JPS5999420A - カメラの自動焦点調節装置 - Google Patents

カメラの自動焦点調節装置

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JPS5999420A
JPS5999420A JP20894582A JP20894582A JPS5999420A JP S5999420 A JPS5999420 A JP S5999420A JP 20894582 A JP20894582 A JP 20894582A JP 20894582 A JP20894582 A JP 20894582A JP S5999420 A JPS5999420 A JP S5999420A
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image
distance
optical system
electrode
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Masaaki Takagi
正明 高木
Tomio Kurosu
富男 黒須
Tetsuo Harano
原野 徹夫
Yukio Yoshikawa
幸雄 吉川
Kunio Matsumoto
松本 国夫
Akita Namioka
波岡 顕太
Toyonori Sasaki
佐々木 豊徳
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Nidec Copal Corp
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    • G02OPTICS
    • G02BOPTICAL ELEMENTS, SYSTEMS OR APPARATUS
    • G02B7/00Mountings, adjusting means, or light-tight connections, for optical elements
    • G02B7/28Systems for automatic generation of focusing signals
    • G02B7/34Systems for automatic generation of focusing signals using different areas in a pupil plane

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  • General Physics & Mathematics (AREA)
  • Optics & Photonics (AREA)
  • Focusing (AREA)
  • Automatic Focus Adjustment (AREA)

Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。

Description

【発明の詳細な説明】 本発明は、測距光学系による発光パターンの結像状態、
所謂ボケを検知して被写体までの距離を検出1するカメ
ラの自動焦点検出装置に関する。
従来、自動焦点検出装置としては、三角測量によるもの
と、コントラスト検出によるものが多く提案されている
三角測量方式は、ある基線長を持たせた、赤外線発光ダ
イオード(以下IRDと記述する)等の発光素子を備え
た発光器と、被写体上に照射された発光々を検知する/
リコンホトダイオード(以下S P ])と記述する)
等の受光素子を備えた受光器とを必要とし、受光器に含
まれる受光素子が一つの場合には、発光器と受光器の光
学系の光軸の成寸角を何等かの方法で掃引する必要があ
り、また、発光器、受光器を固定するならば、f、・受
光器の受光素子を分割して複数にしなければなら々い。
そして、光軸の成す角を掃引する方式では、機械的動作
が介在して信頼性を低下させておシ、脣た、受光素子を
複数に分割する方式では、受光部光学系の構成によシ測
距グーンと基線長が決まってしまうため、凡用性に乏し
い。この外、三角測量方式では、基線長が離れた二つの
光学系による画像を一致させて測距させる、所謂二重像
合致的な方法もあるが、受光素子の数が多く、コスト的
に高くなるばかりか、被写体のパター/に左右され易い
という欠点がある。いずれにしても、三角測量方式では
、前述の欠点の外に、基線長の必要なことが、カメラデ
ザイン上の欠点になっている。
一方、コントラスト検出による方式は、撮影レンズによ
る結像について検出でき、撮影レンズの焦点距離を選ば
ないが、受光素子の細分化が必要で、コスト的に可成り
高くなり、また、レンズの焦点が合った位置を検出する
ので、レンズを動かし焦点位置を変化させて検知する必
要があシ、速写性に乏しくスナツグ写真用のレンズンヤ
ソタ付カメラには不向きである。
本発明の目的は、上記従来例の欠点を考慮し、安価で、
基線長を選ばない信頼性の高いカメラの自動焦点調節装
