JPS60129603A - 圧延材の幅方向位置検出装置 - Google Patents
圧延材の幅方向位置検出装置Info
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- JPS60129603A JPS60129603A JP58238540A JP23854083A JPS60129603A JP S60129603 A JPS60129603 A JP S60129603A JP 58238540 A JP58238540 A JP 58238540A JP 23854083 A JP23854083 A JP 23854083A JP S60129603 A JPS60129603 A JP S60129603A
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- G01B11/02—Measuring arrangements characterised by the use of optical techniques for measuring length, width or thickness
- G01B11/04—Measuring arrangements characterised by the use of optical techniques for measuring length, width or thickness specially adapted for measuring length or width of objects while moving
- G01B11/046—Measuring arrangements characterised by the use of optical techniques for measuring length, width or thickness specially adapted for measuring length or width of objects while moving for measuring width
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Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
、本発明は１．熱間圧延−備や、連鋳ｉＩＱ備等にお（
Ｊ、る、圧延材、の幅、方向位置検出１Ａ１置に関する
。
Ｊ、る、圧延材、の幅、方向位置検出１Ａ１置に関する
。
、、圧延、又、は連鋳、加工では、製品歩留、りを向上
するうえで精密な板幅管理が望まれる。特に熱間圧延の
場合は、圧延機で水平圧下するために圧延材に幅広がり
が生じるが、これを放置したよ、ま圧延を繰返すと、製
品板幅が設定値よりも極めて大きいものとなり、後工程
のサイドトリミング等で切捨てる部分が増大し、歩留り
の低下を招来する。
するうえで精密な板幅管理が望まれる。特に熱間圧延の
場合は、圧延機で水平圧下するために圧延材に幅広がり
が生じるが、これを放置したよ、ま圧延を繰返すと、製
品板幅が設定値よりも極めて大きいものとなり、後工程
のサイドトリミング等で切捨てる部分が増大し、歩留り
の低下を招来する。
一方、ジングルスタンドにお１）るリバース圧延、連続
スタンドにおける先後端部通過時等の無張力圧延時にお
いては、蛇行が生じ易いため、圧延材の蛇行量を検出（
）て、左右の圧下装置のレベル調整を行なう必要がある
。ところが、従来の圧延荷重差１５．１いて蛇行を検出
して制御する方式では、圧延材の端折れによるＯＮ ｆ
’ｉｌｌ ２枚噛みゃ先後端の不規則形状部の圧延時に
発生する圧延荷重差等を蛇行現象ど６判断し、圧下レベ
ル調整を狂わし、却、、って圧延作業を中呼させる等の
致命的な欠陥があった。
スタンドにおける先後端部通過時等の無張力圧延時にお
いては、蛇行が生じ易いため、圧延材の蛇行量を検出（
）て、左右の圧下装置のレベル調整を行なう必要がある
。ところが、従来の圧延荷重差１５．１いて蛇行を検出
して制御する方式では、圧延材の端折れによるＯＮ ｆ
’ｉｌｌ ２枚噛みゃ先後端の不規則形状部の圧延時に
発生する圧延荷重差等を蛇行現象ど６判断し、圧下レベ
ル調整を狂わし、却、、って圧延作業を中呼させる等の
致命的な欠陥があった。
そこで、最近で畔、熱問圧廷材、連鋳材等に加熱金属塊
