JPS60152924A - 放射温度測定方法 - Google Patents
放射温度測定方法Info
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- JPS60152924A JPS60152924A JP844784A JP844784A JPS60152924A JP S60152924 A JPS60152924 A JP S60152924A JP 844784 A JP844784 A JP 844784A JP 844784 A JP844784 A JP 844784A JP S60152924 A JPS60152924 A JP S60152924A
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- 238000000034 method Methods 0.000 title claims description 13
- 230000005855 radiation Effects 0.000 claims abstract description 54
- 230000003595 spectral effect Effects 0.000 claims abstract description 42
- 239000003086 colorant Substances 0.000 claims abstract description 4
- 238000009529 body temperature measurement Methods 0.000 claims description 6
- 238000005259 measurement Methods 0.000 description 10
- 238000010586 diagram Methods 0.000 description 5
- 238000004611 spectroscopical analysis Methods 0.000 description 3
- 239000000463 material Substances 0.000 description 2
- 238000000691 measurement method Methods 0.000 description 2
- PEDCQBHIVMGVHV-UHFFFAOYSA-N Glycerine Chemical compound OCC(O)CO PEDCQBHIVMGVHV-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- 238000009434 installation Methods 0.000 description 1
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-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01J—MEASUREMENT OF INTENSITY, VELOCITY, SPECTRAL CONTENT, POLARISATION, PHASE OR PULSE CHARACTERISTICS OF INFRARED, VISIBLE OR ULTRAVIOLET LIGHT; COLORIMETRY; RADIATION PYROMETRY
- G01J5/00—Radiation pyrometry, e.g. infrared or optical thermometry
- G01J5/60—Radiation pyrometry, e.g. infrared or optical thermometry using determination of colour temperature
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Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
本発明は放射温度測定方法に関する。
従来試料の温度を非接触式に測定する方法として試料か
