JPS6013786B2 - 多結晶フエライトの精密研摩方法 - Google Patents

多結晶フエライトの精密研摩方法

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JPS6013786B2
JPS6013786B2 JP56017249A JP1724981A JPS6013786B2 JP S6013786 B2 JPS6013786 B2 JP S6013786B2 JP 56017249 A JP56017249 A JP 56017249A JP 1724981 A JP1724981 A JP 1724981A JP S6013786 B2 JPS6013786 B2 JP S6013786B2
Authority
JP
Japan
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polishing
polycrystalline ferrite
polishing method
fine powder
polycrystalline
Prior art date
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Expired
Application number
JP56017249A
Other languages
English (en)
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JPS57132961A (en
Inventor
俊朗 和田
義昭 勝山
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Proterial Ltd
Original Assignee
Sumitomo Special Metals Co Ltd
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Publication date
Application filed by Sumitomo Special Metals Co Ltd filed Critical Sumitomo Special Metals Co Ltd
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Publication of JPS6013786B2 publication Critical patent/JPS6013786B2/ja
Expired legal-status Critical Current

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    • BPERFORMING OPERATIONS; TRANSPORTING
    • B24GRINDING; POLISHING
    • B24BMACHINES, DEVICES, OR PROCESSES FOR GRINDING OR POLISHING; DRESSING OR CONDITIONING OF ABRADING SURFACES; FEEDING OF GRINDING, POLISHING, OR LAPPING AGENTS
    • B24B1/00Processes of grinding or polishing; Use of auxiliary equipment in connection with such processes

Landscapes

  • Engineering & Computer Science (AREA)
  • Mechanical Engineering (AREA)
  • Finish Polishing, Edge Sharpening, And Grinding By Specific Grinding Devices (AREA)

