JPS60105905A - 光デイスク評価装置 - Google Patents
光デイスク評価装置Info
- Publication number
- JPS60105905A JPS60105905A JP21430183A JP21430183A JPS60105905A JP S60105905 A JPS60105905 A JP S60105905A JP 21430183 A JP21430183 A JP 21430183A JP 21430183 A JP21430183 A JP 21430183A JP S60105905 A JPS60105905 A JP S60105905A
- Authority
- JP
- Japan
- Prior art keywords
- receiving element
- holder
- light receiving
- focus
- difference signal
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Pending
Links
Classifications
-
- G—PHYSICS
- G11—INFORMATION STORAGE
- G11B—INFORMATION STORAGE BASED ON RELATIVE MOVEMENT BETWEEN RECORD CARRIER AND TRANSDUCER
- G11B7/00—Recording or reproducing by optical means, e.g. recording using a thermal beam of optical radiation by modifying optical properties or the physical structure, reproducing using an optical beam at lower power by sensing optical properties; Record carriers therefor
- G11B7/24—Record carriers characterised by shape, structure or physical properties, or by the selection of the material
- G11B7/26—Apparatus or processes specially adapted for the manufacture of record carriers
-
- G—PHYSICS
- G11—INFORMATION STORAGE
- G11B—INFORMATION STORAGE BASED ON RELATIVE MOVEMENT BETWEEN RECORD CARRIER AND TRANSDUCER
- G11B7/00—Recording or reproducing by optical means, e.g. recording using a thermal beam of optical radiation by modifying optical properties or the physical structure, reproducing using an optical beam at lower power by sensing optical properties; Record carriers therefor
- G11B7/08—Disposition or mounting of heads or light sources relatively to record carriers
- G11B7/09—Disposition or mounting of heads or light sources relatively to record carriers with provision for moving the light beam or focus plane for the purpose of maintaining alignment of the light beam relative to the record carrier during transducing operation, e.g. to compensate for surface irregularities of the latter or for track following
Landscapes
- Engineering & Computer Science (AREA)