置を提供するものである。
以下、本発明を図面に示した実施例に基づいて説明する
第1図は本発明の焦点調節装置の基本構成の一実施例を
示した外観図で、1は本装置ユニットの本体、2は発光
用非球面レンズ、3は受光用非球面レンズである。
第2図は他の実施例を部分的に示した外観図で、発光ブ
ロック(2)と受光ブロック(3)の間にファインダプ
ロVり(ファインダ対物レンズ4)を配置したものであ
る。この様に、基線長が存在する場合でも本発明の測距
7ステムでは即座に応答できることが後に述べられてい
る。
第3図は測距ブロックの一実施例を示した斜視図で、2
0はIRI)、21はIIRDチップ、22はIRD電
極、26は平行平面板で、光軸と垂直な互いに直交する
二つの軸の周シを回転可転に配置されている。30は受
光回路ブロック、31は円形のSPD、32は該5PD
31の周りに配置されたSPDである。そして、受光回
路ブロック30は光軸方向に移動可能に配置されている
第4図は第1図に対応した中央水平断面図で、第5図は
平行平面板26プロソクの斜視図である。
IRDチップ21を封入したIRD20は、バネ座金4
1と支持板42との関係で光軸方向に4#可動可能に配
置されている。
平行平面板26は、基本的には光軸と垂直関係に置かれ
る軸(X軸)26aを備えていて、該軸26aにより保
持枠27上で回転自在に支持されていると共に、腕26
bを形成している。また、該保持枠27は、基本的には
光軸と垂直、且つ軸26aと直交関係に置かれる軸(Y
軸)27aを備えていて、該軸27aにより本体1上で
回転自在に支持されていると共に、平行平面板26の腕
2’6bをくソりぬけさせる窓27bと腕27cとを形
成している。更に、第1図でも示している様に、該腕2
6bと腕27cとは、本体1に形成された窓1 a 、
 ]、 bをくソりぬけて本体1の外側に突出している
そして、保持枠27は、本体1の裏ブタ5に螺合支持さ
れたネジ28を出入調整することによシ枠の下部が操作
されて軸27aを中心にして回転させられ、また、平行
平面板26は、保持枠27の腕27CK螺合支持された
ネジ29を出入調整することにより腕26bが操作され
保持枠27上において軸26aを中心にして回転させら
れる。
従って、平行平面板26は、光軸に対してそれに垂直な
X軸、Y軸方向に複合的に調整される。
33はプリント基板、34は電磁気的外乱を防止するン
ールド板、35は可視光を遮断して赤外光のみを透過さ
せるIRフィルタであり、受光回路ブロック30から該
フィルタ35までの一体物は、光軸方向に移動可能に配
置された台板36上に支持されている。
そして、該台板36は、裏ブタ5(/C螺合支持された
ネジ37を出入調整することにより光軸方向に移動させ
られ、従って、5PD31.32の光軸方向の位置がA
Iされる。
なお、ネジ28.29及び37の戻り(出)方向に対す
る平行平面板26.保持枠27及び合板36の追従運動
は、図示していないバネにより制御される様になってい
るものである。
第6図〔(a)は正面図、(b)は底面図〕はIRD2
0の詳細図で、赤外光が発光するのはIRDチップ21
面でちり、円形のII’LD電極22は遮光性があって
シミ極22部からの発光は無い。
第7図〔(a)は正面図、(b)は底面図」は5PD3
]、、32の詳細図で、分割された5PD31とそれを
とシ囲む5PD32とは互いに干渉しない様に分離され
ている。
こ\で、5PD3−1の径は、IRDチップ21面から
の赤外光が発光用非球面レンズ2により投光され、その
投光々の内径が円形のIRD電極22の外径に対応して
いるので、相対的に該電極22が被写体上に結像すると
みなせ、その結像した被写体上のIRDプロフィルを受
光用非球面レンズ3によJSPD31.32上に結像さ
せ、5PD31.’32上に結像したIRDチップ21
上のIRD電極22の像が5PD31と一致する様に設
定されている。
即ち、■几Dチップ21上のIRD電極22の径をΦJ
〕、5PD31の径をΦd、発光用非球面レンズ2の焦
点距離をF、受光用非球面レンズ3の焦点距離をrとす
ると、 d−□・ D          (1)となる様に設
定されている。
また、5PD32は、IRDチップ21面からの赤外光
が結像する程度の大きさで良い。
次に、第9図に基づいて本発明の原理について説明する
。なお、説明を簡単にするために、発光用非球面レンズ
2と受光用非球面レンズ3の光軸を一致させておシ、従
って、基線長は零である。
9」はIRD−IF−ツブ21と5PD31,32の光
軸を分離するためのスプリンタ−で、第9図の理屈を合
わせるように配置しである。
さて、第9図の(a)部において、IRDチップ2]、
IRD電極22と5PD31.31−1:、互いにレン
ズ2とレンズ3から光学的に等距離にあり、また、レン
ズ2,3は、丁RDチップ21上の円形のI4D電極2
2の実像がレンズ2,3より5mの位置に結像する様に
配置されている。
従って、5PD3]、、32の実像も同様にレンズ2.
