JPS61161639U - - Google Patents
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- Publication number
- JPS61161639U JPS61161639U JP4424585U JP4424585U JPS61161639U JP S61161639 U JPS61161639 U JP S61161639U JP 4424585 U JP4424585 U JP 4424585U JP 4424585 U JP4424585 U JP 4424585U JP S61161639 U JPS61161639 U JP S61161639U
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- JP
- Japan
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- optical path
- mirror
- dark box
- half mirror
- entering
- Prior art date
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- Pending
Links
- 230000003287 optical effect Effects 0.000 claims 3
- 239000004065 semiconductor Substances 0.000 claims 2
- 230000005540 biological transmission Effects 0.000 claims 1
- 238000007689 inspection Methods 0.000 claims 1
- 238000010586 diagram Methods 0.000 description 2
Landscapes
- Testing Of Individual Semiconductor Devices (AREA)
Description
第1図は本発明の一実施例の構成図、第2図は
従来の構成図である。 1…LDモジユール、2…CW用光検出器、3
…移動ステージ、4…高速用光検出器、5…ハー
フ・ミラー、6…暗箱、7…ビーム。
従来の構成図である。 1…LDモジユール、2…CW用光検出器、3
…移動ステージ、4…高速用光検出器、5…ハー
フ・ミラー、6…暗箱、7…ビーム。
Claims (1)
- 半導体レーザ・ダイオード・モジユールから発
光し暗箱内に入光したビームの光路内にハーフ・
ミラーを配設し、暗箱内でのハーフ・ミラーの透
過側光路上とハーフ・ミラーの反射方向側光路上
とにそれぞれ光検出器を配設したことを特徴とす
る半導体装置の検査治具。
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP4424585U JPS61161639U (ja) | 1985-03-27 | 1985-03-27 |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP4424585U JPS61161639U (ja) | 1985-03-27 | 1985-03-27 |
Publications (1)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JPS61161639U true JPS61161639U (ja) | 1986-10-07 |
Family
ID=30556647
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP4424585U Pending JPS61161639U (ja) | 1985-03-27 | 1985-03-27 |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
JP (1) | JPS61161639U (ja) |
-
1985
- 1985-03-27 JP JP4424585U patent/JPS61161639U/ja active Pending