JPS599559A - 分析装置 - Google Patents
分析装置Info
- Publication number
- JPS599559A JPS599559A JP11699082A JP11699082A JPS599559A JP S599559 A JPS599559 A JP S599559A JP 11699082 A JP11699082 A JP 11699082A JP 11699082 A JP11699082 A JP 11699082A JP S599559 A JPS599559 A JP S599559A
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- JP
- Japan
- Prior art keywords
- analyzer
- time
- concentration
- dehumidifying
- sample gas
- Prior art date
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- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01N—INVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
- G01N33/00—Investigating or analysing materials by specific methods not covered by groups G01N1/00 - G01N31/00
- G01N33/0004—Gaseous mixtures, e.g. polluted air
- G01N33/0009—General constructional details of gas analysers, e.g. portable test equipment
- G01N33/0011—Sample conditioning
- G01N33/0014—Sample conditioning by eliminating a gas
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01N—INVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
- G01N1/00—Sampling; Preparing specimens for investigation
- G01N1/02—Devices for withdrawing samples
- G01N1/22—Devices for withdrawing samples in the gaseous state
- G01N2001/2282—Devices for withdrawing samples in the gaseous state with cooling means
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Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
〔発明の技術分野〕
本発明は、多湿なサンプルガス中の成分を分析する分析
装置に係り、特に成分分析値の除湿に伴なう誤差の補正
に関する。
装置に係り、特に成分分析値の除湿に伴なう誤差の補正
に関する。
従来、サンプルガスを分析計に導入してその成分分析を
行なう場合、サンプルガスが高温の場合には冷却しない
と分析が不可能であるために、またサンプルガスの湿分
が高い場合には分析計に対して湿分が悪影響を与えるた
めに、サンプルガスを冷却器または除湿器を通して温度
および湿分を下げた後に分析計へ導入してサンプルガス
中の成分を測定するが、除湿後のサンプルガス中の被測
定成分の濃度は湿分を除いた分だけ相対濃度が上昇する
。したがって分析結果は元のサンプルガスにくらべて高
い値を示す。そして、この結果を元のサンプルガスの濃
度に戻すために除湿した湿分の補正を施こす必要がある
。
行なう場合、サンプルガスが高温の場合には冷却しない
と分析が不可能であるために、またサンプルガスの湿分
が高い場合には分析計に対して湿分が悪影響を与えるた
めに、サンプルガスを冷却器または除湿器を通して温度
および湿分を下げた後に分析計へ導入してサンプルガス
中の成分を測定するが、除湿後のサンプルガス中の被測
定成分の濃度は湿分を除いた分だけ相対濃度が上昇する
。したがって分析結果は元のサンプルガスにくらべて高
