JPS6011165A - 昇温クロマトグラフイ，グラジエントクロマトグラフイ等におけるベ−スラインドリフト補償方法 - Google Patents
昇温クロマトグラフイ，グラジエントクロマトグラフイ等におけるベ−スラインドリフト補償方法Info
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- JPS6011165A JPS6011165A JP11990583A JP11990583A JPS6011165A JP S6011165 A JPS6011165 A JP S6011165A JP 11990583 A JP11990583 A JP 11990583A JP 11990583 A JP11990583 A JP 11990583A JP S6011165 A JPS6011165 A JP S6011165A
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- test
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- chromatography
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- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01N—INVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
- G01N30/00—Investigating or analysing materials by separation into components using adsorption, absorption or similar phenomena or using ion-exchange, e.g. chromatography or field flow fractionation
- G01N30/02—Column chromatography
- G01N30/86—Signal analysis
- G01N30/8624—Detection of slopes or peaks; baseline correction
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01N—INVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
- G01N30/00—Investigating or analysing materials by separation into components using adsorption, absorption or similar phenomena or using ion-exchange, e.g. chromatography or field flow fractionation
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- G01N30/86—Signal analysis
- G01N30/8624—Detection of slopes or peaks; baseline correction
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Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
イ、産業上の利用分野
口、従来技術
フトしたベースラインＢにピーク信号Ｐが重畳された形
状となる。このドリフトを補償するために、従来はまず
試料を入れずにキャリアのみを流すブランクテストを行
い、ドリフトしたベースラインＢのみの信号データをメ
モ１月こ記憶させ、次に実試料テストを行って得られた
信号データから上記ブランクテストによる信号データを
差し引いて変動ベースラインの補賞されたクロマトグラ
ムを得ていた。しかし実際には、カラム温度が昇温プロ
グラムにより正確に再現されても分析信号のベースライ
ンのドリフトが正確に再現されるとは限らず、カラムの
使用状態や検出器のドリフトなどによって第１図（ｂ）
に示すように変化する。その結果ベースラインドリフト
補償後の実分析クロマトグラムが第１図（Ｃ）の破線の
ようになって、実線で示でいるとベースラインドリフト
が小さくなり、しばらく分析をしないでおくとベースラ
インドリフトが大きくなる。したがって従来はベースラ
インドリフトの変化をできるだけ小さくするために、複
数回の分析を行う場合にも毎回直曲にブランクテストを
行う必要があった。
状となる。このドリフトを補償するために、従来はまず
試料を入れずにキャリアのみを流すブランクテストを行
い、ドリフトしたベースラインＢのみの信号データをメ
モ１月こ記憶させ、次に実試料テストを行って得られた
信号データから上記ブランクテストによる信号データを
差し引いて変動ベースラインの補賞されたクロマトグラ
ムを得ていた。しかし実際には、カラム温度が昇温プロ
グラムにより正確に再現されても分析信号のベースライ
ンのドリフトが正確に再現されるとは限らず、カラムの
使用状態や検出器のドリフトなどによって第１図（ｂ）