3より5mの位置に結像し、換言すれば、5mの距離に
ある被写体が5PD3 ] 、32に実像として結像す
ることになる。この場合、レンズ2とレンズ3は共通の
ため、前記(1)式から、電極22の径と5PD31の
径は等しく設定されることになる。
そして、電極22にパルス通電がなされると、チップ2
】面がパルス発光するが、電極22の径方向に発光強度
をプロットすると、(b)部に示す様な発光パターンと
なる。(b)部で、横軸りは、電極22の中心(光軸)
を通るIRD20の全体の径方向の線分を表わし、縦軸
Pは、光強度を表わしている。発光パターンが、光軸を
中心にして円形の電極22の径D0に相当する所だけ急
激に光量が落ちているのは、電極22が遮光性であるた
めであシ、また、光軸からある程度能れた両側の所で滑
らかに強度が落ちているのは、チップ21の端面に相当
しておち、更に、光軸から離れると再び光強度が大きく
なっているが、これはI RD 20の支持部材におけ
るパラボラ(第3図符号23参照)によるものである。
発光用非球面レンズ2と受光用非球面レンズ3が理想的
で回折現象を考えなければ、5mの距離にある被写体上
には(b)部で示すのと相似なパターンが結像される筈
である。その像の大きさは、発光光学系か拡大系である
ために大きくなり、被写体までの距離をL、レンズ2,
3の焦点距離をfとすると、その5mの距離での電極2
2の像の径DAは、 1つ、1 − −  ・    D o       
             (2)となる。
従って、f = 20 m m 、 L = 5 mと
すれば、2×10 で、250倍の拡大率であシ、また、その5mの距離で
結像した像の単位面積当りの光量PAは、IRD20の
発光プロフィル(発光パターンではない)と、レンズ2
の開口径及びf、L、被写体反射率Rによシ決するが、
発光光学系は固定されているので、結局各距離位置での
電極22の像の径Diと発光パターンの像の単位面積当
シの光量P1は、 D i −L 、 P i ” R・L(3)の関係式
となる。
距離5mの被写体上の発光パターンは、・(e)部に示
す様に、矢張電極22の像のコントラストが高く結像す
る。しかし、被写体が5mからレンズ2,3の方へ近付
いてくると、発光光学系がチップ21.電極22の像を
5mの距離で結像きせる様に設定されているために、発
光パターンは結像されなくなり、所謂ピンボケ状態にな
ってくる。
例えば、距離2.3mの被写体上では(d)部に、距離
1.4mの被写体上では(c)部に夫々示す様にボケ、
チップ21上の電極22の像のコントラストが低下して
行く。
一方、5PD31.32上にこれら被写体上に発光パタ
ーンが結像される訳けであるが、被写体が距離5mKあ
る場合には、被写体上の発光パターンは完全に5PD3
]、、32上に結像される。
即ち、チップ21.―極22の発光パターンがそのまh
sPD31.32上に結像されることになる。しかし、
被写体がレンズ2,3の刀へ近付いてくると、被写体像
の結像が5Pp31.32の面からずれてくるので、所
謂ピンボケとなる。つまり、レンズから被写体1での距
離が近くなるに従って被写体上の発光パターンがボケ、
電極22のコントラストは低下し、更に5PD31.3
2上に結像する発光パターンがよりボケて、電極22の
コントラストは発光光学系によるボケと受光光学系によ
るボケの相乗効果として一層低下する。
5PD31.32上に結像さ−れる発光パターンの大き
さは、発光光学系と受光光学系の距離りが共通のため、
前述の如くレンズ2,3の焦点距離のみに依存し、従っ
て、被写体までの距離を変化させても変わらない。また
、5PD31.32上に結像される発光バク−lづ単位
面積当りの光量は、距離りの2乗に反比例する。
従って、5PD31.32上に結像される電極22の平
均径Dsは、 D s = D o(4) (レンズ2,3の焦点距離が等しい時)となる。また、
5PI)31.32上に結像される発光パターンの単位
面積当りの光強度PSは、ボケが無いとすれば、 PScx:R@L           (5)となり
、それにボケの要素が入って(f)部の様になる。但し
、(f)部のP軸は、各被写体距離におけるボケ具合の
上ビ較ができる様に、L = 5 mのものは(5/1
