JPS6011548Y2 - 分析装置用多重イオン源 - Google Patents

分析装置用多重イオン源

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JPS6011548Y2
JPS6011548Y2 JP11841982U JP11841982U JPS6011548Y2 JP S6011548 Y2 JPS6011548 Y2 JP S6011548Y2 JP 11841982 U JP11841982 U JP 11841982U JP 11841982 U JP11841982 U JP 11841982U JP S6011548 Y2 JPS6011548 Y2 JP S6011548Y2
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JP
Japan
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ion
ion source
optical system
moving mechanism
analyzer
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Expired
Application number
JP11841982U
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JPS5923151U (ja
Inventor
良治 高沢
昌弘 山本
孝 皆藤
卓郎 寺垣
Original Assignee
セイコーインスツルメンツ株式会社
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Publication date
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  • Analysing Materials By The Use Of Radiation (AREA)
  • Electron Sources, Ion Sources (AREA)
  • Electron Tubes For Measurement (AREA)

Description

【考案の詳細な説明】 この考案は分析装置用多重イオン源に関し、特に、■個
の装置により異種のイオン源を選択して用いることがで
きるようにするための新規な改良に関するものである。
従来、用いられていたこの種の装置においては、1個の
装置には1個のイオン源しか装着されていなかったため
に、試料の異種のイオンビームを照射する場合には、イ
オン源を交換して装着しなおさなければならず、手間が
大変であった。
この考案は以上の欠点をすみやかに除去するため極めて
効果的な手段を提供することを目的とするもので、特に
、異種の複数のイオン源をイオン光学系に対して摺動さ
せて切換えるようにした構成である。
以下、図面と共にこの考案による分析装置用多重イオン
源の好適な実施例について詳細に説明する。
図面において、符号1で示されるものは全体が箱型を回
転自在な試料台2を有する分析室であり、この分析室1
上には送りねじ部3を有する移動機構4が設けられると
共に、この移動機構4にはガスイオン源5および金属イ
オン源6とからなるイオン源部7が固定されている。
これらの各イオン源5および6は互いに間隔を設けて装
着されており、各イオン源5および6の発射口8には回
転送りねじ部9および10を備えた第1および第2バル
ブ11および12が設けられている。
さらに、前記イオン源部7と分析室1との間にはステン
レス輪が積層された構成からなるベローズ体13が設け
られ、このベローズ体13にヨリ前記分析室1上に固定
されたイオン光学系14を包囲していると共に、このベ
ローズ体13内は真空状態に保持されている。
このような構成において、この考案による分析装置用イ
オン源を作動させる場合について述べると、まず、移動
機構4の送りねじ部3を回転操作することによりイオン
源部7が矢印Aの方向に摺動し、一方のガスイオン源5
をイオン光学系14と軸合せし、第1バルブ11を開い
てガスイオンをイオン光学系14に送り、さらに他のイ
オンビームを送る場合には、移動機構4の送りねじ3を
操作して金属イオン源6をイオン光学系1とに軸合せす
る。
この考案による分析装置用多重イオン源は以上のような
構成と作用とを備えているため、1個の装置内において
、互いに異種の複数のイオン源を内蔵することができ、
各バルブによって互いに他のイオン源の影響を遮断する
ことができる。
又、ベローズ体により動作中においても真空領域を維持
することができる。
【図面の簡単な説明】
図面はこの考案による分析装置用多重イオン源を示す断
面図である。 1は分析室、5はガスイオン源、6は金属イオン源、1
1.12はバルブ、13はベローズ体、14はイオン光
学系である。

Claims (1)

    【実用新案登録請求の範囲】
  1. 試料台を有する分析室と、この分析室上に設けられた移
    動機構と、この移動機構上に保持され互いに異種のイオ
    ン源となる複数のイオン源と、各イオン源の発射口に設
    けられたバルブ手段と、前記分析室に固定されたイオン
    光学系と、前記各イオン源と分析室との間に設けられ前
    記イオン光学系を包囲するベローズ体とを備え、前記移
    動機構により各イオン源を移動させてイオン光学系に送
    られるイオンビームの種類を選択するように構成したこ
    とを特徴とする分析装置用多重イオン源。
JP11841982U 1982-08-04 1982-08-04 分析装置用多重イオン源 Expired JPS6011548Y2 (ja)

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JPS5923151U JPS5923151U (ja) 1984-02-13
JPS6011548Y2 true JPS6011548Y2 (ja) 1985-04-17

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