- Manufacturing & Machinery (AREA)
- Length Measuring Devices By Optical Means (AREA)
- Testing Of Optical Devices Or Fibers (AREA)
- Optical Recording Or Reproduction (AREA)
- Manufacturing Optical Record Carriers (AREA)
Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
＃塁Ｌ ｔｒｓ−＆ｌｌ田Ａ町
本発明は情報記録媒体としての光ディスクの形状を評価
する装置に関するものである。
する装置に関するものである。
従来例の構成とその問題点
高密度大容量の情報記録として期待されている光ディス
クの生産工法確立及び管理の意味から、光ディスクの面
振れ量、芯振れ量を測定する必要がある。光ディスクの
面振れ量、芯振れ量を測定する手段の従来例を第１図に
示す。第１図に示すように、半導体レーザー１から発光
されたレーザー光は集光レンズ２、凹及び凸シリンドリ
カルレンズ３ａ、３ｂを経て円形平行光線に整形され、
ビームスプリッタ４、λ／４板５を経て絞りレンズ６に
よりディスク７の記録面上に絞り込１れる。
クの生産工法確立及び管理の意味から、光ディスクの面
振れ量、芯振れ量を測定する必要がある。光ディスクの
面振れ量、芯振れ量を測定する手段の従来例を第１図に
示す。第１図に示すように、半導体レーザー１から発光
されたレーザー光は集光レンズ２、凹及び凸シリンドリ
カルレンズ３ａ、３ｂを経て円形平行光線に整形され、
ビームスプリッタ４、λ／４板５を経て絞りレンズ６に
よりディスク７の記録面上に絞り込１れる。
その反射光は再び絞りレンズ６λ／４板５を経てビーム
スプリッタ４を透過し、光検出部に至る。絞シレンズ６
はホルダー８によシ保持されて、％Ｊ、ホルダー８には
Ａｔ製のレーザ：ｌ ） ９ 、１０が固設されておシ
、うず電流変位計のグローブ１１゜１２の先端面をそれ
ぞれターゲット９．１０に対向させることによシ、ピッ
クアップのトラッキング方向、フォーカス方向の変位量
をうず電流変位計ドライバーより検出する。しかしなが
ら、ターゲットはプローブ先端面全面に対向できる面積
が必要であり、夕〜ゲットを固設させるためにはホルダ
ーもある程度の大きさを必要とし、またターゲットのグ
ローブ軸心力−向の厚みも１部程度必要であるためホル
ダー、ターゲット等を含むピックアップ可動部全体の大
きさ及び重量も大きくなる。
スプリッタ４を透過し、光検出部に至る。絞シレンズ６
はホルダー８によシ保持されて、％Ｊ、ホルダー８には
Ａｔ製のレーザ：ｌ ） ９ 、１０が固設されておシ
、うず電流変位計のグローブ１１゜１２の先端面をそれ
ぞれターゲット９．１０に対向させることによシ、ピッ
クアップのトラッキング方向、フォーカス方向の変位量
をうず電流変位計ドライバーより検出する。しかしなが
ら、ターゲットはプローブ先端面全面に対向できる面積
が必要であり、夕〜ゲットを固設させるためにはホルダ
ーもある程度の大きさを必要とし、またターゲットのグ
ローブ軸心力−向の厚みも１部程度必要であるためホル
ダー、ターゲット等を含むピックアップ可動部全体の大
きさ及び重量も大きくなる。
ピックアップの軽量化はピックアップ駆動電流の低減、
光ディスクの番地検出速度向上、及びトラック追従性能
面上等のために必要であシ、特にディスク評価用ピック
アップの場合、必要不可欠の命題となる。また小型ディ
スクの評価においてピックアップがディスク内周まで入
り込む意味からもピックアップの小型化が要請されてお
り、それらの理由で従来例によるうず電流変位計による
ディスク面振れ、芯振れ測定手段では、ピックアップを
軽量小型化できないという点で問題が残されている。
光ディスクの番地検出速度向上、及びトラック追従性能
面上等のために必要であシ、特にディスク評価用ピック
アップの場合、必要不可欠の命題となる。また小型ディ
スクの評価においてピックアップがディスク内周まで入
り込む意味からもピックアップの小型化が要請されてお
り、それらの理由で従来例によるうず電流変位計による
ディスク面振れ、芯振れ測定手段では、ピックアップを
軽量小型化できないという点で問題が残されている。
発明の目的
本発明は上記従来の問題点を解消するもので、うず電流
変位計を用いずに、ディスク評価装置用としてのピック
アップを大きくすることなく容易にディスク面振れ芯振
れ測定を実現するディスク評価装置を提供することを目
的とする。
変位計を用いずに、ディスク評価装置用としてのピック
