JPS60153186A - 発光ダイオ−ド - Google Patents
発光ダイオ−ドInfo
- Publication number
- JPS60153186A JPS60153186A JP59009199A JP919984A JPS60153186A JP S60153186 A JPS60153186 A JP S60153186A JP 59009199 A JP59009199 A JP 59009199A JP 919984 A JP919984 A JP 919984A JP S60153186 A JPS60153186 A JP S60153186A
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- JP
- Japan
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- layer
- contact
- light emitting
- emitting diode
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- Prior art date
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- Granted
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Classifications
-
- H—ELECTRICITY
- H01—ELECTRIC ELEMENTS
- H01L—SEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
- H01L33/00—Semiconductor devices with at least one potential-jump barrier or surface barrier specially adapted for light emission; Processes or apparatus specially adapted for the manufacture or treatment thereof or of parts thereof; Details thereof
- H01L33/005—Processes
- H01L33/0062—Processes for devices with an active region comprising only III-V compounds
Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
け)発明の技術分野 。
不発明は近赤外および可視発光ダイオードにおける′電
極のオーミック・コンタクト性の改善に関するものであ
る。
極のオーミック・コンタクト性の改善に関するものであ
る。
(ロノ 従来技術と問題点
第1図は従来の発光ダイオードの一例金示す構造断面で
ある。その製造の際はn型GaAs基板(図示せず)上
に、先ず光取出し窓層とするn1iAL0.5GaO,
5As+層1t−厚さ50μに、活性層とするnff1
又tapmのALo、2GaO,8As層2を厚さ1μ
に閉じ込め層とするp ff1At0.4Ga0.6A
s 1m 3 k厚さ1μにコンタクト層(兼電流路全
制服する逆バイアス層)とする成長時は全体にn型のA
LO,3QaO,7μg層4を厚さ1μに、順次液相成
長したウニ八を使用して−る0尚、窓層1のAt含有比
の0.5に成長開始部での値である0これにコンタクト
抵抗を低減するためにZn(P型不純物)會1〜3μm
拡散してp呈領域5を形成し、電極(通常はAuZn)
6が300 OAの厚さに形成される。
ある。その製造の際はn型GaAs基板(図示せず)上
に、先ず光取出し窓層とするn1iAL0.5GaO,
5As+層1t−厚さ50μに、活性層とするnff1
又tapmのALo、2GaO,8As層2を厚さ1μ
に閉じ込め層とするp ff1At0.4Ga0.6A
s 1m 3 k厚さ1μにコンタクト層(兼電流路全
制服する逆バイアス層)とする成長時は全体にn型のA
LO,3QaO,7μg層4を厚さ1μに、順次液相成
長したウニ八を使用して−る0尚、窓層1のAt含有比
の0.5に成長開始部での値である0これにコンタクト
抵抗を低減するためにZn(P型不純物)會1〜3μm
拡散してp呈領域5を形成し、電極(通常はAuZn)
6が300 OAの厚さに形成される。
その上にtic A u (D P HS電極7が形成
される0他万Nll1lt極8のワイヤをボンデングす
る場所は広くとられる。窓/i#iのような厚L/>A
tGaAs層−全液相成長させる場合、液相エピ城長時
のALの偏析係数が大きめ為、成長方向に回ってAt含
有比が下ってφくo発光波長λ0は活性層のエネルギー
ギヤラグEgで制御され、EgはAt含有比に依存する
。−万、基板として使用されるGaAs1’C1発光波
長λo(95’Onmでは吸収層となる為、元運信用光
源用等の場合除去される。基板除去はエツチングによる
が、エツチング液はAtの含有比Xに対して依存性を持
っているものが使われる◎たとえばNHaOH+HzO
t (1: 30 )液はGaAsのみをエツチングし
、x 、> 0.2のAtxGal−xAaに対しては
全くエツチングしない。この様な選択エツチングによっ
て吸収層となるGaAa基板を除去した構造が得られる
。この露出した結晶面に電極が形成されるが、先述した
ように所望膜厚を得る為に初期のAtX姐を高((0,
3〜0.6)する必要がおる。コンタクト抵抗なGaA
s中のAtが少ない万が低く 、GaAs層に対し電極
を形成するのが低いコンタクト抵抗を得るためには望ま
しい。しかし、結晶界面(基板との)上に精度良く数μ
mのコンタクト用GaAs層を均一に残すようなエツチ
ングμ困−であり、又、光取出し窓部分のみかかるコー