−4 )2倍、I、=2.3mのものは(2、3/1 
、4 )2倍だけL=1.4.mのものに対してスケー
ルを大きくしである。
この様にして結像したチップ21.電極22の発光パタ
ーンを5PD31.32により検仰するが、5PD31
の径dは電極22の結像の径Dsに等しくしているので
、5PJ)31は電極22の、丑た、5PD32はチッ
プ21の発光部の結像光量を検仰していることになる。
Iaり電極22の像は、理想的には暗黒であり、従って
、5PD3]には暗電流及びノイズのみで、被写体圧r
flILによらず一定であるが、現実には光学系の収差
や内面反射、電極22の表面の反射等による周辺からの
回り込みにより、電極22の結像は暗黒にならず、S 
P I) 31には若干の光電出力が生じる。
こ\で、被写体距離りの変化により電極22と発光パタ
ーンの結像にボケが生じ々いとすれば、前記の(5)式
により、5PD3] 、32に発生する光起電流I(I
a、Ib)は、夫々比例係数が異なるが、 1−1%・T、−2十〇         (6)の関
係式が成シ立つ。Cは暗電流、ノイズ成分であシ、充分
S/N比が大きいとすれば無視でき、5PD32に発生
する光起電流■は、 ■鄭几・Lづ           (7)と書ける。
こ\で、被写体距離りが変化することにょ9ボケが生じ
る、場合について考えると、(f)部に示す様に、5m
よシ被写体が近くなると、電極22の像のコントラスト
が低下して像のエツジがなだらかになってくるため、5
PD31の領域の周辺の光が入シ込んでくることになっ
て、このボケによる光量の増加は、R−L−2の関数よ
り単調増加となり、一方、5PD32の領域の光量は減
少し、R−じ2の関数より単調減少となる。
従−て、L < 5 mにおける単調増加の関数をg(
L)、単調減少の関数をh(L)で表わすならば、5P
I)31.32に発生する光起電流Ia。
Ibは、 I a +:1:R−L−2・g (5−L ) + 
C(8)、T b医R・L−2・h (s−L )  
   (9)で衣わされる。
さて、第9図で説明したものは、基線長が零であったが
、実際には第1図及び第2図に示した如く、基線長が少
からず存在する場合がある。その〈ン 場合は、被写体が5mより近イ寸くにつれて、■几りチ
ノグ21上のIRD電極22の結像は、ボケると同時に
5PI)31から横にずれて行き、S P I) 31
にはボケによる以上の光量増加が見込まれる。この光量
増加は、被写体距離りが5 ynから近付くにつれてR
−L−2の関数より単調増加となり、るる距離以下にな
ると再び減少して行くが、減少を始める距離は、4通考
えられる基線長では測距範囲外であり、寸だ、IRD2
0のパラボラにより発光パターンを拡げれば良い。
即ち、実用d11]距範囲において、基線長が存在し三
角測量的要素を含んでも、S P +) 3 ]の光光
電電流8がI(・L”の関数より単調増加でらるならば
、結局光起電流1aは前記の(8)式に帰着できる。同
様にして、光起電流1bは前記の(9)式に帰着できる
第10図は、ボケや三角測量の効果を考えない前記の(
7)式の光起電流■と、前記(8)及び(9)式の光起
電流Ia及びI 11を、被写体距離りとの関係で対数
により表わしだ被写体距離−光起電流の変化特性図であ
る。但し、L=5mで同じ値になる様に規格化している
さて、5PD31の光起電流(出力)Ia及び5PD3
2の光起電流(出力)Ibは、距離りによって几・「2
の関数より単調増加及び単調減少するが、とのま\では
被写体反射率Rに依存しており、測距できない。
そこで、回路的に演算してI a / I bを求める
と、 Ib    Ks・R−L72 ・h(5−L)となる
こ\で、g(5−L)は、L = 5 mの時、零であ
り、また、h(5−L)−H1L=5mの時、極大をと
シ、(10)式右辺の第2項は第1項に対して無視でき
ないが、元来Cは暗電流、ノイズ成分であるから、その
第2項は非常に小さい値である。従って、被写体距離り
が5mから近付くと、g(5−L)は増加し、h (5
TJ )は減少するため、即座にその第2項は無視でき
るようになる。
つまり、I a / I bが実際に測距検出できる領
域では、(]0)式の右辺第2項が無視できることにな
り、(10ンべ(す、 Ib    h(5−L) (但し、I(は一定) と1ける。
