を生ずる。コンパレータ１５に続い
てはシフトレジスタ１７．１８．１９が直列的に設けら
れ、例えばシフトレジスタ１７は２０４８段、シフトレ
ジスタ１８．１９は１２８段となるクロックパルスの計
数で出力を生じ、コンパレータ１５及びシフトレジスタ
１７．１８．１９の各出力はアンドゲート２０に入力さ
れている。勿論、各シフトレジスタ１７，１８．１９に
対してはクロック発生器２１より所定周波数のクロック
パルスが与えられ、このクロックパルスはラインセンサ
１に対し主走査方向の走査パルスとしても与えられてい
る。

次に、９ＣＤラインセンサ１の副走査方向における枠信
号の除去はマイクロコンピュータ２２によるソフトウェ
ア手段によって実現される。このため、クランプ回路１
０の出力はマイクロコンピュータ２２に与えられ、また
ピークホールド回路１２における主走査方向の最大濃度
及び最小濃度を副走査方向の回数分だけプロットした値
が副走査方向の枠信号を含む画像信号を与えることから
、ピークホールド回路１２の出力がＡ／Ｄ変換器２３で
ディジタル信号に変換されてマイクロコンピュータ２２
に入力され、更にマイクロコンピュータ２２よりは後の
説明で明らかにするソフトウェアによる枠検出、ノイズ
検出等でハード的にホールドしたピーク値をリセットす
るためのリセット信号２４が与えられている。

即ち、第３図の実施例を要約するならば、ＣＣＤライン
センサ１による主走査方向で得られた枠信号の除去はハ
ードウェア手段として設けた主走査方向枠信号除去回路
１４により行なわれ、一方、ＣＣＤラインセンサ１の副
走査方向で得られた枠信号の除去はマイクロコンピュー
タ２２におけるソフトウェア手段によって行なわれるよ
うになる。

次に第３図の実施例の動作を説明する。

まず、主走査方向枠信号除去回路１４によるラインセン
サの主走査で得られた画像信号に含まれる枠信号の除去
は、第４図の信号波形図によって説明される。

第４図（Ａ＞はＣＣＤラインセンサ１を電子的に主走査
方向に１ライン主走査したときに得られる画像信号を示
したもので、第３図の実施例におけるクランプ回路１０
の出力信号、即ちコンパレータ１５に対する入力信号を
示している。このコンパレータ入力信号において、まず
２５ａの部分は画面下部の枠の走査で得られＩζ信号を
示し、続いて２６ａの部分は枠の影響、即ち枠が焦点面
にないことによるボケやＣＣＤラインセンサのサブスト
レートを通って隣接する画素に漏れ込む光電荷（スミャ
）による信号レベルの変動を示し、２７ａの部分が枠の
影響を受けない１ライン主走査で得られる画像信号を示
し、更に２８ａの部分が２６８と同様に枠の影響を受け
た信号部分となり、最終的に２５ｂに示す画面上部の枠
による信号部分となり、この信号部分２５ｂの間におい
てＣＣＤラインセンサ１は副走査方向に１ステツプだけ
機械的に移動され、次の１ライン主走査で同様な画像信
号が得られる。

このような、コンパレータ１５に対する入力信号に対し
コンパレータ１５は基準電源１６による枠検出レベル３
０を上回ったときにＨレベル出力を生じ、その結果、枠
の影響を受けた信号部分２６ａ、２８ａ及び１ライン主
走査の画像信号部分２７ａを加え合せた時間幅のＨレベ
ル出力を生ずる。

このコンパレータ１５の出力はシフトレジスタ１７に入
力され、ここでコンパレータ１５の出力をＡ、シフトレ
ジスタ１７の出力をＢとすると、シフトレジスタ１７は
２０４８段であることから、出力Ｂ＝Ａ＋２０４８とな
るコンパレータ出力のシフトを行ない、２０４８クロッ
ク分だけコンパレータ１５の出力を遅延させる。