ンタクト層による光吸収を避ける為更にエツチング加工
等でこのコンタクト用GaAs層を除去しなければなら
ないので、工程も著しく煩雑になる0ヒJ 発明の目的 本発明に以上の従来技術における欠点全解消し、A/:
GaAs窓層側のコンタクト抵抗を低減することが可能
で製造も容易な発光ダイオード構造を提供することを目
的とする。
される0他万Nll1lt極8のワイヤをボンデングす
る場所は広くとられる。窓/i#iのような厚L/>A
tGaAs層−全液相成長させる場合、液相エピ城長時
のALの偏析係数が大きめ為、成長方向に回ってAt含
有比が下ってφくo発光波長λ0は活性層のエネルギー
ギヤラグEgで制御され、EgはAt含有比に依存する
。−万、基板として使用されるGaAs1’C1発光波
長λo(95’Onmでは吸収層となる為、元運信用光
源用等の場合除去される。基板除去はエツチングによる
が、エツチング液はAtの含有比Xに対して依存性を持
っているものが使われる◎たとえばNHaOH+HzO
t (1: 30 )液はGaAsのみをエツチングし
、x 、> 0.2のAtxGal−xAaに対しては
全くエツチングしない。この様な選択エツチングによっ
て吸収層となるGaAa基板を除去した構造が得られる
。この露出した結晶面に電極が形成されるが、先述した
ように所望膜厚を得る為に初期のAtX姐を高((0,
3〜0.6)する必要がおる。コンタクト抵抗なGaA
s中のAtが少ない万が低く 、GaAs層に対し電極
を形成するのが低いコンタクト抵抗を得るためには望ま
しい。しかし、結晶界面(基板との)上に精度良く数μ
mのコンタクト用GaAs層を均一に残すようなエツチ
ングμ困−であり、又、光取出し窓部分のみかかるコー
ンタクト層による光吸収を避ける為更にエツチング加工
等でこのコンタクト用GaAs層を除去しなければなら
ないので、工程も著しく煩雑になる0ヒJ 発明の目的 本発明に以上の従来技術における欠点全解消し、A/:
GaAs窓層側のコンタクト抵抗を低減することが可能
で製造も容易な発光ダイオード構造を提供することを目
的とする。
に)発明の構成
本発明の発光ダイオードに、活性層に隣接して、該活性
層から離れるに従い次第にA4含有比が増大するAtG
aAs層から成る窓層を有し、該窓層の前記活性層と反
対側の面上に、法面における窓層よりAt含有比の小さ
いAtGaAs層から成るコンタクト層が設けられ、該
コンタクト階上にオーミック・コンタクト電極が設けら
れたことを特徴とするものである0 (ホ)発明の実施例 第2図は本発明実施例の発光ダイオードの構造断面を示
し、第1図従来例と同一部分についてに同一参照番号を
付しである0従来例とは、厚さ2〜3μのnff1A4
0.3GaO,7Aaから成るコンタクト層9tN@電
極8 (AuGe−Au)下に設けである点で構造上相
違している0不実施例の発光ダイオードの製造工程につ
いて次に説明すると、エビ成長の段階に於いて、所望発
光波長λ0′Jt吸収せず且つ選択エッチ可能な範囲の
ALX匝を有するn麗のコンタクト用AtGaAg層9
t−数μmGaAs基板上に第1層として成長する。連
続して窓層1゜活性層2.閉じ込め層3.コンタクト層
4t″成長する。エビ工程なので膜厚精[は良φOその
彼に、従来同様P型領域5.鼠極6,7t−形成するO
しかる後QaAs基板を前述のエツチング液を用いる等
して選択的にエツチング除去する。&3図に厚さ方向に
対するALx値分布を示す0第11−目としてコンタク
ト用の低抵抗層9を設ける不方法により、順方向電圧は
従来品に比べ0.4〜0.6v低くなり発熱も押えられ
る効果を持った0不実施例では光取出し窓の電極形成面
に設けたコンタクト用のAAQaAa層9′t−エツチ
ング除去不要としたが、発光波長λ0によっては、吸収
層として働かなiよう電極下以外の部分をエツチング除
去しても何ら差支えることに無いO又5層構造に駆足さ
れるものではなく、光電出し窓1m上に活性層のみ設け
て全体に3層構造にすることも可能である。
層から離れるに従い次第にA4含有比が増大するAtG
aAs層から成る窓層を有し、該窓層の前記活性層と反
対側の面上に、法面における窓層よりAt含有比の小さ
いAtGaAs層から成るコンタクト層が設けられ、該
コンタクト階上にオーミック・コンタクト電極が設けら
れたことを特徴とするものである0 (ホ)発明の実施例 第2図は本発明実施例の発光ダイオードの構造断面を示
し、第1図従来例と同一部分についてに同一参照番号を
付しである0従来例とは、厚さ2〜3μのnff1A4
0.3GaO,7Aaから成るコンタクト層9tN@電
極8 (AuGe−Au)下に設けである点で構造上相
違している0不実施例の発光ダイオードの製造工程につ
いて次に説明すると、エビ成長の段階に於いて、所望発
光波長λ0′Jt吸収せず且つ選択エッチ可能な範囲の
ALX匝を有するn麗のコンタクト用AtGaAg層9
t−数μmGaAs基板上に第1層として成長する。連
続して窓層1゜活性層2.閉じ込め層3.コンタクト層
4t″成長する。エビ工程なので膜厚精[は良φOその
彼に、従来同様P型領域5.鼠極6,7t−形成するO
しかる後QaAs基板を前述のエツチング液を用いる等
して選択的にエツチング除去する。&3図に厚さ方向に
対するALx値分布を示す0第11−目としてコンタク
ト用の低抵抗層9を設ける不方法により、順方向電圧は
従来品に比べ0.4〜0.6v低くなり発熱も押えられ
る効果を持った0不実施例では光取出し窓の電極形成面
に設けたコンタクト用のAAQaAa層9′t−エツチ
ング除去不要としたが、発光波長λ0によっては、吸収
層として働かなiよう電極下以外の部分をエツチング除
去しても何ら差支えることに無いO又5層構造に駆足さ
れるものではなく、光電出し窓1m上に活性層のみ設け
て全体に3層構造にすることも可能である。
eプ 発明の効果
不発明によれば、発光ダイオードのAjGaAs窓層側
オーミック・コンタクト電極のコンタクト抵抗全低減す
ることができ、且つそのために製造工程に制御困jlA
