JPS60120233A - 流体の流れ内の粒子の存在を検出するためのモニタ装置 - Google Patents

流体の流れ内の粒子の存在を検出するためのモニタ装置

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JPS60120233A
JPS60120233A JP59234222A JP23422284A JPS60120233A JP S60120233 A JPS60120233 A JP S60120233A JP 59234222 A JP59234222 A JP 59234222A JP 23422284 A JP23422284 A JP 23422284A JP S60120233 A JPS60120233 A JP S60120233A
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JP
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particles
light
fluorescence
resin
optical fiber
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Application number
JP59234222A
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English (en)
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ウイリアム・アーサー・バイヤーズ
スチーブン・ハロルド・ピーターソン
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CBS Corp
Original Assignee
Westinghouse Electric Corp
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Publication date
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    • G01MEASURING; TESTING
    • G01NINVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
    • G01N21/00Investigating or analysing materials by the use of optical means, i.e. using sub-millimetre waves, infrared, visible or ultraviolet light
    • G01N21/62Systems in which the material investigated is excited whereby it emits light or causes a change in wavelength of the incident light
    • G01N21/63Systems in which the material investigated is excited whereby it emits light or causes a change in wavelength of the incident light optically excited
    • G01N21/64Fluorescence; Phosphorescence
    • GPHYSICS
    • G01MEASURING; TESTING
    • G01NINVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
    • G01N21/00Investigating or analysing materials by the use of optical means, i.e. using sub-millimetre waves, infrared, visible or ultraviolet light
    • G01N21/84Systems specially adapted for particular applications
    • G01N21/85Investigating moving fluids or granular solids
    • G01N21/8507Probe photometers, i.e. with optical measuring part dipped into fluid sample