い値を示す。そして、この結果を元のサンプルガスの濃
度に戻すために除湿した湿分の補正を施こす必要がある
。
′この湿分補正を行なう分析装置の一例を第１図に示す
。第１図において、（Ｉ）はサンプルストリーム、（２
）は冷却器または除湿器、（３）はサンプリングポンプ
、（４）は圧力調節弁、（５）は分析計、（６）は指示
計、（力は止め弁、（８）は流量計、（９）はドレンポ
ット、α〔は水位計、ａυは演算器、（Ｉ３は温度計、
（Ｉ３はサンプリングプローブである。この分析装置で
は、冷却器または除湿器（２） において除去されて単
位時間当りにドレンポット（９）に溜まるドレン量を水
位計ＱＱＩの出力に基いて演算器ａυが演算して除湿水
分流量を求め、分析計（５）に導入されるサンプルガス
の流量およびその温度とからサンプルガス中の湿分量を
演算により求め、これから決まる湿分補正係数を分析計
（５）の濃度出力に乗算して湿分補正後の濃度を得ると
いう湿分補正を行なっている。
。第１図において、（Ｉ）はサンプルストリーム、（２
）は冷却器または除湿器、（３）はサンプリングポンプ
、（４）は圧力調節弁、（５）は分析計、（６）は指示
計、（力は止め弁、（８）は流量計、（９）はドレンポ
ット、α〔は水位計、ａυは演算器、（Ｉ３は温度計、
（Ｉ３はサンプリングプローブである。この分析装置で
は、冷却器または除湿器（２） において除去されて単
位時間当りにドレンポット（９）に溜まるドレン量を水
位計ＱＱＩの出力に基いて演算器ａυが演算して除湿水
分流量を求め、分析計（５）に導入されるサンプルガス
の流量およびその温度とからサンプルガス中の湿分量を
演算により求め、これから決まる湿分補正係数を分析計
（５）の濃度出力に乗算して湿分補正後の濃度を得ると
いう湿分補正を行なっている。
しかしながら、この場合は除湿水分が冷却器または除湿
器（２）で発生してからドレンポット（９）で測定され
るまでの時間遅れは誤差として無視されていた。
器（２）で発生してからドレンポット（９）で測定され
るまでの時間遅れは誤差として無視されていた。
本発明は、上記のような湿分補正における時間遅れを補
償した湿分補正を行なう分析装置を提供することを目的
とする。
償した湿分補正を行なう分析装置を提供することを目的
とする。
本発明は、サンプルガスを冷却・除湿してから分析計に
導入して濃度測定を行ないその除湿水分量から測定濃度
の湿分補正を行なう分析装置において、冷却・除湿手段
で発生しだドレンが測定されるまでの時間遅れを補償す
るために、除湿水分の単位時間当りの量に応じて遅れ時
間を求め、一方、冷却・除湿後のサンプルガスの温度を
示す温度計の出力および分析計の濃度出力を記憶してお
き、現時点での除湿水分流量とメモリから取り出した前
記遅れ時間だけさかのぼった時点での前記両川力とに基
き湿分補正を行なう湿分補正手段を具備するようにして
所期の目的を達成した。
導入して濃度測定を行ないその除湿水分量から測定濃度
の湿分補正を行なう分析装置において、冷却・除湿手段
で発生しだドレンが測定されるまでの時間遅れを補償す
るために、除湿水分の単位時間当りの量に応じて遅れ時
間を求め、一方、冷却・除湿後のサンプルガスの温度を
示す温度計の出力および分析計の濃度出力を記憶してお
き、現時点での除湿水分流量とメモリから取り出した前
記遅れ時間だけさかのぼった時点での前記両川力とに基
き湿分補正を行なう湿分補正手段を具備するようにして
所期の目的を達成した。
本発明の実施例を図面を参照して説明する。本発明一実
施例の分析装置を第２図に示す。符号（１）〜ＯＩおよ
びＨ２Ｏ２）で示す各部は第１図と同等である。（イ）
は時定数演算器で、例えば関数発生器を用い、水位計Ｏ
Ｉから水位信号ｔ（１）が入力される。時定数演算器に
）には除湿水分流量（水位の単位時間当シ変化）と遅れ
時間ｔ□との相関データが予め設定されておシ、入力さ
れた水位信号の単位時間当り変化状態から遅れ時間ｔ□
を求めて後述する演算器（ロ）へ出力する。Ｑすは演算
器で、例えばマイクロコンピュータを用い、時定数演算
器に）からの遅れ時間ｔ０、水位計部からの水位信号４
）、温度計ａりからの温度信号Ｐ（’１５ 、分析計（
５）からの測定濃度信号Ｃ■の各信号が入力される。演
算器な９は、入力された温度信号および分析計の濃度信
号をメモリに格納しておき、時定数演算器（ホ）からの
遅れ時間が入力されたときこの遅れ時間だけさかのぼっ
た温度信号および濃度信号をメモリから取如出し、この
温度出力とこの時点で入力されてｂる水位信号の単位時
間当り変化から算出した除湿水分流量とサンプルガスの