ら放射されてくる放射エネルー＃″量を測定して行なう
放射温度測定方法が知られているこの方法は試料からの
熱放射の強度？分光針で特定の波長に分光して測定し、
その測定値と放射率とからブランクの公式により該試料
の温度會求めるもので、とｎ、に於ては放射率を知って
おくことが必須の条件となる。しかし放射率は試料の材
質、温度、酸化状態、底面粗さ、波長等により変化する
ので放射率紮補正しなければ正確な温度の測定を行なえ
ない。一般に放射率の補正には試料と共に正確な放射率
ケ知シ得る例えば黒体ｒ設け、黒体の放射率を知ること
により試料の放射率をめる煩雑な手法が欧らｎ１晶体？
設置する制約が加わシ、任意の個所で試料ｒ測温出来ず
実用的でない欠点がある。
ら放射されてくる放射エネルー＃″量を測定して行なう
放射温度測定方法が知られているこの方法は試料からの
熱放射の強度？分光針で特定の波長に分光して測定し、
その測定値と放射率とからブランクの公式により該試料
の温度會求めるもので、とｎ、に於ては放射率を知って
おくことが必須の条件となる。しかし放射率は試料の材
質、温度、酸化状態、底面粗さ、波長等により変化する
ので放射率紮補正しなければ正確な温度の測定を行なえ
ない。一般に放射率の補正には試料と共に正確な放射率
ケ知シ得る例えば黒体ｒ設け、黒体の放射率を知ること
により試料の放射率をめる煩雑な手法が欧らｎ１晶体？
設置する制約が加わシ、任意の個所で試料ｒ測温出来ず
実用的でない欠点がある。
こうした放射率の補正の類られしさ會逃れるために、試
料の熱放射ｔ２波長で測定し、放射率の影響１を軽減す
る２波長法（２色式測定法）や熱放射の測定の測定波長
ヶ短波長のものとする等の方法が提案さｔ′またが、前
者の方法では２波長の測定による放射率葡同−値として
消去するか或は２波長の放射率の比が測定は一定と仮定
し、と９放射率の比會測定常数とするので放射率が測定
中に変動する場合は誤差が大きく、後者の方法では短波
長を使用するので熱放射の小さい低温域の１ｌｌ１１温
が行なえない不部会がある。
料の熱放射ｔ２波長で測定し、放射率の影響１を軽減す
る２波長法（２色式測定法）や熱放射の測定の測定波長
ヶ短波長のものとする等の方法が提案さｔ′またが、前
者の方法では２波長の測定による放射率葡同−値として
消去するか或は２波長の放射率の比が測定は一定と仮定
し、と９放射率の比會測定常数とするので放射率が測定
中に変動する場合は誤差が大きく、後者の方法では短波
長を使用するので熱放射の小さい低温域の１ｌｌ１１温
が行なえない不部会がある。
本発明は前記した欠点、不都合のない放射温度測定方法
を提案することをその目的としたもので、試料からの熱
放射を分光して３種以上の波長の分光熱放射を測定する
一方、各波長に於ける分光熱放射率を仮足して各分光放
射率の近似弐ｒ求め、該近似式に於ける前記谷波長の近
似分光熱放射とこれに対応する前記測定の分光熱放射と
の誤差？最小とする温度會求めて該試料の温度とするこ
と全特徴とする。
を提案することをその目的としたもので、試料からの熱
放射を分光して３種以上の波長の分光熱放射を測定する
一方、各波長に於ける分光熱放射率を仮足して各分光放
射率の近似弐ｒ求め、該近似式に於ける前記谷波長の近
似分光熱放射とこれに対応する前記測定の分光熱放射と
の誤差？最小とする温度會求めて該試料の温度とするこ
と全特徴とする。
本発明の実施例？第１図示のように真空容器（１）内に
収めた試料（２）の温度を真空窓（３） ？ｌ−介して
外部の放射温度計（４）で測定する場合につき説明する
。
収めた試料（２）の温度を真空窓（３） ？ｌ−介して
外部の放射温度計（４）で測定する場合につき説明する
。
該放射温度計（４）は試料（２）の熱放射ケ複数の波長
に分光する分光器（５）と、分光さｎ几分光熱放射の量
會検出する検出器（６）と、その検出値を演算する計算
器例えばマイクロプロセッサ（７） ｋ 備えるものと
し、該分光器（５）に於ては好ましくは熱放射を４種の
波長若しくはそれ以上の波長に分光し、各分光熱放射は
分光数に応じた受光部を有する検出器（６）で同時に測
定され、各測定値はマイクロプロセッサ（７）に於て試
料（２）の温度ケ求めるための演算に供される。この演
