JPS6011423B2 - カソ−ド面清浄化手段を有するスパツタイオンポンプ - Google Patents

カソ−ド面清浄化手段を有するスパツタイオンポンプ

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Publication number
JPS6011423B2
JPS6011423B2 JP4640382A JP4640382A JPS6011423B2 JP S6011423 B2 JPS6011423 B2 JP S6011423B2 JP 4640382 A JP4640382 A JP 4640382A JP 4640382 A JP4640382 A JP 4640382A JP S6011423 B2 JPS6011423 B2 JP S6011423B2
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
casing
pump
surface cleaning
cleaning means
cathode surface
Prior art date
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Expired
Application number
JP4640382A
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English (en)
Other versions
JPS58164137A (ja
Inventor
宗治 小宮
信昭 八木
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Ulvac Inc
Original Assignee
Ulvac Inc
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Publication date
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Publication of JPS58164137A publication Critical patent/JPS58164137A/ja
Publication of JPS6011423B2 publication Critical patent/JPS6011423B2/ja
Expired legal-status Critical Current

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Classifications

    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01JELECTRIC DISCHARGE TUBES OR DISCHARGE LAMPS
    • H01J41/00Discharge tubes for measuring pressure of introduced gas or for detecting presence of gas; Discharge tubes for evacuation by diffusion of ions
    • H01J41/12Discharge tubes for evacuating by diffusion of ions, e.g. ion pumps, getter ion pumps

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  • Electron Tubes For Measurement (AREA)

Description

【発明の詳細な説明】 本発明はカソード面清浄化手段を有するスパッタイオン
ポンプに関する。
従来この種ポンプは磁場が掛けられたポンプケーシング
内に互に対向させて1対のカソードを設けると共に、そ
の中間に丸形その他の筒状のアノードを設けろを一般と
するもので、その排気速度は該ポンプを〜ガスその他の
希ガス中に於ける放電処理等により活性化された後には
通常の使用時に比べて約3倍に上昇するが、その排気速
度は使用時間の経過と共に低下して、再び通常使用時の
定常的な値に戻ってしまう不都合がある。
この排気速度の低下の原因は、ポンプのカソード面のイ
オン衝撃の比較的小さい領域が不純物ガス原子により次
第に覆われていくためであると考えられる。本発明はこ
うした不都合を解消したイオンポンプを提供するをその
目的としたもので、磁場が掛けられたポンプケーシング
内に、互に対向させて1対のカソードを設けると共にそ
の中間に丸形その他の筒状のアノードを設けるようにし
たものに於て、該アノードをメッシュ状に形成すると共
に該ポンプケーシング内にその外部からの通電により加
熱されるTiその他の活性金属からなるゲッターフイラ
メントを設け、さらに該ケーシングに〜ガスその他の希
ガスの導入管を設けてことを特徴とする。
本発明の実施例を図面につき説明すると、1は磁場が掛
けられたポンプケーシング、2は該ケーシング1内に互
に対向させて設けた1対のカソード、3は両カソード2
,2間に設けられた丸形その他のアノードを示し、該ア
ノード3はメッシュ状に形成される。
4は該ケーシング1内に設けたTiその他の活性金属か
らなるゲッターフラメントを示し、該フィラメント4は
該ケーシング1の外部から通電により加熱されるように
した。
5はふガスその他の希ガスをケーシング1内に導入する
導入管である。
尚、図示のものでは該ア/ード3をカソード方向の関口
を有するメッシュ状のアノード単体3aを複数個連らね
て構成するようにし、またゲッタ‐フィラメント4は該
ケーシング1の側方の絶縁子7を介して導入した電極8
1こ取付けするようにした。
該導入管5には流量制御弁6を設けるものとし、任意量
の希ガスを該ケーシング1内に導入可能とした。
9は真空室10‘こ仕切弁11を介して接続される関口
、12,12は磁石である。
その作動を説明する。該カソード2,2と該メッシュ状
のアノード3との間に高電圧が印加されると、該ケーシ
ング1内の気体がイオン化されてこれがTiその他の活
性物質から成るカソード2,2に衝突し活性物質をスパ
ッタする。スパッタされた活性物質はカソード2、アノ
ード3及びケーシング1の内面に附着しゲツタ膜として
気体分子等の瓶集作用を営み、ポンプとして作動する。
而してこの場合スパッタされた活性物質はアノード3に
遮ぎられることなくそのメッシュを通過して均一多量に
カソード2の表面に附着するのでその表面を従前のもの
よりも清浄に保つことが出来、同時に気体分子、中性原
子等の運動がアノード3のメッシュを介して行ない得る
のでその瓶集率も高まり排気効率が向上する。この状態
で排気速度が低下した場合にはフィラメント4を通電加
熱してその活性金属を強制的に蒸発させカソード2,2
の表面に附着させることが出来るもので、これによりカ
ソード2の表面が清浄化され低下し勝ちな排気速度を上
昇させ得長時間良好な排気を行なえる。
ポンプの長時間に亘る使用の後にはこれに例えばArガ
スの希ガスを注入し放電処理して活性化するを要し従来
は該希ガスを真空室を介してケーシング内に導入してい
たが、本発明のものでは該ケーシング1に設けた導入管
5を介して直接希ガスを導入出来るので仕切弁11を閉
じれば真空室10内を高い希ガス圧力にさらすこてなく
放電処理出来使用上便利である。このように本発明によ
るときは、アノードをメッシュ状に形成すると共にゲッ
ターフィラメントを設けたので従来の前記したような排
気速度の低下を防止出来ると共に希ガスの導入管をケー
シングに設けたもので真空室内の圧力を低下することな
くポンプの放電再生処理を行なえその使用上便利である
等の効果がある。
【図面の簡単な説明】
図面は本発明ポンプの1例の裁断側面図である。 1……ポンプケーシング、2,2……カソード、3……
アノード、4……ゲツターフイラメント、5・・・・・
・導入管。

Claims (1)

  1. 【特許請求の範囲】 1 磁場が掛けられたポンプケーシング内に、互に対向
    させて1対のカソードを設けると共にその中間に丸形そ
    の他の筒状のアノードを設けるようにしたものに於て、
    該アノードをメツシユ状に形成すると共に該ポンプケー
    シング内にその外部からの通電により加熱されるTiそ
    の他の活性金属からなるゲツターフイラメントを設け、
    さらに該ケーシングにArガスその他の希ガスの導入管
    を設けたことを特徴とするカソード面清浄化手段を有す
    るスパツタイオンポンプ。 2 該導入管には希ガスの流量を制御する可変流量制御
    弁を設けたことを特徴とする特許請求の範囲第1項記載
    のカソード面清浄化手段を有するスパツタイオンポンプ
JP4640382A 1982-03-25 1982-03-25 カソ−ド面清浄化手段を有するスパツタイオンポンプ Expired JPS6011423B2 (ja)

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JP4640382A JPS6011423B2 (ja) 1982-03-25 1982-03-25 カソ−ド面清浄化手段を有するスパツタイオンポンプ

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JPS58164137A JPS58164137A (ja) 1983-09-29
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* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
FR2580866B1 (fr) * 1985-04-23 1989-01-06 Novatome Pompe ionique a courant proportionnel au debit
JP4557681B2 (ja) * 2004-11-09 2010-10-06 株式会社アルバック スパッタイオンポンプ

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JPS58164137A (ja) 1983-09-29

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