Description

【発明の詳細な説明】 この発明は、多結晶フェライト材料の表面を精密平面に
加工する精密研摩方法に関する。
磁気ヘッド用材料としてパーマロィ、フェライト、セン
ダスト等が用いられ、磁気特性、耐摩耗性、精密加工性
等の点からそれぞれ特長があり、記録波長、メディアと
の関係、磁気ヘッドの用途によって使い分けられている
また、オーディオ用、ビデオ用およびコンピューター用
等の磁気ヘッドは磁気記録密度の向上が求められ、この
ためICテクノロジーを用いた製造方法による磁気ヘッ
ドが最適と考えられている。
例えば、薄膜ヘッド用の基板には、メタルよりもフェラ
イトが通しており、単結晶よりも安価な多結晶フェライ
トを用いるのが最も有効とされている。
かかる基板はその坂上に磁気回路を構成する磁性材料及
び非磁性材料あるいは磁界検出用のL素子等をメッキ、
蒸着、スパッタ一等で形成するため、基板表面の平滑性
およびフェライト磁性基板の磁気特性を向上させる必要
から無歪の加工が要求される。
これまでの研摩方法としてはダイヤモンドを砥粒とする
機械研摩が多用されてきた。
さらにメカノケミカル研摩方法によって化学的な歪取り
加工が可能となり、単結晶材料の研摩にSi02の微細
粉末を使用したメカノケミカル研摩が適用されている。
しかし、多結晶材料の場合は当然結晶方位による化学的
浸蝕速度がそれぞれ異なるため、このメカノケミカル研
摩の適用は困難となり、一般的な加工条件では必ず結晶
段差が発生し、目的に合致しないと考えられる。
また、多結晶材料の超精密平面を高能率で得るためには
、さらにパウダーの性状等が限定されてくる。この発明
は多結晶フェライト素材を精密平面に加工する精密研摩
方法を提案するものである。
すなわちこの発明はかかるメカノケミカル研摩において
、一般に大きな結晶段差が発生し不適当と考えられてい
るMgOパウダーを使用した研摩方法であるが、粒径が
0.001〜0.05仏mのMg0微粉末を純水中に懸
濁させた液を用い多結晶フェラィト素材をポリッシュす
ることによって精密平面を得ることができる。詳しく説
明すると、所定材質からなるポリシャーをMg○微粉末
の純水中懸濁液中で回転可能に構成し、このポリシャー
表面に被研摩材料を拘持した回転部材を所定荷重をかけ
て被研摩材料を当接させ、これらを回転させ液中でポリ
ツシュするものである。
この方法によって多結晶フェライト素材を精密平面に加
工することができる。ポリシャー材質、その回転数等は
適宜選定すればよい。さらにM奴微粉末の純水中懸濁液
をアルカリ性領域で使用すると加工能率が向上する。ま
た、Mgq微粉末量を純水に懸濁させて、0.5〜20
Voそ%とすることによって加工能率が向上する。
次にMg○微粉末の性状について説明すると、Mg○微
粉末の12吸着量が40〜12仇hg′gの範囲にある
と、化学的浸蝕速度が多結晶フェライトのどの結晶方位
においても一致するため、結晶段差も含めて表面粗さが
30A以下の良好な表面状態が得られる。
ここでL吸着量とはMg0微粉末のボアを含めて表面積
と表面吸着力を測定したもので、12吸着量の小さい方
が粒径が球状に整っている。
またその測定方法はJISK6221に規定されるゴム
用カーボンブラックのよう素吸着量試験方法に準じたも
のである。Mg0微粉末12吸着量が40mg′g未満
では結晶異方性による加工段差が発生し、ポリッシュ時
の加圧力、ポリシャーの材質、回転数を変えても極めて
良い結果は得られない。
また12吸着力が12瓜hg/gを超える場合には該懸
濁液に加工性がほとんどなく、量産加工には適用できな
い。以下に具体的な実施例によってこの発明方法を説明
する。
まず、Mgq散粉末に粒径が100Aで12吸着量が7
8hg′gのものを使用して、純水に5voク%となる
よう懸濁させて研摩液とした。
ポリシャーには、クロス、Sn−板を使用し4比pmの
回転数で回転させ、被研摩物のMn−Zn多結晶フェラ
イト素材に0.3k9/地の荷重をかけ先の研摩液中で
ポリツシユした。その結果、表面粗さが30△以下で結
晶段差は20Aの極めて良好な精密平面が得られ、加工
能率も良好であった。
次に、Mgq微粉末に粒径100Aで12吸着量が22
mg/gと129hg′gの2種類を用い、純水にそれ
ぞれ5vol%となるよう懸濁させ研摩液とした。
ポリシャーには、Sn、クロスを使用し4仇pmの回転
数で回転させ、被研摩物のMn−Zn多結晶フェライト
に0.5k9′地の荷重をかけ上記の2種の研摩液中で
それぞれポリツシユした。その結果、12吸着量が2狐
g′gのMg0微粉末を用いた研摩液の場合は、表面粗
さ50A以上結晶段差200A以上であり、結晶段差が
大きくなった。
また、12吸着量が129mg/gの場合は、表面粗さ
50△以上、結晶段差150△以上であったが、加工能
率が非常に低下した。以上に詳述したように、従来多結
晶フェライト素材のメカノケミカル研摩に不適とされて
いたMg○微粉末を、上述した種々の特定の条件である
いは種々条件をそれぞれ加重してポリツシュすることに
よって、種々の精度の精密平面を有した多結晶フェライ
ト素材を得ることができる。

Claims (1)

    【特許請求の範囲】
  1. 1 多結晶フエライト素材を、粒径0.001μm〜0
    .05μmで1_2吸着量40mg/g〜120mg/
    gの性質を有するMgO微粉末を0.5vol%〜20
    vol%となるように純水中に懸濁させた懸濁液を用い
    、アルカリ性領域でポリツシユすることを特徴とする多
    結晶フエライトの精密研摩方法。
JP56017249A 1981-02-06 1981-02-06 多結晶フエライトの精密研摩方法 Expired JPS6013786B2 (ja)

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JPS57132961A JPS57132961A (en) 1982-08-17
JPS6013786B2 true JPS6013786B2 (ja) 1985-04-09

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Cited By (3)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPH0346549Y2 (ja) * 1985-10-28 1991-10-01
JPH0479484U (ja) * 1990-11-22 1992-07-10
JPH0536304Y2 (ja) * 1986-12-17 1993-09-14

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* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPH0346549Y2 (ja) * 1985-10-28 1991-10-01
JPH0536304Y2 (ja) * 1986-12-17 1993-09-14
JPH0479484U (ja) * 1990-11-22 1992-07-10

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