アップを大きくすることなく容易にディスク面振れ芯振
れ測定を実現するディスク評価装置を提供することを目
的とする。
発明の構成
本発明は光学ピックアップ絞シレンズを保持する円筒形
状のホルダーのレーザー光源側端面を反射光軸が入射光
軸と角度をもつ放物面反射鏡状にし、レーザー光の１部
を放物面反射鏡の焦点位置に集光させ、その焦点位置付
近に４分割受光素子をその２本の分割線の交点が反射光
軸上に位置するよう設定して受光素子の差信号を検出し
、また前記２本の分割線がそれぞれピックアップのフォ
ーカス方向及びトラッキング方向と平行であることを特
徴とするディスク評価装置であり、ピックアップを大き
くすることなく容易にディスク面振れ、芯振れ測定を実
現できるものである。
状のホルダーのレーザー光源側端面を反射光軸が入射光
軸と角度をもつ放物面反射鏡状にし、レーザー光の１部
を放物面反射鏡の焦点位置に集光させ、その焦点位置付
近に４分割受光素子をその２本の分割線の交点が反射光
軸上に位置するよう設定して受光素子の差信号を検出し
、また前記２本の分割線がそれぞれピックアップのフォ
ーカス方向及びトラッキング方向と平行であることを特
徴とするディスク評価装置であり、ピックアップを大き
くすることなく容易にディスク面振れ、芯振れ測定を実
現できるものである。
実施例の説明
第２図は本発明の一実施例におけるディスク評価装置の
説明図である。第２図において、第１図と同一物は同一
番号を用いて説明する。第２図に示すように半導体レー
ザー１から発光されたレーザー光は集光レンズ２、凹及
び凸シリンドリカルレンズ３ａ、ｓｂを経て円形平行光
線に整形され、ビームスプリ・ｙり４、λ／４板を経て
絞シレンズ６によりディスク７の記録面上に絞シ込まれ
る。その反射光は再び絞シレンズ６ λ／４板６を経て
ビームスプリッタ４を透過し光検出部に至る。絞シレン
ズはホルダー８′により保持されておシ、ホルダー８′
のレーザー光源側端面ａは反射光軸が入射光軸と角度を
もつ放物面反射鏡状に加工されており、レーザー光の１
部は端面ａによシ反射され焦点すに集光する。この焦点
位置す付近に４分割受光素子１３をその２本の分割線の
Ｃ及びｄの交点が反射光軸上に位置し分割ａＣはピック
アップのフォーカス方向ｅに平行に、分割線ｄはトラッ
キング方向ｆに平行になるよう設定されている。以上の
ように構成されたこの実施例のディスク評価装置につい
て、以下その動作を説明する。第３図は受光素子上での
絞り光の動きを示す説明図である０ピツクアツプをディ
スクの記録溝に追従させれば、４ＥＪレンズホルダー８
′はディスク記録溝にそってフォーカス方向ｅ％）ラッ
キング方向ｆに並進運動を行なう。従って受光素子１３
上の絞り光ｑもホルダー８′の動きに対応した動きを行
ない、ホルダー８′の７オーカス方向ｅの並進運動には
分割線Ｃに沿った運動、トラッキング方向Ｓの並進運動
には分割線ｄにそった運動を行ない、しかも絞シ光ｑの
絞シ形状はその移動にかかわらず変化しない。４分割受
光素子の４つの分割領域を第３図の如く、α、β、γ、
δとし、それぞれの素子より検出される出力電圧を仇、
ｖβ、ｖ７．ｖδとすれば、差信号（ｖａ＋ｖβ＞−＜
Ｖ、＋Ｖδ）はホルダー８′のフォーカス方向変位量の
みに依存し、差信号（ｖｃＬ＋υδ）−（υβ＋ｖ、）
はホルダー８′のトラッキング方向変位量のみに依存す
る。よってこれらの差信号を検出することにより、ホル
ダー８′の運動すなわちディスクの面振れ量芯振れ量を
容易に知ることが出来る。
説明図である。第２図において、第１図と同一物は同一
番号を用いて説明する。第２図に示すように半導体レー
ザー１から発光されたレーザー光は集光レンズ２、凹及
び凸シリンドリカルレンズ３ａ、ｓｂを経て円形平行光
線に整形され、ビームスプリ・ｙり４、λ／４板を経て
絞シレンズ６によりディスク７の記録面上に絞シ込まれ
る。その反射光は再び絞シレンズ６ λ／４板６を経て
ビームスプリッタ４を透過し光検出部に至る。絞シレン
ズはホルダー８′により保持されておシ、ホルダー８′
のレーザー光源側端面ａは反射光軸が入射光軸と角度を
もつ放物面反射鏡状に加工されており、レーザー光の１
部は端面ａによシ反射され焦点すに集光する。この焦点
位置す付近に４分割受光素子１３をその２本の分割線の
Ｃ及びｄの交点が反射光軸上に位置し分割ａＣはピック
アップのフォーカス方向ｅに平行に、分割線ｄはトラッ
キング方向ｆに平行になるよう設定されている。以上の
ように構成されたこの実施例のディスク評価装置につい
て、以下その動作を説明する。第３図は受光素子上での
絞り光の動きを示す説明図である０ピツクアツプをディ