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  • General Physics & Mathematics (AREA)
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  • Pathology (AREA)
  • Investigating, Analyzing Materials By Fluorescence Or Luminescence (AREA)
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Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。

Description

【発明の詳細な説明】 水中で連行されるイオン交換樹脂粒子の樹脂蛍光分析検
出用のオンiラインオプチカルファイバ光学系モニタ装
置に関する。このモニタ装置(以下単にモニタとも称す
る)は、特に、蒸気タービン発電プラントにおける復水
浄化器(ポリラシャ)および最終処理鉱物質除去装置か
らの樹脂の漏洩を検知するのに有用である。
発電設備においては,蒸気を発生するために極めて高い
純度の水が必要とされる。この純度は,通常鉱物質除去
装置,ポリラシャ(浄化装置)または脱イオン装置と一
般に称されているイオン交換系により達成されている。
有害な陰イオンおよび陽イオン物質は、イオン交換樹脂
を収容している容器に原水を通すことにより水から除去
される。深い床を有する流床系において、樹脂は小さい
球形のビード(直径/闘以下)の形態をとる。これらビ
ードは、通常,頂部および底部にスクリーンが張架され
ている大きなタンク内の床内に含有されている。
別法として、樹脂は,管状の濾過器に被覆された粉末の
形態をとることができる。
このような鉱物質除去系と関連して生ずる共通の問題は
樹脂の漏洩である。この漏洩は9機械的、物理的または
化学的作用により樹脂の粒子が小さい破片に破砕される
時に生じ、このような樹脂粒子破片は、樹脂を捕捉する
ように設計されているスクリーンおよび濾過器を通過し
てしまう。また漏洩は、濾過器やスクリーンに欠陥があ
ったりまたは動作が不適切である場合にも生じ得る。粒
子破片もしくは微粒子は、プラントの高温領域に搬送さ
れそこで分解して腐蝕性の化合物を形成する。陰イオン
および陽イオン交換樹脂は双方共に、200℃より高い
温度で分解して、気相および液相において非常に腐蝕性
が高いイオン生成物を発生する。
樹脂浸出の検出の重要性にも拘らず、この目的のための
計器化で利用し得る技術は殆んど開発されていない。今
日まで用いられているき思われる唯一の試みは、濾過器
による果状である。
この試みに関しては 7 Proceedings o
f the4t/Bt 工nternationl W
ater Conference JPittsbur
gh PA / ? II; 0、頁コ5θ−2,t4
1に掲載のS、 J、l1m1gθr他の論文「Pro
cedure for theMeasurement
 of Re5in Fragmemt Leakag
l :Preliminary Re5ults fr
om the Davis BeeseNuclear
 5tation Jに記述されている。この技術にお
いては、鉱物質除去装置の溶出液内に標本採取管を挿入
し、この管からの溶出液を、例えば0.73ミクロン孔
径を有する微孔フィルタを用いてp過を行なうと言う集
取プロシジャ−が用いられている。そこで濾過器を取外
して遠心分離管内で樹脂の容積を測定する。別法として
、濾過器もしくはフィルタに付いている微粒子を顕微鏡
検査で計数する。この種の方法では。
バッチベースでの情報しか得られない。また標本採取で
は正確な情報は得られず、それに用いられる技術は複雑
であり、しかも樹脂ではない粒状物質が妨害を惹起し得
る。
本発明の主たる目的は、樹脂の浸出もしくは漏洩のため
のモニタ装置を提供することにある。
概略的に述べて、本発明によれば、液体の流れ内の粒子
の存在を検出するためのモニタ装置において、光源と、
該光源から上記流体の流れ内に光を注入するように配置
された第1のオプチカルファイバ束を含むプローブ構造
とを備え、上記光源は上記粒子の蛍光発生を刺激するた
めの蛍光刺激光を発生するものであり、さらに、上記刺
激光により照射された流体内の上記蛍光発生粒子から放
出された蛍光を受けるように配置された検出器手段と、
上記検出器手段によって作動されて上記流体内の粒子の
存在を表わす信号を発生する信号発生手段とを含む流体
の流れ内の粒子の存在を検出するためのモニタ装置が提
案される。
本発明によるモニタ装置においては、水中のイオン交換
樹脂粒子濃度の連続的な測定が可能であり、樹脂の粒子
の大きさもしくは粒径を測定することができ、樹脂粒子
の種類、即ち陽イオン性であるかあるいは陰イオン性粒