の板幅、或は蛇行等を高精度で制御することが望まれ１
．ぞの基になる板幅或は蛇行等の検出手段としても光学
的幅方向位置検出器が開発されている。この装置は第１
図に示す測定原坤に基いている。
の板幅、或は蛇行等を高精度で制御することが望まれ１
．ぞの基になる板幅或は蛇行等の検出手段としても光学
的幅方向位置検出器が開発されている。この装置は第１
図に示す測定原坤に基いている。
すなわち、圧延材１の下方から投光器２、により圧延材
１を投光し、上方、つまり圧延材１の表面方向部位に設
置フた受光器３によって、圧延材１に遮蔽されない部分
の受光量を測定し、板幅を検出するものである。受光器
３には、光電素子（フオトダイオード）を利用したもの
、テレビカメラ弐胤像管を利用したもの等があるが、以
下、光電素子を利用したものについて説明する。テレビ
カメラ式１ｌｉ１１！Ｊ！管を用いた場合も原理的には
変らない。光電素子５は投光器２と平行に、複数個直線
状に配列しく個数中位として一般に［ビット」を用いる
）、レンズ６を通して集光した像の受光量に比例した電
気信号７を発するようにしている。この受光量を所定の
変換器により一定レベルでスレッシュホールドすること
により、電気信号をオン、オフ２種類の同期信＠８に変
換する。１ビット当りの集光距離はレンズ６の集光角ｔ
α２α（又は集光範囲Ｌ）及び被測定物としての圧延材
１とレンズ６との間の距離Ｈによって定まるので、全光
電素子数をＮビットとすると、板幅Ｂは次の式でめるこ
とができる。
１を投光し、上方、つまり圧延材１の表面方向部位に設
置フた受光器３によって、圧延材１に遮蔽されない部分
の受光量を測定し、板幅を検出するものである。受光器
３には、光電素子（フオトダイオード）を利用したもの
、テレビカメラ弐胤像管を利用したもの等があるが、以
下、光電素子を利用したものについて説明する。テレビ
カメラ式１ｌｉ１１！Ｊ！管を用いた場合も原理的には
変らない。光電素子５は投光器２と平行に、複数個直線
状に配列しく個数中位として一般に［ビット」を用いる
）、レンズ６を通して集光した像の受光量に比例した電
気信号７を発するようにしている。この受光量を所定の
変換器により一定レベルでスレッシュホールドすること
により、電気信号をオン、オフ２種類の同期信＠８に変
換する。１ビット当りの集光距離はレンズ６の集光角ｔ
α２α（又は集光範囲Ｌ）及び被測定物としての圧延材
１とレンズ６との間の距離Ｈによって定まるので、全光
電素子数をＮビットとすると、板幅Ｂは次の式でめるこ
とができる。
５＝ｌ−ｘ （Ｎ −（Ｎｌ −１Ｎ２ ） ） ／Ｎ
＝２ｔ−１ｔａｎαｘ （Ｎ −（Ｎｌ ＋Ｎ２ ＞
）／Ｎ ・・曲（ｉ）而して、このような板幅検出手段
を圧延材等の蛇行検出に適用することも考えられ、既に
一部では実施されているが、特に熱間圧延では圧延材自
体が８００℃前後の高温であるため、第１図に示す投光
器２を廃して圧延材自体の光を検知する方式が有効であ
る。この場合の原理を第２図により説明覆ると、圧延材
１の左右両側、すなわち、ワークサイドとドライブサイ
ドの夫々に受光器９．１０を設け、該受光器９．１０に
より圧延材１の光を検知するようにする。検知峙には受
光素子１１．１２の各ビット毎に集光が行われ、各ピッ
］−毎に集光された光の強さに比例する電圧信号が発生
ずる。例えば受光索子１１で検出された電圧と受光素子
１１の各ビットとの関係を図示するど第３図に承りよう
になり、電圧差が発生し始めた位置が圧延材１のワーク
サイド側端部として検知される。第３図において、ｔｓ
は夫々の受光素子１１．１２の全ピッ］への走査に要す
る走査時間、■は圧延材幅端光量差を表わす電気信号で
ある。
＝２ｔ−１ｔａｎαｘ （Ｎ −（Ｎｌ ＋Ｎ２ ＞
）／Ｎ ・・曲（ｉ）而して、このような板幅検出手段
を圧延材等の蛇行検出に適用することも考えられ、既に
一部では実施されているが、特に熱間圧延では圧延材自
体が８００℃前後の高温であるため、第１図に示す投光
器２を廃して圧延材自体の光を検知する方式が有効であ
る。この場合の原理を第２図により説明覆ると、圧延材
１の左右両側、すなわち、ワークサイドとドライブサイ
ドの夫々に受光器９．１０を設け、該受光器９．１０に
より圧延材１の光を検知するようにする。検知峙には受
光素子１１．１２の各ビット毎に集光が行われ、各ピッ
］−毎に集光された光の強さに比例する電圧信号が発生
ずる。例えば受光索子１１で検出された電圧と受光素子
