JPS60146371U - 半導体レ−ザ素子の検査装置 - Google Patents
半導体レ−ザ素子の検査装置Info
- Publication number
- JPS60146371U JPS60146371U JP3445784U JP3445784U JPS60146371U JP S60146371 U JPS60146371 U JP S60146371U JP 3445784 U JP3445784 U JP 3445784U JP 3445784 U JP3445784 U JP 3445784U JP S60146371 U JPS60146371 U JP S60146371U
- Authority
- JP
- Japan
- Prior art keywords
- inspection equipment
- semiconductor laser
- light output
- device inspection
- laser device
- Prior art date
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- Pending
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Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
第１図は本考案による一実施例の要部構成を示す模式図
、第２図は従来装置の模式図、第３図はレーザ素子の電
流−光出力特性図である。 ４：半導体レーザ素子、５：受光素子、６：光分割器、
７：光ファイバー。
、第２図は従来装置の模式図、第３図はレーザ素子の電
流−光出力特性図である。 ４：半導体レーザ素子、５：受光素子、６：光分割器、
７：光ファイバー。
Claims (1)
- 半導体チップの相対する反射面からの出力が大幅に異な
ったレーザ光を出射する半一体レーザ素子と、大きいレ
ーザ光出力が出射される光路上に配置された光分割器と
、該光分割器によって分割された一方の光路上に配置さ
れた電流−光出力特性検出装置と、他方の光路上に配置
された波長測定器とを備え、電流−光出力特性及び波長
を同時に測定することができることを特徴とする半導体
レーザ素子の検査装置。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP3445784U JPS60146371U (ja) | 1984-03-08 | 1984-03-08 | 半導体レ−ザ素子の検査装置 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP3445784U JPS60146371U (ja) | 1984-03-08 | 1984-03-08 | 半導体レ−ザ素子の検査装置 |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPS60146371U true JPS60146371U (ja) | 1985-09-28 |
Family
ID=30537843
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP3445784U Pending JPS60146371U (ja) | 1984-03-08 | 1984-03-08 | 半導体レ−ザ素子の検査装置 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPS60146371U (ja) |
-
1984
- 1984-03-08 JP JP3445784U patent/JPS60146371U/ja active Pending
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