シフトレジスタ１７の出力Ｂは次段のシフトレジスタ１
８に入力され、シフトレジスタ１８の出力をＣとすると
、シフトレジスタ１８は１２８段であることから、出力
Ｃ＝Ａ＋２０４８＋１２８となり、更にシフトレジスタ
１７の出力Ｂを１２８クロック分だけ遅延させる。更に
シフトレジスタ１８の出力Ｃは最終段のシフトレジスタ
１９に与えられ、シフトレジスタ１９の出力をＤとする
　１と出力Ｄ＝Ａ＋２０４８＋１２８＋１２８となり、
更に１２８クロック分だけ遅延される。

これらコンパレータ１５及びシフトレジスタ１７〜１９
の各出力はアンドゲート２０に入力されていることから
、アンドゲート２０の出力Ｅは出力Ｅ＝ＡＸＢＸＣＸＤ
として与えられ、第４図の信号波形から明らかなように
、１ライン主走査信号に基づいて得られたアンドゲート
２０の出力は次の１ライン主走査で得られた画像信号に
おける両側の枠及び枠の影響を受ける信号弁を除いた画
像信号の部分２７ｂのみをゲートする信号を与え、この
アンドゲート２０の出力で定まるゲート期間内にピーク
ホールド回路１２に入力する画像信号について、ピーク
ホールド回路１２は最大１ｍ度（最小信号レベル）及び
最小濃度（最大信号レベル）のそれぞれをピークホール
ドすることができる。

次に、第３図の実施例におけるマイクロコンピュータ２
２による副走査方向で得られた画像信号に含まれる枠の
画像信号を除去するソノ１９１フ手段を説明する。

第５図はＣＣＤラインセンサ１の１−１１の副走査で得
られた最大濃度及び最小濃度を与える信号レベルを示し
たもので、更に詳細に説明するならば、第３図の実施例
におけるピークホールド回路１２で１ライン主走査毎に
得られる最大及び最小濃度の各信号レベルを副走査方向
についてプロットすることにより、最大濃度を与える信
号レベル３２と、最小濃度を与える信号レベル３３の副
走査方向における時間的変化が図示のように得られる。

尚、図中の太線はピークホールド回路１２によるハード
的なピーク値の変化を最大濃度側について示している。

。 この第５図に示す副走査方向の最小及び最大濃度を与え
る信号レベルの変化は、第４図（１）の１ライン主走査
で得られた信号と同一に、１回の副走査範囲について、
まず左側の枠による信号部分３４に続いて枠の影響を受
けた信号部分３５が　・・生じ、中央に１ライン副走査
で得られた画像信号の部分３６をもち、更に信号部分３
７が右側の枠の影響を受けた信号部分となり、最終的に
右側の枠の信号部分３８をもつようになる。

このような副走査で得られた最大濃度の信号レベル３２
と最小濃度の信号レベル３３のそれぞれについて信号部
分３４．３５．３７及び３８を除く中央の信号部分３６
におけるＰ点の最大濃度、及びＱ点の最小ｍ度のそれぞ
れをソフトウェア、即ちプログラム制御により検出する
。

更に、第５図はＣＯＤラインセンサの走査範囲に含まれ
るフィルム部分に傷やホコリがない場合の信号レベルの
変化を示しているが、走査範囲に含まれるフィルム部分
にゴミや傷があった場合には、第６図に示すように、例
えばゴミが付着していた場合には最大ｍ痘を与える信号
レベル３２の中に３９ａ　、３９ｂで示すパルス状の最
大濃度のピーク値が生じ、一方、フィルムに傷があった
場合には最小濃度を与える信号レベル３３について４０
で示す最小濃度を与えるノイズ信号がパルス的に発生す
る。

ここで、最小濃度を与える信号レベル３３に表われる傷
によるパルス的なノイズ信号４０とゴミによるパルス的
なノイズ信号３９ａ　、３９トはローパスフィルタによ
るハード的方法で除去することができる。しかし、広い
面積のものはハード的方法で除去することが困難である
ことからソフト的方法で除去する。ここで、傷によるも
のは広い面積とはならないからソフト的方法では大きな
ゴミの付着による広い面積の最大濃度を除去する処理が
行なわれる。