流量とから湿分補正係数を演算し、との湿分補正係数を
メモリから取シ出した前記濃度信号値に乗算して湿分補
正後の濃度として出力する湿分補正を行なう。
施例の分析装置を第２図に示す。符号（１）〜ＯＩおよ
びＨ２Ｏ２）で示す各部は第１図と同等である。（イ）
は時定数演算器で、例えば関数発生器を用い、水位計Ｏ
Ｉから水位信号ｔ（１）が入力される。時定数演算器に
）には除湿水分流量（水位の単位時間当シ変化）と遅れ
時間ｔ□との相関データが予め設定されておシ、入力さ
れた水位信号の単位時間当り変化状態から遅れ時間ｔ□
を求めて後述する演算器（ロ）へ出力する。Ｑすは演算
器で、例えばマイクロコンピュータを用い、時定数演算
器に）からの遅れ時間ｔ０、水位計部からの水位信号４
）、温度計ａりからの温度信号Ｐ（’１５ 、分析計（
５）からの測定濃度信号Ｃ■の各信号が入力される。演
算器な９は、入力された温度信号および分析計の濃度信
号をメモリに格納しておき、時定数演算器（ホ）からの
遅れ時間が入力されたときこの遅れ時間だけさかのぼっ
た温度信号および濃度信号をメモリから取如出し、この
温度出力とこの時点で入力されてｂる水位信号の単位時
間当り変化から算出した除湿水分流量とサンプルガスの
流量とから湿分補正係数を演算し、との湿分補正係数を
メモリから取シ出した前記濃度信号値に乗算して湿分補
正後の濃度として出力する湿分補正を行なう。
次に１上記のように構成された本発明一実施例の分析装
置の作用を説明する。
置の作用を説明する。
第３図および第４図に時定数を考慮した湿分補正の特性
を示す。第３図にはドレンポット水位計０１からの水位
信号４）を示す。冷却器または除湿器（２）においてド
レンが発生してからｔ０時間遅れて水位計００）で測定
されることを示している。第４図には、分析計（５）か
らの測定濃度信号Ｃ（１）と、この濃度信号を遅れ時間
ｔ１だけ保持しておいて取り出した信号Ｃ（Ｔ−ｔｌ）
と、この濃度信号にｔ１時間後のドレンポット水位信号
ｔ（ηに基いた湿分補正を施した湿分補正後の濃度信号
σ（’ｒ−ｔ１）とを示す。
を示す。第３図にはドレンポット水位計０１からの水位
信号４）を示す。冷却器または除湿器（２）においてド
レンが発生してからｔ０時間遅れて水位計００）で測定
されることを示している。第４図には、分析計（５）か
らの測定濃度信号Ｃ（１）と、この濃度信号を遅れ時間
ｔ１だけ保持しておいて取り出した信号Ｃ（Ｔ−ｔｌ）
と、この濃度信号にｔ１時間後のドレンポット水位信号
ｔ（ηに基いた湿分補正を施した湿分補正後の濃度信号
σ（’ｒ−ｔ１）とを示す。
演算器Ｑ◇は、入力された分析計（５）からの測定濃度
信号Ｃ（Ｔｌおよび温度計Ｈからの温度信号Ｐσ）を入
力し７てから予想される最長の遅れ時間ｔｆｆ１の間メ
モリに格納しておく（ｔｍ≧１１）。時定数演算器（イ
）は、ドレンポット（９）の水位計Ｑｌからの水位信号
ｔ（Ｔ）が入力されると、１（１）の変化の状態から単
位時間当如の水位変化す々わち除湿水分流量を出し、設
定されている相関データから遅れ時間ｔ□を求めて演算
器（財）へ出力する。
信号Ｃ（Ｔｌおよび温度計Ｈからの温度信号Ｐσ）を入
力し７てから予想される最長の遅れ時間ｔｆｆ１の間メ
モリに格納しておく（ｔｍ≧１１）。時定数演算器（イ
）は、ドレンポット（９）の水位計Ｑｌからの水位信号
ｔ（Ｔ）が入力されると、１（１）の変化の状態から単
位時間当如の水位変化す々わち除湿水分流量を出し、設
定されている相関データから遅れ時間ｔ□を求めて演算
器（財）へ出力する。
演算器Ｑηは、時定数演算器（イ）からの遅れ時間１１
が入力されると、メモリから遅れ時間ｔ□だけさかのぼ
った温度信号Ｐ（Ｔ−ｔｌ）と測定濃度信号Ｃ（Ｔ−ｔ
ｌ）とを取り出す。さらに、この時点で水位計θ〔から
入力されている水位信号ｔ（１）の単位時間当シの水位
変化から除湿水分流量Ｗ（１）を演算により求める。
が入力されると、メモリから遅れ時間ｔ□だけさかのぼ
った温度信号Ｐ（Ｔ−ｔｌ）と測定濃度信号Ｃ（Ｔ−ｔ
ｌ）とを取り出す。さらに、この時点で水位計θ〔から
入力されている水位信号ｔ（１）の単位時間当シの水位
変化から除湿水分流量Ｗ（１）を演算により求める。
そして、演算器Ｑυは以下の式に示す湿分補正演算を行
なう。
なう。
但し、Ｗ（１）：除湿水分流量
Ｑ：サンプリングガスの流量で一定値
ｔ（Ｔ−ｔｌ） ：除湿された単位時間当シ湿分のＱに
対する割合 Ｃ’（Ｔ−ｔｌ） ：湿分補正後の測定濃度とする。
対する割合 Ｃ’（Ｔ−ｔｌ） ：湿分補正後の測定濃度とする。
以上のようにして、除湿水分が測定されるまでの遅れ時