１１の各ビットとの関係を図示するど第３図に承りよう
になり、電圧差が発生し始めた位置が圧延材１のワーク
サイド側端部として検知される。第３図において、ｔｓ
は夫々の受光素子１１．１２の全ピッ］への走査に要す
る走査時間、■は圧延材幅端光量差を表わす電気信号で
ある。
と□ころで゛、一般的には圧延材の種類によって温度□
が異なるため、第２図に示す受光器９，１Ｏへ入る光量
に温度にＪ：る差が生じる。すなわち、温度の高い圧延
材で走査時間（Ｓを大きくすると、受光素子１ｊ、１２
への入光時間が長くなり、圧延材か□ら発せられローラ
テーブル等に反射した弱い光□も多量に受光素子１１
’＋ １’２に受光される結果、第４図のイに示すよう
に、信号Ｖが圧延材１から離れた位置で急激に立上り、
□幅端部あ検出精度が悪化する。又、逆に走査時間ｔｓ
が短かすぎると、受光素子１１．１２の各ビットへの入
光時間が短かくなり光□が十分に受光素’？’１１゜１
２に□受光されな゛い結果、゛第４図の口に示すように
信゛号Ｖの）レベルが低下し、板幅端部検出の信号が、
基準となるスしツシュレベルＶＬに達せず、検出が不可
能となる虞れがある。従って、走査時間ｉｓを自動的に
コントロールし、受光５− 素子１１．１２に受光される光量を常に一定に保持し、
信号ｖを第４図のハに示すように調節することが必要ど
なる。
が異なるため、第２図に示す受光器９，１Ｏへ入る光量
に温度にＪ：る差が生じる。すなわち、温度の高い圧延
材で走査時間（Ｓを大きくすると、受光素子１ｊ、１２
への入光時間が長くなり、圧延材か□ら発せられローラ
テーブル等に反射した弱い光□も多量に受光素子１１
’＋ １’２に受光される結果、第４図のイに示すよう
に、信号Ｖが圧延材１から離れた位置で急激に立上り、
□幅端部あ検出精度が悪化する。又、逆に走査時間ｔｓ
が短かすぎると、受光素子１１．１２の各ビットへの入
光時間が短かくなり光□が十分に受光素’？’１１゜１
２に□受光されな゛い結果、゛第４図の口に示すように
信゛号Ｖの）レベルが低下し、板幅端部検出の信号が、
基準となるスしツシュレベルＶＬに達せず、検出が不可
能となる虞れがある。従って、走査時間ｉｓを自動的に
コントロールし、受光５− 素子１１．１２に受光される光量を常に一定に保持し、
信号ｖを第４図のハに示すように調節することが必要ど
なる。
本発明は上記観点に鑑み、温度の高い加熱金属塊の幅端
部を投光器を使用することなく加熱金属塊から放射され
る光を利用して正確にめるＪ：うにすることを目的とし
てなしたものである。
部を投光器を使用することなく加熱金属塊から放射され
る光を利用して正確にめるＪ：うにすることを目的とし
てなしたものである。
本発明によれば、タイミングパルス発生装置によって、
金属塊幅方向端部を検出する受光器の走査周期を、別に
設けた金属塊の光量を検出する受光器からの信号をもと
に□変更し得るようにし、金属塊幅方向端部の光ｉを測
定する受光器に入る光量を略一定に保持させている。従
っ□て、金属塊幅方向の位置を正確に検出することがで
きる。
金属塊幅方向端部を検出する受光器の走査周期を、別に
設けた金属塊の光量を検出する受光器からの信号をもと
に□変更し得るようにし、金属塊幅方向端部の光ｉを測
定する受光器に入る光量を略一定に保持させている。従
っ□て、金属塊幅方向の位置を正確に検出することがで
きる。
以下、本発明の実施例を添付図面を参照しつつ説明する
。
。
第５図は本発明の一実施例を示し、ワークサイドの受光
器９とドライブサイドの受光器１Ｏと−〇− の間に、圧延材１の幅方向の所定の位置の光量を検出し
得るようにした受光器１３を配設し、受光器９，１０．
１３で検出した信号を演算制御装置１４に送り得るよう
にし、演算制御装置１４で例えば圧延材１の蛇行ωを演
綽し、その信号をもとに圧延材１の蛇行制御を行い得る
ようにする。
器９とドライブサイドの受光器１Ｏと−〇− の間に、圧延材１の幅方向の所定の位置の光量を検出し
得るようにした受光器１３を配設し、受光器９，１０．
１３で検出した信号を演算制御装置１４に送り得るよう
にし、演算制御装置１４で例えば圧延材１の蛇行ωを演
綽し、その信号をもとに圧延材１の蛇行制御を行い得る
ようにする。
斯かる装置に使用されるタイミング制御系統の一例を第
６図により説明すると、図中１５．１６は受光器９，１
０からの信号を増幅するアンプ、１７゜１８はアンプ１