前述の如く、距離りが近付くにつれて測距範囲ではg(
5−1−)は単調増加で、h(s−L)は単調減少であ
るため、I a / I bは被写体の反射率Rに無関
係に、被写体が近付くにつれて単調増加となる。〔距離
りに対しては、g(L):単調減少、 11(L ) 
:単調増加なので、I a / I l)はL:O→5
で単調減少〕 さて、これまで、発光光学系と受光光学系の結像位置を
5mに設定していたが、実際には無限遠或はマイナスの
距離つまり虚像を作る光学構成を設定しても同様の(測
距範囲は5m以上に広がる)結論が導かれる。
第11図は、(a)が距離L = 5 mに結像する場
合、(b)かωの位置に結像する場合について夫々I 
a / I bをグラフに示している。
第11図は三点のゾーンフォーカスに対応した場合で、
例えば、三つのゾーンの境界距離を、1.8mと3.2
mにしったとすると、グラフで対応するI a/ I 
bの値r1 、r2 を設定すれば、(I a / I
 b ) > r 1 の時は近距離。
r1≧(I a / I b )≧r2の時は中距離。
(■a/Ib )<rzの時は遠距離とすれば良い。
但し、発光光学系、受光光学系の結像位置を5mとした
ものでは、距離りが5m以上でI a / I bがr
l+r2 になる点があるが、その時の被写体位置は1
.8mや3.2mに比較すると可成り遠いので、5PD
32の出力IbはI b tx−L−2から非常に小宴
い。そこで、この場合には、Ibが設定値以下になった
時には遠距離とすれば良い。また、発光・受光光学系を
どの様に設定していても被写体距離がある程度遠くにな
ると、5PD31やS PD 32は出力が少く、或は
無くなり、I a / I +)の演褥:ができない。
そこで、5PD32の出力Ibをモニターして置き、出
力Ibが設定値以下になった時は遠距離と認識する必要
がある。
第12図は第1]図に対応して二点ゾーンフォーカスの
場合のグラフを丞したもので、ゾーンの(し 境界距離を2.05として、それに対応するI a /
 I 1〕の値rを設定したもので、原理は同じである
次に、発光光学系、受光光学系の結像位置を、測距範囲
の近距離側、例えば、距離L = 1 mにした時を考
えると、Ia、Ibは、 I a ” R・L−2・g (L ) + O(12
)g (L ) : L≧1mにおいて単調増加IbC
CR拳 ■ニー2  ・ h  (L  )     
            (13)h (L ) : 
L≧1mにおいて単調減少となる。従って、I a /
 I bは、(Ia/Ib)−RCg(L)/h(L)
)(14)となり、I a / I bは、距離りが1
mから遠ざかるのにつれて単調増加となる。即ち、前記
(7)式の光起電流■と、前記(12)及び(13)式
の光起電流Ia及びIbを、被写体距離りとの関係で対
数によシ表わした被写体距離−光起電流の変化特性図で
ある。第13図に基づいて、距離L−1mで結像するI
 a / I bの三点ゾーンフォーカスのグラフであ
る第14図の例では、(I a / I b ) (r
 1の時は近距離。
rl ≦(I a / I b )≦r2の時は中距離
r 2 < (I a / I b )或は■b′、O
の時は遠距離とすれば良い。
才だ、被写体距離りが1 mより近い時は、Ibは相当
大きな値となるので、Ibがある設定値より大きくなっ
た時は、極近距離の警報を出すようにしてもよい。
なお、これ丑で三点、二点ゾーンフォーカスの例を示し
たが、同様にしてゾーンの数は増やすことができること
は明白であろう。
さて、以上で測距原理について説明したが、実際に測距
するためには、各種の調整が必要となる。
安1曲にして信頼性の高いものであるので、カメラに適
用して頗る有効なものである。
【図面の簡単な説明】
第1図は本発明装置の基本構成の一実施例を示した外観
図、第2図は他の実施例の部分的外観図、第3図は測距
ブロックの斜視図、第4図は第1図に対応した中央水平
断面図、第5図は平行平面板ブロックの斜視図、第6図
はIRDの詳細図、第7図はS 1) ])の詳細図、
第8図は平行平面板の位置調整の説明図、第9図は本発
明の測距原理の説明図、第10図は被写体距離L = 
5 mで焦点を結ばせた場合におけるSPDの被写体距