スクの記録溝に追従させれば、４ＥＪレンズホルダー８
′はディスク記録溝にそってフォーカス方向ｅ％）ラッ
キング方向ｆに並進運動を行なう。従って受光素子１３
上の絞り光ｑもホルダー８′の動きに対応した動きを行
ない、ホルダー８′の７オーカス方向ｅの並進運動には
分割線Ｃに沿った運動、トラッキング方向Ｓの並進運動
には分割線ｄにそった運動を行ない、しかも絞シ光ｑの
絞シ形状はその移動にかかわらず変化しない。４分割受
光素子の４つの分割領域を第３図の如く、α、β、γ、
δとし、それぞれの素子より検出される出力電圧を仇、
ｖβ、ｖ７．ｖδとすれば、差信号（ｖａ＋ｖβ＞−＜
Ｖ、＋Ｖδ）はホルダー８′のフォーカス方向変位量の
みに依存し、差信号（ｖｃＬ＋υδ）−（υβ＋ｖ、）
はホルダー８′のトラッキング方向変位量のみに依存す
る。よってこれらの差信号を検出することにより、ホル
ダー８′の運動すなわちディスクの面振れ量芯振れ量を
容易に知ることが出来る。
以上のようにこの実施例によればホルダ一端面を放物面
反射鏡状にして、その焦点位置付近に４分割受光素子を
その２本の分割線がフォーカス方向とトラッキング方向
に平行となり分割線の交点が反射光軸上にあるように設
置し受光素子の差信劫を検出することにより、ピックア
ップ可動部を大きくすることなく容易にディスク面振れ
芯振れ測定を実現できるものである。
反射鏡状にして、その焦点位置付近に４分割受光素子を
その２本の分割線がフォーカス方向とトラッキング方向
に平行となり分割線の交点が反射光軸上にあるように設
置し受光素子の差信劫を検出することにより、ピックア
ップ可動部を大きくすることなく容易にディスク面振れ
芯振れ測定を実現できるものである。
次に、本発明の他の実施例について説明する。
第４図は本発明の他の実施例を示すディスク評価装置の
絞りレンズホルダーの断面図である。ホルダー８′の端
面りはホルダー軸心直交面に対し傾斜をもった平面上に
あわ、この端面りにホルダー中空部ｌに面する部分をく
り抜いた放物面反射鏡１４を接着している。この実施例
のその他の構成は第２図、第３図の実施例と同一であシ
、この実施例のディスク評価装置の動作及びその効果も
第２図。
絞りレンズホルダーの断面図である。ホルダー８′の端
面りはホルダー軸心直交面に対し傾斜をもった平面上に
あわ、この端面りにホルダー中空部ｌに面する部分をく
り抜いた放物面反射鏡１４を接着している。この実施例
のその他の構成は第２図、第３図の実施例と同一であシ
、この実施例のディスク評価装置の動作及びその効果も
第２図。
第３図の実施例と同一のものとなる。
発明の効果
本発明のディスク評価装置は光学ピックアップ絞りレン
ズを保持する円筒形状のホルダーのレーザー光源側端面
を反射光軸が入射光軸と角度をもつ放物面反射鏡状にし
、レーザー光の１部を前記放物面反射鏡の焦点位置に集
光させ、その焦点位置付近に４分割受光素子をその２本
の分割線の交点が反射光軸上に位置するよう設定して前
記受光素子の差信号を検出することにより、また前記２
本の分割線をそれぞれピックアップのフォーカス方向及
びトラッキング方向に平行とすることにより、ピンクア
ップを大きくすることなく容易にディスク面振れ芯振れ
測定を実現でき、その実用的効果は大きい。
ズを保持する円筒形状のホルダーのレーザー光源側端面
を反射光軸が入射光軸と角度をもつ放物面反射鏡状にし
、レーザー光の１部を前記放物面反射鏡の焦点位置に集
光させ、その焦点位置付近に４分割受光素子をその２本
の分割線の交点が反射光軸上に位置するよう設定して前
記受光素子の差信号を検出することにより、また前記２
本の分割線をそれぞれピックアップのフォーカス方向及
びトラッキング方向に平行とすることにより、ピンクア
ップを大きくすることなく容易にディスク面振れ芯振れ
測定を実現でき、その実用的効果は大きい。
第１図は従来例におけるディスク面振れ、芯振れ測定を
実現する光デイスク評価装置の原理図、第２図は本発明
の一実施例における光デイスク評価装置の原理図、第３
図は同装置の受光素子上での絞り光の動きを示す斜視図
、第４図は本発明の他の実施例における光デイスク評価
装置の絞シレンズホルダー断面図である。 ６・・・・・・絞υレンズ、７・・・・・・光ディスク
、８′・・・・・・絞りレンズホルダー、１３・・・・
・・４分割受光素子、１４・・・・・・放物面反射鏡、
ａ、ｈ・・・・・・ホルダ一端面、ｂ・・・・・・反射
光焦点、ｃ、ｄ・・・・・・４分割受光素子分割線、ｅ
・・・・・・フォーカス方向、ｆ・・・・・・トラッキ
ング方向、ｑ・・・・・・絞シ光、ｉ・・・・・・ホル
ダー中空部、α、β、γ、δ・・・・・受光素子の各分