５．１６から送られて来た信号をスレッシコレベルと比
較し、Ａン・オフ２種類の信号に変換する回路、１９．
２０はバッファアンプ、２１は受光器１３からの信号を
もとに圧延材１からの光量に比例してパルスを発生させ
る変換回路、２２は変換回路２１からの信号をカウント
し、受光器９．１０の走査時間（Ｓを変更し、該走査時
間ｔｓに対応して受光器９，１０の光電素子の各ビット
が順次開閉されるタイミングを指令するためのタイミン
グパルス発生回路である。
６図により説明すると、図中１５．１６は受光器９，１
０からの信号を増幅するアンプ、１７゜１８はアンプ１
５．１６から送られて来た信号をスレッシコレベルと比
較し、Ａン・オフ２種類の信号に変換する回路、１９．
２０はバッファアンプ、２１は受光器１３からの信号を
もとに圧延材１からの光量に比例してパルスを発生させ
る変換回路、２２は変換回路２１からの信号をカウント
し、受光器９．１０の走査時間（Ｓを変更し、該走査時
間ｔｓに対応して受光器９，１０の光電素子の各ビット
が順次開閉されるタイミングを指令するためのタイミン
グパルス発生回路である。
上記装置により所定の制御を行う場合には、受光器１３
で検出された圧延材１の光量に比例したパルス列が変換
回路２１において発生され、その速さの信号がタイミン
グパルス発生回路２２に送られカラン１−され、該パル
ス発生回路２２において、そのカウント値が幅方向に並
んだ受光素子１１．１２の総数と一致したとき、受光器
９．１０の一走査時間が終了する。このとき同時に、タ
イミングパルスが指令信号として受光器９．１０に送ら
れ、受光器９，１０の光電素子１１．１２の各ピッ１〜
がタイミングパルスにより順次開閉し１．圧延材１幅端
部の検出−ｂ５行われる。圧延材１の渇１αが変れば、
受光器１３へ入力される光量も変わるので、走査時間【
Ｓも変り、タイミングパルス発生回路２２から受光器９
．１０に発せられるタイミングパルスの時間間隔が修正
される。従って圧延材１の場度に応じ最適な光量で圧延
材１幅端部の検出が行われる。
で検出された圧延材１の光量に比例したパルス列が変換
回路２１において発生され、その速さの信号がタイミン
グパルス発生回路２２に送られカラン１−され、該パル
ス発生回路２２において、そのカウント値が幅方向に並
んだ受光素子１１．１２の総数と一致したとき、受光器
９．１０の一走査時間が終了する。このとき同時に、タ
イミングパルスが指令信号として受光器９．１０に送ら
れ、受光器９，１０の光電素子１１．１２の各ピッ１〜
がタイミングパルスにより順次開閉し１．圧延材１幅端
部の検出−ｂ５行われる。圧延材１の渇１αが変れば、
受光器１３へ入力される光量も変わるので、走査時間【
Ｓも変り、タイミングパルス発生回路２２から受光器９
．１０に発せられるタイミングパルスの時間間隔が修正
される。従って圧延材１の場度に応じ最適な光量で圧延
材１幅端部の検出が行われる。
例＆ば、上記信号をもとに圧延材１の蛇行制御を行う場
合には次のＪ：うに行う。、すなわち第２図に示す光電
素子１１．１２のオフピット数、換言すればスレッシコ
レベルより低い光量を受けた光電素子のビット数をＮ
＋’ ＋ Ｎ ２’とし、１ビツトに相当する圧延材の
変位量をＳ、圧延材１の蛇行量をΔＸとすると、次式に
より蛇行量Ａｘがまる。
合には次のＪ：うに行う。、すなわち第２図に示す光電
素子１１．１２のオフピット数、換言すればスレッシコ
レベルより低い光量を受けた光電素子のビット数をＮ
＋’ ＋ Ｎ ２’とし、１ビツトに相当する圧延材の
変位量をＳ、圧延材１の蛇行量をΔＸとすると、次式に
より蛇行量Ａｘがまる。
ＪＩ＝（Ｎ＋’−Ｎ２’）ＸＳ／２ −−（ｆｉ）蛇行
量は演算制御装置１４でめられるが、蛇 。
量は演算制御装置１４でめられるが、蛇 。
打曲に対応した圧延機のロールギャップの修正量をめら
れ、その修正量に応じて、圧延機の油圧圧下シリ゛ンダ
に圧油が送られて左右のロールギャップバ変更され、而
して蛇行制御が行われる。
れ、その修正量に応じて、圧延機の油圧圧下シリ゛ンダ
に圧油が送られて左右のロールギャップバ変更され、而
して蛇行制御が行われる。
第７図Ｇ一本発□明の圧延材の幅方向位問検品装 ）置
を連続仕」二げ圧延に適゛用した例を示す。図中 。
を連続仕」二げ圧延に適゛用した例を示す。図中 。
Ｆｌ、Ｆ２．Ｆ３．・・・Ｆ６は圧延機で、走査周期制
御用の受光器１３は最も上流側に配置した圧延機Ｆ１の