子であるかを判別することができる。また1本発明のモ
ニタ装置は1発電プラントに設けられている鉱物質除去
装置の運転を制御するのに用いることができる。
本発明の一実施態様によれば、モニタ装置は。
蒸気タービン発電プラントのイオン交換系統のようなイ
オン交換系統から溶出液を受ける水流チャンネル内のイ
オン交換樹脂粒子の存在を検出する。このモニタ装置は
、幾つかの要素の組゛合せから構成される。そのうちの
第1の要素は。
水流チャンネル内の水の容積内に蛍光刺激光を注入する
ように配置された第1のオプチカルファイバ束を含むプ
ローブ手段である。モニタ装置はまた、好ましくは第2
のオプチカルファイバ束を含む検出器手段を有する。こ
の検出器手段は、水流チャンネル内の照明された容積を
通過する溶出液内の粒子から放出される蛍光を受けるよ
うに配置されている。さらに、モニタ装置は、上記第一
のオプチカルファイバ束から放出された蛍光を受けて作
動して、溶出液内の粒子の存在を表わす信号を発生する
ための手段を含む。
本発明の別の実施態様によれば、流体の流れ中における
蛍光物質の存在を検出する方法が提案される。この方法
は、成る容積の流体中に蛍光刺激光を注入し1次いで照
射された流体容積内に存在する粒子によって放出される
蛍光を検出する段階を含む。
以下、添付図面を参照して単なる例としての好ましい実
施例に関し説明するが、本発明はこの説明から一層明瞭
に理解されるであろう。
本発明の実施例は、定量分析を可能にする紫外線(UV
)−可視光分光の重要な特徴を基礎とするものである。
蛍光とは、成る種の分子を、高エネルギ(短かい波長)
の光により照射した後に該分子によって放出される光で
ある。蛍光現象の典型的な証例においては、蛍光発生分
子を高エネルギの短波長の光で照射すると該分子はこの
エネルギを吸収し、しかる後に長い波長の低エネルギの
蛍光として吸収したエネルギを再放出する。
陰イオンおよび陽イオン交換樹脂は双方共に。
上記のような蛍光発生性質を有する。これら樹脂の粒子
を蛍光刺激短波長光で照明または照射すると、樹脂の分
子はこの光を吸収して蛍光を放出する。
本発明においては、イオン交換系からの水性溶出液にお
けるイオン交換樹脂粒子の存在を選択的に検出するため
に上記の蛍光現象が利用される。このような溶出液は、
多くの異なった種類の粒子を含有し得るが、一般には、
蛍光発光性を有するのは樹脂の破片もしくは粒子だけで
あり、したがって1本発明の実施例によるモニタもしく
は監視装置はこのような樹脂の粒子の存在を選択的に検
出するものである。
蛍光測定は極めて敏感であるので1本発明の検出モニタ
は、非常に大きい感度で非常に低いレベルの樹脂粒子を
検出することができる。
さて、第1図を参照するに、参照数字10は。
塩化物の形態にある陽イオン交換樹脂を励起してそれに
より蛍光放出を刺激する光エネルギの波長をグラフで表
わす曲線を示す。また、放出される蛍光の波長は第7図
に曲線lコで示されている。
同様にして、参照数字/M’は水素の形態にある陰イオ
ン交換樹脂による蛍光放出を刺激する光の波長をグラフ
で表わす曲線を表わす。また、放出される蛍光の曲線は
曲線16で示されている。
これら2種の樹脂に対するスペクトルは、[FOC工M
ark I Spectrofluorimeter 
(蛍光分光計)」で得た。これら曲線を描くためのデー
タを得るのに、樹脂および水の混合物で部分的に満した
セルを用いた。このセルを、樹脂が吸収する波長で照射
した。
陽イオン交換樹脂は青の領域で蛍光発光し、他方、陰イ
オン交換樹脂は主として縁領域で蛍光発光する。これに
より、これら一つの異なった種類の樹脂を識別同定する
ことができる。しかしながら、スペクトルには相当な重
なり部分があり、そのために、単一の波長で2つの種類
の樹脂が同時に検出される可能性がある。
次に第2図を参照するに、この図には本発明の好ましい
実施例が示しである。モニタもしくは監視装置/8は、
パイプ、20を流れる溶出液内における樹脂粒子の存在
を検出するように取付けられている。なお、溶出液の流
れの方向は矢印で示しである。モニタは、溶出液内に蛍
光刺激光を注入するためのプローブ組立体と、放出され
た蛍光を検出するための手段と、放出された蛍光に応答
して検出器手段により作動されて、溶出液内の粒子の検
出を表わす信号を発生するための信号発生手段とを含む
プローブ組立体は、キセノンアーク灯、2コから構成さ
れている。キセノンアーク灯22に隣接して、10nm
のFWHM帯域を有するQ 00 nm干渉フィルタJ
lが配置されている。キセノンアーク灯2λから放出さ
れて干渉フィルタ、21を通る光を受けるようにオプチ
カルファイバ束コロが配置されている。このオプチカル
ファイバ束、26は、成る長さの保護管内に包入されて
いる。なお保護管は1図示を簡略にする意図から図面に
は示されていない。オプチカルファイバ束2Aを包入し