なエッチング工程te人する必要もないといり効果が得
られる。
オーミック・コンタクト電極のコンタクト抵抗全低減す
ることができ、且つそのために製造工程に制御困jlA
なエッチング工程te人する必要もないといり効果が得
られる。
【図面の簡単な説明】
第1図は従来の発光ダイオードのwI造断面例を示し、
M21は不発明実施例の発光ダイオードを示し、第3図
体その各層のAt含有比分布を衣す図でおる。 l・・・・・・AtGaAs光取出し窓層2・・・・・
・活性層 3・・・・・・閉じ込め層 4.9・・・オーミック・コンタクト層6.8・・・電
極
M21は不発明実施例の発光ダイオードを示し、第3図
体その各層のAt含有比分布を衣す図でおる。 l・・・・・・AtGaAs光取出し窓層2・・・・・
・活性層 3・・・・・・閉じ込め層 4.9・・・オーミック・コンタクト層6.8・・・電
極
Claims (1)
- 活性層に瞬接して、該活性層から離れるに従い次第にA
7含有比が増大するAtGaAs層から成る窓層金有し
、該窓層の前記活性層と反対側の面上に、法面における
窓層よりAt含有比の小さいAtGaAs層から成るコ
ンタクト層が設けられ、該コンタクト層上にオーミック
・コンタクト電極が設けられたことを%徴とする発光ダ
イオード。
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP919984A JPH0634409B2 (ja) | 1984-01-20 | 1984-01-20 | 発光ダイオ−ド |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP919984A JPH0634409B2 (ja) | 1984-01-20 | 1984-01-20 | 発光ダイオ−ド |
Publications (2)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JPS60153186A true JPS60153186A (ja) | 1985-08-12 |
JPH0634409B2 JPH0634409B2 (ja) | 1994-05-02 |
Family
ID=11713823
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP919984A Expired - Lifetime JPH0634409B2 (ja) | 1984-01-20 | 1984-01-20 | 発光ダイオ−ド |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
JP (1) | JPH0634409B2 (ja) |
Cited By (3)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPS6415913A (en) * | 1987-07-09 | 1989-01-19 | Mitsubishi Monsanto Chem | Epitaxial growth method of substrate for high-brightness led |
JPH01187883A (ja) * | 1988-01-21 | 1989-07-27 | Mitsubishi Monsanto Chem Co | 高輝度led用エピタキシャル基板及びその製造方法 |
US6839367B2 (en) | 2000-11-08 | 2005-01-04 | The Furukawa Electric Co., Ltd. | Light source comprising laser diode module |
Citations (1)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPS58137274A (ja) * | 1982-02-09 | 1983-08-15 | Sumitomo Electric Ind Ltd | 面発光型半導体発光素子の製造方法 |
-
1984
- 1984-01-20 JP JP919984A patent/JPH0634409B2/ja not_active Expired - Lifetime
Patent Citations (1)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPS58137274A (ja) * | 1982-02-09 | 1983-08-15 | Sumitomo Electric Ind Ltd | 面発光型半導体発光素子の製造方法 |
Cited By (3)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPS6415913A (en) * | 1987-07-09 | 1989-01-19 | Mitsubishi Monsanto Chem | Epitaxial growth method of substrate for high-brightness led |
JPH01187883A (ja) * | 1988-01-21 | 1989-07-27 | Mitsubishi Monsanto Chem Co | 高輝度led用エピタキシャル基板及びその製造方法 |
US6839367B2 (en) | 2000-11-08 | 2005-01-04 | The Furukawa Electric Co., Ltd. | Light source comprising laser diode module |
Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
JPH0634409B2 (ja) | 1994-05-02 |
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