入側に配設され、圧延材１幅端部検 □出用の受光器９
．１０は圧延機Ｆ４ 、Ｆｓ 、Ｆ６の夫々の入側に配
設されている。斯かる構成とすれば、各受光器９，１０
．１３で検出された信号をも９− どに演算制御装置１４で所定の信号処理が行われ、演算
制御装置１４から出された信号をもとに圧延１幾Ｆ４
、Ｆｓ 、Ｆ６の入側において蛇行制御が行われる。
御用の受光器１３は最も上流側に配置した圧延機Ｆ１の
入側に配設され、圧延材１幅端部検 □出用の受光器９
．１０は圧延機Ｆ４ 、Ｆｓ 、Ｆ６の夫々の入側に配
設されている。斯かる構成とすれば、各受光器９，１０
．１３で検出された信号をも９− どに演算制御装置１４で所定の信号処理が行われ、演算
制御装置１４から出された信号をもとに圧延１幾Ｆ４
、Ｆｓ 、Ｆ６の入側において蛇行制御が行われる。
なお、第５図の受光器１３は、圧延材の幅方向の温度分
布が大きく変わるときは、できるだけ圧延材の端部位四
近くに置くようにするか、又はワークサイド受光器、ド
ライブサイド受光器と幅方向に同位竺に、各々１台ずつ
自動ゲージアシトロール世受光器をストリップ進行方向
に対し゛複数段けてもよい。こうする、ことによって、
一定□用の受光器９，１０の検出精度がより面上するこ
とは、第６図についての説明から明らかであ、、、る。
布が大きく変わるときは、できるだけ圧延材の端部位四
近くに置くようにするか、又はワークサイド受光器、ド
ライブサイド受光器と幅方向に同位竺に、各々１台ずつ
自動ゲージアシトロール世受光器をストリップ進行方向
に対し゛複数段けてもよい。こうする、ことによって、
一定□用の受光器９，１０の検出精度がより面上するこ
とは、第６図についての説明から明らかであ、、、る。
゛ 同様に、第７図において、走査周期制御用の受光器
１３を、Ｆ４ 、Ｆｓ 、Ｆａに設置した圧延゛）□
材幅端部検出用受光器９，１Ｏ各々につ（・て１台ずつ
設けても良いことは言うまでもない。
１３を、Ｆ４ 、Ｆｓ 、Ｆａに設置した圧延゛）□
材幅端部検出用受光器９，１Ｏ各々につ（・て１台ずつ
設けても良いことは言うまでもない。
なお、本発明の実施例では蛇行制御を行う場合について
説明したが、圧延材の幅の演算にも１０− 適用可能なこと、その他、本発明の要旨を逸脱しない範
囲内で種々変更を加え得ること、等は勿論である。
説明したが、圧延材の幅の演算にも１０− 適用可能なこと、その他、本発明の要旨を逸脱しない範
囲内で種々変更を加え得ること、等は勿論である。
本発明の圧延材の幅方向位置検出装置によれば、金属塊
の温度に対応して受光器による金属塊幅端部検出の走査
時間を変更できるため、調醍に応じて最適のタイミング
で検出することが可能となり、従って金属塊の幅方向位
置の検出精度が向上するという優れた効果を秦し得る。
の温度に対応して受光器による金属塊幅端部検出の走査
時間を変更できるため、調醍に応じて最適のタイミング
で検出することが可能となり、従って金属塊の幅方向位
置の検出精度が向上するという優れた効果を秦し得る。
第１図は金属塊等の月利の幅方向位置を検出する原理の
説明図、第２図は加熱された金属塊の幅方面位１Ｎを検
出する原理の説明図、第３図は第２図で示す幅方向位置
検出の場合に幅端部に生じる光ω差を表わす信号と走査
時間どの関係を示すグラフ、第４図は加熱された金属塊
の幅端部を検出する場合に走査時間の変更による出り信
号の変化を示す説明図、第５図は本発明の圧延材の幅方
向位置検出装置の説明図、第６図は第５図に示す装置に
使用するタイミング制御系統の説明図、第７図は本発明
の圧延材の幅方向位置検出装置を連続仕上圧延機に適用
した一例についての説明図である。 図中１は圧延材、９，１Ｏは受光器、１１，１２１．１
受光素子、１３は受光器、１４は演算制御装置、１５゜
１６はアンプ、１７．１８は演算回路、 １９．２０は
バッファアンプ、２１は自動ゲージ制御回路、２２はタ
イミングパルス発生回路を示す。 特 許 出 願 人 石川島播磨重［業株式会ネ１ 特許出願人代理人 回 僻 仝 Ｑ 区 域
説明図、第２図は加熱された金属塊の幅方面位１Ｎを検
出する原理の説明図、第３図は第２図で示す幅方向位置
検出の場合に幅端部に生じる光ω差を表わす信号と走査
時間どの関係を示すグラフ、第４図は加熱された金属塊
の幅端部を検出する場合に走査時間の変更による出り信
号の変化を示す説明図、第５図は本発明の圧延材の幅方
