JPH0229192B2 - Bunsekisochi - Google Patents
BunsekisochiInfo
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- JPH0229192B2 JPH0229192B2 JP11699082A JP11699082A JPH0229192B2 JP H0229192 B2 JPH0229192 B2 JP H0229192B2 JP 11699082 A JP11699082 A JP 11699082A JP 11699082 A JP11699082 A JP 11699082A JP H0229192 B2 JPH0229192 B2 JP H0229192B2
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- Japan
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- time
- sample gas
- analyzer
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- XLYOFNOQVPJJNP-UHFFFAOYSA-N water Substances O XLYOFNOQVPJJNP-UHFFFAOYSA-N 0.000 claims description 39
- 238000004458 analytical method Methods 0.000 claims description 8
- 238000001816 cooling Methods 0.000 claims description 7
- 238000007791 dehumidification Methods 0.000 claims description 4
- 239000000523 sample Substances 0.000 description 23
- 238000005070 sampling Methods 0.000 description 5
- 238000010586 diagram Methods 0.000 description 3
- 230000000694 effects Effects 0.000 description 3
- 238000005259 measurement Methods 0.000 description 3
- 230000005855 radiation Effects 0.000 description 3
- 230000004048 modification Effects 0.000 description 2
- 238000012986 modification Methods 0.000 description 2
- 230000002411 adverse Effects 0.000 description 1
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- 239000000941 radioactive substance Substances 0.000 description 1
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- 230000004044 response Effects 0.000 description 1
Classifications
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01N—INVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
- G01N33/00—Investigating or analysing materials by specific methods not covered by groups G01N1/00 - G01N31/00
- G01N33/0004—Gaseous mixtures, e.g. polluted air
- G01N33/0009—General constructional details of gas analysers, e.g. portable test equipment
- G01N33/0011—Sample conditioning
- G01N33/0014—Sample conditioning by eliminating a gas
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01N—INVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
- G01N1/00—Sampling; Preparing specimens for investigation
- G01N1/02—Devices for withdrawing samples
- G01N1/22—Devices for withdrawing samples in the gaseous state