割領域。 代理人の氏名 弁理士 中 尾 敏 男 ほか１名第１
図 ７ 第２図 第３図 δ 第４（！ｌ
実現する光デイスク評価装置の原理図、第２図は本発明
の一実施例における光デイスク評価装置の原理図、第３
図は同装置の受光素子上での絞り光の動きを示す斜視図
、第４図は本発明の他の実施例における光デイスク評価
装置の絞シレンズホルダー断面図である。 ６・・・・・・絞υレンズ、７・・・・・・光ディスク
、８′・・・・・・絞りレンズホルダー、１３・・・・
・・４分割受光素子、１４・・・・・・放物面反射鏡、
ａ、ｈ・・・・・・ホルダ一端面、ｂ・・・・・・反射
光焦点、ｃ、ｄ・・・・・・４分割受光素子分割線、ｅ
・・・・・・フォーカス方向、ｆ・・・・・・トラッキ
ング方向、ｑ・・・・・・絞シ光、ｉ・・・・・・ホル
ダー中空部、α、β、γ、δ・・・・・受光素子の各分
割領域。 代理人の氏名 弁理士 中 尾 敏 男 ほか１名第１
図 ７ 第２図 第３図 δ 第４（！ｌ
Claims (2)
- （１） レーザー光を光ディスクの記録面に絞り込むた
めの絞如レンズを保持する円筒形状のホルダーのレーザ
ー光源側端面を反射光軸が入射光軸と角度をもつ放物面
反射鏡状に構成し、レーザー光の１部を前記放物面反射
鏡の焦点位置に集光させ、その焦点位置付近に４分割受
光素子をその２本の分割線の交点が前記反射光軸上に位
置するよう設定し、前記受光素子の差信号を検出するこ
とにより光ディスクの面振れ、芯振れを測定することを
特徴とする光デイスク評価装置。 - （２）２本の分割線がそれぞれピ・ンクア・ノブのフォ
ーカス方向及びトラッキング方向と平行であることを特
徴とする特許請求の範囲第１項記載の光デイスク評価装
置。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP21430183A JPS60105905A (ja) | 1983-11-14 | 1983-11-14 | 光デイスク評価装置 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP21430183A JPS60105905A (ja) | 1983-11-14 | 1983-11-14 | 光デイスク評価装置 |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPS60105905A true JPS60105905A (ja) | 1985-06-11 |
Family
ID=16653465
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP21430183A Pending JPS60105905A (ja) | 1983-11-14 | 1983-11-14 | 光デイスク評価装置 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPS60105905A (ja) |
Cited By (3)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS61276137A (ja) * | 1985-05-30 | 1986-12-06 | Fujitsu Ltd | 光学ヘツドアクチユエ−タ |
| JPS6239231U (ja) * | 1985-08-26 | 1987-03-09 | ||
| JPH02260244A (ja) * | 1989-03-31 | 1990-10-23 | Sony Corp | 対物レンズ位置検出装置 |
-
1983
- 1983-11-14 JP JP21430183A patent/JPS60105905A/ja active Pending
Cited By (4)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS61276137A (ja) * | 1985-05-30 | 1986-12-06 | Fujitsu Ltd | 光学ヘツドアクチユエ−タ |
| JPS6239231U (ja) * | 1985-08-26 | 1987-03-09 | ||
| JPH0725862Y2 (ja) * | 1985-08-26 | 1995-06-07 | アルプス電気株式会社 | 光ピックアップのレンズ装置 |
| JPH02260244A (ja) * | 1989-03-31 | 1990-10-23 | Sony Corp | 対物レンズ位置検出装置 |
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