に示すように変化する。その結果ベースラインドリフト
補償後の実分析クロマトグラムが第１図（Ｃ）の破線の
ようになって、実線で示でいるとベースラインドリフト
が小さくなり、しばらく分析をしないでおくとベースラ
インドリフトが大きくなる。したがって従来はベースラ
インドリフトの変化をできるだけ小さくするために、複
数回の分析を行う場合にも毎回直曲にブランクテストを
行う必要があった。
ハ、目的
を補償することができ、かつ−回ブランクテストを行っ
ておけば、後は何回でも実試料テストを繰り返すことが
できる方式を提供することを目的とするものである。
ておけば、後は何回でも実試料テストを繰り返すことが
できる方式を提供することを目的とするものである。
二、構成
上記の目的を達成するために、本発明は分析条件を一定
にした場合、複数回の分析において第１図（ｂ）に示し
たように各ベースラインは互いにドリフト量が異なって
も曲線の形状がほぼ相似形である点に着眼し、ブランク
テストによる信号と実試料テストによる信号との各対応
時点におけるデータの比をめ、ブランクテストデータに
この比を乗じて得た値を実試料テストデータから減算す
ることにより、常に正確にベースラインドリフトの補償
されたクロマトグラムが得られるようにしたものである
。
にした場合、複数回の分析において第１図（ｂ）に示し
たように各ベースラインは互いにドリフト量が異なって
も曲線の形状がほぼ相似形である点に着眼し、ブランク
テストによる信号と実試料テストによる信号との各対応
時点におけるデータの比をめ、ブランクテストデータに
この比を乗じて得た値を実試料テストデータから減算す
ることにより、常に正確にベースラインドリフトの補償
されたクロマトグラムが得られるようにしたものである
。
ボ、実施例
第２図（ａ）は本発明方法に用いられる装置のブロック
図、同図（ｂ）は上記装置に用いられるＲＡＭメモリの
構成を示したものである。同図において（１）はＣＰＵ
、＋２１はパスラインで、パスラインにはプログラムを
記憶したＲＯＭメモリ（３）、データを記憶するＲＡＭ
メモリ１４）、操作用キーボード（５）、記録装置とし
てのプリンタ兼ブロックｔＧ＋と共に、ガスクロマトグ
ラフあるいは液体クロマトグラフなどの分析装置（７）
からの信号を０．１秒毎に取り込んでＡ／Ｄ変換するＡ
／Ｄ変換器（８）が接続されている。またＲＡＭメモリ
１４）にはブランクテストにおける検出信号データＢ（
０）、 Ｂ１１１１ ・・＝°ｌ Ｂ（ｎ＞を格納する
エリア（９）および実試料テストにおける検出信号デー
タ５（ｏ）＋ ｓ ＩＩ）＋ ・・・・・・、５（ｎ）
を格納するエリア（ｌＯ）が設けられている。
図、同図（ｂ）は上記装置に用いられるＲＡＭメモリの
構成を示したものである。同図において（１）はＣＰＵ
、＋２１はパスラインで、パスラインにはプログラムを
記憶したＲＯＭメモリ（３）、データを記憶するＲＡＭ
メモリ１４）、操作用キーボード（５）、記録装置とし
てのプリンタ兼ブロックｔＧ＋と共に、ガスクロマトグ
ラフあるいは液体クロマトグラフなどの分析装置（７）
からの信号を０．１秒毎に取り込んでＡ／Ｄ変換するＡ
／Ｄ変換器（８）が接続されている。またＲＡＭメモリ
１４）にはブランクテストにおける検出信号データＢ（
０）、 Ｂ１１１１ ・・＝°ｌ Ｂ（ｎ＞を格納する
エリア（９）および実試料テストにおける検出信号デー
タ５（ｏ）＋ ｓ ＩＩ）＋ ・・・・・・、５（ｎ）
を格納するエリア（ｌＯ）が設けられている。
第３図は上記装置の動作をフローチャートで示したもの
で、まず過程（イ）においてカラムに試料を通さずにキ
ャリアのみによるブランクテストを行い、そのときの検
出信号データを時々刻々サンプリングして、サンプリン
グデータＢ （Ｑ）、Ｂ （ＩＬ ・・・・・・、Ｂ（
ｎ）をメモリに記憶させ、次に過程（ロ）において試料
を注入した実試料テストを行い、そのときの検出信号デ
ータ５（０）、Ｓ［ｌｌ、・・・・・・、５（ｎ）をメ
モリに記憶させる。次に両信号のベースライン上の対応
時点のデータの比をめるのであるが、分析動作をどこで
打切るかによって第４図に示すように、実試料テストの
最後のデータＳ （ｎ）がたまたま一つのピーク上にく
るということが起こり得る。
で、まず過程（イ）においてカラムに試料を通さずにキ
ャリアのみによるブランクテストを行い、そのときの検
出信号データを時々刻々サンプリングして、サンプリン
グデータＢ （Ｑ）、Ｂ （ＩＬ ・・・・・・、Ｂ（
ｎ）をメモリに記憶させ、次に過程（ロ）において試料
を注入した実試料テストを行い、そのときの検出信号デ
ータ５（０）、Ｓ［ｌｌ、・・・・・・、５（ｎ）をメ
モリに記憶させる。次に両信号のベースライン上の対応
時点のデータの比をめるのであるが、分析動作をどこで
打切るかによって第４図に示すように、実試料テストの
最後のデータＳ （ｎ）がたまたま一つのピーク上にく
るということが起こり得る。
したがって過程（ハ）においては第３図すに詳細を示す
よう１こ、Ｓ （ｎ）から順位の若い方へ幾つかのデー
タをとって、隣同士の差が所定レベル以内か否かにより
、所定レベル以内であればＳ （ｎ）を採用し、所定レ
ベル以上の場合−は、５（ｎ）はピーク途中の値と判断
して、このときは順位の若い方へ遡って５（ｎ）、Ｓ
（ｎ−１）・・・のデータを読出Ｌ１最初の極小点の値