- G01N2001/2282—Devices for withdrawing samples in the gaseous state with cooling means
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- Chemical & Material Sciences (AREA)
- Life Sciences & Earth Sciences (AREA)
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- Automatic Analysis And Handling Materials Therefor (AREA)
Description
【発明の詳細な説明】
〔発明の技術分野〕
本発明は、多湿なサンプルガス中の成分を分析
する分析装置、例えば、放射線管理区域における
大気中の放射性物質の核種を放射線測定装置を用
いて放射線のエネルギの違いから測定分析する分
析装置に係り、特に成分分析値の除湿に伴なう誤
差の補正に関する。
する分析装置、例えば、放射線管理区域における
大気中の放射性物質の核種を放射線測定装置を用
いて放射線のエネルギの違いから測定分析する分
析装置に係り、特に成分分析値の除湿に伴なう誤
差の補正に関する。
従来、サンプルガスを分析計に導入してその成
分分析を行なう場合、サンプルガスが高温の場合
には冷却しないと分析が不可能であるために、ま
たサンプルガスの湿分が高い場合には分析計に対
して湿分が悪影響を与えるために、サンプルガス
を冷却器または除湿器を通して温度および湿分を
下げた後に分析計へ導入してサンプルガス中の成
分を測定するが、除湿後のサンプルガス中の被測
定成分の濃度は湿分を除いた分だけ相対濃度が上
昇する。したがつて分析結果は元のサンプルガス
にくらべて高い値を示す。そのため、この結果を
元のサンプルガスの濃度に戻すために除湿した湿
分の補正を施こす必要がある。
分分析を行なう場合、サンプルガスが高温の場合
には冷却しないと分析が不可能であるために、ま
たサンプルガスの湿分が高い場合には分析計に対
して湿分が悪影響を与えるために、サンプルガス
を冷却器または除湿器を通して温度および湿分を
下げた後に分析計へ導入してサンプルガス中の成
分を測定するが、除湿後のサンプルガス中の被測
定成分の濃度は湿分を除いた分だけ相対濃度が上
昇する。したがつて分析結果は元のサンプルガス
にくらべて高い値を示す。そのため、この結果を
元のサンプルガスの濃度に戻すために除湿した湿
分の補正を施こす必要がある。
この湿分補正を行なう分析装置の一例を第１図
に示す。第１図において、１はサンプルストリー
ム、２は冷却器または除湿器、３はサンプリング
ポンプ、４は圧力調節弁、５は分析計、６は指示
計、７は止め弁、８は流量計、９はドレンポツ
ト、１０は水位計、１１は演算器、１２は温度
計、１３はサンプリングプローブである。この分
析装置では、冷却器または除湿器２において除去
されて単位時間当りにドレンポツト９に溜まるド
レン量を水位計１０の出力に基いて演算器１１が
演算して除湿水分流量を求め、分析計５に導入さ
れるサンプルガスの流量およびその温度とからサ
ンプルガス中の湿分量を演算により求め、これか
ら決まる湿分補正係数を分析計５の濃度出力に乗
算して湿分補正後の濃度を得るという湿分補正を
行なつている。
に示す。第１図において、１はサンプルストリー
ム、２は冷却器または除湿器、３はサンプリング
ポンプ、４は圧力調節弁、５は分析計、６は指示
計、７は止め弁、８は流量計、９はドレンポツ
ト、１０は水位計、１１は演算器、１２は温度
計、１３はサンプリングプローブである。この分
析装置では、冷却器または除湿器２において除去
されて単位時間当りにドレンポツト９に溜まるド
レン量を水位計１０の出力に基いて演算器１１が
演算して除湿水分流量を求め、分析計５に導入さ
れるサンプルガスの流量およびその温度とからサ
ンプルガス中の湿分量を演算により求め、これか
ら決まる湿分補正係数を分析計５の濃度出力に乗
算して湿分補正後の濃度を得るという湿分補正を
行なつている。
しかしながら、この場合は除湿水分が冷却器ま
たは除湿器２で発生してからドレンポツト９で測
定されるまでの時間遅れは誤差として無視されて
いた。
たは除湿器２で発生してからドレンポツト９で測
定されるまでの時間遅れは誤差として無視されて
いた。
本発明は上記のような湿分補正における時間遅
れを補償した湿分補正を行なう分析装置を提供す
ることを目的とする。
れを補償した湿分補正を行なう分析装置を提供す
ることを目的とする。
本発明は、サンプルガスを冷却・除湿してから
分析計に導入して濃度測定を行ないその除湿水分
量から測定濃度の湿分補正を行なう分析装置にお
いて、冷却・除湿手段で発生したドレンが測定さ
れるまでの時間遅れを補償するために、除湿水分
の単位時間当りの量に応じて遅れ時間を求め、一
方、冷却・除湿後のサンプルガスの温度を示す温
度計の出力および分析計の濃度出力を記憶してお
き、現時点での除湿水分流量とメモリから取り出
した前記遅れ時間だけさかのぼつた時点での前記
両出力とに基き湿分補正を行なう湿分補正手段を
具備するようにして所期の目的を達成した。