算によシ得られた解は試料（２）の温度に＃丘は正確に
一致する。
に分光する分光器（５）と、分光さｎ几分光熱放射の量
會検出する検出器（６）と、その検出値を演算する計算
器例えばマイクロプロセッサ（７） ｋ 備えるものと
し、該分光器（５）に於ては好ましくは熱放射を４種の
波長若しくはそれ以上の波長に分光し、各分光熱放射は
分光数に応じた受光部を有する検出器（６）で同時に測
定され、各測定値はマイクロプロセッサ（７）に於て試
料（２）の温度ケ求めるための演算に供される。この演
算によシ得られた解は試料（２）の温度に＃丘は正確に
一致する。
実施例に於て、試料（２）の温度がＴ１熱放射率がε、
熱放射がＬであるとする。このうち温［Ｔ。
熱放射がＬであるとする。このうち温［Ｔ。
及び熱放射率εは未知数であり、熱放射りは３色以上の
波長λｌ、λ２．・・λｎに分光され夫々の波長に於け
る分光熱放射り、 、 Ｌ、 、・・Ｌｎ が放射温度
針（４）によシ測足さ扛る。
波長λｌ、λ２．・・λｎに分光され夫々の波長に於け
る分光熱放射り、 、 Ｌ、 、・・Ｌｎ が放射温度
針（４）によシ測足さ扛る。
−万、各波長λｌ・・λｎに於ける分光熱放射率ε！、
ε２．・・εｎは黒体の熱放射等の比較対象の熱放射ｒ
知らなければめ得ないものであるが、ある曲線に治って
変化するものであることが知られておフ、第２図の如く
分光熱放射率ε！、ｅ・・εｎの各点或は各点の付近？
通る分光熱放射率の曲線εｃｐ想定することが出来る。
ε２．・・εｎは黒体の熱放射等の比較対象の熱放射ｒ
知らなければめ得ないものであるが、ある曲線に治って
変化するものであることが知られておフ、第２図の如く
分光熱放射率ε！、ｅ・・εｎの各点或は各点の付近？
通る分光熱放射率の曲線εｃｐ想定することが出来る。
この曲線ｇｃ は波長λのｍ次の多項式で次のように近
似的に表現することが出来る。勿論この曲線εＣは他の
関数例えば三角関数、指数関数で蔦近似できるが、ここ
ではｍ次の多項式で近似した場合について説明する。
似的に表現することが出来る。勿論この曲線εＣは他の
関数例えば三角関数、指数関数で蔦近似できるが、ここ
ではｍ次の多項式で近似した場合について説明する。
ｔ ｅ ”＝ ａｆｆｌλ”十ａｍ−ｓλｍ−１＋ ・
・十ａｏ −−（１）この多項式近似？最小自乗誤差法
で行なうと〔１〕式の係数”ｍ ＋ ’ｌｆｆ１−１
＋ 書・ａＱ は次式の連立１次方程式の解で与えらｎ
、る。
・十ａｏ −−（１）この多項式近似？最小自乗誤差法
で行なうと〔１〕式の係数”ｍ ＋ ’ｌｆｆ１−１
＋ 書・ａＱ は次式の連立１次方程式の解で与えらｎ
、る。
ＩＡＩ・１Ｘｌ＝ｌｂｌ ・・・・・・・・・・・・Ｃ
ＩＩ）一方、熱放射率εは黒体の熱放射ｒＬ＊とすれは ε−Ｌ／Ｌ ・・・・・・（ＩＶ） であり、Ｌ＊はブランクの公式から温度Ｔの関数として
一般的に次のように艮わさｎる。
ＩＩ）一方、熱放射率εは黒体の熱放射ｒＬ＊とすれは ε−Ｌ／Ｌ ・・・・・・（ＩＶ） であり、Ｌ＊はブランクの公式から温度Ｔの関数として
一般的に次のように艮わさｎる。
こ１．に於てＯ＋ ＝１．１９１９６ｘｌＯ’”（Ｗ＠
ｍ” ）０２＝０．０１４３８８（ｍ・Ｋ） で艮わさ
扛る係数である。上記（ＩＶ）（Ｖ）式から熱放射率は
の関係がしる。従ってＣｕ１ｌ）式の熱放射率ε、もで
艮わすことが出来、 とおけば、さらに と我せる。このεｊｔ用いて（Ｉｌｌ） 式のベクトル
ｂを表現すれば、 となる。（ＩＩＩ）式のＩＡＩのに列ｋ （Ｘ）式のｌ
ｂｌで置き換えた行列式ｔ△にとすると次の通りである
。
ｍ” ）０２＝０．０１４３８８（ｍ・Ｋ） で艮わさ
扛る係数である。上記（ＩＶ）（Ｖ）式から熱放射率は
の関係がしる。従ってＣｕ１ｌ）式の熱放射率ε、もで
艮わすことが出来、 とおけば、さらに と我せる。このεｊｔ用いて（Ｉｌｌ） 式のベクトル
ｂを表現すれば、 となる。（ＩＩＩ）式のＩＡＩのに列ｋ （Ｘ）式のｌ
ｂｌで置き換えた行列式ｔ△にとすると次の通りである
。
・・・・・・・・・ＣＸ［）
従って連立方程式（ＩＴ）の解ａｋは
となり、ＣＩ）式の近似式は
・・・・・・（Ｘｍ）
で茨わさｎ、る。このり全相いて近似分光熱放射Ｌｃｉ