第７．８及び９図は第５，６図における１回の副走査で
得られた最大濃度を与える信号レベル３２の中からＰ点
となる最大ｍ痕を検出するための一連の制御プログラム
を示したプログラムフロー図である。

このプログラム７０−について、まず第５図に示すよう
にゴミがないときの最大濃度検出処理を説明する。

第７図において、ＣＣＤラインセンサ１の主副走査が開
始されると、まずブロック４１で予め定めた最大濃度の
所定値をＢデータとして初期設定する。続いて、ＣＣＤ
ラインセンサ１の１ライン主走査によりブロック４２で
最初の最大濃度を与えるピークデータがハード的にホー
ルドされる。

このピーク値はブロック４３でディジタル変換された後
にマイクロコンピュータ２２にピークデータＤｉとして
入力される。続いて判別ブロック４４で予めスレッショ
ルドレベルとして定めた枠データと比較され、枠データ
より小さければブロック８０でピークホールドをリセッ
トし、次の１ライン主走査で得られたピークデータの入
力を行なう。

従って、ピークデータが判別ブロック４４の枠データを
上回るまではブロック４３．４４及び８０の処理が繰り
返され、ピークデータか枠データを上回って初めて次の
処理に進むこととなり、枠データより小さい限り最大濃
度の検出が行なわれず、枠によるピークデータを除去す
ることができる。

判別ブロック４４でピークデータが枠データを上回ると
ブロック４５に進んでカウンタＮをセットする。このカ
ウンタＮは第５図の枠の影響による信号部分３５を検出
するために設けられており、１ライン主走査が終了する
毎にブロック４６でＮ＝Ｎ−１としてカウントダウンさ
れ、続いて判別ブロック４７でカウンタＮがＮ−０にな
るかどうかを監視しており、一定時間後にカウンタＮは
Ｎ−〇となって次の処理に移行する。即ち、ブロック４
５．４６及び４７においてカウンタＮのセット値で定ま
る一定時間の間、ソフト的に最大値の検出処理を中断し
、枠の影響を受ける部分、即ち第５図の信号部分３５を
除去する。

判別ブロック４７で一定時間が経過したことを判別する
と、ブロック４８でピークホールドのリセットが行なわ
れ、続いてブロック４９でデータスタックカウンタＭを
セットする。このデータスタックカウンタＭとしては予
め定めたＸ段のリングカウンタが使用され、データスタ
ックカウンタＭはＭ＝ｘにセットされる。また、データ
スタックカウンタに対応させてデータスタックカウンタ
の計数値でアドレスが設定されるスタックメモリが設け
られており、データスタックカウンタのアドレス指定に
より最大Ｘ個のピークデータＤ１がスタックメモリに保
持される。

ブロック４９でデータスタックカウンタＭがＭ７ｘにセ
ットされた後にブロック５０で次の１ラインピークホー
ルドが行なわれると、ブロック５１でビークデータＤ１
を入力し、判別ブロック５２で判別ブロック４４におけ
ると同じ枠データとの比較を行ない、第５図から明らか
なように中央の信号部分３６においては枠データを下回
るビークデータがないことから、必ずブロック７ｏに進
み、データスタックカウンタで定まるアドレスＭヘブロ
ック５１で入力したビークデータＤＩをスタックする。

続いてブロック５３でデータスタックカウンタＭをＭ＝
Ｍ−１とカウントダウンし、判別ブロック５４でデータ
スタックカウンタがＭ＝０であるかを判別し、最初はＭ
＝Ｘ　−１であるから再びブロック５０で１ラインピー
クホールドを行ない、次のビークデータＤｉの入力とス
タックメモリへのデータスタックを行なう。以下同様な
５Ｉ！！坤を繰り返し、Ｘ個のじ−クデータＤ１が得ら
れたときに、再びブロック４９に戻ってデータスタック
カウンタＭをＭ＝ｘにセットし、以下これを繰り返す。