分析計に導入して濃度測定を行ないその除湿水分
量から測定濃度の湿分補正を行なう分析装置にお
いて、冷却・除湿手段で発生したドレンが測定さ
れるまでの時間遅れを補償するために、除湿水分
の単位時間当りの量に応じて遅れ時間を求め、一
方、冷却・除湿後のサンプルガスの温度を示す温
度計の出力および分析計の濃度出力を記憶してお
き、現時点での除湿水分流量とメモリから取り出
した前記遅れ時間だけさかのぼつた時点での前記
両出力とに基き湿分補正を行なう湿分補正手段を
具備するようにして所期の目的を達成した。
本発明の実施例を図面を参照して説明する。本
発明一実施例の分析装置を第２図に示す。符号１
〜１０および１２，１３で示す各部は第１図と同
等である。２２は時定数演算器で、例えば関数発
生器を用い、水位計１０から水位信号lTが入力
される。時定数演算器２２には除湿水分流量（水
位の単位時間当り変化）と遅れ時間との相関デー
タが予め設定されており、入力された水位信号の
単位時間当り変化状態から遅れ時間を求めて後述
する演算器２１へ出力する。２１は演算器で、例
えばマイクロコンピユータを用い、時定数演算器
２２からの遅れ時間、水位計１０からの水位信号
lT、温度計１２からの温度信号PT、分析計５か
らの測定濃度信号CTの各信号が入力される。演
算器２１は、入力された温度信号および分析計の
濃度信号をメモリに格納しておき、時定数演算器
２２からの遅れ時間が入力されたときこの遅れ時
間だけさかのぼつた温度信号および濃度信号をメ
モリから取り出し、この温度出力とこの時点で入
力されている水位信号の単位時間当り変化から算
出した除湿水分流量とサンプルガスの流量とから
湿分補正係数を演算し、この湿分補正係数をメモ
リから取り出した前記濃度信号値に乗算して湿分
補正後の濃度として出力する湿分補正を行なう。
発明一実施例の分析装置を第２図に示す。符号１
〜１０および１２，１３で示す各部は第１図と同
等である。２２は時定数演算器で、例えば関数発
生器を用い、水位計１０から水位信号lTが入力
される。時定数演算器２２には除湿水分流量（水
位の単位時間当り変化）と遅れ時間との相関デー
タが予め設定されており、入力された水位信号の
単位時間当り変化状態から遅れ時間を求めて後述
する演算器２１へ出力する。２１は演算器で、例
えばマイクロコンピユータを用い、時定数演算器
２２からの遅れ時間、水位計１０からの水位信号
lT、温度計１２からの温度信号PT、分析計５か
らの測定濃度信号CTの各信号が入力される。演
算器２１は、入力された温度信号および分析計の
濃度信号をメモリに格納しておき、時定数演算器
２２からの遅れ時間が入力されたときこの遅れ時
間だけさかのぼつた温度信号および濃度信号をメ
モリから取り出し、この温度出力とこの時点で入
力されている水位信号の単位時間当り変化から算
出した除湿水分流量とサンプルガスの流量とから
湿分補正係数を演算し、この湿分補正係数をメモ
リから取り出した前記濃度信号値に乗算して湿分
補正後の濃度として出力する湿分補正を行なう。
次に、上記のように構成された本発明一実施例
の分析装置の作用を説明する。
の分析装置の作用を説明する。
第３図および第４図に時定数を考慮した湿分補
正の特性を示す。第３図にはドレンポツト水位計
１０からの水位信号lTを示す。冷却器または除
湿器２においてドレンが発生した時刻t0から（t1
−t0）時間遅れた時刻t1に水位計１０で測定され
ることを示している。第４図には、分析計５から
の測定濃度信号CTと、この濃度信号を遅れ時間
（t1−t0）だけ保持しておいて取り出した信号Ｃ
（Ｔ−t1）と、この濃度信号に（t1−t0）時間後の
ドレンポツト水位信号lTに基いた湿分補正を施
した湿分補正後の濃度信号Ｃ（Ｔ−t1）とを示す。
正の特性を示す。第３図にはドレンポツト水位計
１０からの水位信号lTを示す。冷却器または除
湿器２においてドレンが発生した時刻t0から（t1
−t0）時間遅れた時刻t1に水位計１０で測定され
ることを示している。第４図には、分析計５から
の測定濃度信号CTと、この濃度信号を遅れ時間
（t1−t0）だけ保持しておいて取り出した信号Ｃ
（Ｔ−t1）と、この濃度信号に（t1−t0）時間後の
ドレンポツト水位信号lTに基いた湿分補正を施
した湿分補正後の濃度信号Ｃ（Ｔ−t1）とを示す。
演算器２１は、入力された分析計５からの測定
濃度信号CTおよび温度計１２からの温度信号PT
を入力してから予想される最長の遅れ時間（tm
−t0）の間メモリに格納しておく（tm≧t1）。時
定数演算器２２は、ドレンポツト９の水位計１０
からの水位信号lTが入力されると、lTの変化の
状態から単位時間当りの水位変化すなわち除湿水
分流量を出し、設定されている相関データから遅
れ時間（t1−t0）を求めて演算器２１へ出力す
る。
濃度信号CTおよび温度計１２からの温度信号PT
を入力してから予想される最長の遅れ時間（tm
−t0）の間メモリに格納しておく（tm≧t1）。時
定数演算器２２は、ドレンポツト９の水位計１０
からの水位信号lTが入力されると、lTの変化の
状態から単位時間当りの水位変化すなわち除湿水
分流量を出し、設定されている相関データから遅
れ時間（t1−t0）を求めて演算器２１へ出力す
る。