ている管は、該管ならびにオプチカルファイバ束、26
を水密密刺尊でパイプ、20に固定するフランジ取付は
部2gにまで延在している。
短かい長さの管30が、フランジ取付は部−gからパイ
プSOの内部に短かい距離だけ突出している。この管3
0のパイプ内の端は、シリカ窓もしくはウィンドウ(図
示せず)で終端している。オプチカルファイバ束26ば
、干渉フィルタ3ケに隣接するその下端部(第2図参照
)から、パイプ2θ内のシリカ窓で終端している上端部
まで7本の連続した長状物として延びている。
放出される蛍光を検出するための手段は、第一のオプチ
カルファイバ束32から構成されており、この第2のオ
プチカルファイバ束の上端も上記の短かい長さの管30
の上端におけるシリカ窓で終端している。第一のオプチ
カルファイバ束を保護するために、このファイバ束も保
護管(図示せず)内に包入することができる。
陰イオンおよび陽イオン交換樹脂粒子をほぼ同等の感度
で検出することを可能にするために、オプチカルファイ
バ束3.2の下端部に、該オプチカルファイバ束によっ
て伝達される傾向を遮ぎるように/θnm通過帯域のI
I ? Onm干渉フィルタ、?lIが配置されている
。該フィルタ3弘を通る光を受けるようにホトダイオー
ド36がフィルタ3ケに隣接して配置されている。この
ホトダイオード36は、線路3Sを介して、積分増幅器
りθに接続されている。増幅器tioの出力は、線路l
I2を介して記録装置II弘または他の装置に伝送され
る。
上に述べたaつの干渉フィルタ、24!および3ダは、
モニタを他の蛍光刺激光を注入したり放出される蛍光の
他の波長に応答するのに用いることができるように、そ
れぞれ他の光学フィルタと容易に交換可能なように取付
けられている。
使用に当って、蒸気発電プラントの鉱物質除去装置内の
混成イオン交換樹脂床からパイプ−〇を通って流れる溶
出液内の微粒子を検出するためにアーク灯J、2を付勢
する。この広帯域光源からの光は、フィルタ2りを通り
オプチカルファイバ束に沿って伝播する。この光は、オ
プチカルファイバ束の上端から溶出液内に指向され、そ
こで溶出液流のほぼ円錐形の容積部分り6を照射する。
照射される溶出液の円錐形状の溶植部分り6は、存在し
得る複数の樹脂の微粒子が一度に照明もしくは照射され
るように充分な大きさとすべきである。円錐形の溶積部
分ダを内の微粒子は照射されると蛍光を放出する。放出
された蛍光の一部は、第一のオプチカルファイバ束を収
容している短かい長さの管30の上端に入射する。この
光は、オプチカルファイバ束3λにより干渉フィルタ3
ダを介して伝送されてホトダイオード36を付活する。
積分増幅器グ。はホトダイオード3tからの出力信号を
受けて、該信号を平滑化する。・特に低い微粒子の漏洩
量においては、この信号は不規則になり得る。積分増幅
器ダ0からの信号は、ホトダイオード36に伝送される
蛍光の強さに比例し、したがってまた、パイプ20を流
れる溶出液内の樹脂微粒子の濃度に比例する。
積分増幅器110によって発生される信号は。
記録装置に設けられているメータもしくは計器++に伝
送されて表示することができる。大きな有用性を確保す
るためlこ、計器は、校正のための零および勾配調整能
力を一具備すべきである。
所望ならば、このようにして発生された出力信号を図示
のように記録装置の計器ばかりではなくまたデータ捕捉
システムまたは鉱物質除去装置コントローラに供給する
ことができる。
このようにして、第一図に極めて簡略に示すように、記
録装置の計器lIりからの信号を線路lIgを介して伝
送し、溶出液管路20に接続されてポンプSOを備える
装置を制御することができる。このポンプSOは、管路
コθから溶出液を適当な配管系!2を介し濾過器5ケの
上流側の位置に再循環するために接続することができ、
この構成によれば溶出液は管路20に入る前lζ濾過器
St、tを通らなければならない。したがって、モニタ
によって発生される信号は、p過器slIの濾過被覆の
再生後、例えば漏洩量が予め定められたレベル以下に潜
るまで、鉱物質除去装置内の溶出液の再循環を誘起する
のに用いることができる。また1発生された信号を用い
て、樹脂漏洩量を最小にするように、鉱物質除去装置を
経る流量を最適化することもできよう。
このモニタ装置は、相当大きな汎用性を有する。例えば
、干渉フィルタ3りを、若干大きいまたは小さい波長の
他のフィルタと交換して。
それにより、樹脂微粒子を、陰イオン微粒子か或いは陽
イオン微粒子かあるいはまたその混合物であるかに関し
識別判定することができる。
陰イオン交換樹脂の漏洩は、例えは、長波長のフィルタ
を用いて信号が増加することにより表示される。
次に、第3図および第4図に示した本発明の変形実施例
に関して説明する。なおこれらの図に示した本発明の変
形実施例の多くの要素は、第2図に示した実施例の要素