間を除湿水分の単位時間当シの量に応じて変化させ、こ
の遅れ時間だけさかのばった濃度測定値に対して湿分補
正を施すようにしたので遅れ時間の補償が行なわれ、精
度良く湿分補正を行なうことができる。
間を除湿水分の単位時間当シの量に応じて変化させ、こ
の遅れ時間だけさかのばった濃度測定値に対して湿分補
正を施すようにしたので遅れ時間の補償が行なわれ、精
度良く湿分補正を行なうことができる。
次に、第５図に本発明の変形例を示す。第５図において
、に）は設定器で、遅れ時間を手動で設定するだめのも
のである。（ハ）は流量計で、冷却器または除湿器（２
）において除去される水分の流量を測定するだめのもの
である。設定器に）に設定された遅れ時間および流量計
（ハ）からの水分の流量が演算器に）Ｋ入力される点を
除いては第２図と同様な構成である。
、に）は設定器で、遅れ時間を手動で設定するだめのも
のである。（ハ）は流量計で、冷却器または除湿器（２
）において除去される水分の流量を測定するだめのもの
である。設定器に）に設定された遅れ時間および流量計
（ハ）からの水分の流量が演算器に）Ｋ入力される点を
除いては第２図と同様な構成である。
サンプルガスから除去される除湿水分量が時間的にほぼ
一定である場合には、遅れ時間もはホ一定となるので、
一定の遅れ時間を設定しておけばよい。これにより時定
数演算器（イ）の代シに設定器に）を使用することがで
き、コスト的に有利である。
一定である場合には、遅れ時間もはホ一定となるので、
一定の遅れ時間を設定しておけばよい。これにより時定
数演算器（イ）の代シに設定器に）を使用することがで
き、コスト的に有利である。
また、除湿水分量を測定するのに流量計（ハ）を使用す
ると冷却器または除湿器の部分をコン、ｏクトにするこ
とができ、コスト的にも有利である。第５図の変形例の
分析計においても遅れ時間として一定値を用いた以外第
２図の実施例と同様な遅れ時間を補償した湿分補正が行
なわれ、同様な効果を奏することができる。
ると冷却器または除湿器の部分をコン、ｏクトにするこ
とができ、コスト的にも有利である。第５図の変形例の
分析計においても遅れ時間として一定値を用いた以外第
２図の実施例と同様な遅れ時間を補償した湿分補正が行
なわれ、同様な効果を奏することができる。
なお、第２図の実施例においても、ドレンポットおよび
水位計の代りに流量計を用いるようにしてもよい。
水位計の代りに流量計を用いるようにしてもよい。
本発明によれば、サンプルガスを冷却・除湿してから分
析計に導入して濃度測定を行ないその除湿水分量から測
定濃度の湿分補正を行なう分析装置において、冷却・除
湿手段で発生したドレンが測定されるまでの時間遅れを
補償するために、除湿水分の単位時間当りの量に応じて
遅れ時間を求め、一方、冷却・除湿後のサンプルガスの
温度を示す温度計の温度信号および分析計の測定濃度信
号を記憶しておき、現時点での除湿水分流量とメモリか
ら取り出した前記遅れ時間だけさかのぼった時点の前記
両信号とに基き湿分補正を行なう湿分補正手段を具備す
るようにしたので、従来においては誤差として無視して
いた前記時間遅れを補償した湿分補正を行なうことがで
きる。また、除湿水分の量に応じて遅れ時間を変化させ
ることができるので、急激な湿分量の変化に対しても精
度良く湿分補正を行なうことができる。
析計に導入して濃度測定を行ないその除湿水分量から測
定濃度の湿分補正を行なう分析装置において、冷却・除
湿手段で発生したドレンが測定されるまでの時間遅れを
補償するために、除湿水分の単位時間当りの量に応じて
遅れ時間を求め、一方、冷却・除湿後のサンプルガスの
温度を示す温度計の温度信号および分析計の測定濃度信
号を記憶しておき、現時点での除湿水分流量とメモリか
ら取り出した前記遅れ時間だけさかのぼった時点の前記
両信号とに基き湿分補正を行なう湿分補正手段を具備す
るようにしたので、従来においては誤差として無視して
いた前記時間遅れを補償した湿分補正を行なうことがで
きる。また、除湿水分の量に応じて遅れ時間を変化させ
ることができるので、急激な湿分量の変化に対しても精
度良く湿分補正を行なうことができる。
第１図は湿分補正を行なう分析装置の従来例を示す系統
図、第２図は本発明一実施例の分析装置を示す系統図、
第３図は第２図のドレンポット水位計からの水位信号の
時間遅れを示すグラフ、第４図は第２図の分析計の濃度
信号と時間との関係を示すグラフ、第５図は本発明変形
例の分析装置を示す系統図である。 １・・・サンプルストリーム２・−・冷却器まだは除湿
器３・・・サンプリングポンプ ４・・・圧力調節弁５