演算器２１は、時定数演算器２２からの遅れ時
間（t1−t0）が入力されると、メモリから遅れ時
間（t1−t0）だけさかのぼつた温度信号Ｐ（Ｔ−
t1）と測定濃度信号Ｃ（Ｔ−t1）とを取り出す。
さらに、この時点で水位計１０から入力されてい
る水位信号lTの単位時間当りの水位変化から除
湿水分流量WTを演算により求める。
間（t1−t0）が入力されると、メモリから遅れ時
間（t1−t0）だけさかのぼつた温度信号Ｐ（Ｔ−
t1）と測定濃度信号Ｃ（Ｔ−t1）とを取り出す。
さらに、この時点で水位計１０から入力されてい
る水位信号lTの単位時間当りの水位変化から除
湿水分流量WTを演算により求める。
そして、演算器２１は以下の式に示す湿分補正
演算を行う。
演算を行う。
ｇ（Ｔ−t1）＝WT／18×22.4×273＋Ｐ（Ｔ−t1）／273
× １／Ｑ ………(1) C′（Ｔ−t1）＝Ｃ（Ｔ−t1）×１／１＋ｑ（Ｔ−t1） ………(2) 但し、 WT：除湿水分流量 Ｑ：サンプリングガスの流量で一定値 ｑ（Ｔ−t1）：除湿された単位時間当り湿分のＱに
対する割合 １／１＋ｑ（Ｔ−t1）：湿分補正係数 C′（Ｔ−t1）：湿分補正後の測定濃度 とする。
× １／Ｑ ………(1) C′（Ｔ−t1）＝Ｃ（Ｔ−t1）×１／１＋ｑ（Ｔ−t1） ………(2) 但し、 WT：除湿水分流量 Ｑ：サンプリングガスの流量で一定値 ｑ（Ｔ−t1）：除湿された単位時間当り湿分のＱに
対する割合 １／１＋ｑ（Ｔ−t1）：湿分補正係数 C′（Ｔ−t1）：湿分補正後の測定濃度 とする。
以上のようにして、除湿水分が測定されるまで
の遅れ時間を除湿水分の単位時間当りの量に応じ
て変化させ、この遅れ時間だけさかのぼつた濃度
測定値に対して湿分補正を施すようにしたので遅
れ時間の補償が行なわれ、精度良く湿分補正を行
なうことができる。
の遅れ時間を除湿水分の単位時間当りの量に応じ
て変化させ、この遅れ時間だけさかのぼつた濃度
測定値に対して湿分補正を施すようにしたので遅
れ時間の補償が行なわれ、精度良く湿分補正を行
なうことができる。
次に、第５図に本発明の変形例を示す。第５図
において、２３は設定器で、遅れ時間を手動で設
定するためのものである。２４は流量計で、冷却
器または除湿器２において除去される水分の流量
を測定するためのものである。設定器２３に設定
された遅れ時間および流量計２４からの水分の流
量が演算器２１に入力される点を除いては第２図
と同様な構成である。
において、２３は設定器で、遅れ時間を手動で設
定するためのものである。２４は流量計で、冷却
器または除湿器２において除去される水分の流量
を測定するためのものである。設定器２３に設定
された遅れ時間および流量計２４からの水分の流
量が演算器２１に入力される点を除いては第２図
と同様な構成である。
サンプルガスから除去される除湿水分量が時間
的にほぼ一定である場合には、遅れ時間もほぼ一
定となるので、一定の遅れ時間を設定しておけば
よい。これにより時定数演算器２２の代りに設定
器２３を使用することができ、コスト的に有利で
ある。また、除湿水分量を測定するのに流量計２
４を使用すると冷却器または除湿器の部分をコン
パクトにすることができ、コスト的にも有利であ
る。第５図の変形例の分析計においても遅れ時間
として一定値を用いた以外第２図の実施例と同様
な遅れ時間を補償した湿分補正が行なわれ、同様
な効果を奏することができる。
的にほぼ一定である場合には、遅れ時間もほぼ一
定となるので、一定の遅れ時間を設定しておけば
よい。これにより時定数演算器２２の代りに設定
器２３を使用することができ、コスト的に有利で
ある。また、除湿水分量を測定するのに流量計２
４を使用すると冷却器または除湿器の部分をコン
パクトにすることができ、コスト的にも有利であ
る。第５図の変形例の分析計においても遅れ時間
として一定値を用いた以外第２図の実施例と同様
な遅れ時間を補償した湿分補正が行なわれ、同様
な効果を奏することができる。
なお、第２図の実施例においても、ドレンポツ
トおよび水位計の代りに流量計を用いるようにし
てもよい。
トおよび水位計の代りに流量計を用いるようにし
てもよい。
本発明によれば、サンプルガスを冷却・除湿し
てから分析計に導入して濃度測定を行ないその除
湿水分量から測定濃度の湿分補正を行なう分析装
置において、冷却・除湿手段で発生したドレンが
測定されるまでの時間遅れを補償するために、除
湿水分の単位時間当りの量に応じて遅れ時間を求
め、一方、冷却・除湿後のサンプルガスの温度を
示す温度計の温度信号および分析計の測定濃度信
号を記憶しておき、現時点での除湿水分流量とメ
モリから取り出した前記遅れ時間だけさかのぼつ
た時点の前記両信号とに基き湿分補正を行なう湿
分補正手段を具備するようにしたので、従来にお
いては誤差として無視していた前記時間遅れを補
償した湿分補正を行なうことができる。また、除
湿水分の量に応じて遅れ時間を変化させることが
できるので、急激な湿分量の変化に対しても精度
良く湿分補正を行なうことができる。
てから分析計に導入して濃度測定を行ないその除
湿水分量から測定濃度の湿分補正を行なう分析装
置において、冷却・除湿手段で発生したドレンが
測定されるまでの時間遅れを補償するために、除
湿水分の単位時間当りの量に応じて遅れ時間を求