ｋ求めルト（１’／） （Ｖ １ ｒＶｌｌ”＋ ＜−
ｔ＋、 ラＬｃｌ＝ εｃｉ ＠ Ｌｉ λ’ｉ ｕＩ ＣＩ ＋・・・・・・＋Δ１λ１＋Δ０ ） ・・・・・・・
・・（ＸＩＶ）この式に於て、λ１は前記試料（２）か
らの分光したλ！・・・λｎの波長で既知数であシ、Ｉ
ＡＩはλ１ の関数で既知数、０１は定数、月はλｉ
と温度Ｔの関数、Δにはλｉ、Ｔ及び試料（２）の熱放
射の測定値Ｌｌ・・Ｌｎに相当するＩｇの関数であるの
で、結局この式は未知数Ｔの関数である。
ｋ求めルト（１’／） （Ｖ １ ｒＶｌｌ”＋ ＜−
ｔ＋、 ラＬｃｌ＝ εｃｉ ＠ Ｌｉ λ’ｉ ｕＩ ＣＩ ＋・・・・・・＋Δ１λ１＋Δ０ ） ・・・・・・・
・・（ＸＩＶ）この式に於て、λ１は前記試料（２）か
らの分光したλ！・・・λｎの波長で既知数であシ、Ｉ
ＡＩはλ１ の関数で既知数、０１は定数、月はλｉ
と温度Ｔの関数、Δにはλｉ、Ｔ及び試料（２）の熱放
射の測定値Ｌｌ・・Ｌｎに相当するＩｇの関数であるの
で、結局この式は未知数Ｔの関数である。
従って温度Ｔｔ適当に与えて近似分光熱放射Ｌｃｉｔ求
め、これが放射温度計（４）で測定した分光熱放射Ｌｉ
に一致もしくは近似すｎばその温度Ｔが試料（２）の温
度であると判断することが出来る。
め、これが放射温度計（４）で測定した分光熱放射Ｌｉ
に一致もしくは近似すｎばその温度Ｔが試料（２）の温
度であると判断することが出来る。
この場合Ｔｔ変えて得らｎる近似分光熱放射Ｌｃｋが第
３図の曲線’ｒｔ 、Ｔ、 、’ｒｓでちゃ、測定によ
る分光熱放射Ｌｌの値がＬｌ、Ｌ、、・・曲、 Ｌｎで
あｊば、ＬｃｉとＬｉの自乗誤差の総和Ｅ會最小とする
温度例えばＴ３ が試料（２）の温度である。これｔ式
で衣わせば Ｅ ｍｉｎ ＝ｍｉｎΣ（Ｌｃｌ −Ｌｉ）” ・”−
川（ＸＶ）となる。
３図の曲線’ｒｔ 、Ｔ、 、’ｒｓでちゃ、測定によ
る分光熱放射Ｌｌの値がＬｌ、Ｌ、、・・曲、 Ｌｎで
あｊば、ＬｃｉとＬｉの自乗誤差の総和Ｅ會最小とする
温度例えばＴ３ が試料（２）の温度である。これｔ式
で衣わせば Ｅ ｍｉｎ ＝ｍｉｎΣ（Ｌｃｌ −Ｌｉ）” ・”−
川（ＸＶ）となる。
こうした温度Ｔ’（（変えての演算処理はマイクロプロ
セッサ（７）に於て簡単迅速に行なえる。
セッサ（７）に於て簡単迅速に行なえる。
以上の方法では仮定により与えた各分光熱放射率εｃ
ｋｍ次の多項式で近似させたが、よシ簡単で笑用的とす
るために、第４図示のように１ｃｒ次の波長λの１次式
による近似式とすることも出来る。
ｋｍ次の多項式で近似させたが、よシ簡単で笑用的とす
るために、第４図示のように１ｃｒ次の波長λの１次式
による近似式とすることも出来る。
ｉｃｅ ！、λ十ａ６ ”ｌ’…〔Ｘ■〕と扛の係数ａ
ｌ、ａＱは次式の解で与えら江る。
ｌ、ａＱは次式の解で与えら江る。
簡単のために
ＺＰΣλｚｊ、ｚｌ−Σλｔ、、Ｚｏ＝Σ匂０・・・・
・・（ＸＶｌｊ） とおけば、ε、は〔Ｘ■）（ＸＶＩＩＩ）から請求めて
下式で与えらｎる。
・・（ＸＶｌｊ） とおけば、ε、は〔Ｘ■）（ＸＶＩＩＩ）から請求めて
下式で与えらｎる。
’ ｃ−ｚ、 ｚ、 −ｚ 、ｚ （（Ｚｏλ−ｚ、
）Σλノ・εｊ＋Ｃ−２１λ＋Ｚ、）Σεｊ） ・・・
山 （ＸＸ：）とｎに於て１１は〔−〕で与え得るので
・・・・・・・・・（ＸＸ’、１ と書き換えることが出来、（ＸＩＶ）の近似分光熱放射
Ｌｃｉの式は ×ΣＬｊλｊ”ｊ＋（−Ｚ１λ ＋Ｚ２ ）ΣＬｊ匂Ｓ
ｕ Ｊ Ｊ・・・・・・・・・（ＸＸＩ） となる。この式も（ＸＩＶ）と同様にｕｉＶｃ會まｎ、
る温度Ｔ？ｒ未知数とする関数であるので、Ｔのｆ［ｋ
各独与え、近似分光熱放射Ｌｃｌと測足値目の０栄誤差
の総和Ｅが最小となる温度Ｔｉ求め、これが試料（２）
の温度であるとする点は前記のεＣ會ｍ次の多項式の近
似式で与えた場合と同様である。
）Σλノ・εｊ＋Ｃ−２１λ＋Ｚ、）Σεｊ） ・・・
山 （ＸＸ：）とｎに於て１１は〔−〕で与え得るので
・・・・・・・・・（ＸＸ’、１ と書き換えることが出来、（ＸＩＶ）の近似分光熱放射
Ｌｃｉの式は ×ΣＬｊλｊ”ｊ＋（−Ｚ１λ ＋Ｚ２ ）ΣＬｊ匂Ｓ
ｕ Ｊ Ｊ・・・・・・・・・（ＸＸＩ） となる。この式も（ＸＩＶ）と同様にｕｉＶｃ會まｎ、