と同じである。即ち、キセノンアーク灯、221が干渉
フィルタ、2り1に隣接して配置され、この干渉フィル
タを通った放射はオプチカルファイバ束、26′に入る
。オプチカルファイバ束はフランジ取付は部21f’に
より接続されており、パイプもしくは管路コθ1を流れ
る溶出液流内に突出したプローブヘッドStを備えてい
る。このプローブヘッド36は。
第9図に拡大尺で示すように、プローブの視野が溶出液
流の非常に小さい容積に制限され、それにより単一の個
々の樹脂粒子を計数することができるような仕方で構成
され配列されている。
即ち、プローブヘッドS6にはハウジング3gが設けら
れており、このハウジングは上端部で二股に分岐し、そ
れにより光入力アーム60と光出力アームA−との間に
開口もしくは空間が形成されている。
光入力アーム60の上端は、窓tlIによって閉ざされ
ている。蛍光刺激光を搬送するオプチカルファイバ束、
261の端は窓6ダの下方に短かい間隔で配置されてい
る。
光出力アーム62には、はぼ水平に延びるアーム6Aが
形成されている。このアームの端は、蛍光に対して透明
な窓6gで閉ざされている。
窓tgはミラー2Qを含む光学系の一部をなす。
該ミラー70は、窓6gから光を受けて第2のオプチカ
ルファイバ束3コ1の上端に指向するように取伺けられ
ている。
第一のオプチカルファイバ束3.21の下端の下方に分
散プリズム7.2が取付けられておって、図示の矢印で
示すように、該分散プリズムに入射する光を分割するよ
うに位置付けられている。
分散プリズム7.2の下方には、該分散プリズム7.2
からそれぞれ異なった波長の光を受ける位置に一対のホ
トダイオード741および76がそれぞれ配置されてい
る。
ホトダイオードの支援電子回路系には、一対のリード線
goおよびg、lによりそれぞれ上記一つのホトダイオ
ードに電気的に接続されている比較器78が設けられて
いる。この比較器7gは、線路S4Iを介してインバー
タgAに接続されている。線路glIは、線路ggを介
して、参照数字92で全体的に表わしたセレクタスイッ
チの1つの端子90に接続されている。インバータg6
の第一の端子は線路タグを介してセレクタスイッチ92
の第一の端子96に接続されている。該セレクタスイッ
チの第3の端子9gは線路100を介して+15ボルト
のDC電源に接続されている。セレクタスイッチの接極
子101は、線路101Iを介して複チャンネルパルス
振幅分析器106の1つの端子に接続されている。
λつのホトダイオードに接続されたリード線Sコおよび
troにはそれぞれ一対の抵抗器101および/10が
接続されている。これら抵抗器101およびiioの下
側の端子は相互接続されて、線路//2を介して加算増
幅器//’Iの1つの端子に接続されている。該加算増
幅器の他方の端子は線路//Aを介して複チャンネルパ
ルス振幅分析器/θ6の第一の端子に接続されている。
この分析器の第3の端子は線路//1を介して陰極線管
表示装置もしくはディスプレイ/20に接続されている
。この電子回路は。
CRT表示装置のスクリーン上に、モニタ装置によって
検出される所与の異なった大きさの粒子の総体数を表わ
す棒グラフに類似の表示が発生されるように設計するこ
とができる。
このモニタ装置においては、プローブのヘッドの視野は
1通過溶出液の極く僅かな容積に限られ、それにより単
一の個々の樹脂粒子を計数することができる。各樹脂粒
子は、その大きさに比例するピークを発生する。所与の
期間に亘るこのような微粒子の分布を記録して、図面に
示すように複チャンネルピーク振幅分析器iot。
を用い記録し表示することができる。計器は。
セレクタスイッチ?−の接極子io−の調節により、検
出された陰イオン微粒子、陽イオン微粒子あるいは全微
粒子を記録するように設定することができる。この目的
で、接極子101は3つの端子90.96または9gの
1つに動いて。
線路!OIIしたがってまた複チャンネルパルス振幅分
析器106の1つの端子に+/’Aボルトまたは一16
ボルトの電圧を印加する。+/jボルトの電圧で粒子の
計数が可能化され、他方−tSボルトの電圧で粒子の計
数が禁止される。
第3図および第を図に示した本発明の実施例において、
蛍光刺激光を溶出液流内に注入するプローブヘッド内の
要素は、スクリーン6jに形成されているスリットを介
して注入するのが普通である。このスクリーン6Sは、
オプチカルファイバ束コロ1の端と窓6ダとの間に介在
配置されている。スリットから出る光は、溶出液の流れ
の方向に対して平行な平面を有するほぼ平面状に配列さ
れた光線のリボンの形態をとる。
同様にして、窓6gを通る放出蛍光も、窓6Sとミラー
70との間に配置されているスクリーン69のスリット
を通る。このスリットの作用により、モニタの検出能力
は極く制限された容積に限定される。第9図に示した好