５（ＪＴｌｌをベースラインのデータとし、次にこのＳ
（ｎ）或はＳ（ホ）の値を用いて補正係数Ｆすなわち
Ｓ、Ｂ両信号の同番号のデータの比Ｆを計算する。
よう１こ、Ｓ （ｎ）から順位の若い方へ幾つかのデー
タをとって、隣同士の差が所定レベル以内か否かにより
、所定レベル以内であればＳ （ｎ）を採用し、所定レ
ベル以上の場合−は、５（ｎ）はピーク途中の値と判断
して、このときは順位の若い方へ遡って５（ｎ）、Ｓ
（ｎ−１）・・・のデータを読出Ｌ１最初の極小点の値
５（ＪＴｌｌをベースラインのデータとし、次にこのＳ
（ｎ）或はＳ（ホ）の値を用いて補正係数Ｆすなわち
Ｓ、Ｂ両信号の同番号のデータの比Ｆを計算する。
Ｆ ＝ （５（ｎ）、又は５ＧＩＩ）−３（ｏ））／
（Ｂ（耐又は滴→−Ｂ（ｏ））この補正係数Ｆをブラン
クテストデータＢ（ｉ）（ｉ＝０． １． ２・・・ｎ
）に乗じたものを実試料テストデータから減算すること
により正しく温度ドリフト補償されたデータＡ（ｉ）が
得られ、過程（（ホ）においてはこの正しいデータＡ（
ｉ）を用いてデータ処理が行われる。
（Ｂ（耐又は滴→−Ｂ（ｏ））この補正係数Ｆをブラン
クテストデータＢ（ｉ）（ｉ＝０． １． ２・・・ｎ
）に乗じたものを実試料テストデータから減算すること
により正しく温度ドリフト補償されたデータＡ（ｉ）が
得られ、過程（（ホ）においてはこの正しいデータＡ（
ｉ）を用いてデータ処理が行われる。
第２回以降の分析テストでは第３図の過程（イ）すなわ
ちブランクテストを省略し、過程に）および（ホ）の計
算に第１回目のブランクテストデータを使用することが
できる。
ちブランクテストを省略し、過程に）および（ホ）の計
算に第１回目のブランクテストデータを使用することが
できる。
へ、効果
本発明は上述のようｌこ、ドリフトしたベースラインの
ドリフト量には再現性はないが、ドリフトの形状は互い
にほぼ相似形である点を利用して、ブランクテストによ
りドリフトの基本形状をめておき、それぞれの実試料テ
ストではドリフトの大きさだけをめるようにしたので、
従来は不可能であった実試料テストのベースラインの分
離をほぼ正確に行うことができるという利点があり、ま
た実試料テストの度毎にブランクテストを行う必要がな
いので、分析所要時間を著しく短縮し得るという利点が
ある。
ドリフト量には再現性はないが、ドリフトの形状は互い
にほぼ相似形である点を利用して、ブランクテストによ
りドリフトの基本形状をめておき、それぞれの実試料テ
ストではドリフトの大きさだけをめるようにしたので、
従来は不可能であった実試料テストのベースラインの分
離をほぼ正確に行うことができるという利点があり、ま
た実試料テストの度毎にブランクテストを行う必要がな
いので、分析所要時間を著しく短縮し得るという利点が
ある。
４・、 図面の簡単な説明
第１図（ａ）（＋））（Ｃ）は本発明の詳細な説明する
グラフ、第２図軸）は本発明方法の一実施例を示す装置
の概略ブロック図、同図（ｂ）は同上に用いたＲＡＭメ
モリのメモリマツプ、第：３図ａは第２図装置の動作を
説明するフローチャート、同１）は過程（ハ）の詳細、
第４図は同上の動作を説明するグラフである。
グラフ、第２図軸）は本発明方法の一実施例を示す装置
の概略ブロック図、同図（ｂ）は同上に用いたＲＡＭメ
モリのメモリマツプ、第：３図ａは第２図装置の動作を
説明するフローチャート、同１）は過程（ハ）の詳細、
第４図は同上の動作を説明するグラフである。
ｍ・・・ＣＰＵ、［２＋・・・パスライン、（３）・・
・ＲＯＭメモリ、１４）・・・ＲＡＭメモ’Ｊ、＋５）
・・・操作用キーボード、（６）・・・プリンタ兼プロ
ッタ、（７）・・・分析装置、（８）・・・Ａ／Ｄ変換
器、（９）・・・ブランクテストデータ格納エリア、（
１０）・・・実試料テストデータ格納エリア、Ｂ（ｉ）
・・・ブランクテスト信号データ、５（ｉ）・・・実試
料テスト信号データ、Ｆ・・・補正係数。
・ＲＯＭメモリ、１４）・・・ＲＡＭメモ’Ｊ、＋５）
・・・操作用キーボード、（６）・・・プリンタ兼プロ
ッタ、（７）・・・分析装置、（８）・・・Ａ／Ｄ変換
器、（９）・・・ブランクテストデータ格納エリア、（
１０）・・・実試料テストデータ格納エリア、Ｂ（ｉ）
・・・ブランクテスト信号データ、５（ｉ）・・・実試
料テスト信号データ、Ｆ・・・補正係数。
代理人 弁理士 跣 浩 介
（α） （１）） （Ｃ）
欠／図
δ
ケ３図（ＣＬ）
Claims (1)
- 昇温クロマトグラフィ或はグラジェントクロマトグラフ
ィにおいて、キャリヤのみを流した場合の検出信号のデ
ータをサンプリングしてメモリに記憶させる過程と、試
料を導入した場合のベースラインに試料によるピークが
重畳された形状の検出信号のデータをサンプリングして
メモリに記憶させる過程と、上記両信号の対応時点のデ
ータを比較してその比をめる過程と、上記キャリヤのみ
の場合のデータにこの比を乗じて得た値を上記実試料に
よるデータから減算することによりべ４スラインドリフ
トの補償されたクロマトグラムを得る過程とより成る昇
温クロマトグラフィ、グラジェントクロマトグラフィ等