る温度Ｔ？ｒ未知数とする関数であるので、Ｔのｆ［ｋ
各独与え、近似分光熱放射Ｌｃｌと測足値目の０栄誤差
の総和Ｅが最小となる温度Ｔｉ求め、これが試料（２）
の温度であるとする点は前記のεＣ會ｍ次の多項式の近
似式で与えた場合と同様である。
実際的な例に於て、試料（２）からの熱放射ｒλ！±１
０６４ ｐλａ：＋：＝１５７０．λｇ＝１９９０．λ
４＝２２００（ｎｍ）の各波長に分光して測定した。
０６４ ｐλａ：＋：＝１５７０．λｇ＝１９９０．λ
４＝２２００（ｎｍ）の各波長に分光して測定した。
以上の条件で分光熱放射率のｍ次の多項式の近似式から
近似分光熱放射Ｌｃ４に各種の温度に於てめ、実測した
試料（２）の分光熱放射Ｌビ・・Ｌ４と比較し、その誤
差の自乗の総和が最小となる温度を試料（２）の温度Ｔ
とした。この温度Ｔは実測で試料（２）の温度と一致す
ることが確認された。
近似分光熱放射Ｌｃ４に各種の温度に於てめ、実測した
試料（２）の分光熱放射Ｌビ・・Ｌ４と比較し、その誤
差の自乗の総和が最小となる温度を試料（２）の温度Ｔ
とした。この温度Ｔは実測で試料（２）の温度と一致す
ることが確認された。
また前記の条件で件足０分光熱放射率會１次式で近似し
た場合、近似分光熱放射Ｌｃｌと実測の分光熱放射Ｌ１
・・・Ｌ、とのＷ４差の自乗の総和Ｅが例えば第５図示
のように２個所に於て極小値を有することがあったが、
小さい方の極小値ＢＢの温１度ＴＢ が全ての場合に於
て試料（２）の温度と一致した。而して両極小値の比Ｅ
Ａ／ＥＢは一般に７０以上であシ、極小値の選択は容易
である。
た場合、近似分光熱放射Ｌｃｌと実測の分光熱放射Ｌ１
・・・Ｌ、とのＷ４差の自乗の総和Ｅが例えば第５図示
のように２個所に於て極小値を有することがあったが、
小さい方の極小値ＢＢの温１度ＴＢ が全ての場合に於
て試料（２）の温度と一致した。而して両極小値の比Ｅ
Ａ／ＥＢは一般に７０以上であシ、極小値の選択は容易
である。
このように本発明によるときは、仮定による分光熱放射
率を与えてその近似式？求め、該近似式から得らｆＬ、
た近似分光熱放射と実測の分光熱放射との誤差の自乗を
最小とする温度？求めて試料の温度とするようにしたの
で、黒体その他の温度會実測し放射率をめる必要がなく
試料の熱放射を実測するだけで計算により比較的正確に
温度を測定出来、放射率を補正する煩わしさがなく、放
射温度計全設置可能であれば試料温度上測定出来るので
放射温度測定會簡単に行なえる等の効果がある。
率を与えてその近似式？求め、該近似式から得らｆＬ、
た近似分光熱放射と実測の分光熱放射との誤差の自乗を
最小とする温度？求めて試料の温度とするようにしたの
で、黒体その他の温度會実測し放射率をめる必要がなく
試料の熱放射を実測するだけで計算により比較的正確に
温度を測定出来、放射率を補正する煩わしさがなく、放
射温度計全設置可能であれば試料温度上測定出来るので
放射温度測定會簡単に行なえる等の効果がある。
第１図は本発明の測定方法の１例の線図、第２図は波長
と仮定の分光熱放射率との関係をｍ次の多項式で近似す
る楊会の線図、第３図は実測の熱放射と近似熱放射との
関係線図、第４図は波長と仮定の分光熱放射率との関係
ｔ１次式で近似した場合の線図、第５図は誤差の自乗の
総和の最小をめる曲綜図である。 外２名
と仮定の分光熱放射率との関係をｍ次の多項式で近似す
る楊会の線図、第３図は実測の熱放射と近似熱放射との
関係線図、第４図は波長と仮定の分光熱放射率との関係
ｔ１次式で近似した場合の線図、第５図は誤差の自乗の
総和の最小をめる曲綜図である。 外２名
Claims (1)
- 試料からの熱放射全分光して３色以上の波長の分光熱放
射’ｋ １ｌｌ１足する一方、各波長に於ける分光熱放
射率を仮定して各分光熱放射率の近似式をめ、該近似式
に於ける前記各波長の近似分光熱放射とこれに対応する
前記測定の分光熱放射との誤差全最小とする温度？求め
て該試料の温度とすることを特徴とする放射温度測定方
法０