ましい実施例においては、入力放射とモニタされる放出
蛍光光線が互いにほぼ直角であるが、第一図に示すモニ
タの場合のようにこれら2つの光線は互いにほぼ平行と
することもできるし、あるいは別法として第9図に示し
た直角以外の成る角度で相対配置することができる。
本発明に従がって構成されるモニタは9本明細書で述べ
た用途に加えその他のい−ろいろな目的に用いることが
できる。例えば、第一図に示したプローブの別の用途と
して混合床樹脂モニタが挙げられる。樹脂床内に配置し
たプローブを用いて陰イオン−陽イオン樹脂分離度を測
定することができる。
以上1本発明を、水中のイオン交換樹脂粒子の濃度の連
続的な測定、樹脂粒子の大きさの測定および樹脂粒子の
種類の測定を行なうために蛍光分光およびオプチカルフ
ァイバ光学系の使用と関連して説明した。しかしながら
1本発明の技術を用いるモニタはまた。気相あるいは液
相を問わず、任意の種類の流体流中における刺激蛍光放
出可能な粒子の存在の測定にも用いることができる。本
発明に従がい構成された設備により行なわれるようなモ
ニタもしくは監視は。
例えば原子力発電プラントにおける蒸気の監視と関連し
て極めて大きな価値を有し得る。
本発明によるモニタ装置でのオプチカルファイバ光学系
の使用は、蒸気タービン発電プラントにおいて特に有利
である。このようなプラントにおける設備は、非常に大
きな振動に曝される。そしてこのような振動では慣用の
光学系は往々にして役に立たない。これに対してオプチ
カルファイバ光学系を用いれば、強い振動と関連する問
題の多くを回避もしくは除去することができる。その理
由は、オプチカルファイバ束に撓み性があるからである
。オプチカルファイバ束はそれ自身の保護のために適当
な被覆で保護するのが好ましい。このような被覆は、プ
ラスチック材料から形成されるが金属性であってもよい
以上本発明の好ましい実施例を参照して説明したが1本
発明はここに開示した実施例の細部に限定されるもので
ないと理解されたい。数多の可能な置換および変形が上
の詳細な説明中に既に示唆されており、さらに他の置換
や変形が当業者には容易に想到されるであろう。なおこ
のような置換および変形は5本発明の範囲に包摂される
ものであることを付記する。
【図面の簡単な説明】
第1図は、長波長の異なった帯域で光を放出(蛍光発生
)することにより波長帯域に亘る励起(蛍光刺激)光に
対し特定の樹脂粒子がどのように応答するかをグラフで
示す図、第一図は。 混合床イオン交換系から樹脂粒子漏洩を検出して濾過器
を介しての交換系からの溶出液の再循環量を制御するよ
うに措成された本発明の一実施例によるモニタ装置を示
す部分簡略図、第3図は、溶出液内の個々の粒子を検出
し1次いで粒子の大きさに比例する信号を発生して、個
々の粒子の計数ならびに粒径の評価を可能にする目的で
、大きな感度を有する本発明の他の実施分拡大図である
。 is・・モニタ装置、:lO・・パイプ1.2λ・拳キ
セノンアーク灯、コダ、3グ・拳干渉フィルタ1.2A
、31・・オプチカルファイバ束。 コ8 ・・フランジ取付は部1.70,3;2・e管。 36.7μ、76・−ホトダイオード、ダo−Φ積分増
幅器、IIt−・記録装置、ダ6・・容積部分、SO・
・ポンプ、3ダ・−濾過器% S6・・プローブヘッド
、!tg・−ハウジング、60・・先入カアーム、6コ
・・光出力アーム。 61I、/、g・・窓、A!;、49・・スクリーン。 66・争アーム、70”ミラー、72”−分散プリズム
、110,82・・リード線、7g”・比較器、S6・
・インバータ、タコ・・セレクタスイッチ、 102・
・接極子、 106・・複チャンネルパルス振幅分析器
、1011./10・・抵抗器、//’I・・加算増幅
器、 /20・・陰極線管表示装置。 波長 tnml FIG、 1

Claims (1)

    【特許請求の範囲】
  1. 液体の流れ内の粒子の存在を検出するためのモニタ装置
    において、光源と、該光源から前記流体の流れ内に光を
    注入するように配置された第1のオプチカルファイバ束
    を含むプローブ構造とを備え、前記光臨は、前記粒子の
    蛍光発生を刺激するための蛍光刺激光を発生するもので
    あり、前記刺激光により照射された流体内の前記蛍光発
    生粒子から放出された蛍光を受けるように配置された検
    出器手段と、前記検出器手段によって作動されて前記流
    体内の粒子の存在を表わす信号を発生ずる信号発生手段
    とを含む流体の流れ内の粒子の存在を検出するためのモ
    ニタ装置。
JP59234222A 1983-12-02 1984-11-29 流体の流れ内の粒子の存在を検出するためのモニタ装置 Pending JPS60120233A (ja)

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