におけるベースラインドリフト補償方法。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP11990583A JPS6011165A (ja) | 1983-06-30 | 1983-06-30 | 昇温クロマトグラフイ，グラジエントクロマトグラフイ等におけるベ−スラインドリフト補償方法 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP11990583A JPS6011165A (ja) | 1983-06-30 | 1983-06-30 | 昇温クロマトグラフイ，グラジエントクロマトグラフイ等におけるベ−スラインドリフト補償方法 |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPS6011165A true JPS6011165A (ja) | 1985-01-21 |
Family
ID=14773105
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP11990583A Pending JPS6011165A (ja) | 1983-06-30 | 1983-06-30 | 昇温クロマトグラフイ，グラジエントクロマトグラフイ等におけるベ−スラインドリフト補償方法 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPS6011165A (ja) |
Cited By (4)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS60243571A (ja) * | 1984-05-18 | 1985-12-03 | Nippon Furnace Kogyo Kaisha Ltd | 流れ観察段面と直交する方向の速度測定方法 |
| JPS63233352A (ja) * | 1987-03-20 | 1988-09-29 | Canon Inc | 粒子解析装置 |
| CN104838262A (zh) * | 2012-12-10 | 2015-08-12 | 株式会社岛津制作所 | 漂移计算装置以及具有该漂移计算装置的光检测装置 |
| US9541531B2 (en) | 2013-09-30 | 2017-01-10 | Hitachi High-Technologies Corporation | Detector for liquid chromatography |
Citations (2)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS5441797A (en) * | 1977-09-09 | 1979-04-03 | Hitachi Ltd | Data processing unit of chromatograph |
| JPS55162057A (en) * | 1979-06-05 | 1980-12-17 | Nippon Kensa Kk | Method and device for qualitative and quantitative analysis by pattern matching method using computer |
-
1983
- 1983-06-30 JP JP11990583A patent/JPS6011165A/ja active Pending
Patent Citations (2)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS5441797A (en) * | 1977-09-09 | 1979-04-03 | Hitachi Ltd | Data processing unit of chromatograph |
| JPS55162057A (en) * | 1979-06-05 | 1980-12-17 | Nippon Kensa Kk | Method and device for qualitative and quantitative analysis by pattern matching method using computer |
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| JPH0331394B2 (ja) * | 1984-05-18 | 1991-05-02 | Nippon Fuaanesu Kogyo Kk | |
| JPS63233352A (ja) * | 1987-03-20 | 1988-09-29 | Canon Inc | 粒子解析装置 |
| CN104838262A (zh) * | 2012-12-10 | 2015-08-12 | 株式会社岛津制作所 | 漂移计算装置以及具有该漂移计算装置的光检测装置 |
| CN104838262B (zh) * | 2012-12-10 | 2016-04-27 | 株式会社岛津制作所 | 漂移计算装置以及具有该漂移计算装置的光检测装置 |
| US9541531B2 (en) | 2013-09-30 | 2017-01-10 | Hitachi High-Technologies Corporation | Detector for liquid chromatography |
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