向位置検出装置の説明図、第６図は第５図に示す装置に
使用するタイミング制御系統の説明図、第７図は本発明
の圧延材の幅方向位置検出装置を連続仕上圧延機に適用
した一例についての説明図である。 図中１は圧延材、９，１Ｏは受光器、１１，１２１．１
受光素子、１３は受光器、１４は演算制御装置、１５゜
１６はアンプ、１７．１８は演算回路、 １９．２０は
バッファアンプ、２１は自動ゲージ制御回路、２２はタ
イミングパルス発生回路を示す。 特 許 出 願 人 石川島播磨重［業株式会ネ１ 特許出願人代理人 回 僻 仝 Ｑ 区 域
Claims (1)
- 、、１） 加熱、された金属塊の幅方向端部に該金属塊
１ の領する光量を測定し、それをもとに金属塊、 の
端部、位置を検、出する受光器を設け、更に別の受光器
を幅方向位置に設け、該受光器から、の信号をもとに前
記金属塊幅方向、端部の受光、器、の走査周期を変、え
る装、置を、設けたことを特徴とする圧延材の幅方、面
位、置検出装置。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP58238540A JPS60129603A (ja) | 1983-12-16 | 1983-12-16 | 圧延材の幅方向位置検出装置 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP58238540A JPS60129603A (ja) | 1983-12-16 | 1983-12-16 | 圧延材の幅方向位置検出装置 |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPS60129603A true JPS60129603A (ja) | 1985-07-10 |
Family
ID=17031767
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP58238540A Pending JPS60129603A (ja) | 1983-12-16 | 1983-12-16 | 圧延材の幅方向位置検出装置 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPS60129603A (ja) |
Cited By (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPH0510730A (ja) * | 1991-07-05 | 1993-01-19 | Shimadzu Corp | 変位計 |
Citations (2)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS54128361A (en) * | 1978-03-28 | 1979-10-04 | Sumitomo Metal Ind | Optical measuring device |
| JPS5513524A (en) * | 1978-07-13 | 1980-01-30 | Denki Kogyo Kk | Medium wave antenna for multi-wave |
-
1983
- 1983-12-16 JP JP58238540A patent/JPS60129603A/ja active Pending
Patent Citations (2)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS54128361A (en) * | 1978-03-28 | 1979-10-04 | Sumitomo Metal Ind | Optical measuring device |
| JPS5513524A (en) * | 1978-07-13 | 1980-01-30 | Denki Kogyo Kk | Medium wave antenna for multi-wave |
Cited By (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPH0510730A (ja) * | 1991-07-05 | 1993-01-19 | Shimadzu Corp | 変位計 |
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