め、一方、冷却・除湿後のサンプルガスの温度を
示す温度計の温度信号および分析計の測定濃度信
号を記憶しておき、現時点での除湿水分流量とメ
モリから取り出した前記遅れ時間だけさかのぼつ
た時点の前記両信号とに基き湿分補正を行なう湿
分補正手段を具備するようにしたので、従来にお
いては誤差として無視していた前記時間遅れを補
償した湿分補正を行なうことができる。また、除
湿水分の量に応じて遅れ時間を変化させることが
できるので、急激な湿分量の変化に対しても精度
良く湿分補正を行なうことができる。
第１図は湿分補正を行なう分析装置の従来例を
示す系統図、第２図は本発明一実施例の分析装置
を示す系統図、第３図は第２図のドレンポツト水
位計からの水位信号の時間遅れを示すグラフ、第
４図は第２図の分析計の濃度信号と時間との関係
を示すグラフ、第５図は本発明変形例の分析装置
を示す系統図である。 １……サンプルストリーム、２……冷却器また
は除湿器、３……サンプリングポンプ、４……圧
力調節弁、５……分析計、６……指示計、８……
流量計、９……ドレンポツト、１０……水位計、
１２……温度計、１３……サンプリングプロー
ブ、２１……演算器、２２……時定数演算器、２
３……設定器、２４……流量計。
示す系統図、第２図は本発明一実施例の分析装置
を示す系統図、第３図は第２図のドレンポツト水
位計からの水位信号の時間遅れを示すグラフ、第
４図は第２図の分析計の濃度信号と時間との関係
を示すグラフ、第５図は本発明変形例の分析装置
を示す系統図である。 １……サンプルストリーム、２……冷却器また
は除湿器、３……サンプリングポンプ、４……圧
力調節弁、５……分析計、６……指示計、８……
流量計、９……ドレンポツト、１０……水位計、
１２……温度計、１３……サンプリングプロー
ブ、２１……演算器、２２……時定数演算器、２
３……設定器、２４……流量計。
Claims (1)
- １ サンプルガスの冷却・除湿を行なう手段と、
この冷却・除湿手段で発生したドレンの量を測定
する手段と、冷却・除湿後のサンプルガスの流量
を測定する流量計と、冷却・除湿後のサンプルガ
スの温度を測定する温度計と、冷却・除湿後のサ
ンプルガス中の被測定成分の濃度を測定する分析
計とを具え、サンプルガスを冷却・除湿してから
分析計に導入して濃度測定を行ないその除湿水分
量から測定濃度の湿分補正を行なう分析装置にお
いて、前記ドレンの量を測定する手段から入力さ
れたドレン量を示す信号に基きその単位時間当り
の変化量を求めこの変化量を除湿水分流量と遅れ
時間との予め設定された相関データと照合するこ
とにより遅れ時間を求めて出力する時定数演算器
と、前記温度計から入力された温度信号および前
記分析計から入力された濃度信号をメモリに格納
しておき前記時定数演算器からの遅れ時間信号が
入力されたときこの遅れ時間だけさかのぼつた時
点での温度信号および濃度信号をメモリから取り
出しこの温度信号とこの時点で前記ドレン量を測
定する手段から入力されているドレン量を示す信
号から算出した除湿水分流量とサンプルガス流量
との３者から演算により湿分補正係数を求めこの
湿分補正係数をメモリから取り出した前記濃度信
号に乗算して湿分補正後の濃度を出力する演算器
とを具えた湿分補正手段を具備したことを特徴と
する分析装置。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP11699082A JPH0229192B2 (ja) | 1982-07-07 | 1982-07-07 | Bunsekisochi |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP11699082A JPH0229192B2 (ja) | 1982-07-07 | 1982-07-07 | Bunsekisochi |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPS599559A JPS599559A (ja) | 1984-01-18 |
| JPH0229192B2 true JPH0229192B2 (ja) | 1990-06-28 |
Family
ID=14700742
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP11699082A Expired - Lifetime JPH0229192B2 (ja) | 1982-07-07 | 1982-07-07 | Bunsekisochi |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPH0229192B2 (ja) |
-
1982
- 1982-07-07 JP JP11699082A patent/JPH0229192B2/ja not_active Expired - Lifetime
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| JPS599559A (ja) | 1984-01-18 |
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