・・・分析計 ６・・・指示計８・・・流量
計 ９・・・ドレンポット１０・・・水位計
１２・・・温度計１３・・・サンプリンダ
プローブ２１・・・演算器２２・・・時定数演算器
２３・・・設定器２４・・・流量計 代理人 弁理士 弁上−男 ａυ 第 １ 図 ４ Ｑ
図、第２図は本発明一実施例の分析装置を示す系統図、
第３図は第２図のドレンポット水位計からの水位信号の
時間遅れを示すグラフ、第４図は第２図の分析計の濃度
信号と時間との関係を示すグラフ、第５図は本発明変形
例の分析装置を示す系統図である。 １・・・サンプルストリーム２・−・冷却器まだは除湿
器３・・・サンプリングポンプ ４・・・圧力調節弁５
・・・分析計 ６・・・指示計８・・・流量
計 ９・・・ドレンポット１０・・・水位計
１２・・・温度計１３・・・サンプリンダ
プローブ２１・・・演算器２２・・・時定数演算器
２３・・・設定器２４・・・流量計 代理人 弁理士 弁上−男 ａυ 第 １ 図 ４ Ｑ
Claims (2)
- （１） サンプルガスの冷却・除湿を行なう手段と、
この冷却・除湿手段で発生したドレンの量を測定する手
段と、冷却・除湿後のサンプルガスの流量を測定する流
量計と、冷却・除湿後のサンプルガスの温度を測定する
温度計と、冷却・除湿後のサンプルガス中の被測定成分
″ｂ濃度を測定する分析計とを具え、サンプルガスを冷
却・除湿してから分析計に導入して濃度測定を行ないそ
の除湿水分量から測定濃度の湿分補正を行なう分析装置
において、前記冷却・除湿手段で発生したドレンが測定
されるまでの時間遅れを補償するために除湿水分の単位
時間当勺の量に応じて遅れ時間を求め、前記温度計の出
力および分析計の濃度出力を記憶しておき入力された現
時点での除湿水分流量とメモリから取り出した前記遅れ
時間だけさかのぼった時点での両出力とに基き湿分補正
を行なう湿分補正手段を具備したことを特徴とする分析
装置。 - （２）湿分補正手段が、入力されたドレン量を示す信号
に基き除湿水分流量と遅れ時間との予め設定された相関
データから遅れ時間を求めて出力する時定数演算器と、
入力された温度信号および分析計の測定濃度信号をメモ
リに格納しておき前記時定数演算器からの遅れ時間が入
力されたときこの遅れ時間だけさかのぼった時点での温
度信号および濃度信号をメモリから取り出し、この温度
信号とこの時点で入力されているドレン量から算出した
除湿水分流量とサンプルガス流量とから湿分補正係数を
演算し、との湿分補正係数をメモリから散り出した濃度
信号に乗算して湿分補正後の濃度を出力する演算器とを
具備してなることを特徴とする特許請求の範囲第１項記
載の分析装置。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP11699082A JPH0229192B2 (ja) | 1982-07-07 | 1982-07-07 | Bunsekisochi |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP11699082A JPH0229192B2 (ja) | 1982-07-07 | 1982-07-07 | Bunsekisochi |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPS599559A true JPS599559A (ja) | 1984-01-18 |
| JPH0229192B2 JPH0229192B2 (ja) | 1990-06-28 |
Family
ID=14700742
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP11699082A Expired - Lifetime JPH0229192B2 (ja) | 1982-07-07 | 1982-07-07 | Bunsekisochi |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPH0229192B2 (ja) |
-
1982
- 1982-07-07 JP JP11699082A patent/JPH0229192B2/ja not_active Expired - Lifetime
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| JPH0229192B2 (ja) | 1990-06-28 |
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