このようなデータスタックカウンタＭの処理によりブロ
ック４９に戻ったときにスタックメモリには第１０図に
示すようにアドレスＡ１〜ＡｘのそれぞれにＸ個のビー
クデータＤ１〜Ｄｘがスタックされた状態となる。

更に詳細に説明するならば、第５図の信号波形において
、枠の影響を受ける信号部分３５が終了したときにピー
クホールドリセット後の最初のビークデータがそのまま
ハード的に保持されるため、スタックメモリには全て同
じ値のビークデータがｘ個スタックされた状態となり、
最大ＩＮ瓜を与えるＰ点の手前でスタックされるビーク
データが変化し、Ｐ点を過ぎるとスタックメモリにはハ
ード的に保持されたＰ点のビークデータが順次スタック
された状態となる。

このようなスタック処理の繰り返しにより、中央の信号
部分３６を過ぎて枠の影響を受けた信号部分３７に入る
と、信号の低下に応じてビークデータの書き変えが順次
行なわれるが、枠レベルに達したときを判別して第９図
に示す割込み処理を実行する。

第９図の割込みルーチンは、枠検出に基づく副走査の終
了で実行され、まずブロック５５でデータスタックカウ
ンタＭをＭ　−Ｍ　−１にカウントダウンし、ブロック
５６でカウントダウンしたアドレスのビークデータをＡ
データとしてスタックする。

即ち、データスタックカウンタのカウントダウンで第５
図の信号部分３７の枠レベルに達したとぎからｘ回生走
査前のビークデータ（Ｐ点の最大ｉ！ｉｌｌ麿を与える
ビークデータ）をＡデータとして取り出し、判別ブロッ
ク５７で第７図のブロック４１で固定的に設定したＢデ
ータと比較し、当然にＡデータのほうが小さいのでブロ
ック５９で最大ｉ！Ｉ痕＝Ａとして一連の処理を終了す
る。

次に第６図に小すよつに、中央の信号部分３６の途中で
ゴミによるノイズビークを生じた場合の処理を説明する
。

まず、ノイズビーク３９ａが（ｑられるまでの処理は第
５図の場合と同様に、第７図のフローにおけるスタック
処理がブロック４９〜５４のザイクルで繰り返されてい
る。この状態で枠レベルを下回るノイズビークが生ずる
と、このノイズビークが判別ブロック５２で判別され、
第８図の処理に移行する。

即ち、ブロック６０でハード的なピークホールドにリセ
ッ１へを掛け、続いてブロック６１でデータスタックカ
ウンタＭをＭ＝Ｍ−１にカウントダウンし、第１０図の
）Ｊタックメモリにおける最も古いビークデータ、即ち
ｘ個前のビークデータをブロック６２でＡデータとして
スタックする。

続いてブロック６３で次の１ラインピークホールドが行
なわれると、ブロック６４でそのビークデータを入力し
、判別ブロック６５で枠データと比較してノイズビーク
が継続しているか否かをチェックし、ノイズビークであ
ればブロック６６でハード的なピークホールドを再度リ
セットし、枠データを越えると判別ブロック６５に進む
。従って、ノイズビークはソフト的にビークデータとし
てスタックされず、ゴミによる誤った最大濃度の検出を
除去できる。

判別ブロック６７においては、ブロック６２でスタック
したＡデータを初期設定したＢデータと比較し、ブロッ
ク６８で小さいほうを新たなりデータとしてスタックし
、再び第７図のスタック処理に戻る。

２番目のノイズビーク３９ｂについてもまったく同様に
第８図の処理が実行され、Ｐ点のピークデータがＢデー
タとしてスタックされる。

そして最終的に信号部分３７で枠レベルが検出されると
第９図の処理が割込みにより実行され、ブロック５６で
スタックしたＡデータを判別ブロック５７でＢデータと
比較し、Ａデータが小さければ、ブロック５９で最大濃
度−八とし、またＢデータのほうが小さければブロック
５８で最大濃度−Ｂとして一連の処理を終了する８勿論
、、第６図の場合にはＢデータが最大濃度として検出さ
れる。