離−光起電流の変化特性図、第11図は第10図の変化
特性図に基づいて二つのSPDの光起電流の比を三点ゾ
ーンツメ−カスの場合に対応させて示した説明図、第1
2図は第10図の変化特性図に基づいて二つのS ])
 l)の光起電流の比を二点ゾーンフォーカスの場合に
対応させて示した説明図、第13図は被写体距離I=−
1mで焦点を結ばせる場合におけるSPDの被写体距離
−光起電流の変化特性図、套14図は第13図の変化特
性図に基づいて二つのSPDの光起電流の比を三点ゾー
ンフォーカスの場合に対応させて示した説明図である。 1・・・・本体、2・・ 発光用非球面レンズ、3・・
・・受光用非球面レンズ、4・・・・ファインダ対物レ
ンズ、5・・裏ブタ、20・・・・IFtD121・・
・・IRDチップ、22・・・・IRD電極、23・・
・・パラボラ、26・・・平行平面板、27・・・・保
持枠、28.29・・・・ネジ、31.32 ・・S 
P I)、33・ プリント基板、34 ・・/−ルド
板、35・・・・11(フィルタ、36・・・台板、3
7・・・・ネジ、91 ・・・スプリッター。 特許出願人 株式会社コパル @5図 ′富6図     窮り′1売 第8じ 弓・続補正書(方式) 1拾第158年4月28日 斗与訂ノT′iくヒ′[シ殿 ]、  43件の次子 昭11157年特許j頭第208945号2 発明の名
称 カメラの目動焦点調節装置 3 補正をする者 特許出1頭人 〒174  東別都板橋1/志伺2の16の20電話(
965)11]] (122)  株式会社 コ パル 昭和58年 3月29日 5 補正のズづ象 −111−一

Claims (3)

    【特許請求の範囲】
  1. (1)発光光学系と発光素子と該発光素子上に形成され
    その発光の一部を遮光する遮光部(オとを有する発光ブ
    ロックと、 発光光学系と機能的に複数の受光素子とを有する受光ブ
    ロックと からなシ、 前記発光光学系により前記遮光部材の像が被写体上に結
    像される被写体距離と、前記受光光学系により前記受光
    素子上に結像される被写体距離とが略等しくなる様に設
    定し、且つ夫々の受光素子の光起電流を演算して測距出
    力を発生させる様にした ことを特徴とするカメラの自動焦点調節装置。
  2. (2)発光光学系と発光素子と該発光素子上に形成され
    その発光の一部を遮光する遮光部材とを有する発光ブロ
    ックと、 受光光学系と機能的に複数の受光素子とを有する受光ブ
    ロックと からなシ、 前記遮光部材の形状と削記少くとも一つの受光素子の光
    感領域の形状とが略相似であると共に、その大きさの比
    を、前記発光光学系により該遮光部材の像が被写体上に
    結像される被写体距離と前記受光光学系により前記受光
    素子上に結像される被写体距離との比に略等しくなる様
    に設定し、且つ夫々の受光素子の光起電流を演算して測
    距出力を発生させる様にした ことを特徴とするカメラの自動焦点調節装置。
  3. (3)遮光部材が発光光学系により被写体上に結像され
    る像を、受光光学系により再び受光素子上に結像させた
    時、該結像位置は、少くとも一つの受光素子の光感領域
    に重なる様に設定したことを特徴とする特許請求の範囲
    第一項または第二項に記載のカメラの目動焦点調節装置
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* Cited by examiner, † Cited by third party
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EP0201036A2 (en) * 1985-05-01 1986-11-12 Hitachi, Ltd. Automatic focusing apparatus
US5005970A (en) * 1988-03-04 1991-04-09 Olympus Optical Co., Ltd. Distance detecting apparatus

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