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP844784A JPS60152924A (ja) | 1984-01-23 | 1984-01-23 | 放射温度測定方法 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP844784A JPS60152924A (ja) | 1984-01-23 | 1984-01-23 | 放射温度測定方法 |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPS60152924A true JPS60152924A (ja) | 1985-08-12 |
| JPH0462012B2 JPH0462012B2 (ja) | 1992-10-02 |
Family
ID=11693376
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP844784A Granted JPS60152924A (ja) | 1984-01-23 | 1984-01-23 | 放射温度測定方法 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPS60152924A (ja) |
Cited By (6)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| EP0294747A2 (en) * | 1987-06-06 | 1988-12-14 | Minolta Camera Kabushiki Kaisha | Pyrometer |
| US4881823A (en) * | 1988-03-29 | 1989-11-21 | Purdue Research Foundation | Radiation thermometry |
| JPH05231944A (ja) * | 1992-02-21 | 1993-09-07 | Sumitomo Metal Ind Ltd | 多波長を用いた放射測温方法 |
| EP0685720A1 (en) * | 1994-06-03 | 1995-12-06 | Land Instruments International Limited | Temperature monitoring |
| US5772323A (en) * | 1994-10-26 | 1998-06-30 | Felice; Ralph A. | Temperature determining device and process |
| EP0880016A1 (de) * | 1997-05-23 | 1998-11-25 | EKO Stahl GmbH | Verfahren zur berührungslosen Temperaturmessung |
-
1984
- 1984-01-23 JP JP844784A patent/JPS60152924A/ja active Granted
Non-Patent Citations (1)
| Title |
|---|
| HIGH TEMPERATURES-HIGH PRESSURES=1980 * |
Cited By (6)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| EP0294747A2 (en) * | 1987-06-06 | 1988-12-14 | Minolta Camera Kabushiki Kaisha | Pyrometer |
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| EP0880016A1 (de) * | 1997-05-23 | 1998-11-25 | EKO Stahl GmbH | Verfahren zur berührungslosen Temperaturmessung |
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| JPH0462012B2 (ja) | 1992-10-02 |
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