尚、第７．８．９図のフローは、第５．６図における信
号レベル３２で示す最大濃度の検出処理を例にとるもの
であったが、信号レベル３３で示す最小濃度については
、傷によるノイズビーク４０がローパスフィルタにより
除去することができるため、第８図のノイズ除去の処理
を除いたプログラムフローにより枠及び枠の影響を受け
る部分を除いた副走査による映像信号から最小濃度を検
出することができる。但し、第７図における判別ブロッ
ク５２は不要となる。

（発明の効果） 以−Ｆ説明してきたように本発明によれば、ラインセン
サにおける光電変換素子の配列方向を主走査方向とする
と共に、移動方向を副走査方向とし、光学的に記録され
た画像媒体をラインセンサの走査範囲の適宜の位置に枠
により保持し、ラインセンサの主副走査で画像情報を電
気信号に変換して所定の情報処理を実行する画像処理シ
ステムにおいて、ラインセンサの主走査で得られた画像
信号に含まれる枠信号をハードウェア手段で検出し、ラ
インセンサの副走査で得られた画像信号に含まれる枠信
号はソフトウェア手段で検出するようにしたため、ライ
ンセンサの電子走査となる高速の主走査にマイクロコン
ピュータによるプログラム処理では追従できない問題を
ハードウェア手段による枠検出で解決し、一方、ライン
センサの機械的な移動で定まる時間的に余裕のある副走
査についてはマイクロコンビュー夕によるプログラム処
理で枠検出を行ない、主走査及び副走査の両方をハード
ウェア手段とした場合の装置の複雑化、大型化を防ぐと
共に、主走査と副走査の両方をソフトウェア手段とした
場合の主走査における処理遅れの問題を解決し、フィル
ムや印画紙等に光学的に記録された画像情報をラインセ
ンサの走査で電気信号に変換して所定の処理を行なうと
きに必要とされる枠検出装置の構成を簡潔にして小型化
と高い経済性を得ることができる。

【図面の簡単な説明】

第１図は本発明で用いるラインセンサの走査構造の説明
図、第２図はラインセンサとフィルムホルダの相対位置
関係を示した説明図、第３図は本発明の一実施例を示し
たブロック図、第４図は第３図の実施例におけ〜る主走
査方向枠信号除去回路の各部の信号を示した信号波形図
、第５図はラインセンサの副走査で得られた画像信号を
示した信号波形図、第６図はノイズを含んだ副走査の信
号波形図、第７．８．９図は本発明の副走査における最
大濃度の検出−理を示したプログラム７０−、第１０図
は本発明のプログラム処理で使用するスタックメモリを
示した説明図である。 １：ＣＯＤラインセンサ ４：フィルムホルダ ５：フィルム画像部分 ６：枠 ７：走査範囲 ８：増幅器 ９．１１：ローパスフィルタ １０：クランプ回路 ゛ｉ２：上２：ピークホール １４：主走査方向枠信号除去回路 １５：コンパレータ １６：基準電源 １７．１８．１９：シフトレジスタ ２０：アンドゲート ２１：クロック発生器 ２２：マイクロコンピュータ ２３：Ａ／Ｄ変換器 特許出願人　日本光学工業株式会社 代理人　弁理士　竹　内　遊

Claims (1)

1. 【特許請求の範囲】 ラインセンサにおける光電変換素子の配列方向を主走査
   方向とすると共に移動方向を副走査方向とし、光学記録
   された画像媒体を前記ラインセンサの走査範囲の適宜の
   位置に枠体により保持し、前記ラインセンサの走査で画
   像情報を電気信号に変換して所定の情報処理を実行する
   画像処理システムにおいて、 前記ラインセンサの主走査で得られた画像信号に含まれ
   る枠信号を検出するハードウェア手段と、前記ラインセ
   ンサの副走査で得られた画像情報に含まれる枠信号を検
   出するソフトウェア手段とを備えたことを特徴とする画
   像処理システムの枠検出装置。